Wyniki wyszukiwania

Wynik wyszukiwania

1/237
Nr opisu: 0000131786
Nanometryczne warstwy tlenku cynku wytwarzane metodami próżniowymi.
[Aut.]: Paulina Boryło, Krzysztof Lukaszkowicz.
-Elektronika 2019 R. 60 nr 9, s. 6-10, bibliogr. 8 poz.. Punktacja MNiSW 5.000

transparentne tlenki przewodzące ; tlenek cynku ; osadzanie warstw atomowych ; ALD ; rozpylanie magnetronowe ; PVD

transparent conductive oxide ; zinc oxide ; atomic layer deposition ; ALD ; magnetron sputtering ; PVD

2/237
Nr opisu: 0000130726
Obliczenia dotyczące elementów składowych wpływających na wartość rezystancji szeregowej krzemowego ogniwa słonecznego.
[Aut.]: Małgorzata Musztyfaga-Staszuk.
-Elektronika 2019 R. 60 nr 7, s. 4-6, bibliogr. 12 poz.. Punktacja MNiSW 5.000

krzemowe ogniwo słoneczne ; elektroda przednia ; rezystancja szeregowa

silicon solar cell ; front electrode ; series resistance

3/237
Nr opisu: 0000124754
Analiza parametrów elektrycznych przedniej metalizacji wytworzonej na bazie nowej pasty miedziowej.
[Aut.]: Małgorzata Musztyfaga-Staszuk, G. Putynkowski, P. Panek, P. Zięba.
-Elektronika 2018 R. 59 nr 7, s. 14-16, bibliogr. 10 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

nowa pasta na bazie Cu ; przedni kontakt ; krzemowe ogniwo słoneczne ; metoda TLM

new Cu based paste ; front contact electrode ; silicon solar cell ; TLM method

4/237
Nr opisu: 0000125675
Struktura i własności warstw Al₂O₃ osadzonych metodą ALD na krzemowych ogniwach fotowoltaicznych.
[Aut.]: Marek Szindler, Magdalena Szindler.
-Elektronika 2018 R. 59 nr 9, s. 9-11, bibliogr. 11 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

atomowe osadzanie warstw ; warstwa antyrefleksyjna ; krzemowe ogniwo fotowoltaiczne ; własności optyczne ; charakterystyka prądowo-napięciowa

atomic layer deposition ; antireflection coating ; silicon solar cell ; optical properties ; current-voltage characteristic

5/237
Nr opisu: 0000115492
Detekcja pojazdów przy użyciu obrazów binarnych.
[Aut.]: Zbigniew Czapla.
-Elektronika 2017 R. 58 nr 4, s. 30-32, bibliogr. 8 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

detekcja pojazdu ; obraz binarny ; pole detekcji

vehicle detection ; binary image ; detection field

6/237
Nr opisu: 0000119051
Passivity Based Control in the three phase voltage source inverter for a UPS system.
[Aut.]: Zbigniew Rymarski, Łukasz Dyga, Krzysztof Bernacki.
-Elektronika 2017 R. 58 nr 9, s. 2-6, bibliogr. 16 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

falownik napięcia ; modulacja szerokości impulsu ; sterowanie oparte o pasywność ; sterowanie MISO

voltage source inverter ; pulse-width modulation ; passivity based control ; MISO control

7/237
Nr opisu: 0000117365
SPETO na miarę XL.
[Aut.]: Piotr Holajn, Marian** Pasko, Krzysztof Sztymelski.
-Elektronika 2017 R. 58 nr 6, s. 52-53

elektrotechnika ; SPETO ; konferencja naukowa ; sprawozdanie konferencyjne

electrotechnics ; SPETO ; conference ; conference report

8/237
Nr opisu: 0000107834
Technologia cienkich warstw tlenku cynku o kontrolowanych własnościach strukturalnych, transportowych i optycznych.
[Aut.]: M. A. Borysiewicz, E. Kamińska, T. Wojciechowski, K. Gołaszewska, E. Dynowska, M. Wzorek, R. Kruszka, K. D. Pągowska, Monika Kwoka, Jacek** Szuber, T. Boll, K. Stiller, T. Wojtowicz, A. Piotrowska.
-Elektronika 2016 R. 57 nr 8, s. 75-80, bibliogr. 10 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

tlenek cynku ; ZnO ; katodowe rozpylanie magnetronowe ; przezroczysta elektronika ; czujnik

zinc oxide ; ZnO ; magnetron sputtering ; transparent electronics ; sensor

9/237
Nr opisu: 0000102623
Dekompozycja kolumnowa zespołu funkcji opisanego za pomocą MTBDD ukierunkowana na użycia elementu XOR.
[Aut.]: M. Białas, Dariusz Kania.
-Elektronika 2015 R. 56 nr 10, s. 89-94, bibliogr. 8 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

dekompozycja kolumnowa ; MTBDD ; XOR ; CPLD

column decomposition ; MTBDD ; XOR ; CPLD

10/237
Nr opisu: 0000093497
Cienkie warstwy ZnO wytwarzane techniką magnetronowego rozpylania katodowego: mikrostruktura i funkcjonalność.
[Aut.]: M. Borysiewicz, M. Wzorek, K. Gołaszewska, E. Kamińska, A. Piotrowska, E. Dynowska, T. Wojciechowski, R. Jakieła, T. Wojtowicz, Przemysław Struk, Tadeusz Pustelny.
-Elektronika 2014 R. 55 nr 9, s. 16-19, bibliogr. 21 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

tlenek cynku ; ZnO ; rozpylanie magnetronowe ; warstwa porowata

zinc oxide ; ZnO ; magnetron sputtering ; porous layer

11/237
Nr opisu: 0000092457
IC-SPETO po raz XXXVII.
[Aut.]: Marian** Pasko, Piotr Holajn, Krzysztof Sztymelski.
-Elektronika 2014 R. 55 nr 6, s. 72-73

IC-SPETO ; elektrotechnika ; sprawozdanie konferencyjne

IC-SPETO ; electrotechnics ; conference report

12/237
Nr opisu: 0000091605
Implementacja interfejsu 1-Wire w systemie FreeRTOS dla mikrokontrolera AVR.
[Aut.]: Bernard Wyrwoł.
-Elektronika 2014 R. 55 nr 5, s. 76-78, bibliogr. 6 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

interfejs 1-Wire ; system operacyjny ; FreeRTOS ; mikrokontroler AVR ; system wbudowany ; system uruchomieniowy AVR-FPGA-FIS

1-Wire interface ; operating system ; FreeRTOS ; AVR microcontroller ; embedded system ; AVR-FPGA-FIS development system

13/237
Nr opisu: 0000093516
Możliwości redukcji zaburzeń radioelektrycznych emitowanych przez instalacje oświetleniowe LED.
[Aut.]: Jacek Chęciński, Zdzisław** Filus.
-Elektronika 2014 R. 55 nr 9, s. 76-79, bibliogr. 4 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

oświetlenie LED ; modulacja PWM ; dimmer PWM ; zaburzenia radioelektryczne ; zaburzenia EM

LED lighting ; PWM modulation ; PWM dimmer ; radioelectric disturbances ; EM disturbances

14/237
Nr opisu: 0000093503
Niskowymiarowe nanostruktury dwutlenku cyny SnO₂ w sensoryce gazów.
[Aut.]: Monika Kwoka, Jacek** Szuber.
-Elektronika 2014 R. 55 nr 9, s. 39-44, bibliogr. 4 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

dwutlenek cyny ; SnO2 ; nanostruktura niskowymiarowa ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; charakterystyka sensorowa ; czujnik gazu

tin dioxide ; SnO2 ; low dimensional nanostructure ; surface chemistry ; surface morphology ; sensor characteristic ; gas sensor

15/237
Nr opisu: 0000090016
Ocena efektywności dopasowania technologicznego dla struktur FPGA.
[Aut.]: Marcin Kubica, Dariusz Kania, Adam Opara.
-Elektronika 2014 R. 55 nr 2, s. 59-62, bibliogr. 13 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

FPGA ; dekompozycja ; dopasowanie technologiczne

FPGA ; decomposition ; technological mapping

16/237
Nr opisu: 0000089582
Ocena symetrii postawy w teście stabilografii nadążnej.
[Aut.]: T. Łukaszewicz, Dariusz Kania, Zenon Kidoń, K. Pethe-Kania.
-Elektronika 2014 R. 55 nr 1, s. 51-54, bibliogr. 17 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

stabilografia ; stabilografia nadążna ; platforma stabilograficzna ; endoprotezoplastyka ; symetria postawy

posturography ; follow-up posturography ; stabilographic platform ; arthroplasty ; postural symmetry

17/237
Nr opisu: 0000095523
Synteza i implementacja układu sterowania w strukturze FPGA opisanego językiem SFC zgodnego z IEC61131.
[Aut.]: Adam Milik, Andrzej Pułka.
-Elektronika 2014 R. 55 nr 12, s. 17-20, bibliogr. 10 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

układ sterowania ; FPGA ; SFC ; IEC 61131

control system ; FPGA ; SFC ; IEC 61131

18/237
Nr opisu: 0000093513
Wpływ podstawowych parametrów wytwarzania stopów Ni-Co-P oraz Co-P na rezystancję i temperaturowy współczynnik rezystancji.
[Aut.]: Piotr Kowalik, Zbigniew** Pruszowski, Wojciech Filipowski.
-Elektronika 2014 R. 55 nr 9, s. 64-66, bibliogr. 9 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

Ni-Co-P ; rezystor ; metalizacja chemiczna ; TWR ; Co-P

Ni-Co-P ; resistor ; chemical metallization ; TCR ; Co-P

19/237
Nr opisu: 0000088165
Active linearization and stabilization of the power tubes in Audio Power Amplifier.
[Aut.]: Adam* Kristof.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 10, s. 55-57, bibliogr. 11 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

linearyzacja ; stabilizacja ; wzmacniacz elektroakustyczny ; układ analogowy ; wzmacniacz mocy ; wzmacniacz hybrydowy ; wzmacniacz przeciwsobny ; lampa elektronowa

linearization ; stabilization ; acoustoelectric amplifier ; analogue circuit ; power amplifier ; hybrid amplifier ; push-pull amplifier ; electronic lamp

20/237
Nr opisu: 0000087340
Automatyczna weryfikacja formalna układu elektronicznego w oparciu o schemat ideowy.
[Aut.]: M. Szelest, Jacek Izydorczyk, H. Niemiec, M. Jabłeka.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 8, s. 111-114, bibliogr. 20 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

układ elektroniczny ; schemat ideowy ; EDA ; weryfikacja formalna

electronic circuit ; schematic diagram ; EDA ; formal verification

21/237
Nr opisu: 0000087782
Badania wybranych nanostruktur SnO₂ w aspekcie zastosowań sensorowych.
[Aut.]: Monika Kwoka, Jacek** Szuber.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 9, s. 17-19, bibliogr. 11 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

tlenek przewodzący ; dwutlenek cyny ; nanostruktura ; właściwości sensorowe

conductive oxide ; tin dioxide ; nanostructure ; sensor properties

22/237
Nr opisu: 0000088167
Bezprzewodowy regulator obiegu grzewczego z kominkiem.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki, S. Zarzycki.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 10, s. 73-76, bibliogr. 4 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

obieg grzewczy ; regulator ; moduł radiowy ; mikrokontroler ; kominek

heating circuit ; controller ; radio module ; microcontroller ; fireplace

23/237
Nr opisu: 0000088653
Dekompozycja wielokrotna z wykorzystaniem SMTBDD.
[Aut.]: Marcin Kubica, Dariusz Kania.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 11, s. 83-87, bibliogr. 13 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

dekompozycja wielokrotna ; diagram decyzyjny ; BDD ; SMTBDD

multiple decomposition ; decision diagram ; BDD ; SMTBDD

24/237
Nr opisu: 0000087797
Generacja zależności czasowych w sterownikach programowalnych.
[Aut.]: Andrzej Malcher, Mirosław Chmiel, Józef Kulisz.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 9, s. 119-122, bibliogr. 9 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

sterownik PLC ; sterownik programowalny ; czasomierz ; właściwości metrologiczne

PLC controller ; programmable controller ; timer ; metrological properties

25/237
Nr opisu: 0000087809
Generator sygnałów dla karty akwizycji danych DAQ.
[Aut.]: Marek Kciuk, J. Bukowski.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 9, s. 128-131, bibliogr. 9 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

DAQ ; generator sygnałów ; akwizycja danych ; LabView

DAQ ; signal generator ; data acquisition ; LabView

26/237
Nr opisu: 0000088168
Iskrobezpieczny kontroler wejść/wyjść współpracujący z magistralą Profibus DP.
[Aut.]: A. Helmys, Mirosław Chmiel.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 10, s. 76-79, bibliogr. 10 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

iskrobezpieczeństwo ; urządzenie iskrobezpieczne ; mieszanina wybuchowa ; zapłon ; sterownik programowalny ; PLC ; PROFIBUS DP

intrinsic safety ; intrinsically safe device ; explosive mixture ; ignition ; programmable controller ; PLC ; PROFIBUS DP

27/237
Nr opisu: 0000087785
Koncepcja budowy przenośnego urządzenia do lokalizacji i identyfikacji osób w obszarze nadzorowanym.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Łukasz Chruszczyk, P. Knapik.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 9, s. 63-66, bibliogr. 8 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

monitoring ; identyfikacja osób ; urządzenie automatycznej identyfikacji

monitoring ; human identification ; automatic identification device

28/237
Nr opisu: 0000087803
Minimalizacja błędu dekompozycji w sterowniku Fuzzy Logic o architekturze hierarchicznej.
[Aut.]: Bernard Wyrwoł.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 9, s. 122-125, bibliogr. 9 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

sterownik programowalny ; architektura hierarchiczna ; sterownik logiczny ; logika rozmyta ; wnioskowanie rozmyte

programmable controller ; hierarchical architecture ; logic controller ; fuzzy logic ; fuzzy inference

29/237
Nr opisu: 0000082168
Multilevel hierarchical always cancellation-free symbolic analysis method for large electric networks.
[Aut.]: Sławomir Lasota.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 2, s. 51-57, bibliogr. 23 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

30/237
Nr opisu: 0000087811
Protokół komunikacyjny o minimalizowanych opóźnieniach czasowych.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Damian Grzechca, Tomasz Golonek.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 9, s. 137-139, bibliogr. 10 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

protokół komunikacyjny RS ; opóźnienie czasowe ; automatyczna identyfikacja ; monitoring

RS communication protocol ; time delay ; automatic identification ; monitoring

31/237
Nr opisu: 0000088981
Strategia dekompozycji ukierunkowana na minimalizację warstw logicznych.
[Aut.]: Marcin Kubica, Dariusz Kania, Adam Opara.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 12, s. 96-99, bibliogr. 10 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

dekompozycja ; BDD ; synteza logiczna ; PLD

decomposition ; BDD ; logic synthesis ; PLD

32/237
Nr opisu: 0000087783
Struktury hybrydowe oraz struktury sensorowe na bazie ZnO.
[Aut.]: Przemysław Struk, Tadeusz Pustelny, K. Gołaszewska, M. Borysiewicz, M. Ekielski, E. Kamińska, A. Piotrowska.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 9, s. 43-45, bibliogr. 11 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

struktura sensorowa ; tlenek cynku ; struktura hybrydowa ; struktura fotoniczna ; optyka zintegrowana

sensor structure ; zinc oxide ; hybrid structure ; photonic structure ; integrated optics

33/237
Nr opisu: 0000088980
Time predictable systems based on pipeline processor with interleaving of hardware threads.
[Aut.]: Ł. Golly, Andrzej Pułka.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 12, s. 36-40, bibliogr. 13 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

system czasu rzeczywistego ; elektroniczny system wbudowany ; analiza czasowa ; system wielozadaniowy ; przetwarzanie potokowe

real time system ; electronic embedded system ; time-domain analysis ; multitasking system ; pipeline processing

34/237
Nr opisu: 0000078696
Timing analysis of multitask systems in SystemC environment.
[Aut.]: Ł. Golly, Andrzej Pułka.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 2, s. 17-22, bibliogr. 15 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

język SystemC ; system wielozadaniowy

SystemC language ; multitasking system

35/237
Nr opisu: 0000087784
Układ detekcji zespołów QRS w sygnale EKG do synchronizacji sztucznej komory wspomagania pracy serca.
[Aut.]: Andrzej Malcher, Stanisław** Pietraszek, Dariusz Komorowski.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 9, s. 58-61, bibliogr. 10 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

choroba serca ; sztuczna komora serca ; detektor zespołu QRS ; sygnał EKG

heart disease ; artificial ventricle ; QRS detector ; ECG signal

36/237
Nr opisu: 0000080318
Visual light and human tissues interaction as biometrics.
[Aut.]: Andrzej Mitas, Marcin Bugdol, S. Piwowarski, M. Skotnicka.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 3, s. 79-82, bibliogr. 11 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

biometria ; fizjologia ; promieniowanie laserowe ; światło czerwone

biometrics ; physiology ; laser radiation ; red light

37/237
Nr opisu: 0000088166
Wykorzystanie transformacji Hilberta-Huanga do detekcji spalania stukowego w silnikach benzynowych.
[Aut.]: Jerzy Fiołka.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 10, s. 67-69, bibliogr. 11 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

transformacja Hilberta-Huanga ; spalanie stukowe ; silnik benzynowy ; przetwarzanie sygnałów ; analiza czasowo-częstotliwościowa ; elektronika samochodowa

Hilbert-Huang transform ; knocking combustion ; petrol engine ; signal processing ; time-frequency analysis ; automotive electronics

38/237
Nr opisu: 0000088163
Zaburzenia radioelektryczne generowane przez instalacje oświetleniowe LED.
[Aut.]: Jacek Chęciński, Zdzisław** Filus.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 10, s. 48-50, bibliogr. 4 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

zaburzenia radioelektryczne ; oświetlenie LED ; oświetlenie SSL ; dimmer PWM ; zaburzenia elektromagnetyczne

radioelectric disturbances ; LED lighting ; SSL lighting ; dimmer PWM ; electromagnetic disturbances

39/237
Nr opisu: 0000074656
Analityczna metoda opisująca działanie układów arbitrażu z rotacją priorytetów.
[Aut.]: Krzysztof Taborek.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 10, s. 76-78, bibliogr. 8 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

klient ; system wieloprocesorowy ; układ arbitrażu ; wydajność ; rotacja priorytetów

client ; multiprocessor system ; queueing model ; efficiency ; priority rotation

40/237
Nr opisu: 0000071061
Analiza efektywności czasowej metod dekompozycji.
[Aut.]: Adam Opara, Dariusz Kania, Marcin Kubica.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 4, s. 57-59, bibliogr. 11 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

dekompozycja ; binarny diagram decyzyjny ; system Decomp ; system dekBDD ; czas dekompozycji

decomposition ; binary decision diagram ; Decomp system ; dekBDD system ; decomposition time

41/237
Nr opisu: 0000080614
Analiza możliwości wykorzystania siatek długookresowych w strukturach gradientowych światłowodów planarnych.
[Aut.]: T. Kotyczka, Roman Rogoziński.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 11, s. 25-29, bibliogr. 14 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

wymiana jonowa ; siatka długookresowa ; LPWG ; gradientowe światłowody planarne ; metoda macierzowa

ion exchange ; long period grating ; LPWG ; gradient planar waveguides ; matrix method

42/237
Nr opisu: 0000073883
Badanie struktur sensorowych na bazie tlenku cynku na oddziaływanie z wybranym środowiskiem gazowym.
[Aut.]: Przemysław Struk, Tadeusz Pustelny, K. Gołaszewska, M. Borysiewicz, A. Piotrowska.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 9, s. 55-56, bibliogr. 7 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

tlenek cynku ; struktura sensorowa ; czujnik gazu

zinc oxide ; sensor structure ; gas sensor

43/237
Nr opisu: 0000070101
BDD z atrybutem negacji w syntezie ukierunkowanej na elementy XOR.
[Aut.]: Dariusz Kania, Adam Opara.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 2, s. 82-85, bibliogr. 11 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

synteza logiczna ; odwzorowanie technologiczne ; BDD ; CPLD

logic synthesis ; technology mapping ; BDD ; CPLD

44/237
Nr opisu: 0000074647
Boron doped spin-on glasses in the technology of the silicon solar cells.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Wojciech Filipowski, Krzysztof** Waczyński.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 10, s. 31-32, bibliogr. 5 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

ogniwo słoneczne ; dyfuzja ; rozwirowywane szkliwa

solar cell ; diffusion ; spin-on glasses

45/237
Nr opisu: 0000074650
Deterministyczna metoda diagnostyki funkcjonalnej układów analogowych.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 10, s. 45-48, bibliogr. 8 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

regresja kwadratowa ; diagnostyka funkcjonalna ; pomiar w dziedzinie czasu

biquadratic regression ; specification driven test ; time domain measurement

46/237
Nr opisu: 0000076082
Dobór mikrokontrolera do sterowania inwerterem napięcia w systemach UPS.
[Aut.]: Zbigniew Rymarski.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 11, s. 111-114, bibliogr. 13 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

mikrokontroler ; inwerter napięcia ; system UPS ; PWM

microcontroller ; voltage source inverter ; UPS system ; PWM

47/237
Nr opisu: 0000074655
Implementacja uniwersalnych interfejsów komputerowych wykorzystujących klasę Mass-Storage systemu USB.
[Aut.]: Krzysztof* Pucher, Dariusz Polok.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 10, s. 70-73, bibliogr. 11 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

interfejs komunikacyjny ; USB ; masowe urządzenia magazynujące ; system plików ; FAT

communication interface ; USB ; mass-storage device ; file system ; FAT

48/237
Nr opisu: 0000073884
Influence of kinetics parameter of electroless nickel plating in order to optimalisation electrical parameters of Ni-P resistive layers.
[Aut.]: Zbigniew** Pruszowski, Piotr Kowalik.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 9, s. 77-79, bibliogr. 14 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

warstwa rezystywna ; metalizacja chemiczna ; rezystor precyzyjny ; Ni-P

resistive layer ; chemical metallization ; precision resistor ; Ni-P

49/237
Nr opisu: 0000072515
Laser texturing and microtreatment of silicon for photovoltaics.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Aleksandra Drygała, Małgorzata Musztyfaga.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 6, s. 89-91, bibliogr. 9 poz.
Referat wygłoszony na European Summer School of Photovoltaics, Karaków, Poland, 4-7 July 2012. Punktacja MNiSW 6.000

krzem polikrystaliczny ; teksturowanie ; fotowoltaika ; obróbka laserowa

polycrystalline silicon ; texturing ; photovoltaics ; laser treatment

50/237
Nr opisu: 0000069858
Modulacja amplitudy sygnałem pseudolosowym.
[Aut.]: Rafał* Stępień, Janusz** Walczak.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 1, s. 98-103, bibliogr. 19 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

sygnał pseudolosowy ; generacja sygnału ; modulacja amplitudy

pseudorandom signal ; signal generation ; amplitude modulation

51/237
Nr opisu: 0000071093
Profesor Tadeusz Zagajewski (1912-2010).
[Aut.]: Adam** Błaszkowski, J. Hickiewicz, Lucjan** Karwan, Andrzej Kukiełka.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 4, s. 86-89, bibliogr. 27 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

Zagajewski Tadeusz ; Politechnika Lwowska ; Politechnika Śląska ; Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki

Zagajewski Tadeusz ; Lviv Polytechnic ; Silesian University of Technology ; Faculty of Automatic Control, Electronics and Computer Science

52/237
Nr opisu: 0000074653
Regulator temperatury o rozmytej logice.
[Aut.]: Bernard Wyrwoł.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 10, s. 61-64, bibliogr. 13 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

regulator temperatury ; logika rozmyta ; wnioskowanie przybliżone ; mikrokontroler AVR ; system prototypowania AVR-FIS

temperature controller ; fuzzy logic ; fuzzy inference ; AVR microcontroller ; AVR-FIS prototyping system

53/237
Nr opisu: 0000072945
Sol-gel and ALD antireflaction coatings or silicon solar cells.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 8, s. 125-127, bibliogr. 10 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

zol-żel ; warstwa antyrefleksyjna ; ogniwo słoneczne ; atomowe osadzanie warstw

sol-gel ; antireflective coating ; solar cell ; atomic layer deposition

54/237
Nr opisu: 0000074648
Sterowane sygnałem PWM lampy LED jako źródło zakłóceń układów podczerwieni.
[Aut.]: Jacek Chęciński, Zdzisław** Filus.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 10, s. 33-36, bibliogr. 4 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

LED ; odbiornik IR ; RC-5 ; dimmer PWM

LED ; IR receiver ; RC-5 ; PWM dimmer

55/237
Nr opisu: 0000074654
Sterownik Fuzzy Logic o architekturze hierarchicznej.
[Aut.]: Bernard Wyrwoł.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 10, s. 64-67, bibliogr. 7 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

sterownik logiczny ; logika rozmyta ; wnioskowanie przybliżone ; architektura hierarchiczna ; system prototypowania AVR-FIS ; regułowy system wnioskujący

logic controller ; fuzzy logic ; fuzzy inference ; hierarchical architecture ; AVR-FIS prototyping system ; rule inference system

56/237
Nr opisu: 0000072518
Surface morphology and optical properties of polymer thin films.
[Aut.]: Jan** Weszka, Magdalena Szindler, M. Bruma.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 6, s. 120-122, bibliogr. 6 poz.
Referat wygłoszony na European Summer School of Photovoltaics, Karaków, Poland, 4-7 July 2012. Punktacja MNiSW 6.000

morfologia powierzchni ; polimer ; warstwa cienka

surface morphology ; polymer ; thin film

57/237
Nr opisu: 0000069857
Technologie informacyjne w predykcji pogodowych zagrożeń w ruchu drogowym.
[Aut.]: Andrzej Mitas, Marcin* Bernaś, Marcin Bugdol, Artur* Ryguła.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 1, s. 90-94, bibliogr. 21 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

ruch drogowy ; prognozowanie pogody ; technologie informacyjne ; detekcja ; zagrożenie drogowe

road traffic ; weather forecasting ; information technologies ; detection ; road hazard

58/237
Nr opisu: 0000073886
Test stabilografii nadążnej.
[Aut.]: Zenon Kidoń, Jerzy Fiołka.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 9, s. 123-126, bibliogr. 7 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

stabilografia ; analiza sygnałów biomedycznych ; przetwarzanie sygnałów

posturography ; biomedical signal analysis ; signal processing

59/237
Nr opisu: 0000074651
Woltomierz cyfrowy z przetwornikiem 22-bitowym MCP3550.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki, A. Roterman.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 10, s. 59-61, bibliogr. 6 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

przetwornik ; mikrokontroler ; wzmacniacz wejściowy ; rozdzielczość ; nieliniowość

converter ; microcontroller ; input amplifier ; resolution ; nonlinearity

60/237
Nr opisu: 0000076075
Wykorzystanie światła rozproszonego do wyznaczania dwójłomności modowej światłowodów planarnych.
[Aut.]: Kazimierz Gut, T. Herzog.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 11, s. 36-37, bibliogr. 7 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

światłowód planarny ; światło rozproszone ; dwójłomność modowa ; interferometr różnicowy

planar optical waveguide ; scattered light ; modal birefringence ; difference interferometer

61/237
Nr opisu: 0000072944
Zastosowanie enkodera absolutnego do sterowania silnikiem synchronicznym z magnesami trwałymi.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki, Robert Czerwiński.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 8, s. 121-124, bibliogr. 6 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

enkoder absolutny ; silnik z magnesami trwałymi ; magnes trwały ; sterowanie wektorowe

absolute encoder ; permanent magnet motor ; permanent magnet ; field oriented control

62/237
Nr opisu: 0000065353
A/D converter for sensor characteristics linearization.
[Aut.]: Edward** Hrynkiewicz.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 3, s. 81-83, bibliogr. 7 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

przetwornik A/C ; linearyzacja

A/D converter ; linearization

63/237
Nr opisu: 0000065766
Altenatywne techniki regulacji w inwerterach napięcia stosowanych w systemach UPS.
[Aut.]: Zbigniew Rymarski.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 1, s. 70-74, bibliogr. 18 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

inwerter napięcia ; regulator przestrzeni stanu ; modulacja PWM

voltage source inverter ; state-space controller ; pulse-width modulation ; PWM

64/237
Nr opisu: 0000069623
An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 12, s. 65-68, bibliogr. 11 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

elektronika analogowa ; układ analogowy ; triangulacja Delaunaya ; testowanie sterowane specyfikacją

analogue electronics ; analogue circuit ; Delaunay's triangulation ; specification driven testing

65/237
Nr opisu: 0000069619
An effective SAT-solving mechanism with backtrack controlled by FDL.
[Aut.]: Andrzej Pułka.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 12, s. 21-25, bibliogr. 15 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

badanie spełnialności logicznej ; weryfikacja formalna ; FUDASAT ; CNF

SAT solving ; formal verification ; FUDASAT ; CNF

66/237
Nr opisu: 0000069622
Analysis of operation of ring LFSR used for testing of unidirectional interleaved interconnections.
[Aut.]: Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 12, s. 50-53, bibliogr. 12 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

testowanie połączeń ; rejestr pierścieniowy LFSR ; BIST ; rejestr XR-LFSR

interconnection testing ; ring LFSR ; BIST ; XR-LFSR register

67/237
Nr opisu: 0000065604
Badanie właściwości cienkich warstw antyrefleksyjnych z dwutlenku tytanu w strukturze ogniwa fotowoltaicznego.
[Aut.]: Krzysztof** Waczyński, Wojciech Filipowski, K. Drabczyk.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 4, s. 77-79, bibliogr. 4 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

warstwa antyrefleksyjna ; dwutlenek tytanu ; ogniwo fotowoltaiczne

antireflection layer ; titanium dioxide ; photovoltaic cell

68/237
Nr opisu: 0000065602
Badanie właściwości cienkich warstw pasywujących z SiO₂ w strukturze ogniwa fotowoltaicznego.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Natalia Waczyńska, K. Drabczyk, Wojciech Filipowski.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 4, s. 55-57, bibliogr. 3 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

fotowoltaika ; ogniwo fotowoltaiczne ; ogniwo słoneczne ; warstwa pasywująca

photovoltaics ; photovoltaic cell ; solar cell ; passivates layer

69/237
Nr opisu: 0000068624
Dynamicznie rekonfigurowalna matryca analogowa jako układ stabilizacji amplitudy w przetworniku pojemność/częstotliwość.
[Aut.]: Andrzej Malcher.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 10, s. 109-112, bibliogr. 9 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

matryca analogowa ; czujnik pojemnościowy ; przetwornik

analog matrix ; capacitive sensor ; converter

70/237
Nr opisu: 0000065603
Efektywne wartości współczynnika dyfuzji dla modelu domieszkowania dyfuzyjnego warstwy emiterowej ogniwa słonecznego.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Krzysztof** Waczyński, Edyta Wróbel, A. Skwarek, K. Drabczyk.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 4, s. 57-59, bibliogr. 14 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

struktura fotowoltaiczna ; ogniwo słoneczne ; warstwa emiterowa ; symulacja komputerowa

photovoltaic structure ; solar cell ; emitter layer ; computer simulation

71/237
Nr opisu: 0000069624
Elektroniczne narzędzia pomiarowe w transporcie - wagi preselekcyjne.
[Aut.]: Andrzej Mitas, Marcin* Bernaś, Marcin Bugdol, Artur* Ryguła, W. Konior.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 12, s. 86-89, bibliogr. 19 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

waga preselekcyjna ; bezpieczeństwo transportu ; waga do pojazdów drogowych ; narzędzia pomiarowe ; transport drogowy ; monitoring

weigh in motion ; transport safety ; vehicle scales ; measurement instruments ; road transport ; monitoring

72/237
Nr opisu: 0000069620
Fault diagnosis of analog electronic circuits with tolerances in mind. Design for testability with analysis of influence of components tolerance.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 12, s. 42-46, bibliogr. 18 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

diagnostyka uszkodzeń ; elektronika analogowa ; wykrywanie uszkodzeń ; algorytm genetyczny ; tolerancja elementów

fault diagnosis ; analogue electronics ; fault detection ; genetic algorithm ; components tolerance

73/237
Nr opisu: 0000063999
Metoda dekompozycji ukierunkowana na elementy XOR.
[Aut.]: Ł. Ławrocki, Dariusz Kania.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 2, s. 174-180, bibliogr. 14 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

dekompozycja kolumnowa ; bramka XOR ; układ CPLD ; układ PAL

column decomposition ; XOR gate ; CPLD structure ; PAL structure

74/237
Nr opisu: 0000084714
Modelowanie algorytmu sterowania energetycznego filtru aktywnego z użyciem interfejsu SLPS.
[Aut.]: Tomasz Adrikowski, Dawid Buła, Marian** Pasko.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 2, s. 123-127, bibliogr. 11 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

energetyczny filtr aktywny ; interfejs SLPS ; algorytm sterowania

active power filter ; SLPS interface ; control algorithm

75/237
Nr opisu: 0000084444
Modelowanie zjawisk fotoelektrycznych w zakresie ultrafioletu w strukturach metal/izolator/GaN.
[Aut.]: Bogusława Adamowicz, Piotr* Bidziński, Marcin** Miczek, Maciej* Matys.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 9, s. 43-45, bibliogr. 6 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

GaN ; fotonapięcie powierzchniowe ; rekombinacja ; detektor ultrafioletu ; metoda elementów skończonych ; MES

GaN ; surface photovoltage ; recombination ; UV detector ; finite element method ; FEM

76/237
Nr opisu: 0000065644
Modyfikacja grafu wyjść poprawiająca efektywność wykorzystania iloczynów w strukturze programowalnej.
[Aut.]: Marcin Kubica, Wojciech Sułek, Dariusz Kania.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 4, s. 122-125, bibliogr. 4 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

synteza logiczna ; układ CPLD ; graf wyjść

logic synthesis ; CPLD structure ; Complex Programmable Logic Device (CPLD) ; graph's node

77/237
Nr opisu: 0000068354
Możliwość wykorzystania specyficznych własności układów FPGA do konstrukcji jednostki centralnej sterownika PLC.
[Aut.]: Mirosław Chmiel, Jan* Mocha.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 9, s. 167-170, bibliogr. 9 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

sterownik programowalny ; PLC ; układ FPGA ; FPGA ; układ logiki programowalnej

programmable logic controller ; PLC ; FPGA system ; FPGA ; Field Programmable Gate Array ; programmable logic device

78/237
Nr opisu: 0000068351
Optymalizacja technologii reotaksjalnego osadzania nanowarstw wybranych przezroczystych tlenków przewodzących.
[Aut.]: Jacek** Szuber, Monika Kwoka, Piotr* Kościelniak, Michał* Sitarz.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 9, s. 25-27, bibliogr. 6 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

nanowarstwa ; SEM ; AFM ; tlenki przewodzące

nanolayer ; SEM ; AFM ; conductive oxides

79/237
Nr opisu: 0000068625
Permutacja argumentów funkcji logicznej przy poszukiwaniu dekompozycji Ashenhursta w dziedzinie spektralnej Reeda-Mullera.
[Aut.]: Edward** Hrynkiewicz, Dariusz Polok.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 10, s. 124-127, bibliogr. 5 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

dekompozycja ; funkcja Reeda-Mullera ; funkcja logiczna

decomposition ; Reed-Muller function ; logical function

80/237
Nr opisu: 0000065600
Porównanie struktury i właściwości elektrycznych przednich elektrod ogniw słonecznych wypalanych w piecu taśmowym i selektywnie spiekanych laserowo.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Małgorzata Musztyfaga, Aleksandra Drygała, P. Panek.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 4, s. 50-52, bibliogr. 7 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

fotowoltaika ; ogniwo słoneczne ; elektroda przednia ; właściwości elektryczne

photovoltaics ; solar cell ; front electrode ; electric properties

81/237
Nr opisu: 0000068353
Profilowanie składu chemicznego tlenkowych warstw pasywacyjnych metodą spektromikroskopii elektronów Augera.
[Aut.]: Alina Domanowska, Andrzej** Klimasek, E. Lisiecka, Piotr* Bidziński, Bogusława Adamowicz, Janusz Szewczenko, A. Taube, K. Korwin-Mikke, S. Gierałtowska, J. Żywicki.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 9, s. 63-66, bibliogr. 6 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

spektromikroskopia ; elektron Augera ; widmo AES

spectromicroscopy ; Auger electron ; AES spectrum

82/237
Nr opisu: 0000071705
State minimization by means of incompatibility graph coloring.
[Aut.]: Robert Czerwiński, Dariusz Kania.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 3, s. 160-162, bibliogr. 6 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

automat sekwencyjny ; minimalizacja liczby stanów ; kolorowanie grafów

finite state machine ; state minimization ; graph coloring

83/237
Nr opisu: 0000069001
Sterowanie bezszczotkowym silnikiem synchronicznym z magnesami trwałymi.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki, Robert Czerwiński.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 11, s. 120-123, bibliogr. 6 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

silnik synchroniczny ; magnes trwały ; model matematyczny ; układ napędowy

synchronous motor ; permanent magnet ; mathematical model ; drive system

84/237
Nr opisu: 0000069000
Struktura i właściwości nanokrystalicznych warstw kompozytowych wytwarzanych metodą katodowego odparowania łukowego.
[Aut.]: Krzysztof Lukaszkowicz.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 11, s. 31-33, bibliogr. 8 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

katodowe odparowanie łukowe ; warstwa nanokrystaliczna ; warstwa kompozytowa

catodic arc evaporation ; nanocrystalline layer ; composite layer

85/237
Nr opisu: 0000068352
Struktury fotoniczne na bazie ZnO.
[Aut.]: Tadeusz Pustelny, Przemysław Struk, K. Gołaszewska, M. Ekielski, M. Borysiewicz, A. Piotrowska.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 9, s. 30-32, bibliogr. 9 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

struktura fotoniczna ; tlenek cynku ; światłowód ; sprzęgacz siatkowy

photonic structure ; zinc oxide ; optical waveguide ; grating coupler

86/237
Nr opisu: 0000069621
The use of specialized multi-band stimuli for analog circuits testing.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Damian Grzechca.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 12, s. 47-49, bibliogr. 7 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

elektronika analogowa ; wykrywanie uszkodzeń ; obliczenia ewolucyjne ; gęstość widmowa amplitudy ; pobudzenie testujące

analogue electronics ; fault detection ; evolutionary computations ; amplitude density ; testing stimuli

87/237
Nr opisu: 0000065601
Wpływ obróbki laserowej na topografię powierzchni krzemu polikrystalicznego.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Aleksandra Drygała.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 4, s. 53-54, bibliogr. 8 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

fotowoltaika ; obróbka laserowa ; teksturowanie ; krzem polikrystaliczny

photovoltaics ; laser treatment ; texturing ; polycrystalline silicon

88/237
Nr opisu: 0000057447
Analiza czułości planarnych, polimerowych światłowodów rewersyjnych.
[Aut.]: Kazimierz Gut, Tadeusz Pustelny, Sabina Drewniak.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 6, s. 27-30, bibliogr. 8 poz.

światłowód o odwróconej symetrii ; czujnik światłowodowy ; światłowód

reverse symmetry waveguide ; waveguide sensor ; optical waveguide

89/237
Nr opisu: 0000059497
Analiza efektywności i kosztów sprzętowej realizacji filtrów cyfrowych o zadanej liniowej charakterystyce fazowej.
[Aut.]: Adam Milik, Andrzej Pułka, Jacek Konopacki.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 40-44, bibliogr. 9 poz.

filtr cyfrowy ; projektowanie układów cyfrowych ; układ FPGA

digital filter ; digital circuit design ; FPGA system

90/237
Nr opisu: 0000062778
Analiza stabilności posturalnej oparta na transformacie falkowej.
[Aut.]: Jerzy Fiołka.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 12, s. 68-71, bibliogr. 7 poz.

analiza falkowa ; przetwarzanie sygnałów ; stabilografia statyczna

wavelet analysis ; signal processing ; static stabilography

91/237
Nr opisu: 0000059509
Analiza trajektorii stabilograficznych z wykorzystaniem metod czasowo-częstotliwościowych.
[Aut.]: Jerzy Fiołka, Zenon Kidoń.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 164-166, bibliogr. 14 poz.

stabilografia statyczna ; przetwarzanie sygnałów biomedycznych ; analiza czasowo-częstotliwościowa

static stabilography ; biomedical signal processing ; time-frequency analysis

92/237
Nr opisu: 0000059507
Analiza występowania wiskerów na powierzchni wysokocynowych stopów lutowniczych poddanych działaniu skrajnych warunków środowiskowych.
[Aut.]: A. Skwarek, K. Witek, M. Płuska, A. Czerwiński, Wojciech Filipowski.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 103-106, bibliogr. 8 poz.

stop lutowniczy ; wisker ; stop wysokocynkowy

soldering alloy ; whisker ; tin-rich alloy

93/237
Nr opisu: 0000057181
Badania nad możliwościami jednorodnego domieszkowania warstwy emiterowej struktury fotowoltaicznej w niskiej temperaturze procesu dyfuzji.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Krzysztof** Waczyński, Edyta Wróbel, K. Drabczyk.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 5, s. 60-62, bibliogr. 4 poz.

ogniwo słoneczne ; warstwa emiterowa ; szkliwo domieszkowe ; domieszkowanie ; rezystancja powierzchniowa

solar cell ; emitter layer ; silica glasses ; doping ; sheet resistance

94/237
Nr opisu: 0000057448
Badania struktury, morfologii powierzchni oraz właściwości sensorowych cienkich warstw SnO₂.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, M. Pisarek, Jerzy** Żak.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 6, s. 50-53, bibliogr. 13 poz.

morfologia powierzchni ; dyfraktometria rentgenowska ; mikroskopowa siła atomowa ; mikroskopia AFM ; spektroskopia elektronów Augera ; adsorpcja tlenu

surface morphology ; X-ray diffraction ; atomic force microscope ; AFM microscopy ; Auger electron spectroscopy ; oxygen adsorption

95/237
Nr opisu: 0000062420
Bezkontaktowy czujnik przemieszczenia w złożonym układzie pomiarowym charakterystyk elektro-termo-mechanicznych stopów z pamięcią kształtu.
[Aut.]: Grzegorz Kłapyta, Marek Kciuk.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 11, s. 71-74, bibliogr. 7 poz.

stop z pamięcią kształtu ; czujnik przemieszczenia ; odkształcenie

shape memory alloy ; displacement sensor ; deformation

96/237
Nr opisu: 0000059501
Bezprzewodowy panel operatorski do sterownika PLC.
[Aut.]: A. Seweryn, Mirosław Chmiel, S. Tworuszka, Jan* Mocha.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 52-55, bibliogr. 7 poz.

sterownik programowalny ; PLC ; panel operatorski ; transmisja szeregowa ; system mikroprocesorowy

programmable logic controller ; PLC ; operator panel ; serial transmission ; microprocessor system

97/237
Nr opisu: 0000059491
Diagnostyka analogowych układów scalonych metodą monitorowania prądu zasilania w ewolucyjnie dobranych punktach pomiarowych.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 17-20, bibliogr. 6 poz.

genotyp ; populacja ; reprodukcja ; krzyżowanie ; mutacja ; diagnostyka ; analogowy układ scalony

genotype ; population ; reproduction ; crossover ; mutation ; diagnosis ; analog integrated circuit

98/237
Nr opisu: 0000059508
Domieszkowanie dyfuzyjne krzemu ze szkliw o podwyższonej zawartości koncentracji domieszki.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof** Waczyński, Wojciech Filipowski.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 111-113, bibliogr. 15 poz.

domieszkowanie dyfuzyjne ; metoda spin-on ; półprzewodnik

diffusion doping ; spin-on method ; semiconductor

99/237
Nr opisu: 0000062776
Dynamiczna rekonfiguracja wątków w systemach czasu rzeczywistego pracującego w warunkach pełnej powtarzalności czasowej.
[Aut.]: Andrzej Pułka, Adam Milik.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 12, s. 40-43, bibliogr. 10 poz.

system czasu rzeczywistego ; powtarzalność losowa ; system wielozadaniowy

real time system ; timing repeatability ; multitasking system

100/237
Nr opisu: 0000062779
Generacja cykli fundamentalnych metodą dynamicznego budowania drzewa grafu.
[Aut.]: Andrzej Pułka, Ł. Golly.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 12, s. 75-77, bibliogr. 9 poz.

teoria grafów ; teoria obwodów ; analiza symboliczna ; analogowy układ elektroniczny

graph theory ; circuit theory ; symbolic analysis ; analog electronic circuit

101/237
Nr opisu: 0000057180
Laserowe teksturowanie powierzchni krzemu polikrystalicznego.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Aleksandra Drygała.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 5, s. 57-59, bibliogr. 5 poz.

fotowoltaika ; teksturowanie ; obróbka laserowa ; krzemowe ogniwo słoneczne

photovoltaics ; texturization ; laser treatment ; silicon solar cell

102/237
Nr opisu: 0000057183
Model dyfuzji fosforu w krzemie wykorzystywany do wyznaczania profilu koncentracji domieszki w warstwie emiterowej ogniwa słonecznego.
[Aut.]: Wojciech Filipowski, Krzysztof** Waczyński, Edyta Wróbel, K. Drabczyk.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 5, s. 102-105, bibliogr. 21 poz.

ogniwo słoneczne ; warstwa emiterowa ; domieszkowanie ; fotowoltaika

solar cell ; emitter layer ; photovoltaics ; doping

103/237
Nr opisu: 0000062777
Nienadzorowana korekcja CMA-DD i MMA-DD zniekształceń kanału transmisyjnego w obecności stałego błędu synchronizacji kąta fazowego sygnałów nośnych.
[Aut.]: Grzegorz Dziwoki.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 12, s. 44-47, bibliogr. 8 poz.

korekcja nienadzorowana ; błąd fazy ; cyfrowy system transmisyjny

blind equalization ; phase offset ; digital transmission system

104/237
Nr opisu: 0000059506
One-stage substrate activation using in resistive layer formation.
[Aut.]: Piotr Kowalik, Zbigniew** Pruszowski, D. Rymaszewska.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 98-99, bibliogr. 12 poz.

warstwa rezystywna ; stop Ni-P ; metalizacja chemiczna

resistive layer ; Ni-P alloy ; chemical metallization

105/237
Nr opisu: 0000057449
Optymalizacja planarnych sprzęgaczy siatkowych z wykorzystaniem metody FDTD.
[Aut.]: Przemysław Struk, Tadeusz Pustelny.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 6, s. 69-72, bibliogr. 9 poz.

optyka zintegrowana ; metoda FDTD ; sprzęgacz siatkowy

integrated optics ; FDTD method ; grating coupler

106/237
Nr opisu: 0000061272
Otrzymywanie i charakterystyka komponentów ogniwa tlenkowego Ni-YSZ/YSZ/Sr_0.8Ce_0.1La_0.1MnO_3-δ-YSZ.
[Aut.]: D. Szwagierczak, J. Kulawik, B. Groger, Zbigniew** Pruszowski.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 10, s. 15-18, bibliogr. 4 poz.

ogniwo tlenkowe ; współspiekanie ; katoda perowskitowa ; odlewanie folii

solid oxide cell ; cosintering ; perovskite cathode ; tape casting

107/237
Nr opisu: 0000059503
Porównanie metod dynamicznej rekonfiguracji analogowych oraz cyfrowych matryc programowalnych.
[Aut.]: Jan* Mocha.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 55-58, bibliogr. 14 poz.

układ programowalny ; FPGA ; programowalna matryca analogowa ; rekonfiguracja dynamiczna

programmable device ; Field Programmable Gate Array ; Field Programmable Analog Array ; dynamic reconfiguration

108/237
Nr opisu: 0000062775
Redukcja emisji zaburzeń elektromagnetycznych w układach FPGA z wykorzystaniem struktur typu GALS.
[Aut.]: Józef Kulisz, Jan* Mocha, T. Woźnica.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 12, s. 16-18, bibliogr. 9 poz.

układ logiki programowalnej ; układ FPGA ; emisja zaburzeń ; GALS

programmable logic device ; Field Programmable Gate Array ; electromagnetic emission ; GALS

109/237
Nr opisu: 0000055312
Sprzętowa implementacja algorytmu dekompozycji σIRD w układzie FPGA.
[Aut.]: Bernard Wyrwoł.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 1, s. 25-28, bibliogr. 19 poz.

dekompozycja ; wnioskowanie przybliżone ; baza wiedzy ; FPGA

decomposition ; fuzzy inference ; knowledge base ; FPGA

110/237
Nr opisu: 0000059492
Sprzętowa implementacja zachłannego algorytmu kolorowania grafu.
[Aut.]: Bernard Wyrwoł.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 21-23, bibliogr. 9 poz.

graf nieskierowany ; kolorowanie wierzchołków grafu ; algorytm zachłanny ; wnioskowanie przybliżone ; reguła rozmyta ; dekompozycja lingwistyczna ; FPGA

undirected graph ; graph vertex coloring ; greedy algorithm ; fuzzy inference ; fuzzy rule ; linguistic decomposition ; FPGA

111/237
Nr opisu: 0000059504
Sterowanie szybkimi procesami przemysłowymi z wykorzystaniem zintegrowanych funkcji sterownika S7-200.
[Aut.]: J. Renkas, Andrzej Malcher, Mirosław Chmiel.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 59-62, bibliogr. 3 poz.

programowalny sterownik kompaktowy ; PLC ; szybki proces przemysłowy ; sterowanie automatyczne

compact programmable controller ; PLC ; industrial high-speed process ; automatic control

112/237
Nr opisu: 0000062782
Strategia weryfikacji systemu na chipie oparta na mechaniźmie FDL.
[Aut.]: Andrzej Pułka.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 12, s. 87-90, bibliogr. 13 poz.

weryfikacja formalna ; elektroniczny system wbudowany ; asercja ; SystemVerilog

formal verification ; electronic embedded system ; assertion ; SystemVerilog

113/237
Nr opisu: 0000059493
Synteza impedancji dwójnika pasywnego RLC z wykorzystaniem algorytmu programowania genetycznego.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 24-28, bibliogr. 8 poz.

dwójnik ; impedancja ; programowanie genetyczne

two-terminal network ; impedance ; genetic programming

114/237
Nr opisu: 0000059498
System uruchomieniowy AVR-FIS.
[Aut.]: Bernard Wyrwoł.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 44-47, bibliogr. 21 poz.

wnioskowanie przybliżone ; baza wiedzy ; reguła rozmyta ; mikrokontroler AVR ; kompilator AVR-GCC ; zmienna lingwistyczna

fuzzy inference ; knowledge base ; fuzzy rule ; AVR microcontroller ; AVR-GCC compiler ; linguistic variable

115/237
Nr opisu: 0000059499
System wieloprocesorowy do badania układów arbitrażu. Rozwiązanie sprzętowe.
[Aut.]: Krzysztof Taborek, Edward** Hrynkiewicz.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 48-51, bibliogr. 8 poz.

FPGA ; mikroprocesor ; pamięć globalna ; system wieloprocesorowy

FPGA ; microprocessor ; global memory ; multiprocessor system

116/237
Nr opisu: 0000059495
Szyfrowanie danych na dysku ATA.
[Aut.]: K. Jakubczyk, Marcin Kucharczyk.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 37-40, bibliogr. 6 poz.

szyfrowanie symetryczne ; interfejs ATA ; układ FPGA

symmetric key encryption ; ATA interface ; FPGA system

117/237
Nr opisu: 0000062418
Testing of interconnections with use of reduced-size signature-based diagnostic dictionary.
[Aut.]: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 11, s. 15-18, bibliogr. 8 poz.

słownik diagnostyczny ; testowanie połączeń ; liniowy rejestr pierścieniowy ; diagnostyka uszkodzeń ; R-LFSR

diagnostic dictionary ; interconnection testing ; Ring Linear Feedback Shift Register ; fault diagnosis ; R-LFSR

118/237
Nr opisu: 0000059494
Układy aktywizacji sygnału z polimerowych czujników piezoelektrycznych.
[Aut.]: Andrzej Malcher.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 28-31, bibliogr. 6 poz.

czujnik pojemnościowy ; czujnik polimerowy ; wzmacniacz ładunkowy

capacitive sensor ; polymer sensor ; charge amplifier

119/237
Nr opisu: 0000057450
Warstwy sensorowe na bazie porowatej krzemionki do zastosowań w światłowodowych czujnikach amoniaku.
[Aut.]: Paweł Karasiński, Cuma Tyszkiewicz.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 6, s. 119-122, bibliogr. 20 poz.

zol-żel ; porowata krzemionka ; warstwa sensorowa ; czujnik światłowodowy

sol-gel ; porous silica ; sensitive film ; optical waveguide sensor

120/237
Nr opisu: 0000057182
Właściwości elektryczne i optyczne fotoogniw wytworzonych z wykorzystaniem metody sitodruku.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Małgorzata Musztyfaga, Aleksandra Drygała, P. Panek.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 5, s. 63-65, bibliogr. 6 poz.

właściwości elektryczne ; ogniwo słoneczne ; fotowoltaika ; sitodruk

electrical properties ; solar cell ; photovoltaics ; screen printing

121/237
Nr opisu: 0000055311
Woltomierz cyfrowy z 24-bitowym przetwornikiem AD7731.
[Aut.]: Tomasz Rudnicki, S. Kłos.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 1, s. 17-20, bibliogr. 4 poz.

mikroprocesor ; przetwornik cyfrowo-analogowy ; woltomierz cyfrowy ; wzmacniacz

microprocessor ; analog-to-digital converter ; digital voltometer ; amplifier

122/237
Nr opisu: 0000059505
Wpływ intensyfikacji procesu metalizacji bezprądowej na podstawowe parametry elektryczne rezystywnego stopu Ni-P.
[Aut.]: Piotr Kowalik, Zbigniew** Pruszowski.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 96-97, bibliogr. 10 poz.

metalizacja chemiczna ; warstwa rezystywna ; stop Ni-P

chemical metallization ; resistive layer ; Ni-P alloy

123/237
Nr opisu: 0000055803
Wybrane metody eliminacji wyższych harmonicznych z przebiegów prądów i napięć.
[Aut.]: Marcin Maciążek, Marian** Pasko.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 2, s. 9-14, bibliogr. 11 poz.

energetyczny filtr aktywny ; jakość energii ; harmoniczne

active power filter ; energy quality ; harmonics

124/237
Nr opisu: 0000062783
Wykorzystanie układu FPAA w laboratorium przetwarzania sygnałów dla studentów kierunku inżynieria biomedycznych.
[Aut.]: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 12, s. 95-98, bibliogr. 6 poz.

przetwarzanie sygnałów ; inżynieria biomedyczna ; e-learning ; ćwiczenia laboratoryjne

signal processing ; biomedical engineering ; e-learning ; laboratory exercises

125/237
Nr opisu: 0000062419
XML markup language based design tool integration method in distributed design environments.
[Aut.]: M. Szlęzak, Adam* Pawlak, Konrad** Wojciechowski.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 11, s. 51-55, bibliogr. 19 poz.

projektowanie systemów typu SoC ; projektowanie rozproszone ; integracja narzędzi rozproszonych ; opis narzędzi w języku XML ; ontologia dla narzędzi projektowania ; zarządzanie narzędziami

SoC design ; distributed collaborative design ; remote tools integration ; XML-based tool wrapping ; tools ontology ; tools management

126/237
Nr opisu: 0000062781
Zastosowanie algorytmu genetycznego do optymalizacji uzysku analogowych układów scalonych.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 12, s. 84-86, bibliogr. 12 poz.

analiza Monte Carlo ; technologia CMOS ; algorytm genetyczny

Monte Carlo analysis ; CMOS technology ; genetic algorithm

127/237
Nr opisu: 0000062780
Zastosowanie modeli GMM do identyfikacji języka wypowiedzi.
[Aut.]: Adam Dustor, Paweł** Szwarc.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 12, s. 78-80, bibliogr. 4 poz.

przetwarzanie sygnałów ; modelowanie statystyczne ; rozpoznawanie obrazów ; rozpoznawanie języka

signal processing ; statistical modelling ; image recognition ; spoken language recognition

128/237
Nr opisu: 0000047555
Analiza algorytmu sterowania energetycznym filtrem aktywnym z wykorzystaniem pakietu PSpice.
[Aut.]: Dawid Buła, Marcin Maciążek, Marian** Pasko.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 2, s. 18-22, bibliogr. 14 poz.

energetyczny filtr aktywny ; EFA ; modelowanie numeryczne ; PSpice ; jakość energii elektrycznej

active power filter ; APF ; numerical modelling ; PSpice ; power quality

129/237
Nr opisu: 0000052110
Analiza szumu modulacyjnego cyfrowego generatora sinusoidalnego z modulacją sigma-delta.
[Aut.]: L. Tomaszewski, Edward** Hrynkiewicz.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 10, s. 87-91, bibliogr. 9 poz.

modulacja sigma-delta ; szum modulacyjny ; generator sinusoidalny

sigma-delta modulation ; modulation noise ; siunsoidal generator

130/237
Nr opisu: 0000052101
Bezindukcyjna przetwornica samochodowa 42 V/14 V.
[Aut.]: Zdzisław** Filus, Jacek Chęciński, A. Kołodziej.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 10, s. 23-26, bibliogr. 8 poz.

przetwornica impulsowa ; przetwornica bezindukcyjna

switched-mode converter ; inductorless converter

131/237
Nr opisu: 0000052109
Kontroler inteligentnego budynku.
[Aut.]: O. Kuczera, Mirosław Chmiel.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 10, s. 67-70, bibliogr. 8 poz.

budynek inteligentny ; magistrala CAN ; kolejka komunikatów

intelligent building ; CAN bus ; messages queue

132/237
Nr opisu: 0000052104
Metoda weryfikacji procesu pobierania danych stabilograficznych.
[Aut.]: Jerzy Fiołka, Zenon Kidoń.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 10, s. 51-54, bibliogr. 6 poz.

stabilografia statyczna ; przetwarzanie sygnałów biomedycznych ; analiza falkowa

static stabilography ; biomedical signal processing ; wavelet analysis

133/237
Nr opisu: 0000052105
Model sprzętowo-programistycznej platformy testowania i uruchamiania wirtualnych systemów mikroprocesorowych.
[Aut.]: Krzysztof* Pucher, J. Namiota.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 10, s. 54-57, bibliogr. 11 poz.

architektura komputerów ; układ cyfrowy ; FPGA ; system mikroprocesorowy

computer architecture ; digital circuit ; FPGA ; microprocessor system

134/237
Nr opisu: 0000047556
Modelowanie automatów synchronicznych w języku VHDL pod kątem efektywnego wykorzystania niezależnych narzędzi syntezy.
[Aut.]: Robert Czerwiński, Józef Kulisz.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 2, s. 77-82, bibliogr. 8 poz.

projektowanie układów cyfrowych ; CPLD ; automat sekwencyjny ; VHDL ; kodowanie stanów

digital circuit design ; CPLD ; finite state machine ; VHDL ; state assignment

135/237
Nr opisu: 0000052107
Nierównomierne obciążenie procesorów w systemie wieloprocesorowym.
[Aut.]: Krzysztof Taborek, Zdzisław* Pogoda.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 10, s. 60-63, bibliogr. 6 poz.

system wieloprocesorowy ; mikroprocesor ; wydajność systemu

multiprocessor system ; microprocessor ; system efficiency

136/237
Nr opisu: 0000052102
Projektowanie pasmowych filtrów NOI.
[Aut.]: Jacek Konopacki.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 10, s. 26-29, bibliogr. 11 poz.

filtr cyfrowy ; filtr NOI ; projektowanie filtrów

digital filter ; IIR filter ; filters design

137/237
Nr opisu: 0000052099
Rezystory niskoomowe wytwarzane metodą wielostopniowej metalizacji.
[Aut.]: Piotr Kowalik, Zbigniew** Pruszowski.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 10, s. 14-17, bibliogr. 6 poz.

rezystor niskoomowy ; stop Ni-P ; metalizacja chemiczna

low resistance resistor ; Ni-P alloy ; chemical metallization

138/237
Nr opisu: 0000052108
Różne interfejsy szeregowe w sterowniku urządzeń domowego użytku.
[Aut.]: B. Wojtanowicz, Mirosław Chmiel.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 10, s. 64-67, bibliogr. 8 poz.

interfejs ; transmisja szeregowa ; układ cyfrowy ; system mikroprocesorowy ; sterownik ; budynek inteligentny

interface ; serial transmission ; digital circuit ; microprocessor system ; controller ; intelligent building

139/237
Nr opisu: 0000052103
Teoretyczna analiza adsorpcji tlenu na powierzchni ziaren SnO₂ o geometrii płaskiej.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 10, s. 45-48, bibliogr. 20 poz.

warstwa cienka ; nanowarstwa ; adsorpcja tlenu ; warstwa zubożona

thin film ; nanolayer ; oxygen adsorption ; depletion layer

140/237
Nr opisu: 0000052100
Wpływ warunków nanoszenia szkliw krzemowych na jakość uzyskanej powierzchni.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof** Waczyński.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 10, s. 21-23, bibliogr. 4 poz.

metoda spin-on ; warstwa dielektryczna

spin-on method ; dielectric layer

141/237
Nr opisu: 0000052106
Wykorzystanie algorytmu PSO w diagnostyce analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł, Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 10, s. 57-59, bibliogr. 5 poz.

optymalizacja rojem cząstek ; PSO ; analogowy układ elektroniczny

particle swarm optimization ; PSO ; analog electronic circuit

142/237
Nr opisu: 0000049861
Wykorzystanie elementu XOR w syntezie logicznej przeznaczonej dla programowalnych struktur CPLD typu PAL.
[Aut.]: W. Grabiec, Dariusz Kania.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 6, s. 82-86, bibliogr. 5 poz.

synteza logiczna ; CPLD ; bramka XOR ; dekompozycja kolumnowa

logic synthesis ; CPLD ; XOR gate ; column decomposition

143/237
Nr opisu: 0000052098
Wytwarzanie warstw rezystywnych typu Ni-Cu-P.
[Aut.]: Piotr Kowalik, Zbigniew** Pruszowski.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 10, s. 12-14, bibliogr. 13 poz.

warstwa rezystywna ; metalizacja chemiczna ; stop Ni-Cu-P

resistive layer ; chemical metallization ; Ni-Cu-P alloy

144/237
Nr opisu: 0000051631
Zastosowanie dualnego przekształcenia z inwersją w syntezie dolnoprzepustowego prądowego filtru eliptycznego.
[Aut.]: Tomasz Adrikowski, Marian** Pasko.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 9, s. 120-122, bibliogr. 7 poz.

filtr eliptyczny ; przekształcanie dualne ; filtr dolnoprzepustowy

elliptic filter ; dual conversion ; low-pass filter

145/237
Nr opisu: 0000038652
Badania możliwości wykorzystania optycznej detekcji koncentracji wodoru rozpuszczonego w izolacji olejowej do diagnostyki transformatora.
[Aut.]: Erwin Maciak, Marian** Urbańczyk, T. Buchacz, Zbigniew Opilski.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 6, s. 196-199, bibliogr. 2 poz.

światłowodowy czujnik wodoru ; olej transformatorowy ; izolacja ; transformator energetyczny

fiber optic hydrogen sensor ; transformer oil ; isolation ; energetic transformer

146/237
Nr opisu: 0000036428
Badania nad źródłami domieszek o dużej zawartości fosforu stosowanymi w technologii wytwarzania krzemowych ogniw słonecznych.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof** Waczyński, Wojciech Filipowski.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 1, s. 16-17, bibliogr. 5 poz.

krzemowe ogniwo słoneczne ; fotoogniwo ; fosfor ; domieszka ; domieszkowanie dyfuzyjne ; metoda spin-on

silicon solar cell ; photovoltaic cell ; phosphorus ; admixture ; semiconductor doping ; spin-on method

147/237
Nr opisu: 0000038649
Badania struktur warstwowych typu tlenek metalu - pallad w układzie z akustyczną falą powierzchniową do detekcji gazów.
[Aut.]: Wiesław Jakubik, Marian** Urbańczyk, Erwin Maciak, Henryk Urzędniczok.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 6, s. 89-91, bibliogr. 2 poz.

struktura warstwowa ; struktura sensorowa ; pallad ; tlenek metalu ; fala powierzchniowa

layered structure ; sensor structure ; palladium ; metal oxide ; surface wave

148/237
Nr opisu: 0000038648
Badania wpływu temperatury na czujniki gazów z akustyczną falą powierzchniową.
[Aut.]: Henryk Urzędniczok, Wiesław Jakubik.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 6, s. 77-79, bibliogr. 4 poz.

czujnik gazu ; czujnik AFP ; fala powierzchniowa ; wpływ temperatury

gas sensor ; SAW sensor ; surface wave ; temperature dependence

149/237
Nr opisu: 0000042014
Bezpojemnościowy oscylator harmoniczny sterowany cyfrowo.
[Aut.]: Lesław** Topór-Kamiński, M. Płaza.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 10, s. 49-51, bibliogr. 5 poz.

oscylator harmoniczny sterowany cyfrowo ; wzmacniacz operacyjny ; układ aktywny

digitally tuned sinusoidal oscilator ; operational amplifier ; active circuit

150/237
Nr opisu: 0000046332
Biometria a podpis elektroniczny - studium stosowalności.
[Aut.]: Andrzej Mitas, Marcin Bugdol, M. Plucińska.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 12, s. 160-163, bibliogr. 22 poz.

podpis elektroniczny ; biometria ; klucz ; identyfikacja biometryczna ; ID marker

electronic signature ; biometrics ; key ; biometric identification ; ID marker

151/237
Nr opisu: 0000046333
Biometryczne wzmacnianie podpisu cyfrowego - techniczne aspekty zastosowań.
[Aut.]: Andrzej Mitas, Marcin Bugdol, M. Plucińska.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 12, s. 164-167, bibliogr. 22 poz.

podpis elektroniczny ; biometria ; klucz ; identyfikacja biometryczna

electronic signature ; biometrics ; key ; biometric identification

152/237
Nr opisu: 0000043110
Część sprzętowa uniwersalnego stanowiska testującego.
[Aut.]: Jan* Mocha, Zbigniew* Łaskarzewski.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 184-186, bibliogr. 9 poz.

testowanie ; testowanie elektryczne ; stanowisko testujące

testing ; electrical testing ; testing station

153/237
Nr opisu: 0000043115
Dekompozycja lingwistyczna bazy wiedzy systemu wnioskowania przybliżonego z eliminacją reguł sprzecznych.
[Aut.]: Bernard Wyrwoł.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 234-236, bibliogr. 15 poz.

wnioskowanie przybliżone ; baza wiedzy ; dekompozycja lingwistyczna ; reguła sprzeczna ; system wnioskujący

fuzzy inference ; knowledge system ; linguistic decomposition ; inconsistent rule ; inference system

154/237
Nr opisu: 0000042016
Dekompozycyjne metody syntezy przeznaczone do układów CPLD.
[Aut.]: Dariusz Kania, Adam Milik, Adam Opara.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 10, s. 93-100, bibliogr. 19 poz.

synteza logiczna ; CPLD ; dekompozycja

logic synthesis ; CPLD ; decomposition

155/237
Nr opisu: 0000043106
Dopasowanie impedancyjne w systemach radiowej identyfikacji RFID na przykładzie układu TRF7960.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł, Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 155-158, bibliogr. 6 poz.

dopasowanie impedancyjne ; RFID ; identyfikacja radiowa ; antena ; TRF7960

impedance matching ; RFID ; radio frequency identification ; antenna ; TRF7960

156/237
Nr opisu: 0000043111
Dynamicznie rekonfigurowalna współbieżna realizacja sterowania binarnego.
[Aut.]: Edward** Hrynkiewicz, Adam Milik, Jan* Mocha.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 187-190, bibliogr. 8 poz.

sterownik programowalny ; PLC ; FPGA ; mikrosterownik ; dynamiczna rekonfiguracja

programmable logic controller ; PLC ; FPGA ; microcontroller ; dynamic reconfiguration

157/237
Nr opisu: 0000038653
Dynamometr do zastosowań w badaniach postępu procesu rehabilitacji.
[Aut.]: Andrzej Kozyra, M. Bednarski.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 6, s. 255-256, bibliogr. 6 poz.

dynamometr ; oprogramowanie ; rehabilitacja

dynamometer ; software ; rehabilitation

158/237
Nr opisu: 0000043102
Globalne uszkodzenia parametryczne w testowaniu analogowych układów scalonych.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 122-125, bibliogr. 11 poz.

analogowy układ scalony ; testowanie ; globalne uszkodzenie parametryczne ; diagnostyka uszkodzeń

analog integrated circuit ; testing ; global parametric fault ; fault diagnosis

159/237
Nr opisu: 0000043098
Impulsowa stabilizacja warstw rezystywnych Ni-P.
[Aut.]: Piotr Kowalik, Zbigniew** Pruszowski.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 66-67, bibliogr. 6 poz.

warstwa rezystywna ; stop Ni-P ; metalizacja chemiczna ; stabilizacja termiczna ; stabilizacja impulsowa

resistive layer ; Ni-P alloy ; chemical metallization ; thermal stabilization ; impulse stabilization

160/237
Nr opisu: 0000038050
Kodowanie stanów samokorekcyjnych układów sekwencyjnych.
[Aut.]: Dariusz Kania, Robert Czerwiński.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 5, s. 107-111, bibliogr. 10 poz.

układ programowalny ; kodowanie stanów ; CPLD ; FPGA ; układ sekwencyjny ; układ samokorekcyjny

programmable device ; state assignment ; CPLD ; FPGA ; sequential circuit ; self-correcting circuit

161/237
Nr opisu: 0000043105
Kompatybilność elektromagnetyczna a wymagania dyrektywy ATEX.
[Aut.]: Mirosław Chmiel, W. Mularczyk.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 137-140, bibliogr. 7 poz.

dyrektywa ATEX ; kompatybilność elektromagnetyczna ; urządzenie iskrobezpieczne ; wybuch ; zaburzenia elektromagnetyczne

ATEX directive ; electromagnetic compatibility ; intrinsically safe device ; explosion ; electromagnetic disturbances

162/237
Nr opisu: 0000043100
Kształtowanie warstw dyfuzyjnych przy wykorzystaniu domieszek wolnodyfundujących.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Wojciech Filipowski, Krzysztof** Waczyński.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 70-72, bibliogr. 3 poz.

półprzewodnik ; domieszkowanie ; rezystancja powierzchniowa ; arsen ; szkliwo domieszkowe

semiconductor ; doping ; sheet resistance ; arsenic ; silica glasses

163/237
Nr opisu: 0000043113
Mechanizmy komunikacji z uniwersalnym urządzeniem testującycm.
[Aut.]: Zbigniew* Łaskarzewski, Jan* Mocha.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 210-212, bibliogr. 5 poz.

testowanie ; system testowania ; interfejs komunikacyjny ; SCPI ; standardowe polecenia programowanych urządzeń

testing ; testing system ; communication interface ; SCPI ; Standard Commands for Programmable Instruments

164/237
Nr opisu: 0000043099
Model matematyczny wiążący parametry elektrofizyczne warstw rezystywnych Ni-P parametrami procesu bezprądowej metalizacji.
[Aut.]: Piotr Kowalik, Zbigniew** Pruszowski.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 68-70, bibliogr. 3 poz.

metalizacja chemiczna ; stop Ni-P ; warstwa rezystywna

chemical metallization ; Ni-P alloy ; resistive layer

165/237
Nr opisu: 0000050896
Multivariate analysis of signals from array of semiconductor gas sensors.
[Aut.]: Adam* Szpakowski, Cuma Tyszkiewicz, Tadeusz Pustelny.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 6, s. 135-137, bibliogr. 10 poz.

półprzewodnikowy czujnik gazu ; czujnik FIGARO ; analiza wielowymiarowa ; rozpoznawanie wzorców

semiconductor gas sensor ; FIGARO sensor ; multivariate analysis ; pattern recognition

166/237
Nr opisu: 0000038650
Planarne sprzęgacze siatkowe do zastosowań w spektroskopii pola zanikającego.
[Aut.]: Paweł Karasiński.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 6, s. 94-96, bibliogr. 5 poz.

światłowód planarny ; sprzęgacz siatkowy ; spektroskopia pola zanikającego ; struktura sensorowa

planar waveguide ; grating coupler ; evanescent field spectroscopy ; sensor structure

167/237
Nr opisu: 0000043108
Poprawa skuteczności diagnostyki uszkodzeń parametrycznych.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 163-166, bibliogr. 8 poz.

filtr dolnoprzepustowy ; algorytm genetyczny ; diagnostyka uszkodzeń ; uszkodzenie parametryczne ; transformata falkowa

low-pass filter ; genetic algorithm ; fault diagnosis ; parametric fault ; wavelet transform

168/237
Nr opisu: 0000043109
Porównanie złożoności obliczeniowej algorytmów realizujących filtry NOI i SOI o liniowej charakterystyce fazowej.
[Aut.]: Jacek Konopacki.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 181-183, bibliogr. 9 poz.

filtr NOI ; filtr SOI ; filtr cyfrowy ; projektowanie filtrów

IIR filter ; FIR filter ; digital filter ; filters design

169/237
Nr opisu: 0000043114
Porównywanie metod oceny trajektorii stabilografcznych.
[Aut.]: Zenon Kidoń, Jerzy Fiołka.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 213-216, bibliogr. 5 poz.

stabilografia statyczna ; platforma stabilograficzna ; trajektoria stabilograficzna ; diagnostyka medyczna

static stabilography ; stabilographic platform ; stabilographic trajectory ; medical diagnostics

170/237
Nr opisu: 0000043096
Projektowanie jednofazowego inwertera napięcia małej mocy dla nieliniowego obciążenia.
[Aut.]: Zbigniew Rymarski.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 48-51, bibliogr. 16 poz.

inwerter napięcia ; modulacja PWM ; PWM ; regulator PID/CDM ; regulator RPC

voltage source inverter ; pulse-width modulation ; PWM ; PID/CDM controller ; RPC controller

171/237
Nr opisu: 0000043103
Przeciwsobny wzmacniacz mocy m.cz. z układami LM317/LM337.
[Aut.]: Adam* Kristof.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 125-129, bibliogr. 12 poz.

układ analogowy ; wzmacniacz przeciwsobny ; szerokopasmowy wzmacniacz mocy ; komplementarny wtórnik emiterowy ; komplementarny wtórnik napięcia

analog circuit ; push-pull amplifier ; wideband power amplifier ; complementary emiter follower ; complementary voltage follower

172/237
Nr opisu: 0000038651
Realizacja skokowej zmiany aktywności jonów na membranie jonoselektywnej z wykorzystaniem elektrozaworów.
[Aut.]: Alicja Wiora, A. Klaczyński, Józef Wiora, Andrzej Kozyra.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 6, s. 142-144, bibliogr. 11 poz.

elektroda jonoselektywna ; membrana PVC ; aktywność jonów ; elektrozawór

ion-selective electrode ; PVC membrane ; ion activity ; electric valve

173/237
Nr opisu: 0000043112
Równomierne obciążenie procesorów w systemie wieloprocesorowym.
[Aut.]: Krzysztof Taborek, Zdzisław* Pogoda.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 190-192, bibliogr. 7 poz.

procesor ; obciążenie równomierne ; system wieloprocesorowy ; wydajność systemu

processor ; regular load ; multiprocessor system ; system efficiency

174/237
Nr opisu: 0000043117
Stanowisko stabilograficzne do oceny stanu pacjentów po endoprotezoplastyce stawu biodrowego.
[Aut.]: Zenon Kidoń, Dariusz Kania, Jerzy Fiołka, K. Pethe-Kania.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 242-244, bibliogr. 5 poz.

platforma stabilograficzna ; staw biodrowy ; diagnostyka medyczna ; stabilografia statyczna

stabilographic platform ; hip joint ; medical diagnostics ; static stabilography

175/237
Nr opisu: 0000036429
Thermoelectric force in Ni-P resistive layers.
[Aut.]: Zbigniew** Pruszowski, Piotr Kowalik.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 1, s. 70-71, bibliogr. 6 poz.

warstwa rezystywna ; stop Ni-P ; współczynnik Seebecka

resistive layer ; Ni-P alloy ; Seebeck coefficient

176/237
Nr opisu: 0000042015
Układy selektywne z zastosowaniem zewnętrznie liniowych wewnętrznie nieliniowych dwójników aktywnych.
[Aut.]: Lesław** Topór-Kamiński, Marian** Pasko.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 10, s. 86-88, bibliogr. 6 poz.

dwójnik ; filtr aktywny ; układ liniowy ; układ nieliniowy ; układ selektywny ; ELIN

two-terminal network ; active filter ; linear circuit ; nonlinear circuit ; selective circuit ; ELIN

177/237
Nr opisu: 0000036563
Właściwości i błędy dyskretnej transformacji Fouriera.
[Aut.]: Marcin Brodka.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 2, s. 60-62, bibliogr. 6 poz.

cyfrowe przetwarzanie sygnałów ; transformata Fouriera ; analiza sygnału

digital signal processing ; Fourier transform ; signal analysis

178/237
Nr opisu: 0000043104
Wykorzystanie języka XML w procesie projektowania układów SoC.
[Aut.]: Dariusz* Stachańczyk.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 129-133, bibliogr. 14 poz.

język XML ; projektowanie układów cyfrowych ; wirtualny komponent ; SoC ; system jednoukładowy

XML ; digital circuit design ; virtual component ; SoC ; System on Chip

179/237
Nr opisu: 0000036430
Wykorzystanie mikroskopii sił atomowych w badaniach nad formowaniem powierzchni krzemowych ogniw słonecznych.
[Aut.]: Krzysztof** Waczyński, Wojciech Filipowski, P. Panek, K. Drabczyk, A. Olechowska.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 1, s. 83-86, bibliogr. 8 poz.

krzemowe ogniwo słoneczne ; mikroskop sił atomowych ; krzem monokrystaliczny ; krzem multikrystaliczny ; warstwa porowata ; trawienie

silicon solar cell ; atomic force microscope ; monocrystalline silicon ; multicrystalline silicon ; porous layer ; etching

180/237
Nr opisu: 0000043116
Wykorzystanie operatorów wyostrzania do maskowania błedów w hierarchicznym systemie wnioskowania przybliżonego.
[Aut.]: Bernard Wyrwoł.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 237-239, bibliogr. 14 poz.

wnioskowanie przybliżone ; system rozmyty ; wyostrzenie ; maskowanie błędów ; hierarchiczny system wnioskujący

fuzzy inference ; fuzzy network ; sharpening ; masking errors ; hierarchical inference system

181/237
Nr opisu: 0000043107
Zastosowanie układu FPAA do diagnostyki i testowania układów analogowych.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 158-162, bibliogr. 5 poz.

układ analogowy ; FPAA ; testowanie ; diagnostyka ; testowanie funkcjonalne ; symulacja uszkodzeń

analog circuit ; testing ; diagnostics ; functional testing ; fault simulation

182/237
Nr opisu: 0000038048
Zewnętrznie liniowe, wewnętrznie nieliniowe dwójniki aktywne - modele teoretyczne.
[Aut.]: Lesław** Topór-Kamiński, Marian** Pasko.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 5, s. 89-91, bibliogr. 5 poz.

dwójnik ; integrator ; układ liniowy ; układ nieliniowy ; ELIN

two-terminal network ; integrator ; linear circuit ; nonlinear circuit ; ELIN

183/237
Nr opisu: 0000023642
Analiza wpływu zmian napięcia wejściowego DC na parametry napięcia wyjściowego w falowniku czterogałęziowym.
[Aut.]: Andrzej Latko, Andrzej* Kandyba.
-Elektronika 2007 R. 48 nr 1, s. 15-19, bibliogr. 3 poz.

układ kogeneracyjny ; modulacja wektorowa ; falownik czterogałęziowy

cogeneration system ; vector modulation ; four-leg voltage

184/237
Nr opisu: 0000023643
Dolnoprzepustowe i pasmowoprzepustowe bikwadratowe struktury filtrujące ze sterowanymi konwejerami prądowymi CCC.
[Aut.]: Marian** Pasko, Krzysztof Sztymelski.
-Elektronika 2007 R. 48 nr 1, s. 51-54, bibliogr. 13 poz.

struktura bikwadratowa ; konwejer prądowy ; filtracja częstotliwościowa

biquadratic structure ; current conveyor ; frequency filtering

185/237
Nr opisu: 0000025781
Knock detection as an example of automotive applications of signal processing.
[Aut.]: Jerzy Fiołka.
-Elektronika 2007 nr 4, s. 6-11, bibliogr. 14 poz.

detekcja spalania stukowego ; przetwarzanie sygnałów ; dyskretna transformata falkowa

knock detection ; signal processing ; discrete wavelet transform

186/237
Nr opisu: 0000029667
Ograniczenia częstotliwościowe dolnoprzepustwoych eliptycznych struktur bikwadratowych z rzeczywistym wzmacniaczem OPA.
[Aut.]: Tomasz Adrikowski, Marian** Pasko.
-Elektronika 2007 R. 48 nr 7, s. 59-61, bibliogr. 5 poz.

struktura typu "b" ; wzmacniacz operacyjny ; filtr eliptyczny ; filtr górnoprzepustowy

structure type "b" ; operational amplifier ; eliptic filter ; high-pass filter

187/237
Nr opisu: 0000031621
Ograniczenia częstotliwościowe górnoprzepustowych, eliptycznych struktur bikwadratowych z rzeczywistym wzmacniaczem OPA.
[Aut.]: Tomasz Adrikowski, Marian** Pasko.
-Elektronika 2007 R. 48 nr 10, s. 65-68, bibliogr. 4 poz.

wzmacniacz operacyjny ; struktura typu "b" ; filtr eliptyczny ; filtr górnoprzepustowy

operational amplifier ; structure type "b" ; eliptic filter ; high-pass filter

188/237
Nr opisu: 0000024085
Synteza logiczna przeznaczona do układów CPLD.
[Aut.]: Dariusz Kania.
-Elektronika 2007 R. 48 nr 2, s. 21-25, bibliogr. 16 poz.

układ CPLD ; układ PAL ; metoda syntezy ; graf wyjść

CPLD structure ; PAL structure ; synthesis method ; graph's nodes

189/237
Nr opisu: 0000025349
Układy Max II - nowe spojrzenie na architekturę struktur CPLD.
[Aut.]: W. Grabiec, Dariusz Kania.
-Elektronika 2007 R. 48 nr 3, s. 42-46, bibliogr. 11 poz.

CPLD ; układ MAX II ; układ cyfrowy ; FPGA ; interfejs JTAG

CPLD ; MAX II circuit ; digital circuit ; FPGA ; JTAG interface

190/237
Nr opisu: 0000025348
Wpływ parametrów dynamicznych komponentów na dokładność integracyjnych przetworników analogowo-cyfrowych.
[Aut.]: Maciej** Nowiński.
-Elektronika 2007 R. 48 nr 3, s. 36-38, bibliogr. 10 poz.

przetwornik Elberta ; przetwornik analogowo-cyfrowy ; przetwornik A/C

Elbert converter ; analog-to-digital converter ; A/D converter

191/237
Nr opisu: 0000086586
Zdarzeniowe wyzwalanie zadań sterowania w sterownikach programowalnych.
[Aut.]: Mirosław Chmiel.
-Elektronika 2007 R. 48 nr 11, s. 68-71, bibliogr. 8 poz.

sterownik programowalny ; sterownik PLC ; program sterowania

programmable controller ; PLC controller ; control program

192/237
Nr opisu: 0000021756
Dolno- i górnoprzepustowe, eliptyczne filtry parzystego rzędu w trybie prądowym ze wzmacniaczami transkonduktancyjnymi OTA i BOTA.
[Aut.]: Tomasz Adrikowski, Marian** Pasko.
-Elektronika 2006 R. 47 nr 10, s. 45-49, bibliogr. 10 poz.

filtr eliptyczny ; wzmacniacz transkonduktancyjny ; struktura bikwadratowa

eliptic filter ; transconductance amplifier ; biquadratic structure

193/237
Nr opisu: 0000019547
Górnoprzepustowa struktura filtrująca ze sterowanymi konwejerami prądowymi CCC.
[Aut.]: Marian** Pasko, Krzysztof Sztymelski.
-Elektronika 2006 R. 47 nr 6, s. 25-27, bibliogr. 12 poz.

filtr cyfrowy ; filtracja sygnału ; wzmacniacz operacyjny ; konwejer prądowy CCC ; struktura bikwadratowa

digital filter ; signal filtration ; operational amplifier ; current conveyor CCC ; biquadratic structure

194/237
Nr opisu: 0000023295
Napięciowe bikwadratowe filtry eliptyczne z użyciem wzmacniaczy OPA, OTA i OTRA.
[Aut.]: Tomasz Adrikowski, Marian** Pasko.
-Elektronika 2006 R. 47 nr 12, s. 44-49, bibliogr. 11 poz.

filtr eliptyczny ; wzmacniacz transkonduktancyjny ; wzmacniacz operacyjny ; struktura bikwadratowa

eliptic filter ; transconductance amplifier ; operational amplifier ; biquadratic structure

195/237
Nr opisu: 0000021755
On the use of multi-signature analysis for interconnect test.
[Aut.]: Tomasz Garbolino, M. Kopeć, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
-Elektronika 2006 R. 47 nr 10, s. 16-18

196/237
Nr opisu: 0000023294
Studies of chemical composition and response of the SnO₂ based sensor structure to dry and humid synthetic air.
[Aut.]: Bogusława Adamowicz, Weronika Izydorczyk, Andrzej** Klimasek, Krzysztof** Waczyński, Jerzy Uljanow, Wiesław Jakubik, J. Żywicki.
-Elektronika 2006 R. 47 nr 12, s. 5-6

197/237
Nr opisu: 0000016197
Kodowanie wzorców kolumn zorientowane na realizację w strukturach typu PAL.
[Aut.]: Dariusz Kania, Adam Milik, Józef Kulisz, Robert Czerwiński.
-Elektronika 2005 R. 46 nr 11, s. 41-44, bibliogr. 15 poz.

198/237
Nr opisu: 0000011974
Przetworniki sigma-delta - uwagi malkontenta.
[Aut.]: Maciej** Nowiński.
-Elektronika 2005 R. 46 nr 4, s. 43-47, bibliogr. 2 poz.

199/237
Nr opisu: 0000010833
Symulacja w czasie rzeczywistym układu kondycjonera mocy z wykorzystaniem karty dSPACE DS1104.
[Aut.]: Tomasz* Biskup, Bogusław** Grzesik, Jarosław Michalak.
-Elektronika 2005 R. 46 nr 1, s. 29-33, bibliogr. 5 poz.

200/237
Nr opisu: 0000088100
Wykorzystanie szkliw domieszkowo-krzemowych w technologii półprzewodnikowych struktur fotowoltaicznych.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof** Waczyński, M. Mazur, Wojciech Filipowski, Kazimierz* Drabczyk.
-Elektronika 2005 R. 46 nr 11, s. 32-34, bibliogr. 4 poz.

201/237
Nr opisu: 0000008785
Realizacja przetwornika analogowo-cyfrowego o zwiększonej dokładności na układzie PSoC firmy Cypress.
[Aut.]: Maciej** Nowiński, Tomasz Rudnicki.
-Elektronika 2004 R. 45 nr 6, s. 31-35, bibliogr. 5 poz.

przetwornik analogowo-cyfrowy ; system mikroprocesorowy ; PsoC

analog-to-digital converter ; microprocessor system ; PsoC

202/237
Nr opisu: 0000010695
Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2004 R. 45 nr 12, s. 33-37, bibliogr. 36 poz.

203/237
Nr opisu: 0000007604
Symulacyjne badania iskrobezpieczeństwa układów zasilających.
[Aut.]: Adam* Kretek.
-Elektronika 2004 R. 45 nr 2, s. 22-25, bibliogr. 7 poz.

system zasilania ; iskrobezpieczeństwo ; obwód pojemnościowy ; obwód kontrolny ; symulacja ; SPICE ; iskiernik

power system ; intrinsic safety ; capacitive circuit ; simulation ; control loop ; simulation ; SPICE ; spark gap

204/237
Nr opisu: 0000010295
System TRMS w zastosowaniu do projektowania komponentów IP.
[Aut.]: Paweł* Fraś, T. Kostienko, Adam* Pawlak, Piotr* Penkala, Dariusz* Stachańczyk, [i in.].
-Elektronika 2004 R. 45 nr 11, s. 9-12, bibliogr. 9 poz.

205/237
Nr opisu: 0000001558
Dekompozycja wielokrotna w syntezie logicznej dla struktur FPGA typu tablicowego.
[Aut.]: Andrzej** Kania.
-Elektronika 2003 R. 44 nr 2/3, s. 43-46, bibliogr. 25 poz.

synteza logiczna ; dekompozycja wielokrotna ; FPGA ; teoria Curtisa

logic synthesis ; multiple decomposition ; FPGA ; Curtis theory

206/237
Nr opisu: 0000000443
Czterozaciskowy nullor nieuziemiony jako uniwersalny wzmacniacz elektroniczny.
[Aut.]: Lesław** Topór-Kamiński.
-Elektronika 2002 R. 43 nr 4, s. 20-24, bibliogr. 13 poz.

207/237
Nr opisu: 0000000444
Hybrydowe warstwy rezystywne NiCr+NiP.
[Aut.]: Piotr Kowalik, Zbigniew** Pruszowski.
-Elektronika 2002 R. 43 nr 3, s. 23-25, bibliogr. 3 poz.

208/237
Nr opisu: 0000001895
Determination of the surface state density distribution and fermi level position on the InP (100) surface from excition-power-dependent photoluminescence efficiency spectra.
[Aut.]: Bogusława Adamowicz, Marcin** Miczek, T. Domagała, H. Hasegawa.
-Elektronika 2001 R. 42 nr 8/9, s. 76-78, bibliogr. 13 poz.

209/237
Nr opisu: 0000002297
Inżynieria rozproszona - nowy paradygmat pracy inżynierskiej wspomaganej dostępem do Internetu.
[Aut.]: Adam* Pawlak.
-Elektronika 2001 R. 42 nr 3, s. 10-11, bibliogr. 8 poz.

210/237
Nr opisu: 0000001896
Multiple-technique electron spectrometer for investigation of semiconductor surfaces and interfaces.
[Aut.]: Jacek** Szuber, Piotr* Kościelniak, S. Kaszczyszyn.
-Elektronika 2001 R. 42 nr 8/9, s. 74-75, bibliogr. 17 poz.

211/237
Nr opisu: 0000002298
Zastosowanie zjawiska propagacji akustycznej fali powierzchniowej w sensorach gazu.
[Aut.]: Marian** Urbańczyk, Aleksander* Opilski, Wiesław Jakubik.
-Elektronika 2001 R. 42 nr 3, s. 45-49, bibliogr. 3 poz.

212/237
Nr opisu: 0000002074
40 lat mikrofalowej elektroniki półprzewodnikowej w Polsce.
[Aut.]: Jerzy** Klamka.
-Elektronika 2000 R. 41 nr 8/9, s. 11-21, bibliogr. 91 poz.

213/237
Nr opisu: 0000002075
Opis widmowy wielofazowych układów z przełączanymi pojemnościami.
[Aut.]: Józef Kulisz.
-Elektronika 2000 R. 41 nr 5, s. 17-21, bibliogr. 7 poz.

214/237
Nr opisu: 0000005008
Łatwotestowalny system akwizycji danych.
[Aut.]: Dariusz Kania, Krzysztof* Pucher.
-Elektronika 1999 R. 40 nr 3, s. 13-15, bibliogr. 4 poz.

215/237
Nr opisu: 0000024291
Metody testowania połączeń i logiki konwencjonalnej w urządzeniach cyfrowych w aspekcie współczesnych technologii wytwarzania.
[Aut.]: Adam* Kristof.
-Elektronika 1998 R. 39 nr 3, s. 18-23, bibliogr. 26 poz.

216/237
Nr opisu: 0000026372
Grubowarstwowe czujniki gazu oparte na stabilizowanych warstwach cyrkonowych.
[Aut.]: Sławomir** Kończak, Dariusz* Urbańczyk.
-Elektronika 1997 R. 38 nr 2, s. 13-16, 23, bibliogr. 8 poz.

217/237
Nr opisu: 0000026592
Metody weryfikacji skuteczności testowania wewnętrznego.
[Aut.]: Krzysztof* Gucwa.
-Elektronika 1997 R. 38 nr 10, s. 25-28, bibliogr. 16 poz.

218/237
Nr opisu: 0000026672
Problemy związane ze stosowaniem rozwirowywanych źródeł domieszek w technologii krzemowej.
[Aut.]: Edyta Wróbel, Krzysztof** Waczyński.
-Elektronika 1997 R. 38 nr 12, s. 15-20, bibliogr. 23 poz.

219/237
Nr opisu: 0000026371
Struktury testerów wewnętrznych dla samotestowalnych układów sekwencyjnych.. Cz. 3: Projektowanie rejestrów liniowych przy użyciu układów FPGA firmy ACTEL.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka.
-Elektronika 1997 R. 38 nr 2, s. 24-29, bibliogr. 6 poz.

220/237
Nr opisu: 0000026527
Struktury testerów wewnętrznych dla samotestowalnych układów sekwencyjnych.. Cz. 4.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka.
-Elektronika 1997 R. 38 nr 7/8, s. 33-38, bibliogr. 17 poz.

221/237
Nr opisu: 0000034895
Projektowanie łatwo testowalnych układów i systemów mikroelektronicznych na świecie i w Polsce.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka.
-Elektronika 1996 R. 37 nr 4, s. 21-22

222/237
Nr opisu: 0000034985
Skondensowany pierścień samotestujący: nowa niedroga technika BIST.
[Aut.]: D. Badura, Andrzej** Hławiczka.
-Elektronika 1996 R. 37 nr 8, s. 17-20, bibliogr. 11 poz.

223/237
Nr opisu: 0000035097
Struktury testerów wewnętrznych dla samotestowalnych układów sekwencyjnych. Cz. 1: Rola rejestrów liniowych.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka.
-Elektronika 1996 R. 37 nr 9, s. 14-20, bibliogr. 22 poz.

224/237
Nr opisu: 0000035117
Struktury testerów wewnętrznych dla samotestowalnych układów sekwencyjnych. Cz. 2: Techniki ułatwiania testowania za pomocą rejestrów liniowych.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka.
-Elektronika 1996 R. 37 nr 10, s. 20-23

225/237
Nr opisu: 0000034915
Wbudowane generatory testów deterministycznych dla samotestowalnych układów ASIC.
[Aut.]: Tomasz Garbolino.
-Elektronika 1996 R. 37 nr 6, s. 21-26, bibliogr. 11 poz.

226/237
Nr opisu: 0000043438
Opis częstotliwościowy układów z przełączanymi pojemnościami.
[Aut.]: Józef Kulisz.
-Elektronika 1994 R. 35 nr 9, s. 15-21, bibliogr. 4 poz.

227/237
Nr opisu: 0000044890
Biblioteka komórek standardowych do automatycznego projektowania liniowych testerów wewnętrznych.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka.
-Elektronika 1993 R. 34 nr 2, s. 11-15, bibliogr. 18 poz.

228/237
Nr opisu: 0000045138
Klej epoksydowy do pozycjonowanego montażu struktur krzemowych piezoelektrycznych czujników ciśnienia.
[Aut.]: Zbigniew** Pruszowski, J. Dziuban, A. Górecka-Drzazga, U. Lipowicz.
-Elektronika 1993 R. 34 nr 11, s. 19-20, bibliogr. 9 poz.

229/237
Nr opisu: 0000045024
Niektóre aspekty modelu przewodnictwa elektrycznego warstw amorficznych Ni-P.
[Aut.]: Witold** Gnot, Zbigniew** Pruszowski.
-Elektronika 1993 R. 34 nr 10, s. 9-12, bibliogr. 13 poz.

230/237
Nr opisu: 0000044900
Nowe układy scalone do realizacji sprzęgu P1149.3.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, M. Kopeć, M. Chachulski, A. Boszko.
-Elektronika 1993 R. 34 nr 5, s. 10-15, bibliogr. 15 poz.

231/237
Nr opisu: 0000052506
Ułatwienie testowania systemów cyfrowych przy użyciu standardu P1149.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka, M. Kopeć.
-Elektronika 1992 R. 33 nr 7, s. 8-14, bibliogr. 20 poz.

232/237
Nr opisu: 0000053490
Warstwy rezystywne Ni-P osadzone metodą metalizacji chemicznej na aktywowanym warstwą Ni-Cr podłożu ceramicznym.
[Aut.]: Zbigniew** Pruszowski.
-Elektronika 1991 R. 32 nr 7, s. 22-23, bibliogr. 23 poz.

233/237
Nr opisu: 0000053489
Wbudowane weryfikatory i ich rola w procesie samotestowania.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka.
-Elektronika 1991 R. 32 nr 1, s. 13-16, bibliogr. 60 poz.

234/237
Nr opisu: 0000053491
Właściwości elektryczne i strukturalne warstw rezystywnych Ni-P otrzymanych metodą chemicznej redukcji na aktywowanym podłożu ceramicznym.
[Aut.]: H. Krztoń, Zbigniew** Pruszowski, Zygmunt** Specjał.
-Elektronika 1991 R. 32 nr 7, s. 20-22, bibliogr. 5 poz.

235/237
Nr opisu: 0000060052
Sprzęgi ułatwiające testowanie.
[Aut.]: Andrzej** Hławiczka.
-Elektronika 1990 R. 31 nr 7/9, s. 57-61, bibliogr. 27 poz.

236/237
Nr opisu: 0000064285
Badania nad wytwarzaniem rezystorów warstwowych metalizowanych chemicznie.
[Aut.]: A. Heinze, W. Kucharczyk, Zbigniew** Pruszowski.
-Elektronika 1988 R. 29 nr 8/9, s. 12-16, bibliogr. 22 poz.

237/237
Nr opisu: 0000038944
Modelowanie wybranych charakterystyk częstotliwościowych stabilizatorów impulsowych typu STSI i SIRT.
[Aut.]: Zbigniew Rymarski.
-Elektronika 1987 R. 28 nr 6, s. 11-16, bibliogr. 11 poz.

stosując format: