Wynik wyszukiwania
Zapytanie: TESTOWANIE UKŁADU ANALOGOWEGO
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000099172   
Construction of an expert system based on fuzzy logic for diagnosis of analog electronic circuits.
[Aut.]: Damian Grzechca.
-Int. J. Electron. Telecommun. 2015 vol. 61 no. 1, s. 77-82, bibliogr. 25 poz.. Punktacja MNiSW 15.000

diagnostyka uszkodzeń układów analogowych ; testowanie układu analogowego ; teoria zbiorów rozmytych ; system ekspertowy ; analiza wrażliwości

analog circuit fault diagnosis ; analog system testing ; fuzzy set theory ; expert system ; sensitivity analysis

2/6
Nr opisu: 0000074609   
Hybrydowe metody testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych. Wybrane zagadnienia.
[Aut.]: Damian Grzechca.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2012, 166 s., bibliogr. 169 poz.
(Monografia ; [Politechnika Śląska] nr 395)
Rozprawa habilitacyjna

analogowy układ elektroniczny ; diagnostyka ; metoda hybrydowa ; testowanie układu analogowego

analog electronic circuit ; diagnostics ; hybrid method ; analogue circuit testing

3/6
Nr opisu: 0000071090   
Stimulus with limited band optimization for analogue circuit testing.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
-Metrol. Meas. Syst. 2012 vol. 19 nr 1, s. 73-84, bibliogr. 20 poz.. Impact Factor 0.982. Punktacja MNiSW 20.000

obliczenia ewolucyjne ; testowanie układu analogowego ; nieszczelność izolacji

evolutionary computations ; analogue circuit testing ; fault isolation

4/6
Nr opisu: 0000082611
Zastosowanie pobudzenia pasmowego do testowania analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 232
Pełny tekst na CD-ROM

analogowy układ elektroniczny ; testowanie układu analogowego ; obliczenia ewolucyjne ; gęstość widmowa ; szereg Fouriera

analog electronic circuit ; analogue circuit testing ; evolutionary computations ; spectral density ; Fourier series

5/6
Nr opisu: 0000031051
Ewolucyjny dobór częstotliwości sygnałów testujących z rozmytą inicjalizacją systemu.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 101-106, bibliogr. 12 poz.

diagnostyka układów analogowych ; obliczenia ewolucyjne ; zbiór rozmyty ; testowanie układu analogowego ; optymalizacja ewolucyjna

analog circuit diagnosis ; evolutionary computation ; fuzzy set ; analogue circuit testing ; evolutionary optimization ; evolutionary computations

6/6
Nr opisu: 0000031049
Wykorzystanie metody symulowanego wyżarzania do doboru optymalnego pobudzenia testującego analogowe układy elektroniczne.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek.
W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 83-88, bibliogr. 5 poz.

symulowane wyżarzanie ; optymalizacja pobudzenia ; testowanie układu analogowego ; diagnostyka układów analogowych ; algorytm symulowanego wyżarzania

simulated annealing ; optimization of excitation ; analogue circuit testing ; simulated annealing algorithm ; analog circuit diagnosis

stosując format:
Nowe wyszukiwanie