Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
STANY MIĘDZYPOWIERZCHNI
Liczba odnalezionych rekordów:
3
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu:
0000116389
Influence of oxygen-plasma treatment on AlGaN/GaN metal-oxide-semiconductor heterostructure field-effect transistors with HfO2 by atomic layer deposition: leakage current and density of states reduction.
[Aut.]: R.
Stoklas
, D.
Gregusova
, M.
Blaho
, K.
Frohlich
, J.
Novak
, Maciej*
Matys
, Z.
Yatabe
, P.
Kordos
, T.
Hashizume
.
-
Semicond. Sci. Technol.
2017 vol. 32 iss. 4
, bibliogr. 29 poz..
Impact Factor
2.280.
Punktacja MNiSW
30.000
AlGaN/GaN
;
stany międzypowierzchni
;
dielektryk HfO2
;
XPS
;
ALD
AlGaN/GaN
;
interface states
;
HfO2 dielectric
;
XPS
;
ALD
;
oxygen-plasma treatment
2/3
Nr opisu:
0000089615
Analysis of MIS equivalent electrical circuit of Au/Pd/Ti-SiO
2
-GaAs structure based on DLTS measurements.
[Aut.]: Stanisław**
Kochowski
, Łukasz
Drewniak
, K.
Nitsch
, R.
Paszkiewicz
, B.
Paszkiewicz
.
-
Mater. Sci. Pol.
2013 vol. 31 no. 3
, s. 446-453, bibliogr. 30 poz..
Impact Factor
0.327.
Punktacja MNiSW
15.000
struktura MIS
;
głęboki poziom
;
stany międzypowierzchni
;
spektroskopia admitancyjna
;
DLTS
MIS structure
;
deep level
;
interface states
;
admittance spectroscopy
;
DLTS
3/3
Nr opisu:
0000089617
The analysis of filling pulse parameters influence on ICTS data of GaAs MIS structures.
[Aut.]: Łukasz
Drewniak
, Stanisław**
Kochowski
, K.
Nitsch
, R.
Paszkiewicz
, B.
Paszkiewicz
.
W:
Electron Technology Conference 2013, Ryn, Poland, 16-20 April 2013
. Eds: Paweł Szczepański, Ryszard Kisiel, Ryszard S. Romaniuk. Bellingham : SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2013
, art. 890209 s. 1-8, bibliogr. 16 poz. (
Proceedings of SPIE
; vol. 8902 0277-786X)
struktura GaAs MIS
;
ICTS
;
stany międzypowierzchni
GaAs MIS structure
;
ICTS
;
interface states
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie