Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
THIN SOLID FILMS
Liczba odnalezionych rekordów:
44
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/44
Nr opisu:
0000135214
Structure and corrosion behavior of TiO2 thin films deposited onto Mg-based alloy using magnetron sputtering and sol-gel.
[Aut.]: Aneta
Kania
, Wirginia
Pilarczyk
, Magdalena
Szindler
.
-
Thin Solid Films
2020 vol. 701
, art. no. 137945 s. 1-7, bibliogr. 28 poz..
Impact Factor
2.030.
Punktacja MNiSW
70.000
dwutlenek tytanu
;
powłoka cienka
;
morfologia powierzchni
;
analiza strukturalna
;
chropowatość powierzchni
;
zachowanie elektrochemiczne
;
ochrona przed korozją
;
płyn Ringera
titanium dioxide
;
thin film
;
surface morphology
;
structural analysis
;
surface roughness
;
electrochemical behavior
;
corrosion protection
;
Ringer's solution
2/44
Nr opisu:
0000125508
Atomic and electronic structure of graphene oxide/Cu interface.
[Aut.]: D. W.
Boukhvalov
, E. Z.
Kurmaev
, Ewelina*
Urbańczyk
, G.
Dercz
, Agnieszka
Stolarczyk
, Wojciech
Simka
, A. I.
Kukharenko
, I. S.
Zhidkov
, A. I.
Slesarev
, A. F.
Zatsepin
, S. O.
Cholakh
.
-
Thin Solid Films
2018 vol. 665
, s. 91-108, bibliogr. 59 poz..
Impact Factor
1.888.
Punktacja MNiSW
30.000
grafen
;
tlenek grafenu
;
zredukowany tlenek grafenu
;
teoria funkcjonału gęstości
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
przewodność
graphene
;
graphene oxide
;
reduced graphene oxide
;
Density Functional Theory
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
conductivity
3/44
Nr opisu:
0000112434
Preface. Special Issue IX International Workshop on Semiconductor Gas Sensors-SGS'2015.
[Aut.]: Monika
Kwoka
.
-
Thin Solid Films
2016 vol. 618 pt. B, iss. SI
, s. 231
4/44
Nr opisu:
0000107435
Silica layers as masks in Ag
+
-Na
+
ion exchange processes.
[Aut.]: Roman
Rogoziński
, Cuma
Tyszkiewicz
, Paweł
Karasiński
, Michał**
Żelechower
, Janusz**
Szala
.
-
Thin Solid Films
2016 vol. 615
, s. 122-127, bibliogr. 25 poz..
Impact Factor
1.879.
Punktacja MNiSW
30.000
warstwa krzemionkowa
;
zol-żel
;
wymiana jonowa
;
światłowód paskowy
silica film
;
sol-gel
;
ion-exchange
;
channel waveguide
5/44
Nr opisu:
0000110493
Study of optical and electrical properties of thin films of the conducting comb-like graft copolymer of polymethylsiloxane with poly(3-hexyltiophene) and poly(ethylene) glycol side chains for low temperature NO
2
sensing.
[Aut.]: Erwin
Maciak
, Marcin
Procek
, Kinga
Kępska
, Agnieszka
Stolarczyk
.
-
Thin Solid Films
2016 vol. 618 Pt B
, s. 277-285, bibliogr. 39 poz.
Referat wygłoszony na: IX International Workshop on Semiconductor Gas Sensors - SGS'2015.
Impact Factor
1.879.
Punktacja MNiSW
30.000
poli(3-heksylotiofen)
;
polimer szczepiony
;
czujnik gazu
;
półprzewodnik organiczny
;
powierzchniowy rezonans plazmonowy
;
polimer przewodzący
;
cienka powłoka
;
chemirezystancyjny czujnik
poly(3-hexylthiophene)
;
graft polymer
;
gas sensor
;
organic semiconductor
;
surface plasmon resonance
;
conducting polymer
;
thin film
;
chemoresistive sensor
6/44
Nr opisu:
0000099861
Experimental and computational evidence for hydrogen bonding interaction between 2'-deoxyadenosine conjugate adduct and amino-terminated organic film on Si(001).
[Aut.]: A.
Szwajca
, Maciej
Krzywiecki
, D.
Pluskota-Karwatka
.
-
Thin Solid Films
2015 vol. 588
, s. 78-84.
Impact Factor
1.761.
Punktacja MNiSW
30.000
analiza powierzchniowa
;
wiązanie wodorowe
;
samoorganizujące się monowarstwy
;
3-aminopropylotrietoksysilan
surface analysis
;
hydrogen bond
;
self-assembled monolayers
;
3-Aminopropyltrimethoxysilane
7/44
Nr opisu:
0000089658
Surface states and space charge layer electronic parameters specification for long term air-exposed copper phthalocyanine thin films.
[Aut.]: Lucyna
Grządziel
, Maciej
Krzywiecki
.
-
Thin Solid Films
2014 vol. 550
, s. 361-366, bibliogr. 29 poz..
Impact Factor
1.759.
Punktacja MNiSW
30.000
półprzewodnik organiczny
;
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
właściwości elektronowe powierzchni
;
wydajność kwantowa fotoemisji
;
dipol powierzchni
;
efekt dipola
organic semiconductor
;
copper phthalocyanine
;
thin film
;
surface electronic properties
;
photoemission yield spectroscopy
;
surface dipole
;
dipole effect
8/44
Nr opisu:
0000094441
Application of scanning microscopy to study correlation between thermal properties and morphology of BaTiO
3
thin films.
[Aut.]: Anna
Kaźmierczak-Bałata
, Jerzy
Bodzenta
, Maciej
Krzywiecki
, Justyna
Juszczyk
, J.
Szmidt
, P.
Firlek
.
-
Thin Solid Films
2013 vol. 545
, s. 217-221, bibliogr. 26 poz..
Impact Factor
1.867.
Punktacja MNiSW
30.000
mikroskopia sił atomowych
;
tytanian baru
;
warstwa cienka
;
skaningowa mikroskopia termiczna
;
właściwości termiczne
atomic force microscopy
;
barium titanate
;
thin film
;
scanning thermal microscopy
;
thermal properties
9/44
Nr opisu:
0000088526
Preface.
[Aut.]: Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2013 vol. 548
, s. 664
10/44
Nr opisu:
0000077215
Comparative study of surface morphology of copper phthalocyanine ultra thin films deposited on Si (111) native and RCA-cleaned substrates.
[Aut.]: Maciej
Krzywiecki
, Lucyna
Grządziel
, Jerzy
Bodzenta
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2012 vol. 520 iss. 11
, s. 3965-3970, bibliogr. 35 poz..
Impact Factor
1.890.
Punktacja MNiSW
30.000
półprzewodnik organiczny
;
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
mikroskopia sił atomowych
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
obróbka RCA
organic semiconductor
;
copper phthalocyanine
;
thin film
;
atomic force microscopy
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
RCA treatment
;
silicon native substrate
11/44
Nr opisu:
0000063754
Influence of ambient air exposure on surface chemistry and electronic properties of thin copper phthalocyanine sensing layers.
[Aut.]: Lucyna
Grządziel
, Maciej
Krzywiecki
, H.
Peisert
, T.
Chasse
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2011 vol. 519 iss. 7
, s. 2187-2192, bibliogr. 41 poz..
Impact Factor
1.890.
Punktacja MNiSW
30.000
półprzewodnik organiczny
;
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
właściwości elektroniczne
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
spektroskopia fotoelektronów w nadfiolecie
organic semiconductor
;
copper phthalocyanine
;
thin film
;
electronic properties
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
ultraviolet photoelectron spectroscopy
12/44
Nr opisu:
0000066301
Optical rib waveguides based on sol-gel derived silica-titania films.
[Aut.]: Paweł
Karasiński
, Cuma
Tyszkiewicz
, Roman
Rogoziński
, J.
Jaglarz
, Jacek*
Mazur
.
-
Thin Solid Films
2011 vol. 519 iss. 16
, s. 5544-5551, bibliogr. 31 poz..
Impact Factor
1.890.
Punktacja MNiSW
30.000
zol-żel
;
powłoka krzemionkowo-tytanowa
;
światłowód planarny
;
światłowód żebrowy
sol-gel
;
silica-titania film
;
planar waveguide
;
rib waveguide
13/44
Nr opisu:
0000071142
Preface.
[Aut.]: Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2011 vol. 520 iss. 3
, s. 897
Zeszyt zawiera materiały z: 7th International Workshop on Semiconductor Gas Sensors
14/44
Nr opisu:
0000071525
X-ray photoelectron spectroscopy and thermal desorption spectroscopy comparative studies of L-CVD SnO
2
ultra thin films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, Natalia
Waczyńska
, Piotr*
Kościelniak
, Michał*
Sitarz
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2011 vol. 520 iss. 3
, s. 913-917, bibliogr. 29 poz..
Impact Factor
1.890.
Punktacja MNiSW
30.000
dwutlenek cyny
;
L-CVD
;
powłoka cienka
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
XPS
;
profilowanie głębokościowe
;
spektroskopia termodesorpcyjna
;
chemia powierzchni
tin dioxide
;
L-CVD
;
ultrathin film
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
XPS
;
depth profiling
;
thermal desorption spectroscopy
;
surface chemistry
15/44
Nr opisu:
0000071524
XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In
2
O
3
ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Piotr*
Kościelniak
, Jacek*
Mazur
, J.
Henek
, Monika
Kwoka
, Ł.
Pawela
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2011 vol. 520 iss. 3
, s. 927-931, bibliogr. 36 poz..
Impact Factor
1.890.
Punktacja MNiSW
30.000
In2O3
;
RGVO
;
chemia powierzchni
;
XPS
;
morfologia powierzchni
;
AFM
In2O3
;
RGVO
;
surface chemistry
;
XPS
;
surface morphology
;
AFM
16/44
Nr opisu:
0000071754
Surface acoustic wave-based gas sensors.
[Aut.]: Wiesław
Jakubik
.
-
Thin Solid Films
2010 vol. 520 iss. 3
, s. 986-993, bibliogr. 58 poz..
Impact Factor
1.935
akustyczna fala powierzchniowa
;
Fala Rayleigha
surface acoustic wave
;
Rayleigh wave
;
gas sensor
;
czujnik gazu
;
folia warstwowa
;
layered film
17/44
Nr opisu:
0000058364
X-ray Photoelectron Spectroscopy characterization of native and RCA-treated Si (111) substrates and their influence on surface chemistry of copper phthalocyanine thin films.
[Aut.]: Maciej
Krzywiecki
, Lucyna
Grządziel
, H.
Peisert
, I.
Biswas
, T.
Chasse
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2010 vol. 518 iss. 10
, s. 2688-2694, bibliogr. 37 poz..
Impact Factor
1.935
warstwa cienka
;
półprzewodnik organiczny
;
spektroskopia fotoemisyjna
;
promieniowanie rentgenowskie
thin film
;
organic semiconductor
;
photoemission spectroscopy
;
X-ray
18/44
Nr opisu:
0000071753
XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In
2
O
3
ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Piotr*
Kościelniak
, Jacek*
Mazur
, J.
Henek
, Monika
Kwoka
, L.
Pawela
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2010 vol. 520 iss. 3
, s. 927-931, bibliogr. 36 poz..
Impact Factor
1.935
In2O3
;
RGVO
;
XPS
;
chemia powierzchni
;
morfologia powierzchni
;
AFM
In2O3
;
RGVO
;
XPS
;
surface chemistry
;
surface morphology
;
AFM
19/44
Nr opisu:
0000056437
Hydrogen gas-sensing with bilayer structures of WO
3
and Pd in SAW and electric systems.
[Aut.]: Wiesław
Jakubik
.
-
Thin Solid Films
2009 vol. 517 iss. 22
, s. 6188-6191, bibliogr. 12 poz.
detektor wodorowy
;
struktura dwuwarstwowa
;
trójtlenek wolframu
;
pallad
;
akustyczna fala powierzchniowa
;
metoda elektryczna
hydrogen sensor
;
bilayer structure
;
tungsten trioxide
;
palladium
;
surface acoustic wave
;
electrical method
20/44
Nr opisu:
0000056850
Influence of substrate doping on the surface chemistry and morphology of Copper Phthalocyanine ultra thin films on Si (111) substrates.
[Aut.]: Maciej
Krzywiecki
, L.
Ottaviano
, Lucyna
Grządziel
, P.
Parisse
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2009 vol. 517 iss. 5
, s. 1630-1635, bibliogr. 15 poz.
półprzewodnik organiczny
;
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
właściwości powierzchniowe
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
mikroskopia sił atomowych
organic semiconductor
;
copper phthalocyanine
;
thin film
;
surface properties
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
atomic force microscopy
21/44
Nr opisu:
0000056438
Local surface morphology and chemistry of SnO
2
thin films deposited by rheotaxial growth and thermal oxidation method for gas sensor application.
[Aut.]: L.
Ottaviano
, Monika
Kwoka
, F.
Bisti
, P.
Parisse
, V.
Grossi
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2009 vol. 517 iss. 22
, s. 6161-6169, bibliogr. 29 poz..
Impact Factor
1.727
dwutlenek cyny
;
RGTO
;
podłoże krzemowe
;
stechiometria
;
dyfrakcja rentgenowska
;
wytrzymałość na zginanie
;
mikroskopia sił atomowych
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
tin dioxide
;
Rheological Growth and Thermal Oxidation (RGTO)
;
surface morphology
;
stoichiometry
;
X-ray diffraction
;
scanning electron microscopy
;
atomic force microscopy
;
X-ray photoelectron spectroscopy
22/44
Nr opisu:
0000056802
Spectrogoniometric determination of refractive indices of GaSe.
[Aut.]: Mirosława
Kępińska
, Marian
Nowak
, Piotr
Duka
, B.
Kauch
.
-
Thin Solid Films
2009 vol. 517 iss. 13
, s. 3792-3796, bibliogr. 23 poz.
warstwa cienka
;
selenek galu
;
materiał anizotropowy
;
współczynnik załamania
;
spektrogoniometria
thin film
;
selenide gallium
;
anisotropic material
;
refractive index
;
spectrogoniometry
23/44
Nr opisu:
0000047863
Influence of Nd dopants on lattice parameters and thermal and elastic properties in YVO
4
single crystals.
[Aut.]: J.
Kucytowski
, K.
Wokulska
, Anna
Kaźmierczak-Bałata
, Jerzy
Bodzenta
, T.
Łukasiewicz
, B.
Hofman
, Monika*
Pyka
.
-
Thin Solid Films
2008 vol. 516 iss. 22
, s. 8125-8129, bibliogr. 15 poz.
Zawiera materiały z: EMRS 2007 Fall Meeting. Symposium H: Current trends in optical and x-ray metrology of advanced materials and devices II, Warsaw, Poland
parametr sieci krystalicznej
;
dyfuzyjność cieplna
;
monokryształ
lattice parameter
;
thermal diffusivity
;
single crystal
24/44
Nr opisu:
0000039992
AFM study of the surface morphology of L-CVD SnO
2
thin films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2007 vol. 515 iss. 23
, s. 8328-8331, bibliogr. 14 poz..
Impact Factor
1.693
dwutlenek cyny
;
cienka powłoka L-CVD
;
mikroskopia sił atomowych
;
morfologia powierzchni
tin dioxide
;
L-CVD thin film
;
atomic force microscopy
;
surface morphology
25/44
Nr opisu:
0000039993
Investigations of thin film structures of WO
3
and WO
3
with Pd for hydrogen detection in a surface acoustic wave sensor system.
[Aut.]: Wiesław
Jakubik
.
-
Thin Solid Films
2007 vol. 515 iss. 23
, s. 8345-8350, bibliogr. 13 poz.
Zawiera materiały z: 5th International Workshop on Semiconductor Gas Sensors - SGS'2006, Ustroń, Poland, 10-13 September 2006.
Impact Factor
1.693
trójtlenek wolframu
;
pallad
;
struktura dwuwarstwowa
;
czujnik wodoru
;
akustyczna fala powierzchniowa
tungsten trioxide
;
palladium
;
bilayer structure
;
hydrogen sensor
;
surface acoustic wave
26/44
Nr opisu:
0000041334
Preface.
[Aut.]: Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2007 vol. 515 iss. 23
, s. 8301
Zeszyt zawiera materiały z: 5th International Workshop on Semiconductor Gas Sensors - SGS'2006, Ustroń, Poland, 10-13 September 2006
27/44
Nr opisu:
0000039994
Transition metal oxides covered Pd film for optical H
2
gas detection.
[Aut.]: Erwin
Maciak
, Zbigniew
Opilski
.
-
Thin Solid Films
2007 vol. 515 iss. 23
, s. 8351-8355, bibliogr. 12 poz.
Zawiera materiały z: 5th International Workshop on Semiconductor Gas Sensors - SGS'2006, Ustroń, Poland, 10-13 September 2006.
Impact Factor
1.693
światłowodowy czujnik wodoru
;
interferometr warstwowy
;
pallad
;
tlenek metalu
fiber optic hydrogen sensor
;
layered inferometer
;
palladium
;
metal oxide
;
gasochromism
28/44
Nr opisu:
0000021700
On the correlation between morphology and gas sensing properties of RGTO SnO
2
thin films.
[Aut.]: Jacek**
Szuber
, Jerzy
Uljanow
, Teresa**
Buczek-Karczewska
, Wiesław
Jakubik
, Krzysztof**
Waczyński
, Monika
Kwoka
, Sławomir**
Kończak
.
-
Thin Solid Films
2005 vol. 490 iss. 1
, s. 54-58, bibliogr. 18 poz..
Impact Factor
1.569
dwutlenek cyny
;
powłoka cienka
;
osadzanie
;
utlenianie
tin dioxide
;
thin film
;
deposition
;
oxidation
29/44
Nr opisu:
0000021704
XPS study of the surface chemistry of L-CVD SnO
2
thin films after oxidation.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, M.
Passacantando
, S.
Santucci
, Grzegorz*
Czempik
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2005 vol. 490 iss. 1
, s. 36-42, bibliogr. 18 poz..
Impact Factor
1.569
dwutlenek cyny
;
powłoka cienka
;
osadzanie
;
utlenianie
tin dioxide
;
thin film
;
deposition
;
oxidation
30/44
Nr opisu:
0000011168
Characterization of the interface and the bulk phenomena in metal-SiO2-(n) GaAs structure by analysis of the equivalent circuit parameters at different temperatures.
[Aut.]: Stanisław**
Kochowski
, K.
Nitsch
, B.
Paszkiewicz
, R.
Paszkiewicz
.
-
Thin Solid Films
2004 vol. 467 iss. 1/2
, s. 190-196, bibliogr. 42 poz..
Impact Factor
1.647
element stałofazowy
;
właściwości elektryczne
;
miernictwo elektryczne
;
arsenek galu
constant phase element
;
electrical properties
;
electrical measurement
;
gallium arsenide
;
metal-insulator-semiconductor structure
31/44
Nr opisu:
0000123726
On the correlation between morphology and electronic properties of copper phthalocyanine (CuPc) thin films.
[Aut.]: Lucyna
Grządziel
, Jerzy**
Żak
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2003 vol. 436 iss. 1
, s. 70-75, bibliogr. 23 poz.
Referat wygłoszony na: 3rd International Seminar on Semiconductor Gas Sensors. SGS'2002, Ustroń, Poland, 19-22 September 2002.
Impact Factor
1.598
ftalocyjanina miedzi
;
cienka powłoka
;
fotoemisja
;
mikroskop sił atomowych
copper phthalocyanine
;
thin film
;
photoemission
;
atomic force microscope
32/44
Nr opisu:
0000011696
On the correlation between the morphology and the electronic properties of copper phthalocyanine (CuPc) thin films.
[Aut.]: Lucyna
Grządziel
, Jerzy**
Żak
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2003 vol. 436 iss. 1
, s. 70-75, bibliogr. 23 poz..
Impact Factor
1.598
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
fotoemisja
;
mikroskop sił atomowych
copper phthalocyanine
;
thin film
;
photoemission
;
atomic force microscope
33/44
Nr opisu:
0000123735
Rigorous analysis of the electronic properties of InP interfaces for gas sensing.
[Aut.]: Bogusława
Adamowicz
, Marcin**
Miczek
, C.
Brun
, B.
Gruzza
, H.
Hasegawa
.
-
Thin Solid Films
2003 vol. 436 iss. 1
, s. 101-106, bibliogr. 24 poz.
Referat wygłoszony na: 3rd International Seminar on Semiconductor Gas Sensors. SGS'2002, Ustroń, Poland, 19-22 September 2002.
Impact Factor
1.598
InP
;
interfejs
;
właściwości elektroniczne
;
stan powierzchniowy
;
poziom Fermiego
;
wykrywanie gazu
InP
;
interface
;
electronic properties
;
surface states
;
Fermi level
;
gas sensing
34/44
Nr opisu:
0000008347
Two constant phase element behaviour of the admittance characteristics of GaAs metal-insulator-semiconductor structure with deep traps.
[Aut.]: Stanisław**
Kochowski
, K.
Nitsch
, B.
Paszkiewicz
, R.
Paszkiewicz
.
-
Thin Solid Films
2003 vol. 444 iss. 1/2
, s. 208-214, bibliogr. 34 poz..
Impact Factor
1.598
element stałofazowy
;
struktura metal-izolator-półprzewodnik
;
właściwości elektryczne
;
arsenek galu
constant phase element
;
metal-insulator-semiconductor structure
;
electrical properties
;
gallium arsenide
35/44
Nr opisu:
0000000077
Description of the frequency behaviour of metal-SiO2-GaAs structure characteristics by electrical equivalent circuit with constant phase element.
[Aut.]: Stanisław**
Kochowski
, K.
Nitsch
.
-
Thin Solid Films
2002 vol. 415 iss. 1/2
, s. 133-137, bibliogr. 23 poz..
Impact Factor
1.443
36/44
Nr opisu:
0000005184
Distribution of radiation intensity in a thin semiconductor film on a thick substrate.
[Aut.]: V.
Augelli
, Marian
Nowak
.
-
Thin Solid Films
1999 vol. 338
, s. 188-196, bibliogr. 19 poz..
Impact Factor
1.101
37/44
Nr opisu:
0000007633
Electrical properties of SiO2-(n) GaAs interface on the basis of measurements of MIS structure capacitance and conductance.
[Aut.]: Stanisław**
Kochowski
, K.
Nitsch
, R.
Paszkiewicz
.
-
Thin Solid Films
1999 vol. 348 no. 1
, s. 180-187, bibliogr. 29 poz..
Impact Factor
1.101
38/44
Nr opisu:
0000033447
Determination of optical constants and average thickness of thin films on thick substrates using angular distribution of intensity of reflected radiation.
[Aut.]: Janusz*
Jaglarz
, Marian
Nowak
.
-
Thin Solid Films
1996 vol. 278
, s. 124-128, bibliogr. 7 poz.
39/44
Nr opisu:
0000035139
Determination of recombination and photogeneration parameters of a-Si:H using photoconductivity measurements.
[Aut.]: Andrzej
Grabowski
, Marian
Nowak
, P.
Tzanetakis
.
-
Thin Solid Films
1996 vol. 283 iss. 1/2
, s. 75-80, bibliogr. 14 poz.
40/44
Nr opisu:
0000032868
Determination of optical constants and average thickness of inhomogeneous-rough thin films using special dependence of optical transmittance.
[Aut.]: Marian
Nowak
.
-
Thin Solid Films
1995 vol. 254
, s. 200-210, bibliogr. 13 poz.
41/44
Nr opisu:
0000033247
Determining carrier lifetime using frequency dependence in contactless photoelectromagnetic investigations of semiconductors.
[Aut.]: B.
Loncierz
, R.
Murri
, Marian
Nowak
.
-
Thin Solid Films
1995 vol. 266 iss. 2
, s. 274-277, bibliogr. 26 poz.
42/44
Nr opisu:
0000033248
Linear distribution of intensity of radiation reflected from and transmitted through a thin film on a thick substrate.
[Aut.]: Marian
Nowak
.
-
Thin Solid Films
1995 vol. 266
, s. 258-262, bibliogr. 9 poz.
43/44
Nr opisu:
0000060867
The effect of oxygen adsorption on electronic properties of the polar GaAs(111) surface after thermal cleaning in ultrahigh vacuum.
[Aut.]: Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
1989 vol. 170 nr 2
, s. 219-226, bibliogr. 45 poz.
44/44
Nr opisu:
0000064448
Some electrical properties of the GaAs-anodic oxide interface on the basis of measurements of the capacitance-voltage and conductance-voltage characteristics of metal-oxide-semiconductor structures.
[Aut.]: Stanisław*
Łoś
, Stanisław**
Kochowski
.
-
Thin Solid Films
1988 vol. 165
, s. 21-28, bibliogr. 20 poz.
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie