Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
VACUUM
Liczba odnalezionych rekordów:
20
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/20
Nr opisu:
0000128805
Characteristics of CrAlSiN+MoS
2
coating deposited by cathodic arc and magnetron sputtering process.
[Aut.]: Krzysztof
Lukaszkowicz
, J.
Kubacki
, K.
Balin
, J.
Sondor
, M.
Pancielejko
.
-
Vacuum
2019 vol. 163
, s. 360-367, bibliogr. 25 poz..
Impact Factor
2.906.
Punktacja MNiSW
70.000
powłoka CrAlSiN
;
powłoka MoS2
;
TEM
;
AES
;
XPS
;
właściwości tribologiczne
CrAlSiN film
;
MoS2 film
;
TEM
;
AES
;
XPS
;
tribological properties
2/20
Nr opisu:
0000124848
Influence of low temperature plasma oxynitriding on the mechanical behavior of NiTi shape memory alloys.
[Aut.]: J.
Witkowska
, J.
Rudnicki
, W.
Piekoszewski
, G.
Raugh
, Jerzy
Morgiel
, T.
Wierzchoń
.
-
Vacuum
2018 vol. 156
, s. 135-139, bibliogr. 25 poz..
Impact Factor
2.515.
Punktacja MNiSW
25.000
stop NiTi
;
leczenie wyładowaniem jarzeniowym
;
struktura
;
właściwości mechaniczne
;
zastosowanie przemysłowe
NiTi alloy
;
glow discharge treatment
;
structure
;
mechanical properties
;
industrial application
3/20
Nr opisu:
0000123626
Investigation of the structure and properties of PVD coatings and ALD + PVD hybrid coatings deposited on sialon tool ceramics.
[Aut.]: Marcin
Staszuk
, Daniel
Pakuła
, Grzegorz
Chladek
, Mirosława
Pawlyta
, M.
Pancielejko
, P.
Czaja
.
-
Vacuum
2018 vol. 154
, s. 272-284, bibliogr. 24 poz..
Impact Factor
2.515.
Punktacja MNiSW
25.000
ALD
;
powłoka hybrydowa
;
PVD
;
TEM
;
tribologia
ALD
;
hybrid coating
;
PVD
;
TEM
;
tribology
4/20
Nr opisu:
0000120694
Powerful doping of chirality-sorted carbon nanotube films.
[Aut.]: Dawid
Janas
.
-
Vacuum
2018 vol. 149
, s. 48-52, bibliogr. 30 poz..
Impact Factor
2.515.
Punktacja MNiSW
25.000
nanorurki węglowe
;
domieszkowanie
;
przewodnictwo elektryczne
carbon nanotubes
;
doping
;
electrical conductivity
5/20
Nr opisu:
0000122875
Structure and properties of coating obtained by Chemical Vapour Deposition with the laser microstructuring.
[Aut.]: Daniel
Pakuła
, Marcin
Staszuk
, Małgorzata
Dziekońska
, P.
Kozmin
, A.
Cermak
.
-
Vacuum
2018 vol. 153
, s. 184-190, bibliogr. 21 poz..
Impact Factor
2.515.
Punktacja MNiSW
25.000
CVD
;
sialonowa ceramika narzędziowa
;
teksturowanie laserowe
;
LIPSS
CVD
;
sialon tool ceramics
;
laser texturing
;
LIPSS
6/20
Nr opisu:
0000107391
Structure and properties of Al
2
O
3
thin films deposited by ALD process.
[Aut.]: Paulina
Boryło
, Krzysztof
Lukaszkowicz
, Marek
Szindler
, J.
Kubacki
, K.
Balin
, Marcin
Basiaga
, Janusz
Szewczenko
.
-
Vacuum
2016 vol. 131
, s. 319-326, bibliogr. 26 poz..
Impact Factor
1.530.
Punktacja MNiSW
25.000
powłoka cienka
;
ALD
;
adhezja
;
korozja
;
XPS
;
AES
;
SEM
;
ToF-SIMS
thin film
;
ALD
;
adhesion
;
corrosion
;
XPS
;
AES
;
SEM
;
ToF-SIMS
7/20
Nr opisu:
0000083484
Characterization and properties of PVD coatings applied to extrusion dies.
[Aut.]: Krzysztof
Lukaszkowicz
, Leszek**
Dobrzański
, Grzegorz
Kokot
, P.
Ostachowski
.
-
Vacuum
2012 vol. 86 iss. 12
, bibliogr. 22 poz..
Impact Factor
1.530.
Punktacja MNiSW
20.000
powłoka PVD
;
własności mechaniczne
;
symulacja komputerowa
;
wyciskanie
;
kula-tarcza obrotowa
PVD coating
;
mechanical properties
;
computer simulation
;
extrusion
;
ball-on-disc
8/20
Nr opisu:
0000088989
Structure and mechanical properties of PVD coatings deposited onto the X40CrMoV5-1 hot work tool steel substrate.
[Aut.]: Krzysztof
Lukaszkowicz
, A.
Czyżniewski
, Waldemar
Kwaśny
, M.
Pancielejko
.
-
Vacuum
2012 vol. 86 iss. 8
, s. 1186-1194, bibliogr. 22 poz..
Impact Factor
1.530.
Punktacja MNiSW
20.000
powłoka PVD
;
mikrostruktura
;
próba zarysowania
;
XRD
PVD coating
;
microstructure
;
scratch test
;
XRD
9/20
Nr opisu:
0000047697
Effect of thermal treatments on the structure of MoN
x
O
y
thin films.
[Aut.]: L.
Cunha
, L.
Rebouta
, F.
Vaz
, Marcin
Staszuk
, S.
Malara
, J.
Barbosa
, P.
Carvalho
, P.
Alves
, E.
Le Bourhis
, P.
Goudeau
, J.
Riviere
.
-
Vacuum
2008 vol. 82 iss. 12
, s. 1428-1432, bibliogr. 31 poz..
Impact Factor
1.114
struktura
;
wyżarzanie
structure
;
annealing
10/20
Nr opisu:
0000050150
Response to oxygen and chemical properties of SnO
2
thin-film gas sensors.
[Aut.]: Bogusława
Adamowicz
, Weronika
Izydorczyk
, Jacek
Izydorczyk
, Andrzej**
Klimasek
, Wiesław
Jakubik
, J.
Żywicki
.
-
Vacuum
2008 vol. 82 iss. 10
, s. 966-970, bibliogr. 16 poz..
Impact Factor
1.114
dwutlenek cyny
;
RGTO
;
adsorpcja tlenu
;
spektroskopia elektronów Augera
;
czujnik gazowy
tin dioxide
;
RGTO technology
;
oxygen adsorption
;
Auger electron spectroscopy
;
gas sensor
11/20
Nr opisu:
0000025543
XPS study of surface chemistry of epiready GaAs(1 0 0) surface after (NH
4
)
2
S
x
passivation.
[Aut.]: Sebastian*
Arabasz
, E.
Bergignat
, G.
Hollinger
, Jacek**
Szuber
.
-
Vacuum
2006 vol. 80 iss. 8
, s. 888-893, bibliogr. 36 poz..
Impact Factor
0.834
GaAs
;
siarkowanie
;
pasywacja
;
XPS
;
półprzewodnik
GaAs
;
sulfidation
;
passivation
;
XPS
;
semiconductor
12/20
Nr opisu:
0000007353
Rigorous analysis of photoluminescence efficiency for characterisation of electronic properties of InP(100) surfaces.
[Aut.]: Bogusława
Adamowicz
, Marcin**
Miczek
, Sebastian*
Arabasz
, H.
Hasegawa
.
-
Vacuum
2002 vol. 67 iss. 1
, s. 3-10, bibliogr. 38 poz..
Impact Factor
0.723
13/20
Nr opisu:
0000007356
Surface and bulk values of real part of refractive index of GaSe.
[Aut.]: Mirosława
Kępińska
, R.
Murri
, Marian
Nowak
.
-
Vacuum
2002 vol. 67 iss. 1
, s. 143-147.
Impact Factor
0.723
14/20
Nr opisu:
0000007354
XPS study of the surface Fermi level of (NH4)(2)S-x-passivated GaAs(100) surface.
[Aut.]: Jacek**
Szuber
, Piotr*
Kościelniak
,
[i in.]
.
-
Vacuum
2002 vol. 67 iss. 1
, s. 53-58.
Impact Factor
0.723
15/20
Nr opisu:
0000019560
A new type of electron energy analyzer based on three coaxial cylindrical electrodes for Auger electron spectroscopy.
[Aut.]: Piotr*
Kościelniak
, S.
Koszczyszyn
, Jacek**
Szuber
.
-
Vacuum
2001 vol. 63 iss. 1/2
, s. 361-366, bibliogr. 15 poz..
Impact Factor
0.541
16/20
Nr opisu:
0000037775
Computer analysis of photoluminescence efficienty at InP surface with U-shaped surface state continuum.
[Aut.]: Marcin**
Miczek
, Bogusława
Adamowicz
, Jacek**
Szuber
, H.
Hasegawa
.
-
Vacuum
2001 vol. 63 iss. 1/2
, s. 223-227, bibliogr. 19 poz..
Impact Factor
0.541
17/20
Nr opisu:
0000004955
Application of high-frequency contactless method of PEM investigations to examine near-surface layer of Si and GaAs.
[Aut.]: Marian
Nowak
, Barbara
Solecka
.
-
Vacuum
2000 vol. 57 iss. 2
, s. 237-242, bibliogr. 7 poz..
Impact Factor
0.520
18/20
Nr opisu:
0000002936
New procedure determination for the interface Fermi level position for automatic hydrogen cleaned GaAs(100) surface using photoemission.
[Aut.]: Jacek**
Szuber
.
-
Vacuum
2000 vol. 57 iss. 2
, s. 209-217, bibliogr. 34 poz..
Impact Factor
0.520
19/20
Nr opisu:
0000000078
Some effects of (NH4)2Sx treatment of n-GaAs surface on electrical characteristics of metal-SiO2-GaAs structures.
[Aut.]: Stanisław**
Kochowski
, B.
Paszkiewicz
, R.
Paszkiewicz
.
-
Vacuum
2000 vol. 57 iss. 2
, s. 157-162, bibliogr. 22 poz..
Impact Factor
0.520
20/20
Nr opisu:
0000000079
Electronic properties of the iron phthalocyanine thin films UHV annealed and exposed to oxygen.
[Aut.]: Jacek**
Szuber
, B.
Szczepaniak
, Stanisław**
Kochowski
, Aleksander*
Opilski
.
-
Vacuum
1995 vol. 46 iss. 5/6
, s. 547-549, bibliogr. 21 poz.
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie