Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
SPEKTROSKOPIA ELEKTRONÓW AUGERA
Liczba odnalezionych rekordów:
19
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/19
Nr opisu:
0000128802
Chemical characterization of SiO
2
:TiO
2
waveguide films using Auger electron spectroscopy.
[Aut.]: Alina
Domanowska
.
W:
18th Conference on Optical Fibers and Their Application, 20-23 November 2018, Naleczow, Poland
. Eds.: Ryszard S. Romaniuk, Waldemar Wójcik, Andrzej Smolarz. Bellingham : SPIE, 2019
, s. 1104507-1 - 1104507-5, bibliogr. 25 poz. (
Proceedings of SPIE
; vol. 11045 0277-786X).
Punktacja MNiSW
20.000
zol-żel
;
cienka powłoka
;
falowód krzemionkowo-tytanowy
;
czujnik fali zanikającej
;
straty optyczne
;
spektroskopia elektronów Augera
sol-gel
;
thin film
;
silica-titania waveguide
;
evanescent wave sensor
;
optical losses
;
Auger electron spectroscopy
2/19
Nr opisu:
0000129894
Double layer sol-gel derived antireflective coatings on silicon - design, optical and Auger Electron Spectroscopy characterization.
[Aut.]: M.
Skolik
, Alina
Domanowska
, Paweł
Karasiński
, E.
Gondek
, Anna
Michalewicz
.
-
Mater. Lett.
2019 vol. 251
, s. 210-213, bibliogr. 9 poz..
Impact Factor
3.204.
Punktacja MNiSW
70.000
struktura antyrefleksyjna
;
zol-żel
;
spektroskopia elektronów Augera
;
metoda macierzy przejścia
;
krzemionka
;
ditlenek tytanu
antireflective structure
;
sol-gel
;
Auger electron spectroscopy
;
transfer matrix method
;
silica
;
titania
3/19
Nr opisu:
0000129357
Morphology and element composition profiles of alumina films obtained by mixed thermal oxidation of AlN epitaxial layers.
[Aut.]: Alina
Domanowska
, R,
Korbutowicz
, H.
Teterycz
.
-
Appl. Surf. Sci.
2019 vol. 484
, s. 1234-1243, bibliogr. 35 poz..
Impact Factor
6.182.
Punktacja MNiSW
140.000
spektroskopia elektronów Augera
;
azotek glinu
;
tlenek glinu
;
utlenianie
Auger electron spectroscopy
;
aluminium nitride
;
aluminium oxide
;
oxidation
4/19
Nr opisu:
0000122968
Analysis of the corrosion protective ability of atomic layer deposition silica-based coatings deposited on 316LVM steel.
[Aut.]: Marcin
Basiaga
, Witold
Walke
, Wojciech
Kajzer
, Agnieszka*
Hyla
, Alina
Domanowska
, Anna
Michalewicz
, C.
Krawczyk
.
-
Materialwissensch. Werkstofftech.
2018 vol. 49 iss. 5
, s. 551-561, bibliogr. 53 poz..
Impact Factor
0.556.
Punktacja MNiSW
15.000
316 LVM
;
SiO2
;
osadzanie warstw atomowych
;
spektroskopia elektronów Augera
;
skaningowy mikroskop elektronowy
;
test potencjodynamiczny
;
wykres impedancji elektrochemicznej
316 LVM
;
SiO2
;
atomic layer deposition
;
Auger electron spectroscopy
;
scanning electron microscopy
;
potentiodynamic test
;
electrochemical impedance plot
5/19
Nr opisu:
0000093840
Analiza chemiczna AES pasywacyjnych warstw na powierzchni GaN, AlGaN i SiC.
[Aut.]: Alina
Domanowska
, Rafał*
Ucka
, Maciej*
Matys
, Bogusława
Adamowicz
, M.
Sochacki
, Z.
Żytkiewicz
, M.
Sobańska
, K.
Kłosek
, A.
Taube
, R.
Kruszka
, J.
Żywicki
.
W:
Dwunasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 10-13.06.2013]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2013
, s. 193 + tekst na CD-ROM
Pełny tekst na CD-ROM
Al2O3
;
SixNy
;
SiO2
;
pasywacja
;
analiza chemiczna
;
spektroskopia elektronów Augera
;
struktura metal-izolator-półprzewodnik
Al2O3
;
SixNy
;
SiO2
;
passivation
;
chemical analysis
;
Auger electron spectroscopy
;
metal-insulator-semiconductor structure
6/19
Nr opisu:
0000080343
Surface photovoltage and Auger electron spectromicroscopy studies of HfO
2
/SiO
2
/4H-SiC and HfO
2
/Al
2
O
3
/4H-SiC structures.
[Aut.]: Alina
Domanowska
, Marcin**
Miczek
, Rafał*
Ucka
, Maciej*
Matys
, Bogusława
Adamowicz
, J.
Żywicki
, A.
Taube
, K.
Korwin-Mikke
, S.
Gierałtowska
, M.
Sochacki
.
-
Appl. Surf. Sci.
2012 vol. 258 iss. 21
, s. 8354-8359, bibliogr. 43 poz..
Impact Factor
2.112.
Punktacja MNiSW
30.000
węglik krzemu
;
pasywacja powierzchni
;
fotonapięcie powierzchniowe
;
spektroskopia elektronów Augera
silicon carbide
;
surface passivation
;
surface photovoltage
;
Auger electron spectroscopy
;
chemical in-depth profiling
;
interface charge
7/19
Nr opisu:
0000071973
Analysis of chemical shifts in Auger electron spectra versus sputtering time from passivated surfaces.
[Aut.]: Alina
Domanowska
, Bogusława
Adamowicz
, Piotr*
Bidziński
, Andrzej**
Klimasek
, Janusz
Szewczenko
, T.
Gutt
, H.
Przewłocki
.
-
Opt. Appl.
2011 vol. 41 no. 2
, s. 441-447, bibliogr. 8 poz..
Impact Factor
0.398.
Punktacja MNiSW
15.000
spektroskopia elektronów Augera
;
interfejs
;
pasywacja
;
algorytm ewolucyjny
Auger electron spectroscopy
;
interface
;
passivation
;
evolutionary algorithm
8/19
Nr opisu:
0000057448
Badania struktury, morfologii powierzchni oraz właściwości sensorowych cienkich warstw SnO
2
.
[Aut.]: Weronika
Izydorczyk
, M.
Pisarek
, Jerzy**
Żak
.
-
Elektronika
2010 R. 51 nr 6
, s. 50-53, bibliogr. 13 poz.
morfologia powierzchni
;
dyfraktometria rentgenowska
;
mikroskopowa siła atomowa
;
mikroskopia AFM
;
spektroskopia elektronów Augera
;
adsorpcja tlenu
surface morphology
;
X-ray diffraction
;
atomic force microscope
;
AFM microscopy
;
Auger electron spectroscopy
;
oxygen adsorption
9/19
Nr opisu:
0000081095
Profile składu chemicznego nanowarstw pasywacyjnych na podstawie analizy numerycznej widm elektronów Augera.
[Aut.]: Alina
Domanowska
, Piotr*
Bidziński
, Andrzej**
Klimasek
, J.
Żywicki
, Bogusława
Adamowicz
.
W:
IV Krajowa Konferencja Nanotechnologii
. NANO 2010, Poznań, 28.06-02.07 2010. Program i streszczenia. Wydział Fizyki Technicznej Politechniki Poznańskiej [et al.].. Poznań : [b.w.], 2010
, s. 145, bibliogr. 2 poz.
spektroskopia elektronów Augera
;
analiza numeryczna
Auger electron spectroscopy
;
numerical analysis
10/19
Nr opisu:
0000063606
Struktura i własności gradientowych powłok PVD na spiekanych materiałach narzędziowych. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Ludwina*
Żukowska
.
Gliwice, 2010, 78 k., bibliogr. 167 poz. + zał.: 101 k. tabl.
Politechnika Śląska. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Promotor: prof. zw. dr hab. inż. Leszek** Dobrzański
materiały narzędziowe
;
powłoka PVD
;
powłoka gradientowa
;
spektroskopia elektronów Augera
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
tool materials
;
PVD coating
;
gradient coating
;
Auger electron spectroscopy
;
X-ray photoelectron spectroscopy
11/19
Nr opisu:
0000047661
A novel III-V semiconductor material for NO
2
detection and monitoring.
[Aut.]: K.
Wierzbowska
, L.
Bideux
, Bogusława
Adamowicz
, A.
Pauly
.
-
Sens. Actuators, A Phys.
2008 vol. 142 iss. 1
, s. 237-241, bibliogr. 9 poz.
NO2
;
dwutlenek azotu
;
InP
;
fosforek indu
;
XPS
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
spektroskopia elektronów Augera
NO2
;
nitrogen dioxide
;
InP
;
indium phosphide
;
XPS
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
Auger electron spectroscopy
12/19
Nr opisu:
0000047690
Analysis of mechanism of carbon removal from GaAs(1 0 0) surface by atomic hydrogen.
[Aut.]: Paweł*
Tomkiewicz
, A.
Winkler
, Maciej
Krzywiecki
, T.
Chasse
, Jacek**
Szuber
.
-
Appl. Surf. Sci.
2008 vol. 254 iss. 24
, s. 8035-8040, bibliogr. 42 poz..
Impact Factor
1.576
GaAs
;
oczyszczanie
;
wytrawianie
;
wodór atomowy
;
spektroskopia elektronów Augera
;
spektrometria mas
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
GaAs
;
cleaning
;
etching
;
atomic hydrogen
;
Auger electron spectroscopy
;
mass spectrometry
;
X-ray photoelectron spectroscopy
13/19
Nr opisu:
0000050150
Response to oxygen and chemical properties of SnO
2
thin-film gas sensors.
[Aut.]: Bogusława
Adamowicz
, Weronika
Izydorczyk
, Jacek
Izydorczyk
, Andrzej**
Klimasek
, Wiesław
Jakubik
, J.
Żywicki
.
-
Vacuum
2008 vol. 82 iss. 10
, s. 966-970, bibliogr. 16 poz..
Impact Factor
1.114
dwutlenek cyny
;
RGTO
;
adsorpcja tlenu
;
spektroskopia elektronów Augera
;
czujnik gazowy
tin dioxide
;
RGTO technology
;
oxygen adsorption
;
Auger electron spectroscopy
;
gas sensor
14/19
Nr opisu:
0000050262
XPS and AES analysis of PVD coatings.
[Aut.]: Leszek**
Dobrzański
, Ludwina*
Żukowska
, J.
Kubacki
, Klaudiusz
Gołombek
, Jarosław
Mikuła
.
-
Arch. Mater. Sci. Eng.
2008 vol. 32 iss. 2
, s. 99-102, bibliogr. 15 poz.
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
spektroskopia elektronów Augera
;
powłoka PVD
X-ray photoelectron spectroscopy
;
Auger electron spectroscopy
;
PVD coating
15/19
Nr opisu:
0000039315
Capacitance-voltage and Auger chemical profile studies on AIGaN/GaN structures passivated by SiO
2
/Si
3
N
4
and SiN
x
/Si
3
N
4
bilayers.
[Aut.]: Bogusława
Adamowicz
, Marcin**
Miczek
, T.
Hashizume
, Andrzej**
Klimasek
, P.
Bobek
, J.
Żywicki
.
-
Opt. Appl.
2007 vol. 37 no. 4
, s. 327-334, bibliogr. 25 poz..
Impact Factor
0.284
azotek galu
;
HEMT
;
bramka izolowana
;
pasywacja
;
C-V
;
spektroskopia elektronów Augera
gallium nitride
;
HEMT
;
insulated gate
;
passivation
;
C-V
;
Auger electron spectroscopy
;
chemical in-depth profiles
16/19
Nr opisu:
0000025449
Comparative study of the GaAs(1 0 0) surface cleaned by atomic hydrogen.
[Aut.]: Paweł*
Tomkiewicz
, A.
Winkler
, Jacek**
Szuber
.
-
Appl. Surf. Sci.
2006 vol. 252 iss. 21
, s. 7647-7658, bibliogr. 58 poz.
Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005.
Impact Factor
1.436
GaAs
;
wodór atomowy
;
spektroskopia elektronów Augera
;
spektrometria masowa
;
stan powierzchniowy
;
poziom Fermiego
;
funkcja pracy
;
potencjał jonizacyjny
GaAs
;
atomic hydrogen
;
Auger electron spectroscopy
;
mass spectrometry
;
surface states
;
Fermi level
;
work function
;
ionization potential
17/19
Nr opisu:
0000012822
The relationship between hot ductility and intergranular fracture in an CuSn6P alloy at elevated temperatures.
[Aut.]: Wojciech**
Ozgowicz
.
W:
Achievements in mechanical and materials engineering
. Proceedings of the 13th international scientific conference, Gliwice-Wisła, Poland, May 16-19, 2005. Ed. L. A. Dobrzański. Gliwice : Organising Committee of the International Scientific Conferences Institute of Engineering Materials and Biomaterials of the Silesian University of Technology, 2005
, s. 503-508, bibliogr. 11 poz.
temperatura minimalnej plastyczności
;
przełom międzykrystaliczny
;
brąz cynowy
;
poślizg po granicach ziaren
;
spektroskopia elektronów Augera
ductility minimum temperature
;
intergranular fracture
;
tin bronze
;
grain boundary sliding
;
Auger electron spectroscopy
18/19
Nr opisu:
0000014965
The relationship between hot ductility and intergranular fracture in an CuSn6P alloy at elevated temperatures.
[Aut.]: Wojciech**
Ozgowicz
.
W:
Worldwide Congress on Materials and Manufacturing Engineering and Technology
. COMMENT'2005, Gliwice-Wisła, 16th-19th May 2005. [Dokument elektroniczny]. Congress proceedings - short papers. Ed. Leszek A. Dobrzański. [Gliwice] : [Komitet Organizacyjny Międzynarodowych Konferencji Naukowych Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej], [2005]
, dysk optyczny (CD-ROM) [Ref. 1.620 s. 1-6], bibliogr. 11 poz.
temperatura minimalnej plastyczności
;
przełom międzykrystaliczny
;
brąz cynowy
;
poślizg po granicach ziaren
;
spektroskopia elektronów Augera
ductility minimum temperature
;
intergranular fracture
;
tin bronze
;
grain boundary sliding
;
Auger electron spectroscopy
19/19
Nr opisu:
0000023465
The relationship between hot ductility and intergranular fracture in an CuSn6P alloy at elevated temperatures.
[Aut.]: Wojciech**
Ozgowicz
.
W:
Programme & abstracts of the Worldwide Congress on Materials and Manufacturing Engineering and Technology
. COMMENT'2005, Gliwice-Wisła, 16th-19th May 2005. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwice : Organising Committee of the International Scientific Conferences Institute of Engineering Materials and Biomaterials of the Silesian University of Technology, 2005
, s. 117-118
temperatura minimalnej plastyczności
;
przełom międzykrystaliczny
;
brąz cynowy
;
poślizg po granicach ziaren
;
spektroskopia elektronów Augera
ductility minimum temperature
;
intergranular fracture
;
tin bronze
;
grain boundary sliding
;
Auger electron spectroscopy
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie