Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
SPEKTROSKOPIA UV-VIS
Liczba odnalezionych rekordów:
21
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/21
Nr opisu:
0000127099
Metody spektroskopowe i spektrometria mas w zastosowaniu do identyfikacji związków organicznych. Praca zbiorowa. T. 1. Pod red. Wojciecha Zielińskiego i Andrzeja Rajcy.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2018, 702 s..
Punktacja MNiSW
80.000
spektrometria mas
;
spektrometria w podczerwieni
;
spektroskopia UV-Vis
;
magnetyczny rezonans jądrowy
;
metoda spektroskopowa
mass spectrometry
;
infrared spectrometry
;
UV-Vis spectroscopy
;
nuclear magnetic resonance
;
spectroscopic method
2/21
Nr opisu:
0000122015
Metody spektroskopowe i spektrometria mas w zastosowaniu do identyfikacji związków organicznych. T. 2, Tabele korelacyjne. Praca zbiorowa. Pod red. Wojciecha Zielińskiego i Andrzeja Rajcy.
[Aut.]: Andrzej**
Skibiński
, Andrzej**
Rajca
, Tadeusz
Bieg
, Ewa**
Salwińska
, Roman**
Mazurkiewicz
, Wojciech**
Zieliński
, Jerzy**
Suwiński
.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2018, 144 s., bibliogr..
Punktacja MNiSW
80.000
magnetyczny rezonans jądrowy
;
NMR
;
spektrometria mas
;
spektroskopia w podczerwieni
;
spektroskopia UV-Vis
nuclear magnetic resonance
;
NMR
;
mass spectrometry
;
infrared spectrometry
;
UV-Vis spectroscopy
3/21
Nr opisu:
0000115750
In situ spectroelectrochemical techniques as tools for investigating the properties of electroactive systems.
[Aut.]: Tomasz
Jarosz
, Przemysław
Data
, Mieczysław
Łapkowski
.
-
Disp. Imaging
2017 vol. 2 iss. 3-4
, s. 229-248, bibliogr. 68 poz..
Punktacja MNiSW
1.000
spektroelektrochemia
;
analiza instrumentalna
;
spektroskopia UV-Vis
;
spektroskopia EPR
;
spektroskopia IR
;
polimer skoniugowany
;
półprzewodnik organiczny
spectroelectrochemistry
;
instrumental analysis
;
UV-Vis spectroscopy
;
EPR spectroscopy
;
IR spectroscopy
;
conjugated polymer
;
organic semiconductor
4/21
Nr opisu:
0000106780
Analiza UV-VIS cienkich warstw kompozytowych PVP/SiO2.
[Aut.]: Wiktor
Matysiak
, S.
Zieliński
, Tomasz
Tański
, M.
Zaborowska
, P.
Witek
, Ewa
Rusek
, Artur*
Skorupa
, M.
Latusek
.
W:
Materiały i technologie XXI wieku
. XVIII Międzynarodowa studencka sesja naukowa, Katowice, 19 maja 2016. [Dokument elektroniczny]. Red. Marcin Godzierz, Adam Gryc, Marta Biesaga, Aleksandra Miczek, Konrad Brzyski. Katowice : [b.w.], 2016
, pamięć USB (PenDrive) s. 240-245, bibliogr. 17 poz.
cienka warstwa kompozytowa
;
morfologia kompozytów
;
morfologia powierzchni
;
mikroskop sił atomowych
;
spektroskopia UV-Vis
thin composite layer
;
morphology of composites
;
surface morphology
;
atomic force microscope
;
UV-Vis spectroscopy
5/21
Nr opisu:
0000106778
Analiza własności optycznych nanowłókien kompozytowych PVP/ZnO.
[Aut.]: Wiktor
Matysiak
, M.
Zaborowska
, Paweł
Jarka
, Aleksandra
Drygała
, Tomasz
Tański
.
W:
Materiały i technologie XXI wieku
. XVIII Międzynarodowa studencka sesja naukowa, Katowice, 19 maja 2016. [Dokument elektroniczny]. Red. Marcin Godzierz, Adam Gryc, Marta Biesaga, Aleksandra Miczek, Konrad Brzyski. Katowice : [b.w.], 2016
, pamięć USB (PenDrive) s. 235-239, bibliogr. 15 poz.
elektroprzędzenie
;
nanowłókno kompozytowe
;
własności optyczne
;
spektroskopia UV-Vis
;
mata kompozytowa
electrospinning
;
composite nanofiber
;
optical properties
;
UV-Vis spectroscopy
;
composite mat
6/21
Nr opisu:
0000116007
The study of parameters of the organic photovoltaic cells.
[Aut.]: Paweł
Jarka
, Tomasz
Tański
, B.
Hajduk
, M.
Domański
.
W:
1st International Conference InterNanoPoland 2016
. International Conference Center, Katowice, 14-15 June, 2016. Abstracts book. Ed. Agnieszka Piekara, Karol Lemański. Katowice : The Foundation of Nanoscience and Nanotechnology Support Nanonet, 2016
, s. [33], bibliogr. 2 poz.
organiczne ogniwo fotowoltaiczne
;
mikroskopia sił atomowych
;
spektroskopia UV-Vis
;
charakterystyka prądowo-napięciowa
organic solar cell
;
atomic force microscopy
;
UV-Vis spectroscopy
;
current-voltage characteristic
;
bulk heterojunction
7/21
Nr opisu:
0000095577
Electrical and optical properties of spin-coated SnO
2
nanofilms.
[Aut.]: Weronika
Izydorczyk
, Krzysztof**
Waczyński
, Jacek
Izydorczyk
, Paweł
Karasiński
, Janusz
Mazurkiewicz
, Mirosław
Magnuski
, Jerzy
Uljanow
, Natalia
Waczyńska-Niemiec
, Wojciech
Filipowski
.
-
Mater. Sci. Pol.
2014 vol. 32 no. 4
, s. 729-736, bibliogr. 28 poz..
Impact Factor
0.507.
Punktacja MNiSW
15.000
spin-coating
;
spektroskopia UV-Vis
;
dyfrakcja rentgenowska
spin-coating
;
tin dioxide
;
UV-Vis spectroscopy
;
X-ray diffraction
8/21
Nr opisu:
0000096774
Sol-gel Al
2
O
3
antireflection coatings for silicon solar cells.
[Aut.]: Leszek**
Dobrzański
, Marek
Szindler
, Magdalena
Szindler
, B.
Hajduk
.
-
Arch. Mater. Sci. Eng.
2014 vol. 67 nr 1
, s. 24-31, bibliogr. 25 poz..
Punktacja MNiSW
13.000
powłoka cienka
;
tlenek glinu
;
mikroskop sił atomowych
;
elipsometria spektroskopowa
;
spektroskopia UV-Vis
thin film
;
aluminium oxide
;
atomic force microscope
;
spectroscopic ellipsometry
;
UV-Vis spectroscopy
9/21
Nr opisu:
0000072078
Badanie morfologii i własności fizycznych cienkich warstw poliazometin. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Barbara*
Hajduk
.
Gliwice, 2012, 110 k., bibliogr. 117 poz. + zał.: 75 k. tabl.
Politechnika Śląska. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Promotor: dr hab. Jan** Weszka
polimer skoniugowany
;
spektroskopia UV-Vis
;
FTIR
;
mikroskopia AFM
conjugated polymer
;
UV-Vis spectroscopy
;
FTIR
;
AFM microscopy
10/21
Nr opisu:
0000078076
CLSM and UV-VIS researches on polyoxadiazoles thin films.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, Magdalena
Szindler
, M.
Chwastek-Ogierman
, M.
Bruma
, Paweł
Jarka
.
-
Arch. Mater. Sci. Eng.
2012 vol. 55 nr 2
, s. 53-61, bibliogr. 20 poz..
Punktacja MNiSW
9.000
polimer przewodzący
;
spektroskopia UV-Vis
;
metoda spin-coating
;
mikroskopia CLSM
conducting polymer
;
UV-Vis spectroscopy
;
spin-coating method
;
CLSM microscopy
11/21
Nr opisu:
0000082431
Investigations of morphology and optical properties of thin films of TiOPc/PTCDA donor acceptor couple.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, Paweł
Jarka
, B.
Hajduk
, M.
Chwastek-Ogierman
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2012 vol. 55 iss. 2
, s. 396-402, bibliogr. 13 poz..
Punktacja MNiSW
8.000
organiczna warstwa cienka
;
parowanie
;
system donorowo-akceptorowy
;
ftalocyjanina
;
PTCDA
;
spektroskopia UV-Vis
;
mikroskopia AFM
organic thin film
;
evaporation
;
donor-acceptor system
;
phthalocyanine
;
PTCDA
;
UV-Vis spectroscopy
;
AFM microscopy
12/21
Nr opisu:
0000082859
Researches of topography and optical properties of the thin films NiPc/PTCDA donor acceptor couple.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, Paweł
Jarka
, M.
Chwastek-Ogierman
, B.
Hajduk
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2012 vol. 53 iss. 2
, s. 81-88, bibliogr. 20 poz..
Punktacja MNiSW
8.000
organiczna warstwa cienka
;
parowanie
;
system donorowo-akceptorowy
;
ftalocyjanina
;
PTCDA
;
spektroskopia UV-Vis
;
mikroskopia AFM
organic thin film
;
evaporation
;
donor-acceptor system
;
phthalocyanine
;
PTCDA
;
UV-Vis spectroscopy
;
AFM microscopy
13/21
Nr opisu:
0000082869
Sol gel TiO
2
antireflection coatings for silicon solar cells.
[Aut.]: Leszek**
Dobrzański
, Marek
Szindler
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2012 vol. 52 iss. 1
, s. 7-14, bibliogr. 18 poz..
Punktacja MNiSW
8.000
dwutlenek tytanu
;
warstwa antyrefleksyjna
;
mikroskopowa siła atomowa
;
mikroskop elektronowy skaningowy
;
spektroskopia UV-Vis
titanium dioxide
;
antireflective coating
;
atomic force microscope
;
scanning electron microscope
;
UV-Vis spectroscopy
;
silicon solar cell
14/21
Nr opisu:
0000067008
Influence of technological conditions on optical properties and morphology of spin-coated PPI thin films.
[Aut.]: Małgorzata*
Chwastek
, Jan**
Weszka
, J.
Jurusik
, Barbara*
Hajduk
, Paweł
Jarka
.
-
Arch. Mater. Sci. Eng.
2011 vol. 48 nr 2
, s. 69-76, bibliogr. 23 poz..
Punktacja MNiSW
9.000
spin-powłoka
;
spektroskopia UV-Vis
;
spektroskopia IR
;
mikroskopia AFM
spin-coating
;
UV-Vis spectroscopy
;
IR spectroscopy
;
AFM microscopy
15/21
Nr opisu:
0000069510
Synthesis and properties of aromatic 1,3-diketones and bis-(1,3-diketones) obtained from acetophenone and phtalic acids esters.
[Aut.]: Jan**
Zawadiak
, Marek*
Mrzyczek
, Tomasz
Piotrowski
.
-
Eur. J. Chem.
2011 vol. 2 iss. 3
, s. 289-294, bibliogr. 10 poz.
1,3-diketon
;
tautomeria
;
bis-(1,3-diketon)
;
spektroskopia UV-Vis
;
efekt rozpuszczalnikowy
;
filtr przeciwsłoneczny
1,3-diketone
;
tautomerism
;
bis-(1,3-diketone)
;
UV-Vis spectroscopy
;
solvent effect
;
sunscreen
16/21
Nr opisu:
0000057804
Comparing of optical properties and morphology of polyoxadiazoles with CF
3
groups.
[Aut.]: Barbara*
Hajduk
, Paweł
Jarka
, Jan**
Weszka
, M.
Bruma
, J.
Jurusik
, Małgorzata*
Chwastek
, D.
Mańkowski
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2010 vol. 40 iss. 1
, s. 7-14, bibliogr. 19 poz.
spektroskopia UV-Vis
;
mikroskopia AFM
;
spektroskopia IR
;
metoda spin-coating
;
polimer organiczny
UV-Vis spectroscopy
;
AFM microscopy
;
IR spectroscopy
;
spin-coating method
;
organic polymer
17/21
Nr opisu:
0000057727
Studying of polyoxadiazole with Si atom in the backbone.
[Aut.]: Barbara*
Hajduk
, Paweł
Jarka
, Jan**
Weszka
, M.
Bruma
, J.
Jurusik
, Małgorzata*
Chwastek
, D.
Mańkowski
.
-
Arch. Mater. Sci. Eng.
2010 vol. 42 nr 2
, s. 77-84, bibliogr. 15 poz.
spektroskopia UV-Vis
;
mikroskopia sił atomowych
;
spektroskopia w podczerwieni
;
metoda spin-coating
UV-Vis spectroscopy
;
AFM microscopy
;
IR spectroscopy
;
spin-coating method
18/21
Nr opisu:
0000050227
Influence of LCVD technological parameters on properties of polyazomethine thin films.
[Aut.]: Barbara*
Hajduk
, Jan**
Weszka
, J.
Jurusik
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2009 vol. 36 iss. 1
, s. 41-48, bibliogr. 19 poz.
spektroskopia UV-Vis
;
mikroskopia AFM
;
chemiczne osadzanie z fazy gazowej
;
CVD
;
LCVD
;
polimer skoniugowany
UV-Vis spectroscopy
;
AFM microscopy
;
chemical vapour deposition
;
CVD
;
LCVD
;
conjugated polymer
19/21
Nr opisu:
0000050259
Optical properties of polyazomethine with oxygen atom in the backbone.
[Aut.]: Barbara*
Hajduk
, Jan**
Weszka
, V.
Cozan
, B.
Kaczmarczyk
, B.
Jarząbek
, M.
Domański
.
-
Arch. Mater. Sci. Eng.
2008 vol. 32 iss. 2
, s. 85-88, bibliogr. 15 poz.
polimer skoniugowany
;
grupa eterowa
;
pasmo energetyczne wzbronione
;
spektroskopia UV-Vis
;
spektroskopia FTIR
conjugated polymer
;
ether group
;
energy gap
;
UV-Vis spectroscopy
;
FTIR spectroscopy
20/21
Nr opisu:
0000066722
Przejścia optyczne w poliazometinach z grupami eterowymi w łańcuchu głównym.
[Aut.]: Barbara*
Hajduk
, Jan**
Weszka
, V.
Cozan
, B.
Jarząbek
.
W:
Modyfikacja polimerów
. Stan i perspektywy w roku 2007. Praca zbiorowa. Pod red. R. Stellera, D. Żuchowskiej. Wydział Chemiczny. Politechnika Wrocławska. Wrocław : Oficyna Wydaw. Politechniki Wrocławskiej, 2007
, s. 234-237, bibliogr. 5 poz.
polimer skoniugowany
;
spektroskopia absorpcyjna
;
spektroskopia UV-Vis
conjugated polymer
;
absorption spectroscopy
;
UV-Vis spectroscopy
21/21
Nr opisu:
0000008335
On the synthesis and basicity of 1,3-diaminoisoquinolines.
[Aut.]: Wojciech**
Zieliński
, Agnieszka
Kudelko
.
-
Monatsh. Chem.
2003 vol. 134 iss. 3
, s. 403-409, bibliogr. 17 poz..
Impact Factor
0.886
spektroskopia UV-Vis
;
metoda spektroskopowa
UV-Vis spectroscopy
;
spectroscopic method
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie