Wynik wyszukiwania
Zapytanie: OPT APPL
Liczba odnalezionych rekordów: 63



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/63
Nr opisu: 0000138878   
Efficient, low-cost optical coupling mechanism for TiO2-SiO2 sol-gel derived slab waveguide surface grating coupler sensors.
[Aut.]: A. Kaźmierczak, M. Słowikowski, K. Pavłov, M. Filipiak, M. Vervaeke, Cuma Tyszkiewicz, H. Ottevaere, R. Piramidowicz, Paweł Karasiński.
-Opt. Appl. 2020 vol. 50 no. 4, s. 539-549, bibliogr. 15 poz.. Impact Factor 0.673. Punktacja MNiSW 40.000

mikrosoczewka polimerowa ; sprzęganie optyczne ; sprzęgacz siatkowy

polymer microlens ; optical coupling ; grating coupler

2/63
Nr opisu: 0000137848   
Numerical analysis of planar multimode optical sensor with active nanolayer.
[Aut.]: Marek Błahut.
-Opt. Appl. 2020 vol. 50 no. 3, s. 377-390, bibliogr. 12 poz.. Impact Factor 0.673. Punktacja MNiSW 40.000

interferencja międzymodowa ; czujnik optyczny ; światłowód planarny

multimode interference ; optical sensor ; planar waveguide

3/63
Nr opisu: 0000138879   
The optical parameters of TiO2 antireflection coating prepared by atomic layer deposition method for photovoltaic application.
[Aut.]: Marek Szindler, Magdalena Szindler.
-Opt. Appl. 2020 vol. 50 no. 4, s. 663-670, bibliogr. 16 poz.. Impact Factor 0.673. Punktacja MNiSW 40.000

cienka powłoka ; osadzanie warstw atomowych ; dwutlenek tytanu

thin film ; atomic layer deposition ; titanium dioxide

4/63
Nr opisu: 0000104661   
The impact of atomic layer deposition technological parameters on optical properties and morphology of Al2O3 thin films.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler, Magdalena Szindler, B. Hajduk, S. Kotowicz.
-Opt. Appl. 2015 vol. 45 no. 4, s. 573-583, bibliogr. 12 poz.. Impact Factor 0.637. Punktacja MNiSW 15.000

tlenek glinu ; atomowe osadzanie warstw ; powłoka cienka

aluminium oxide ; atomic layer deposition ; thin film

5/63
Nr opisu: 0000085135   
Ohmic contacts for room-temperature AlGaAs/GaAs quantum cascade lasers (QCL).
[Aut.]: A. Barańska, A. Szerling, P. Karbownik, K. Hejduk, M. Bugajski, A. Łaszcz, K. Gołaszewska-Malec, Wojciech Filipowski.
-Opt. Appl. 2013 vol. 43 no. 1, s. 5-15, bibliogr. 10 poz.. Impact Factor 0.643. Punktacja MNiSW 15.000

kontakt omowy ; n-GaAs ; CTLM ; EDXS ; TEM

ohmic contact ; n-GaAs ; CTLM ; EDXS ; TEM

6/63
Nr opisu: 0000087861   
Optical methods applied in thickness and topography testing of passive layers on implantable titanium alloys.
[Aut.]: Janusz Szewczenko, J. Jaglarz, Marcin Basiaga, J. Kurzyk, Zbigniew Paszenda.
-Opt. Appl. 2013 vol. 43 no. 1, s. 173-180, bibliogr. 14 poz.. Impact Factor 0.643. Punktacja MNiSW 15.000

biomateriały ; Ti6Al7Nb ; warstwa pasywna ; rozpraszanie światła ; dwukierunkowa funkcja rozkładu odbicia ; BRDF ; optyka cienkich warstw

biomaterials ; Ti6Al7Nb ; passive layer ; light scattering ; bidirectional reflection distribution function ; BRDF ; thin films optics

7/63
Nr opisu: 0000093192   
Polarization effects in K+-Na+ ion exchanged MMI structures with absorption cover.
[Aut.]: Artur* Szewczuk, Marek Błahut.
-Opt. Appl. 2013 vol. 43 no. 3, s. 441-452, bibliogr. 12 poz.. Impact Factor 0.643. Punktacja MNiSW 15.000

wielomodowa struktura interferencyjna ; sensor optyczny ; tłumienie modalne

multimode interference structure ; optical sensor ; modal attenuation

8/63
Nr opisu: 0000088327   
Two-dimensional modeling of surface photovoltage in metal/insulator/n-GaN structure with cylindrical symmetry.
[Aut.]: Maciej* Matys, P. Powroźnik, D. Kupka, Bogusława Adamowicz.
-Opt. Appl. 2013 vol. 43 no. 1, s. 47-52, bibliogr. 7 poz.. Impact Factor 0.643. Punktacja MNiSW 15.000

fotonapięcie powierzchniowe ; azotek galu ; metal/izolator/GaN ; struktura MIS ; detektor ultrafioletu

surface photovoltage ; gallium nitride ; metal/insulator/GaN ; MIS structure ; UV detector

9/63
Nr opisu: 0000077408   
A suggestion of utilizing biomodal layers of the polymer SU8 for the purpose of monitoring the changes in the refractive index.
[Aut.]: Kazimierz Gut.
-Opt. Appl. 2012 vol. 42 no. 2, s. 407-416, bibliogr. 27 poz.. Impact Factor 0.541. Punktacja MNiSW 15.000

światłowód planarny ; interferometr ; zintegrowany czujnik optyczny ; interferometr różnicowy

planar waveguide ; interferometer ; integrated optical sensor ; difference interferometer

10/63
Nr opisu: 0000079439   
Homogeneous sensitivity of sol-gel derived planar waveguide structures - theoretical analysis.
[Aut.]: Cuma Tyszkiewicz.
-Opt. Appl. 2012 vol. 42 no. 3, s. 555-569, bibliogr. 23 poz.. Impact Factor 0.541. Punktacja MNiSW 15.000

światłowód żebrowy ; czujnik optyczny

rib waveguide ; optical sensor

11/63
Nr opisu: 0000071973   
Analysis of chemical shifts in Auger electron spectra versus sputtering time from passivated surfaces.
[Aut.]: Alina Domanowska, Bogusława Adamowicz, Piotr* Bidziński, Andrzej** Klimasek, Janusz Szewczenko, T. Gutt, H. Przewłocki.
-Opt. Appl. 2011 vol. 41 no. 2, s. 441-447, bibliogr. 8 poz.. Impact Factor 0.398. Punktacja MNiSW 15.000

spektroskopia elektronów Augera ; interfejs ; pasywacja ; algorytm ewolucyjny

Auger electron spectroscopy ; interface ; passivation ; evolutionary algorithm

12/63
Nr opisu: 0000067732   
Optical channel structures based on sol-gel derived waveguide films.
[Aut.]: Paweł Karasiński, Cuma Tyszkiewicz, Roman Rogoziński.
-Opt. Appl. 2011 vol. 41 no. 2, s. 351-357, bibliogr. 17 poz.. Impact Factor 0.398. Punktacja MNiSW 15.000

żebrowy światłowód ; zol-żel ; sprzęgacz kierunkowy

rib waveguide ; sol-gel ; directional coupler

13/63
Nr opisu: 0000063330   
Theoretical analysis of electro-optical characteristics of the modified three cylindrical mirror analyzer.
[Aut.]: Sz. Klein, S. Kaszczyszyn, A. Grzeszczak, Piotr* Kościelniak.
-Opt. Appl. 2010 vol. 40 no. 2, s. 521-526, bibliogr. 7 poz.. Impact Factor 0.347

analizator zwierciadlany cylindryczny ; analizator TCMA ; metoda Bashfortha-Adamsa-Moultona

cylindrical mirror analyzer ; TCMA analyzer ; Bashforth-Adams-Moulton method

14/63
Nr opisu: 0000054513   
Self-imaging effects in curved gradient index multibode interference structures made by K+-Na+ ion exchange.
[Aut.]: Marek Błahut, D. Froniewski.
-Opt. Appl. 2009 vol. 39 no. 3, s. 445-458, bibliogr. 12 poz.. Impact Factor 0.358

wielomodowa struktura interferencyjna ; struktura MMI ; wymiana jonowa

multimode interference structure ; MMI structure ; ion exchange

15/63
Nr opisu: 0000047646   
Energy transfer from Cr3+ to Nd3+ and NIR luminescence of Nd3+ in lead borate glasses.
[Aut.]: Joanna* Pisarska.
-Opt. Appl. 2008 vol. 38 no. 1, s. 203-210, bibliogr. 15 poz.

szkło ołowiano-boranowe ; neodym ; chrom ; jony Nd3+ ; jony Cr3+ ; transmisja energii ; luminescencja NIR ; własności optyczne

lead borate glass ; neodymium ; chromium ; Nd3+ ions ; Cr3+ ions ; energy transfer ; NIR luminescence ; optical properties

16/63
Nr opisu: 0000047648   
Near-infrared luminescence of rare earth ions in oxyfluoride lead borate glasses and transparent glass-ceramic materials.
[Aut.]: Joanna* Pisarska, W. Ryba-Romanowski, G. Dominiak-Dzik, T. Goryczka, W. Pisarski.
-Opt. Appl. 2008 vol. 38 no. 1, s. 211-216, bibliogr. 15 poz.

szkło fluorotlenkowe ; szkło-ceramika ; jony ziem rzadkich ; luminescencja

oxyfluoride glass ; glass ceramics ; rare earth ions ; luminescence

17/63
Nr opisu: 0000042138   
Thermal parameters of solids determination by the photodeflection method - theories and experiment comparison.
[Aut.]: Dorota* Korte-Kobylińska, Roman Bukowski, Jerzy Bodzenta, Stanisław** Kochowski.
-Opt. Appl. 2008 vol. 38 no. 2, s. 445-458, bibliogr. 21 poz.

metoda fototermiczna ; zespolona optyka geometryczna ; wyznaczanie parametrów termicznych

photodeflection method ; complex geometrical optics ; thermal parameters determination

18/63
Nr opisu: 0000039315   
Capacitance-voltage and Auger chemical profile studies on AIGaN/GaN structures passivated by SiO2/Si3N4 and SiNx/Si3N4 bilayers.
[Aut.]: Bogusława Adamowicz, Marcin** Miczek, T. Hashizume, Andrzej** Klimasek, P. Bobek, J. Żywicki.
-Opt. Appl. 2007 vol. 37 no. 4, s. 327-334, bibliogr. 25 poz.. Impact Factor 0.284

azotek galu ; HEMT ; bramka izolowana ; pasywacja ; C-V ; spektroskopia elektronów Augera

gallium nitride ; HEMT ; insulated gate ; passivation ; C-V ; Auger electron spectroscopy ; chemical in-depth profiles

19/63
Nr opisu: 0000039011   
Computer analysis of oxygen adsorption at SnO2 thin films.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Bogusława Adamowicz.
-Opt. Appl. 2007 vol. 37 no. 4, s. 377-385, bibliogr. 23 poz.. Impact Factor 0.284

SnO2 ; warstwa cienka ; nanowarstwa ; adsorpcja tlenu ; warstwa zubożona ; struktura sensorowa ; modelowanie

SnO2 ; thin film ; nanolayer ; oxygen adsorption ; depletion layer ; sensor structure ; modelling

20/63
Nr opisu: 0000039318   
Optical interferometric structures for application in gas sensors.
[Aut.]: Tadeusz Pustelny, Erwin Maciak, Zbigniew Opilski, Mateusz* Bednorz.
-Opt. Appl. 2007 vol. 37 no. 1/2, s. 187-194, bibliogr. 13 poz.. Impact Factor 0.284

czujnik światłowodowy ; optoelektroniczny czujnik gazu ; interferometria optyczna

optical fibre sensor ; optoelectronic gas sensor ; optical interferometry

21/63
Nr opisu: 0000032527   
Influence of aging and annealing on the properties of silica films produced with sol-gel method.
[Aut.]: Paweł Karasiński.
-Opt. Appl. 2006 vol. 36 no. 2/3, s. 389-399, bibliogr. 13 poz.. Impact Factor 0.312

zol-żel ; warstwa krzemionkowa ; powlekanie zanurzeniowe

sol-gel ; silica film ; dip-coating

22/63
Nr opisu: 0000015201   
Deflective signal analysis in photothermal measurements in the frame of complex geometrical optics.
[Aut.]: Roman Bukowski, D. Korte.
-Opt. Appl. 2005 vol. 35 no. 1, s. 77-97, bibliogr. 11 poz.. Impact Factor 0.459

zespolona optyka geometryczna ; fala termiczna ; wiązka Gaussowska ; zmiana fazy ; zjawisko mirażu

complex geometrical optics ; thermal wave ; Gaussian beam ; phase change ; mirage effect

23/63
Nr opisu: 0000023087   
Energy transfer from Yb to X (X = Tm, Er) in lead borate glasses.
[Aut.]: Joanna* Pisarska, W. Ryba-Romanowski, G. Dominiak-Dzik, T. Goryczka, W. Pisarski.
-Opt. Appl. 2005 vol. 35 no. 4, s. 837-842, bibliogr. 9 poz.. Impact Factor 0.459

szkło ołowiano-boranowe ; jony ziem rzadkich ; transmisja energii ; konwersja wzbudzenia

lead borate glass ; rare earth ions ; energy transfer ; up-conversion

24/63
Nr opisu: 0000018247   
High resolution photoemission yield study of the GaAs(100) surface cleaned by atomic hydrogen.
[Aut.]: P. Tomkiewicz, Piotr* Kościelniak, Adam* Girycki, Jacek** Szuber.
-Opt. Appl. 2005 vol. 35 no. 3, s. 385-391, bibliogr. 23 poz.. Impact Factor 0.459

25/63
Nr opisu: 0000018248   
High-sensitivity NO2 sensor based on n-type InP epitaxial layers.
[Aut.]: K. Wierzbowska, Bogusława Adamowicz, L. Mazet, J. Brunet, A. Pauly, L. Bideux, Ch. Varenne, L. Berry, J.P. Germain.
-Opt. Appl. 2005 vol. 35 no. 3, s. 655-662, bibliogr. 11 poz.. Impact Factor 0.459

fosforek indu ; warstwa epitaksjalna ; czujnik gazu ; stan powierzchniowy ; symulacja komputerowa

indium phosphide ; epitaxial layer ; gas sensor ; surface states ; computer simulation

26/63
Nr opisu: 0000018246   
Influence of surface states and bulk traps on non-equilibrium phenomena at GaAs and GaN surfaces.
[Aut.]: Marcin** Miczek, Bogusława Adamowicz, T. Hashizume, H. Hasegawa.
-Opt. Appl. 2005 vol. 35 no. 3, s. 355-361, bibliogr. 28 poz.. Impact Factor 0.459

arsenek galu ; azotek galu ; stan powierzchniowy ; fotoluminescencja ; fotonapięcie powierzchniowe

gallium arsenide ; gallium nitride ; surface states ; photoluminescence ; surface photovoltage

27/63
Nr opisu: 0000015203   
Influence of technological parameters on the properties of sol-gel silica films.
[Aut.]: Paweł Karasiński.
-Opt. Appl. 2005 vol. 35 no. 1, s. 117-128, bibliogr. 14 poz.. Impact Factor 0.459

zol-żel ; warstwa krzemionkowa ; powłoka zanurzeniowa

sol-gel ; silica film ; dip coating

28/63
Nr opisu: 0000015198   
Bragg's grating coupler in planar optical sol-gel waveguides.
[Aut.]: Tadeusz Pustelny, I. Zielonka, Paweł Karasiński, J. Jurusik.
-Opt. Appl. 2004 vol. 34 no. 4, s. 477-487, bibliogr. 21 poz.. Impact Factor 0.308

optyka zintegrowana ; światłowody planarne ; sprzęgacz siatkowy ; metoda zol-żel

integrated optics ; planar waveguides ; grating coupler ; sol-gel method

29/63
Nr opisu: 0000015199   
Differential interferometry in planar waveguide structures with ferronematic layer.
[Aut.]: Cuma Tyszkiewicz, Tadeusz Pustelny.
-Opt. Appl. 2004 vol. 34 no. 4, s. 507-514, bibliogr. 6 poz.. Impact Factor 0.308

optyka planarna ; efekt magnetooptyczny ; ferronematyk ; ciekły kryształ

planar optics ; magnetooptic effect ; ferronematic ; liquid crystal

30/63
Nr opisu: 0000009864   
Experimental investigation of thin metalphthalocyanine layers CuPc, PbPc, NiPc by plasmon resonance method to be applied in NO2-sensors.
[Aut.]: Tadeusz Pustelny, Jolanta Ignac-Nowicka, Zbigniew Opilski.
-Opt. Appl. 2004 vol. 34 no. 2, s. 249-264, bibliogr. 18 poz.. Impact Factor 0.308

powierzchniowy rezonans plazmonowy ; ftalocyjaniny

surface plasmon resonance ; phthalocyanines

31/63
Nr opisu: 0000013071   
Multimode interference structures - properties and applications.
[Aut.]: Marek Błahut, D. Kasprzak.
-Opt. Appl. 2004 vol. 34 no. 4, s. 573-587, bibliogr. 15 poz.. Impact Factor 0.308

struktura MMI ; wymiana jonowa ; optyka zintegrowana

MMI structure ; ion-exchange ; integrated optics

32/63
Nr opisu: 0000011345   
Optical investigations concerning layered metalphthalocyanine nanostructures affected by NO2.
[Aut.]: Tadeusz Pustelny, Jolanta Ignac-Nowicka, B. Jarzabek, A. Burian.
-Opt. Appl. 2004 vol. 34 no. 4, s. 551-561, bibliogr. 15 poz.. Impact Factor 0.308

ftalocyjaniny ; transmisja optyczna ; promieniowanie rentgenowskie ; nanowarstwa ; wykrywanie dwutlenku azotu

phthalocyanines ; optical transmission ; X-ray diffraction ; nanolayer ; nitrogen dioxide detection

33/63
Nr opisu: 0000011346   
Optical investigations on layered metalphthalocyanine nanostructures affected by NO2 applying the surface plasmon resonance method.
[Aut.]: Tadeusz Pustelny, Jolanta Ignac-Nowicka, Zbigniew Opilski.
-Opt. Appl. 2004 vol. 34 no. 4, s. 563-572, bibliogr. 11 poz.. Impact Factor 0.308

34/63
Nr opisu: 0000013076   
Refractive index profiles of planar waveguides produced in electrodiffusion processes.
[Aut.]: Roman Rogoziński.
-Opt. Appl. 2004 vol. 34 no. 4, s. 489-505, bibliogr. 13 poz.. Impact Factor 0.308

światłowody planarne

planar waveguides

35/63
Nr opisu: 0000013072      
Sol-gel derived optical waveguide films for planar sensors with phase modulation.
[Aut.]: Paweł Karasiński.
-Opt. Appl. 2004 vol. 34 no. 4, s. 467-475, bibliogr. 15 poz.. Impact Factor 0.308

zol-żel ; powłoka cynkowa ; światłowód planarny ; sensor planarny

sol-gel ; zinc coating ; planar waveguide ; planar sensor

36/63
Nr opisu: 0000013073   
Special optical fiber type "D" applied in optical sensor of electric currents.
[Aut.]: Tadeusz Pustelny, K. Barczak, Kazimierz Gut, J. Wójcik.
-Opt. Appl. 2004 vol. 34 no. 4, s. 531-539, bibliogr. 13 poz.. Impact Factor 0.308

efekt magnetooptyczny ; światłowody specjalne ; czujnik optoelektroniczny ; polaryzacja światła

magneto-optic effect ; special optical fibres ; optoelectronic sensor ; light polarization

37/63
Nr opisu: 0000008590   
Investigations of multimode interference structures made by ion exchange in glass.
[Aut.]: Marek Błahut, D. Kasprzak.
-Opt. Appl. 2003 vol. 33 no. 4, s. 613-626, bibliogr. 8 poz.. Impact Factor 0.221

wielomodowa struktura interferencyjna ; wymiana jonowa

multimode interference structure ; ion-exchange

38/63
Nr opisu: 0000008588   
Optical fiber sensors of magnetic field applying Faraday's effect.
[Aut.]: Tadeusz Pustelny, Cuma Tyszkiewicz, K. Barczak.
-Opt. Appl. 2003 vol. 33 no. 2/3, s. 469-475, bibliogr. 10 poz.. Impact Factor 0.221

czujniki światłowodowe ; efekt magnetooptyczny ; stan polaryzacji

optical fiber sensors ; magnetooptic effect ; polarization state

39/63
Nr opisu: 0000008353   
Physical properties of InF3 - based glasses.
[Aut.]: Joanna* Pisarska, M. Slezok, Michał** Żelechower, [i in.].
-Opt. Appl. 2003 vol. 33 no. 1, s. 133-139. Impact Factor 0.221

fluoridate okulary ; pierwiastki ziem rzadkich ; właściwości fizyczne

fluoroindate glasses ; rare earth fluoride ; physical properties

40/63
Nr opisu: 0000008587   
Physical properties of InF3-based glasses.
[Aut.]: Joanna* Pisarska, M. Ślęzok, Michał** Żelechower, W. Pisarski, T. Goryczka, W. Ryba-Romanowski.
-Opt. Appl. 2003 vol. 33 no. 1, s. 133-139, bibliogr. 11 poz.. Impact Factor 0.221

fluoridate okulary ; właściwości fizyczne

fluoroindate glasses ; physical properties

41/63
Nr opisu: 0000008352
Sol-gel derived sensitive films for ammonia evanescent wave sensors.
[Aut.]: Paweł Karasiński.
-Opt. Appl. 2003 vol. 33 no. 2/3, s. 477-487. Impact Factor 0.221

42/63
Nr opisu: 0000008589   
Sol-gel derived sensitive films for ammonia evanescent wave sensors.
[Aut.]: Paweł Karasiński.
-Opt. Appl. 2003 vol. 33 no. 2/3, s. 477-487, bibliogr. 11 poz.. Impact Factor 0.221

czujnik amoniaku ; spektroskopia fali zanikającej ; zol-żel

ammonia sensor ; evanescent wave spectroscopy ; sol-gel

43/63
Nr opisu: 0000008586   
Characterization of electronic properties of InP(100) surface from computer-aided analysis of photoluminescence.
[Aut.]: Marcin** Miczek, Bogusława Adamowicz.
-Opt. Appl. 2002 vol. 32 no. 3, s. 227-233, bibliogr. 27 poz.. Impact Factor 0.291

44/63
Nr opisu: 0000007316   
Characterization of electronic properties of InP(100) surfaces from computer-aided analysis of photoluminescence.
[Aut.]: Marcin** Miczek, Bogusława Adamowicz, H. Hasegawa.
-Opt. Appl. 2002 vol. 32 no. 3, s. 227-233, bibliogr. 27 poz.. Impact Factor 0.291

45/63
Nr opisu: 0000008365   
Inexpensive linear scanning of the Fabry-Perot interferometer.
[Aut.]: Tomasz Błachowicz.
-Opt. Appl. 2002 vol. 32 no. 4, s. 829-832. Impact Factor 0.291

46/63
Nr opisu: 0000008363   
Influence of waveguide parameters on the difference interference in optical planar structure.
[Aut.]: Paweł Karasiński.
-Opt. Appl. 2002 vol. 32 no. 4, s. 775-795. Impact Factor 0.291

47/63
Nr opisu: 0000008364   
Perturbation calculus for eikonal application to analysis of the deflectional signal in photothermal measurements.
[Aut.]: Roman Bukowski, D. Korte.
-Opt. Appl. 2002 vol. 32 no. 4, s. 817-828. Impact Factor 0.291

48/63
Nr opisu: 0000007318   
Concurrent signal processing in optimized hybrid CGH-ANN system.
[Aut.]: Krzysztof Cyran, L. Jaroszewicz, T. Niedziela, I. Merta.
-Opt. Appl. 2001 vol. 31 no. 4, s. 675-689. Impact Factor 0.298

49/63
Nr opisu: 0000007172   
Roughness of amorphous Zn-P thin films.
[Aut.]: B. Jarząbek, J. Jurusik, Jan* Cisowski, Marian Nowak.
-Opt. Appl. 2001 vol. 31 no. 1, s. 93-101. Impact Factor 0.298

50/63
Nr opisu: 0000054514   
Optical waveguide splitters based on multimode interference structures made by ion exchange in glass.
[Aut.]: Marek Błahut.
-Opt. Appl. 2000 vol. 30 no. 2/3, s. 401-413, bibliogr. 9 poz.. Impact Factor 0.231

51/63
Nr opisu: 0000006921   
Optimized CGH-based pattern recognizer.
[Aut.]: L. Jaroszewicz, Krzysztof Cyran, Tomasz* Podeszwa.
-Opt. Appl. 2000 vol. 30 no. 2/3, s. 317-333. Impact Factor 0.231

52/63
Nr opisu: 0000007485
Applicability of interference TE//O-TM//O modes and TE//O-TE//1 modes to the construction of waveguide sensors.
[Aut.]: Kazimierz Gut, Paweł Karasiński, W. Wójcik, Roman Rogoziński, Zbigniew Opilski, Aleksander* Opilski.
-Opt. Appl. 1999 vol. 29 no. 1, s. 101-109. Impact Factor 0.125

53/63
Nr opisu: 0000007486
Automation of set-ups for the measurement of refractive index profile and attenuation in planar waveguides.
[Aut.]: Zbigniew Opilski, Roman Rogoziński.
-Opt. Appl. 1999 vol. 29 no. 1, s. 87-93. Impact Factor 0.125

54/63
Nr opisu: 0000007487
Beam propagation method for analysis of multimode interference structures made by K** plus -Na** plus ion exchange in glass.
[Aut.]: Marek Błahut.
-Opt. Appl. 1999 vol. 29 no. 1, s. 111-123. Impact Factor 0.125

55/63
Nr opisu: 0000007743
Spectral response of integrated-optic ammonia sensor.
[Aut.]: Zbigniew Opilski, Paweł Karasiński, Aleksander* Opilski.
-Opt. Appl. 1999 vol. 29 no. 1, s. 95-100. Impact Factor 0.125

56/63
Nr opisu: 0000025594
Electrodiffusion process with the conversion of polarization direction of electric field in the formation of planar waveguide structures using ion exchange technique in glass.
[Aut.]: Roman Rogoziński.
-Opt. Appl. 1998 vol. 28 no. 4, s. 331-343

57/63
Nr opisu: 0000026165
Modelling of the electrodiffusion process for the ion exchange in glass.
[Aut.]: Marek Błahut.
-Opt. Appl. 1998 vol. 28 no. 1, s. 5-16. Impact Factor 0.125

58/63
Nr opisu: 0000026924
Numerical characteristics of the polarimetric interferometer made by K/sup +/-Na/sup +/ ion exchange.
[Aut.]: Marek Błahut.
-Opt. Appl. 1997 vol. 27 iss. 1, s. 3-11

59/63
Nr opisu: 0000035410
Defining refractive diffusive profiles of planar structures in glasses by means of a fringe pattern field.
[Aut.]: Roman Rogoziński, Aleksander* Opilski.
-Opt. Appl. 1996 vol. 26 iss. 2, s. 71-80

60/63
Nr opisu: 0000000063
Model of planar refractometer based on a two-port interferometer in glass.
[Aut.]: Marek Błahut, Roman Rogoziński, Kazimierz Gut, Paweł Karasiński, Aleksander* Opilski.
-Opt. Appl. 1994 vol. 24 no. 3, s. 171-177, bibliogr. 5 poz.

61/63
Nr opisu: 0000025534
Multimode planar refractometer produced in a waved channel lightguide structure.
[Aut.]: Paweł Karasiński, Kazimierz Gut, Marek Błahut, Aleksander* Opilski.
-Opt. Appl. 1994 vol. 24 no. 3, s. 163-170, bibliogr. 7 poz.

62/63
Nr opisu: 0000052585
Application of two-stage thermal diffusion in the technology of buried channel waveguides.
[Aut.]: Marek Błahut, Roman Rogoziński.
-Opt. Appl. 1992 vol. 22 no. 2, s. 109-115, bibliogr. 8 poz.

63/63
Nr opisu: 0000052599
Investigation of usability of the selected types of glass in planar waveguide technology.
[Aut.]: Marek Błahut, Aleksander* Opilski, Roman Rogoziński.
-Opt. Appl. 1992 vol. 22 no. 3/4, s. 161-169, bibliogr. 4 poz.

stosując format:
Nowe wyszukiwanie