Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
WARSTWA CIENKA
Liczba odnalezionych rekordów:
60
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/60
Nr opisu:
0000128475
Badanie rozkładu grubości powierzchni cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej spektroskopowej.
[Aut.]: B.
Hajduk
, Paweł
Jarka
, P.
Nitschke
.
-
LAB Laboratoria Apar. Bad.
2019 nr 1
, s. 6-8, bibliogr. 3 poz..
Punktacja MNiSW
5.000
elipsometria spektroskopowa
;
mapowanie powierzchni
;
warstwa cienka
spectroscopic ellipsometry
;
surface mapping
;
thin layer
2/60
Nr opisu:
0000132279
Fabrication and characterization of thin film used in dye-sensitized solar cells.
[Aut.]: Aleksandra
Drygała
.
W:
Zeszyt abstraktów międzynarodowej konferencji Material Technologies in Silesia'2019, 13-16 października 2019, Zawiercie
. Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska, 2019
, s. 23-24, bibliogr. 2 poz. (
Prace Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych
;
Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska
z. 6)
fotowoltaika
;
barwnikowe ogniwa fotowoltaiczne
;
warstwa cienka
;
fotoanoda
;
przeciwelektroda
photovoltaics
;
dye-sensitized solar
;
thin film
;
photoanode
;
counter electrode
3/60
Nr opisu:
0000130577
Functional thin films and special coatings. Eds.: Tomasz Tański, Przemysław Snopiński.
Stafa-Zurich : Trans Tech Publications, 2019, 166 s.
(
Solid State Phenomena
; vol. 293 1662-9779).
Punktacja MNiSW
20.000
powłoka
;
wytwarzanie
;
właściwości optyczne
;
konwersja fotowoltaiczna
;
technologia łuku obrotowego
;
ogniwo słoneczne
;
cienka powłoka
;
warstwa cienka
;
tribologia
coating
;
fabrication
;
optical properties
;
photovoltaic conversion
;
rotating arc technology
;
solar cell
;
thin film
;
thin layer
;
tribology
4/60
Nr opisu:
0000132461
Metody badawcze cienkich warstw wytworzonych metodą osadzania warstw atomowych.
[Aut.]: Paulina
Boryło
, Marek
Szindler
, Magdalena
Szindler
, Krzysztof
Lukaszkowicz
.
-
LAB Laboratoria Apar. Bad.
2019 nr 5
, s. 16-18, bibliogr. 4 poz..
Punktacja MNiSW
5.000
warstwa cienka
;
osadzanie warstw atomowych
;
ALD
thin layer
;
atomic layer deposition
;
ALD
5/60
Nr opisu:
0000133870
Titanium dioxide nanoparticles and thin films deposited by an atomization method.
[Aut.]: G.
Machalska
, Michał
Noworolnik
, Marek
Szindler
, Wojciech
Sitek
, Rafał
Babilas
.
-
Arch. Mater. Sci. Eng.
2019 vol. 100 nr 1/2
, s. 34-41, bibliogr. 16 poz..
Punktacja MNiSW
20.000
zol-żel
;
nanocząstka
;
warstwa cienka
;
dwutlenek tytanu
;
atomizacja
sol-gel
;
nanoparticle
;
thin film
;
titanium dioxide
;
atomization
6/60
Nr opisu:
0000132902
Zastosowanie nanowarstw ZnO osadzanych metodą ALD w mikroelektronice i fotowoltaice.
[Aut.]: J.
Szczypara
, Daria
Paczuła
, Paulina
Boryło
, Weronika
Izydorczyk
.
-
Pr. Inst. Mater. Inż. Biomed.
2019 nr 1
, s. 243-249, bibliogr. 10 poz..
Punktacja MNiSW
5.000
warstwa cienka
;
ALD
;
mikroelektronika
;
fotowoltaika
;
ZnO
;
nanotechnologia
thin film
;
ALD
;
microelectronics
;
photovoltaic
;
ZnO
;
nanotechnology
7/60
Nr opisu:
0000122596
Analiza morfologii i własności optycznych nanowłókien polimerowych wzmacnianych nanocząstkami TiO
2
, Bi
2
O
3
, SiO
2
. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Wiktor
Matysiak
.
Gliwice, 2018, 164 k., bibliogr. 254 poz.
Politechnika Śląska. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Promotor: dr hab. inż. Tomasz Tański
nanomateriały jednowymiarowe
;
nanowłókno kompozytowe
;
elektroprzędzenie
;
własności optyczne
;
nanokompozyt polimerowy
;
warstwa cienka
one-dimensional nanomaterials
;
composite nanofiber
;
electrospinning
;
optical properties
;
polymer nanocomposite
;
thin layer
8/60
Nr opisu:
0000127494
Analiza własności i zastosowań cienkich warstw PLA/SiO2.
[Aut.]: Damian
Nowak
, Wiktor
Matysiak
, Tomasz
Tański
.
W:
Konferencja Studenckich Kół Naukowych
. TalentDetector'2018. Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska, 2018
, s. 32 (
Prace Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych
;
Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska
z. 5)
polilaktyd
;
warstwa cienka
;
metoda spin-coating
polylactide
;
thin layer
;
spin-coating method
9/60
Nr opisu:
0000123466
Badania własności optycznych cienkich warstw.
[Aut.]: Tomasz
Tański
, Wiktor
Matysiak
, Paweł
Jarka
.
-
LAB Laboratoria Apar. Bad.
2018 nr 2
, s. 14-16, bibliogr. 5 poz..
Punktacja MNiSW
1.000
warstwa cienka
;
własności optyczne
;
metody badań
thin layer
;
optical properties
;
research methods
10/60
Nr opisu:
0000127005
Jednorodność optyczna warstw falowodowych SiO2:TiO2 wytwarzanych metodą zol-żel.
[Aut.]: Paweł
Karasiński
.
W:
Światłowody i ich zastosowanie
. TAL 2018. XVIII Konferencja i V Szkoła "Technologia światłowodów", Nałęczów, 20-23.11.2018. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2018
, pamięć USB (PenDrive) s. 1, bibliogr. 3 poz.
warstwa cienka
;
współczynnik załamania
;
jednorodność optyczna
;
widmo odbiciowe
thin layer
;
refractive index
;
optical homogeneity
;
reflectance spectra
11/60
Nr opisu:
0000124790
Metoda wyznaczania współczynników załamania na powierzchniach granicznych warstw dielektrycznych z obwiedni charakterystyk odbiciowych.
[Aut.]: Paweł
Karasiński
, Cuma
Tyszkiewicz
, Marcin
Skolik
, T.
Błaszczyk
.
-
Prz. Elektrot.
2018 R. 94 nr 8
, s. 51-54, bibliogr. 12 poz..
Punktacja MNiSW
14.000
spektrofotometria
;
współczynnik załamania
;
warstwa dielektryczna
;
warstwa cienka
;
widmo odbiciowe
spectrophotometry
;
refractive index
;
dielectric layer
;
thin film
;
reflectance spectra
12/60
Nr opisu:
0000125130
Metoda wyznaczania współczynników załamania na powierzchniach granicznych warstw dielektrycznych z obwiedni charakterystyk odbiciowych.
[Aut.]: Paweł
Karasiński
, Cuma
Tyszkiewicz
, Marcin
Skolik
, T.
Błaszczyk
.
W:
XVII Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłówko Wschodnie, 03-07.06.2018
. Program konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2018
, pamięć USB (PenDrive) s. 1-7
spektrofotometria
;
współczynnik załamania
;
warstwa dielektryczna
;
warstwa cienka
;
widmo odbiciowe
spectrophotometry
;
refractive index
;
dielectric layer
;
thin film
;
reflectance spectra
13/60
Nr opisu:
0000127499
Osadzanie cienkich warstw techniką spin coating.
[Aut.]: Julia
Popis
, K.
Koryciak
, Magdalena
Szindler
.
W:
Konferencja Studenckich Kół Naukowych
. TalentDetector'2018. Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska, 2018
, s. 33 (
Prace Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych
;
Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska
z. 5)
metoda spin-coating
;
warstwa cienka
spin-coating method
;
thin layer
14/60
Nr opisu:
0000122395
Novel, nondestructive techniques of determining heat conductivity.
[Aut.]: Wojciech
Adamczyk
, Arkadiusz
Ryfa
, Tadeusz
Kruczek
, Ziemowit
Ostrowski
, Ryszard
Białecki
.
W:
22nd International Conference on Computer Methods in Mechanics
. CMM-2017, September 13th-16th, Lublin, Poland. Short papers. Eds.: Burczyński Tadeusz, Kuczma Mieczysław, Warmiński Jerzy, Podgórski Jerzy, Błazik-Borowa Ewa, Lipecki Tomasz. Lublin : Lublin University of Technology, 2017
, s. 1-2, bibliogr. 2 poz.
metoda odwrotna
;
przewodność cieplna
;
urządzenie pomiarowe
;
warstwa cienka
inverse method
;
heat conductivity
;
measuring device
;
thin layer
;
arbitrary shape
15/60
Nr opisu:
0000116219
Local thermal measurement at nanoscale by scanning thermal microscopy.
[Aut.]: Jerzy
Bodzenta
, Justyna
Juszczyk-Synowiec
, Anna
Kaźmierczak-Bałata
, Paulina
Powroźnik
, M.
Chirtoc
.
W:
1st International Conference InterNanoPoland 2016
. International Conference Center, Katowice, 14-15 June, 2016. Abstracts book. Ed. Agnieszka Piekara, Karol Lemański. Katowice : The Foundation of Nanoscience and Nanotechnology Support Nanonet, 2016
, s. [62]
lokalne właściwości cieplne
;
skaningowa mikroskopia termiczna
;
przewodność cieplna
;
warstwa cienka
;
nanomateriały
local thermal properties
;
scanning thermal microscopy
;
thermal conductivity
;
thin layer
;
nanomaterials
16/60
Nr opisu:
0000108370
Numerical and experimental determinations of temporal characteristics of the SAW sensor with a chemi-sensitive layer of WO
3
+Pd.
[Aut.]: T.
Hejczyk
, Erwin
Maciak
, Maciej
Setkiewicz
.
W:
11th Conference on Integrated Optics: Sensors, Sensing Structures, and Methods
. Eds. Tadeusz Pustelny, Przemyslaw Struk, Pawel Mergo, Jacek Wojtas. Bellingham : SPIE, 2016
, s. 1-5, bibliogr. 12 poz. (
Proceedings of SPIE
; vol. 10034 0277-786X)
czujnik gazu SAW
;
analiza numeryczna
;
dyfuzja gazu
;
warstwa cienka
SAW gas sensor
;
numerical analysis
;
gas diffusion
;
thin layer
17/60
Nr opisu:
0000116179
Production of thin layers of PMMA/carbon particles and analysis of their properties.
[Aut.]: Wiktor
Matysiak
, Marek
Pawełczyk
, M.
Szatkowski
, Tomasz
Tański
.
W:
1st International Conference InterNanoPoland 2016
. International Conference Center, Katowice, 14-15 June, 2016. Abstracts book. Ed. Agnieszka Piekara, Karol Lemański. Katowice : The Foundation of Nanoscience and Nanotechnology Support Nanonet, 2016
, s. [46], bibliogr. 2 poz.
PMMA
;
cząstki węglowe
;
metoda spin-coating
;
warstwa cienka
PMMA
;
carbon particles
;
spin-coating method
;
thin layer
18/60
Nr opisu:
0000106991
Quantitative thermal microscopy measurement with thermal probe driven by dc+ac current.
[Aut.]: Jerzy
Bodzenta
, Justyna
Juszczyk
, Anna
Kaźmierczak-Bałata
, P.
Firek
, A.
Fleming
, M.
Chirtoc
.
-
Int. J. Thermophys.
2016 vol. 37 iss. 7
, s. 1-17, bibliogr. 60 poz..
Impact Factor
0.745.
Punktacja MNiSW
20.000
metoda elementów skończonych
;
analiza numeryczna
;
skaningowa mikroskopia termiczna
;
pomiar przewodności cieplnej
;
warstwa cienka
finite element method
;
numerical analysis
;
scanning thermal microscopy
;
thermal conductivity measurement
;
thin layer
19/60
Nr opisu:
0000100168
Badania odpowiedzi sensorowej cienkich warstw oraz nanostruktur SnO
2
.
[Aut.]: Krzysztof**
Waczyński
, Weronika
Izydorczyk
, N.
Niemiec
, Jerzy
Uljanow
, Wiesław
Domański
, Janusz
Mazurkiewicz
.
W:
Czternasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 08-12.06.2015]
. Materiały konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2015
, pamięć USB (PenDrive) s. 59-65, bibliogr. 15 poz.
sensor
;
warstwa cienka
;
nanostruktura SnO2
;
czujnik rezystancyjny
;
technologia RGTO
;
termiczne osadzanie z fazy gazowej
sensor
;
thin layer
;
SnO2 nanostructure
;
resistive sensor
;
RGTO technology
;
thermal vapour deposition
20/60
Nr opisu:
0000096044
Correlation between morphology and local thermal properties of iron (II) phthalocyanine thin layers.
[Aut.]: Maciej
Krzywiecki
, Lucyna
Grządziel
, Justyna
Juszczyk
, Anna
Kaźmierczak-Bałata
, A.
Erbe
, Jerzy
Bodzenta
.
-
J. Phys., D Appl. Phys.
2014 vol. 47 iss. 33
, Art. nr 335304, s. 1-7, bibliogr. 47.
Impact Factor
2.721.
Punktacja MNiSW
35.000
półprzewodnik organiczny
;
morfologia FePc
;
mikroskopia sił atomowych
;
skaningowa mikroskopia termiczna
;
warstwa cienka
;
właściwości termiczne
;
ftalocyjaniny żelaza
organic semiconductor
;
FePc morphology
;
atomic force microscopy
;
scanning thermal microscopy
;
thin film
;
thermal properties
;
iron phthalocyanine
21/60
Nr opisu:
0000092753
Doping behaviour of electrochemically generated model bithiophene meta-substituted star shaped oligomer.
[Aut.]: Przemysław
Ledwoń
, Roman
Turczyn
, K.
Idzik
, R.
Beckert
, J.
Frydel
, Mieczysław
Łapkowski
, Wojciech
Domagała
.
-
Mater. Chem. Phys.
2014 vol. 147 iss. 1/2
, s. 254-260, bibliogr. 57 poz..
Impact Factor
2.259.
Punktacja MNiSW
35.000
materiały optyczne
;
półprzewodnik
;
warstwa cienka
;
technika elektrochemiczna
;
rezonans elektronowy
optical materials
;
semiconductor
;
thin film
;
electrochemical technique
;
electron resonance
22/60
Nr opisu:
0000089658
Surface states and space charge layer electronic parameters specification for long term air-exposed copper phthalocyanine thin films.
[Aut.]: Lucyna
Grządziel
, Maciej
Krzywiecki
.
-
Thin Solid Films
2014 vol. 550
, s. 361-366, bibliogr. 29 poz..
Impact Factor
1.759.
Punktacja MNiSW
30.000
półprzewodnik organiczny
;
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
właściwości elektronowe powierzchni
;
wydajność kwantowa fotoemisji
;
dipol powierzchni
;
efekt dipola
organic semiconductor
;
copper phthalocyanine
;
thin film
;
surface electronic properties
;
photoemission yield spectroscopy
;
surface dipole
;
dipole effect
23/60
Nr opisu:
0000093674
Zastosowanie polerowania jonowego do preparatyki cienkich folii do badań na transmisyjnym mikroskopie elektronowym.
[Aut.]: J.
Sitek
, Krzysztof
Labisz
.
W:
Sesja Okolicznościowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'14"
. Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej, 2014
, s. 69-76, bibliogr. 13 poz. (
Prace Studenckich Kół Naukowych
;
Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika Śląska
nr 29)
preparatyka
;
transmisyjna mikroskopia elektronowa
;
warstwa cienka
preparation
;
transmission electron microscopy
;
thin film
24/60
Nr opisu:
0000087576
Al
2
O
3
antireflection coatings for silicon solar cells.
[Aut.]: Leszek**
Dobrzański
, Marek
Szindler
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2013 vol. 59 iss. 1
, s. 13-19, bibliogr. 18 poz..
Punktacja MNiSW
12.000
warstwa antyrefleksyjna
;
krzemowe ogniwo słoneczne
;
atomowe osadzanie warstw
;
warstwa cienka
antireflective coating
;
silicon solar cell
;
atomic layer deposition
;
thin film
25/60
Nr opisu:
0000094441
Application of scanning microscopy to study correlation between thermal properties and morphology of BaTiO
3
thin films.
[Aut.]: Anna
Kaźmierczak-Bałata
, Jerzy
Bodzenta
, Maciej
Krzywiecki
, Justyna
Juszczyk
, J.
Szmidt
, P.
Firlek
.
-
Thin Solid Films
2013 vol. 545
, s. 217-221, bibliogr. 26 poz..
Impact Factor
1.867.
Punktacja MNiSW
30.000
mikroskopia sił atomowych
;
tytanian baru
;
warstwa cienka
;
skaningowa mikroskopia termiczna
;
właściwości termiczne
atomic force microscopy
;
barium titanate
;
thin film
;
scanning thermal microscopy
;
thermal properties
26/60
Nr opisu:
0000091595
Badanie własności cienkich warstw poliazometin.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, B.
Hajduk
.
W:
Ćwiczenia laboratoryjne z inżynierii materiałowej i nanotechnologii
. Praca zbiorowa. Pod red. Leszka A. Dobrzańskiego i Tomasza Tańskiego. Gliwice : International OCSCO World Press, 2013
, s. 628-631 (
Open Access Library
; vol. 10 (28) 2083-5191)
organiczne ogniwo fotowoltaiczne
;
organiczna dioda elektroluminescencyjna
;
nanoszenie warstw
;
chemiczne osadzanie z fazy gazowej
;
warstwa cienka
;
własności elektryczne
;
ćwiczenia laboratoryjne
organic solar cell
;
organic light emitting diode
;
film deposition
;
chemical vapour deposition
;
thin film
;
electric properties
;
laboratory exercises
27/60
Nr opisu:
0000091594
Badanie własności optycznych cienkich warstw.
[Aut.]: Aleksandra
Drygała
, Marek
Szindler
, Jan**
Weszka
.
W:
Ćwiczenia laboratoryjne z inżynierii materiałowej i nanotechnologii
. Praca zbiorowa. Pod red. Leszka A. Dobrzańskiego i Tomasza Tańskiego. Gliwice : International OCSCO World Press, 2013
, s. 624-627 (
Open Access Library
; vol. 10 (28) 2083-5191)
warstwa cienka
;
własności optyczne
;
nanoszenie warstw
;
ćwiczenia laboratoryjne
thin film
;
optical properties
;
film deposition
;
laboratory exercises
28/60
Nr opisu:
0000087639
Cienkie warstwy dwutlenku cyny w aspekcie zastosowań w mikroelektronice.
[Aut.]: Krzysztof**
Waczyński
.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2013, 134 s., bibliogr. 19 poz.
(
Monografia
;
[Politechnika Śląska]
nr 488)
Rozprawa habilitacyjna
dwutlenek cyny
;
mikroelektronika
;
warstwa cienka
;
nanowarstwa
tin dioxide
;
microelectronics
;
thin coating
;
nanolayer
29/60
Nr opisu:
0000088049
PEDOT:PSS thin film for photovoltaic application.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, Magdalena
Szindler
, Paweł
Jarka
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2013 vol. 59 iss. 2
, s. 59-66, bibliogr. 19 poz..
Punktacja MNiSW
12.000
polimer elektroprzewodzący
;
polielektrolit
;
PEDOT:PSS
;
organiczne ogniwo fotowoltaiczne
;
warstwa cienka
;
metoda spin-coating
electroconductive polymer
;
polyelectrolyte
;
PEDOT:PSS
;
organic solar cell
;
thin coating
;
spin-coating method
30/60
Nr opisu:
0000091570
Warstwy osadzane techniką ALD.
[Aut.]: Marcin
Staszuk
, Marcin
Adamiak
, Andrzej*
Hudecki
.
W:
Ćwiczenia laboratoryjne z inżynierii materiałowej i nanotechnologii
. Praca zbiorowa. Pod red. Leszka A. Dobrzańskiego i Tomasza Tańskiego. Gliwice : International OCSCO World Press, 2013
, s. 548-551 (
Open Access Library
; vol. 10 (28) 2083-5191)
warstwa cienka
;
atomowe osadzanie warstw
;
ALD
;
korozja elektrochemiczna
;
odporność na korozję
;
ćwiczenia laboratoryjne
thin coating
;
atomic layer deposition
;
ALD
;
electrochemical corrosion
;
corrosion resistance
;
laboratory exercises
31/60
Nr opisu:
0000091591
Wpływ warunków nanoszenia na morfologię powierzchni i własności optyczne cienkich warstw polimer-fulleren.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, Paweł
Jarka
.
W:
Ćwiczenia laboratoryjne z inżynierii materiałowej i nanotechnologii
. Praca zbiorowa. Pod red. Leszka A. Dobrzańskiego i Tomasza Tańskiego. Gliwice : International OCSCO World Press, 2013
, s. 616-619 (
Open Access Library
; vol. 10 (28) 2083-5191)
materiały polimerowe
;
warstwa cienka
;
złącze p-n
;
nanoszenie warstw
;
rozwirowanie z roztworu
;
własności optyczne
;
morfologia powierzchni
;
ćwiczenia laboratoryjne
polymeric materials
;
thin film
;
p-n junction
;
film deposition
;
spin-coating
;
optical properties
;
surface morphology
;
laboratory exercises
32/60
Nr opisu:
0000076579
Analiza wrażliwości kształtu cienkiej warstwy metalowej poddanej działaniu lasera.
[Aut.]: Ewa
Majchrzak
, Jolanta
Dziatkiewicz
, Grażyna
Kałuża
.
W:
Modelowanie w mechanice
. Program 51. sympozjonu, Ustroń, [25 lutego - 29 lutego] 2012 r. Zeszyt streszczeń. Polskie Towarzystwo Mechaniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gliwice, Komitet Mechaniki Polskiej Akademii Nauk, Katedra Mechaniki Stosowanej Politechniki Śląskiej. Ustroń : [b.w.], 2012
, s. 99-100
laser
;
wrażliwość kształtu
;
warstwa cienka
;
zjawiska cieplne
;
metale
laser
;
shape sensitivity
;
thin film
;
heat effects
;
metals
33/60
Nr opisu:
0000072518
Surface morphology and optical properties of polymer thin films.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, Magdalena
Szindler
, M.
Bruma
.
-
Elektronika
2012 R. 53 nr 6
, s. 120-122, bibliogr. 6 poz.
Referat wygłoszony na European Summer School of Photovoltaics, Karaków, Poland, 4-7 July 2012.
Punktacja MNiSW
6.000
morfologia powierzchni
;
polimer
;
warstwa cienka
surface morphology
;
polymer
;
thin film
34/60
Nr opisu:
0000084384
The optoelectronic ammonia gas sensor system based on Pd/CuPc interferometric nanostructures.
[Aut.]: Erwin
Maciak
, Tadeusz
Pustelny
, Zbigniew
Opilski
.
W:
Eurosensors 2012
. 26th European Conference on Solid-State Transducers, Kraków, Poland, September 9-12, 2012. Eds: R. Walczak, J. Dziuban. Amsterdam : Elsevier, 2012
, s. 738-741, bibliogr. 5 poz. (
Procedia Engineering
; vol. 47 1877-7058)
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
nanostruktura wielowarstwowa
copper phthalocyanine
;
thin film
;
multi-layered nanostructure
35/60
Nr opisu:
0000076148
Topografia i grubość warstw pasywnych na utlenianym anodowo stopie Ti6Al4V.
[Aut.]: Janusz
Szewczenko
, J.
Jaglarz
, Marcin
Basiaga
, J.
Kurzyk
, E.
Skoczek
, Zbigniew
Paszenda
.
-
Prz. Elektrot.
2012 R. 88 nr 12b
, s. 228-231, bibliogr. 20 poz..
Punktacja MNiSW
15.000
stop Ti-6Al-4V
;
biomateriały
;
warstwa pasywna
;
światło
;
rozpraszanie
;
warstwa cienka
;
optyka cienkich warstw
Ti6Al4V alloy
;
biomaterials
;
passive layer
;
light
;
scattering
;
thin film
;
thin films optics
36/60
Nr opisu:
0000083538
Wykorzystanie mikroskopii sił atomowych w badaniach cienkich warstw.
[Aut.]: Leszek**
Dobrzański
, Marek
Szindler
, Dariusz
Łukowiec
.
W:
Proceedings of the Eighteenth International Scientific Conference on Contemporary Achievements in Mechanics, Manufacturing and Materials Science
. CAM3S'2012, Gliwice - Ustroń, 27th - 29th February 2012. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwice : International Organising Committee of the Scientific Conferences World Press, 2012
, s. 43, bibliogr. 3 poz.
mikroskopia sił atomowych
;
warstwa cienka
;
morfologia powierzchni
atomic force microscope
;
thin film
;
surface morphology
37/60
Nr opisu:
0000071248
A study of optical properties and annealing effect on the absorption edge of pristine- and iodine-doped polyazomethine thin films.
[Aut.]: B.
Jarząbek
, Jan**
Weszka
, Barbara*
Hajduk
, J.
Jurusik
, M.
Domański
, Jan*
Cisowski
.
-
Synth. Met.
2011 vol. 161 iss. 11/12
, s. 969-975, bibliogr. 36 poz..
Impact Factor
1.829
poliazometiny
;
warstwa cienka
;
krawędź absorpcji optycznej
;
wyżarzanie
polyazomethine
;
thin film
;
optical absorption edge
;
annealing
38/60
Nr opisu:
0000077215
Comparative study of surface morphology of copper phthalocyanine ultra thin films deposited on Si (111) native and RCA-cleaned substrates.
[Aut.]: Maciej
Krzywiecki
, Lucyna
Grządziel
, Jerzy
Bodzenta
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2012 vol. 520 iss. 11
, s. 3965-3970, bibliogr. 35 poz..
Impact Factor
1.890.
Punktacja MNiSW
30.000
półprzewodnik organiczny
;
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
mikroskopia sił atomowych
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
obróbka RCA
organic semiconductor
;
copper phthalocyanine
;
thin film
;
atomic force microscopy
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
RCA treatment
;
silicon native substrate
39/60
Nr opisu:
0000063754
Influence of ambient air exposure on surface chemistry and electronic properties of thin copper phthalocyanine sensing layers.
[Aut.]: Lucyna
Grządziel
, Maciej
Krzywiecki
, H.
Peisert
, T.
Chasse
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2011 vol. 519 iss. 7
, s. 2187-2192, bibliogr. 41 poz..
Impact Factor
1.890.
Punktacja MNiSW
30.000
półprzewodnik organiczny
;
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
właściwości elektroniczne
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
spektroskopia fotoelektronów w nadfiolecie
organic semiconductor
;
copper phthalocyanine
;
thin film
;
electronic properties
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
ultraviolet photoelectron spectroscopy
40/60
Nr opisu:
0000076675
Modelowanie przepływu ciepła w skali mikro na przykładzie cienkich warstw metalowych nagrzewanych laserem o ultrakrótkim impulsie.
[Aut.]: Ewa
Majchrzak
.
W:
II Kongres Mechaniki Polskiej
. KMP 2011, Poznań, 29-31 sierpnia 2011. Książka streszczeń. Ed. Tomasz Łodygowski, Wojciech Sumelka. Politechnika Poznańska, Polskie Towarzystwo Mechaniki Teoretycznej i Stosowanej. Poznań : Agencja Reklamowa COMPRINT, 2011
, s. 119-120
przepływ ciepła
;
modelowanie przepływu
;
warstwa cienka
;
metale
;
nagrzewanie laserowe
heat transfer
;
flow modelling
;
thin film
;
metals
;
laser heating
41/60
Nr opisu:
0000073097
Optical properties of SbI
3
single.
[Aut.]: Mirosława
Kępińska
, Marian
Nowak
, Piotr
Duka
, Michalina*
Kotyczka-Morańska
, Piotr
Szperlich
.
-
Opt. Mater.
2011 vol. 33 iss. 11
, s. 1753-1759, bibliogr. 30 poz..
Impact Factor
2.023.
Punktacja MNiSW
30.000
warstwa cienka
;
trójjodek antymonu
;
materiał anizotropowy
;
własności optyczne
;
goniometria
thin film
;
antimony triiodide
;
anisotropic material
;
optical parameter
;
spectrogoniometry
42/60
Nr opisu:
0000072412
Optical properties of SbI
3
single crystalline platelets.
[Aut.]: Mirosława
Kępińska
, Marian
Nowak
, Piotr
Duka
, Michalina*
Kotyczka-Morańska
, Piotr
Szperlich
.
-
Opt. Mater.
2011 vol. 33 iss. 11
, s. 1753-1759, bibliogr. 30 poz..
Impact Factor
2.023.
Punktacja MNiSW
30.000
warstwa cienka
;
materiał anizotropowy
;
parametr optyczny
thin film
;
anisotropic material
;
optical parameter
43/60
Nr opisu:
0000082099
Optymalizacja technologii RGTO osadzania bardzo cienkich warstw wybranych przezroczystych tlenków przewodzących.
[Aut.]: Jacek**
Szuber
, Monika
Kwoka
, Piotr*
Kościelniak
.
W:
Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011
, s. 131
Pełny tekst na CD-ROM
tlenek przewodzący
;
SnO2
;
In2O3
;
warstwa cienka
;
nanowarstwa
;
stechiometria
;
morfologia powierzchni
;
AFM
;
XPS
;
SEM
conductive oxide
;
SnO2
;
In2O3
;
thin film
;
nanolayer
;
stoichiometry
;
surface morphology
;
AFM
;
XPS
;
SEM
44/60
Nr opisu:
0000070273
Nanowarstwy dwutlenku cyny SnO
2
w aspekcie zastosowań w mikroelektronice.
[Aut.]: Jacek**
Szuber
, Monika
Kwoka
.
W:
IV Krajowa Konferencja Nanotechnologii
. NANO 2010, Poznań, 28.06-02.07 2010. Program i streszczenia. Wydział Fizyki Technicznej Politechniki Poznańskiej [et al.].. Poznań : [b.w.], 2010
, s. 68, bibliogr. 11 poz.
mikroelektronika
;
dwutlenek cyny
;
nanowarstwa
;
warstwa cienka
microelectronics
;
tin dioxide
;
nanolayer
;
thin coating
45/60
Nr opisu:
0000058364
X-ray Photoelectron Spectroscopy characterization of native and RCA-treated Si (111) substrates and their influence on surface chemistry of copper phthalocyanine thin films.
[Aut.]: Maciej
Krzywiecki
, Lucyna
Grządziel
, H.
Peisert
, I.
Biswas
, T.
Chasse
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2010 vol. 518 iss. 10
, s. 2688-2694, bibliogr. 37 poz..
Impact Factor
1.935
warstwa cienka
;
półprzewodnik organiczny
;
spektroskopia fotoemisyjna
;
promieniowanie rentgenowskie
thin film
;
organic semiconductor
;
photoemission spectroscopy
;
X-ray
46/60
Nr opisu:
0000056950
Electronic structure of poly(azomethine) thin films.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, H.
Bednarski
, M.
Domański
.
-
J. Chem. Phys.
2009 vol. 131 no. 2
, art. no. 024901, bibliogr. 40 poz..
Impact Factor
3.093
poliazometiny
;
struktura elektronowa
;
warstwa cienka
polyazomethine
;
electronic structure
;
thin film
47/60
Nr opisu:
0000056944
Influence of solution acidity on composition, structure and electrical parameters of Ni-P alloys.
[Aut.]: Zbigniew**
Pruszowski
, Piotr
Kowalik
, M.
Cież
, J.
Kulawik
.
-
Microelectron. Int.
2009 vol. 26 iss. 2
, s. 24-27, bibliogr. 10 poz..
Impact Factor
0.588
stop
;
metalizacja
;
rezystywność
;
warstwa cienka
;
rezystor
alloy
;
metallization
;
electrical resistivity
;
thin film
;
resistor
48/60
Nr opisu:
0000056850
Influence of substrate doping on the surface chemistry and morphology of Copper Phthalocyanine ultra thin films on Si (111) substrates.
[Aut.]: Maciej
Krzywiecki
, L.
Ottaviano
, Lucyna
Grządziel
, P.
Parisse
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2009 vol. 517 iss. 5
, s. 1630-1635, bibliogr. 15 poz.
półprzewodnik organiczny
;
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
właściwości powierzchniowe
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
mikroskopia sił atomowych
organic semiconductor
;
copper phthalocyanine
;
thin film
;
surface properties
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
atomic force microscopy
49/60
Nr opisu:
0000048454
Numerical simulation of thermal processes proceedings in a multi-layered film subjected to ultrafast laser heating.
[Aut.]: Ewa
Majchrzak
, B.
Mochnacki
, J.
Suchy
.
-
J. Theor. Appl. Mech.
2009 vol. 47 no. 2
, s. 383-396, bibliogr. 16 poz..
Impact Factor
0.178
przepływ ciepła w mikroskali
;
warstwa cienka
;
laser impulsowy
;
modelowanie numeryczne
microscale heat transfer
;
thin film
;
pulsed laser
;
numerical modelling
50/60
Nr opisu:
0000056802
Spectrogoniometric determination of refractive indices of GaSe.
[Aut.]: Mirosława
Kępińska
, Marian
Nowak
, Piotr
Duka
, B.
Kauch
.
-
Thin Solid Films
2009 vol. 517 iss. 13
, s. 3792-3796, bibliogr. 23 poz.
warstwa cienka
;
selenek galu
;
materiał anizotropowy
;
współczynnik załamania
;
spektrogoniometria
thin film
;
selenide gallium
;
anisotropic material
;
refractive index
;
spectrogoniometry
51/60
Nr opisu:
0000050085
Studying of kinetic growth of organic thin films.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, Paweł
Jarka
, Daniel
Pakuła
, Leszek**
Dobrzański
, M.
Domański
, J.
Jurusik
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2009 vol. 35 iss. 1
, s. 29-36, bibliogr. 15 poz.
polimer inżynierski
;
warstwa cienka
;
szybkość osadzania
engineering polymer
;
thin film
;
deposition rate
52/60
Nr opisu:
0000056361
Studying of spin-coated oxad-Si properties.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, Leszek**
Dobrzański
, Paweł
Jarka
, J.
Jurusik
, Barbara*
Hajduk
, M.
Bruma
, Jarosław
Konieczny
, D.
Mańkowski
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2009 vol. 37 iss. 2
, s. 505-511, bibliogr. 13 poz.
warstwa cienka
;
morfologia
;
mikroskopia AFM
;
metoda spin-coating
;
absorbancja
;
oxad-Si
thin film
;
morphology
;
AFM microscopy
;
spin-coating method
;
absorbance
;
oxad-Si
53/60
Nr opisu:
0000052103
Teoretyczna analiza adsorpcji tlenu na powierzchni ziaren SnO
2
o geometrii płaskiej.
[Aut.]: Weronika
Izydorczyk
.
-
Elektronika
2009 R. 50 nr 10
, s. 45-48, bibliogr. 20 poz.
warstwa cienka
;
nanowarstwa
;
adsorpcja tlenu
;
warstwa zubożona
thin film
;
nanolayer
;
oxygen adsorption
;
depletion layer
54/60
Nr opisu:
0000048128
XPS study of air exposed copper phthalocyanine ultra-thin films deposited on Si(111) native substrates.
[Aut.]: Maciej
Krzywiecki
, L.
Grzadziel
, L.
Ottaviano
, P.
Parisse
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Mater. Sci. Pol.
2008 vol. 26 no. 2
, s. 287-294, bibliogr. 21 poz..
Impact Factor
0.368
ftalocyjanina miedzi
;
CuPc
;
warstwa cienka
;
chemia powierzchni
copper phthalocyanine
;
CuPc
;
thin film
;
surface chemistry
55/60
Nr opisu:
0000039011
Computer analysis of oxygen adsorption at SnO
2
thin films.
[Aut.]: Weronika
Izydorczyk
, Bogusława
Adamowicz
.
-
Opt. Appl.
2007 vol. 37 no. 4
, s. 377-385, bibliogr. 23 poz..
Impact Factor
0.284
SnO2
;
warstwa cienka
;
nanowarstwa
;
adsorpcja tlenu
;
warstwa zubożona
;
struktura sensorowa
;
modelowanie
SnO2
;
thin film
;
nanolayer
;
oxygen adsorption
;
depletion layer
;
sensor structure
;
modelling
56/60
Nr opisu:
0000029196
Computation of the acoustic-waves propagation-parameters and the subsequent elastic constants derivation in a single layer on a substrate.
[Aut.]: Tomasz
Błachowicz
, M.
Beghi
.
-
Mol. Quantum Acoust.
2006 vol. 27
, s. 49-61, bibliogr. 3 poz.
stała sprężystości
;
warstwa cienka
;
Fala Rayleigha
;
rozpraszanie Brillouina
elastic constant
;
thin layer
;
Rayleigh wave
;
Brillouin light scattering
57/60
Nr opisu:
0000019345
Corrosion behavior of Ti6Al7Nb alloy after different surface treatments.
[Aut.]: Wojciech*
Chrzanowski
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2006 vol. 18 iss. 1/2
, s. 67-70, bibliogr. 13 poz.
biomateriały
;
warstwa cienka
;
powłoka gruba
;
obróbka powierzchni
biomaterials
;
thin coating
;
thick coating
;
surface treatment
58/60
Nr opisu:
0000022807
Improvement of tool materials by deposition of gradient and multilayers coatings.
[Aut.]: Leszek**
Dobrzański
, Klaudiusz
Gołombek
, Jarosław
Mikuła
, Daniel
Pakuła
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2006 vol. 19 iss. 2
, s. 86-91, bibliogr. 18 poz.
warstwa cienka
;
powłoka gruba
;
materiały narzędziowe
;
cięcie
;
PVD
;
CVD
thin coating
;
thick coating
;
tool materials
;
cutting
;
PVD
;
CVD
59/60
Nr opisu:
0000022959
Transport ciepła w cienkich warstwach i pomiary ich właściwości cieplnych.
[Aut.]: Jerzy
Bodzenta
.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2006, 162 s., bibliogr. 348 poz.
termokinetyka
;
warstwa cienka
;
transport ciepła
;
przewodnictwo cieplne
thermokinetics
;
thin layer
;
heat transport
;
thermal conductivity
60/60
Nr opisu:
0000011696
On the correlation between the morphology and the electronic properties of copper phthalocyanine (CuPc) thin films.
[Aut.]: Lucyna
Grządziel
, Jerzy**
Żak
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2003 vol. 436 iss. 1
, s. 70-75, bibliogr. 23 poz..
Impact Factor
1.598
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
fotoemisja
;
mikroskop sił atomowych
copper phthalocyanine
;
thin film
;
photoemission
;
atomic force microscope
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie