Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SPEKTROSKOPIA UV-VIS
Liczba odnalezionych rekordów: 21



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/21
Nr opisu: 0000127099   
Metody spektroskopowe i spektrometria mas w zastosowaniu do identyfikacji związków organicznych. Praca zbiorowa. T. 1. Pod red. Wojciecha Zielińskiego i Andrzeja Rajcy.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2018, 702 s.. Punktacja MNiSW 80.000

spektrometria mas ; spektrometria w podczerwieni ; spektroskopia UV-Vis ; magnetyczny rezonans jądrowy ; metoda spektroskopowa

mass spectrometry ; infrared spectrometry ; UV-Vis spectroscopy ; nuclear magnetic resonance ; spectroscopic method

2/21
Nr opisu: 0000122015   
Metody spektroskopowe i spektrometria mas w zastosowaniu do identyfikacji związków organicznych. T. 2, Tabele korelacyjne. Praca zbiorowa. Pod red. Wojciecha Zielińskiego i Andrzeja Rajcy.
[Aut.]: Andrzej** Skibiński, Andrzej** Rajca, Tadeusz Bieg, Ewa** Salwińska, Roman** Mazurkiewicz, Wojciech** Zieliński, Jerzy** Suwiński.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2018, 144 s., bibliogr.. Punktacja MNiSW 80.000

magnetyczny rezonans jądrowy ; NMR ; spektrometria mas ; spektroskopia w podczerwieni ; spektroskopia UV-Vis

nuclear magnetic resonance ; NMR ; mass spectrometry ; infrared spectrometry ; UV-Vis spectroscopy

3/21
Nr opisu: 0000115750   
In situ spectroelectrochemical techniques as tools for investigating the properties of electroactive systems.
[Aut.]: Tomasz Jarosz, Przemysław Data, Mieczysław Łapkowski.
-Disp. Imaging 2017 vol. 2 iss. 3-4, s. 229-248, bibliogr. 68 poz.. Punktacja MNiSW 1.000

spektroelektrochemia ; analiza instrumentalna ; spektroskopia UV-Vis ; spektroskopia EPR ; spektroskopia IR ; polimer skoniugowany ; półprzewodnik organiczny

spectroelectrochemistry ; instrumental analysis ; UV-Vis spectroscopy ; EPR spectroscopy ; IR spectroscopy ; conjugated polymer ; organic semiconductor

4/21
Nr opisu: 0000106780
Analiza UV-VIS cienkich warstw kompozytowych PVP/SiO2.
[Aut.]: Wiktor Matysiak, S. Zieliński, Tomasz Tański, M. Zaborowska, P. Witek, Ewa Rusek, Artur* Skorupa, M. Latusek.
W: Materiały i technologie XXI wieku. XVIII Międzynarodowa studencka sesja naukowa, Katowice, 19 maja 2016. [Dokument elektroniczny]. Red. Marcin Godzierz, Adam Gryc, Marta Biesaga, Aleksandra Miczek, Konrad Brzyski. Katowice : [b.w.], 2016, pamięć USB (PenDrive) s. 240-245, bibliogr. 17 poz.

cienka warstwa kompozytowa ; morfologia kompozytów ; morfologia powierzchni ; mikroskop sił atomowych ; spektroskopia UV-Vis

thin composite layer ; morphology of composites ; surface morphology ; atomic force microscope ; UV-Vis spectroscopy

5/21
Nr opisu: 0000106778
Analiza własności optycznych nanowłókien kompozytowych PVP/ZnO.
[Aut.]: Wiktor Matysiak, M. Zaborowska, Paweł Jarka, Aleksandra Drygała, Tomasz Tański.
W: Materiały i technologie XXI wieku. XVIII Międzynarodowa studencka sesja naukowa, Katowice, 19 maja 2016. [Dokument elektroniczny]. Red. Marcin Godzierz, Adam Gryc, Marta Biesaga, Aleksandra Miczek, Konrad Brzyski. Katowice : [b.w.], 2016, pamięć USB (PenDrive) s. 235-239, bibliogr. 15 poz.

elektroprzędzenie ; nanowłókno kompozytowe ; własności optyczne ; spektroskopia UV-Vis ; mata kompozytowa

electrospinning ; composite nanofiber ; optical properties ; UV-Vis spectroscopy ; composite mat

6/21
Nr opisu: 0000116007
The study of parameters of the organic photovoltaic cells.
[Aut.]: Paweł Jarka, Tomasz Tański, B. Hajduk, M. Domański.
W: 1st International Conference InterNanoPoland 2016. International Conference Center, Katowice, 14-15 June, 2016. Abstracts book. Ed. Agnieszka Piekara, Karol Lemański. Katowice : The Foundation of Nanoscience and Nanotechnology Support Nanonet, 2016, s. [33], bibliogr. 2 poz.

organiczne ogniwo fotowoltaiczne ; mikroskopia sił atomowych ; spektroskopia UV-Vis ; charakterystyka prądowo-napięciowa

organic solar cell ; atomic force microscopy ; UV-Vis spectroscopy ; current-voltage characteristic ; bulk heterojunction

7/21
Nr opisu: 0000095577   
Electrical and optical properties of spin-coated SnO2 nanofilms.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Krzysztof** Waczyński, Jacek Izydorczyk, Paweł Karasiński, Janusz Mazurkiewicz, Mirosław Magnuski, Jerzy Uljanow, Natalia Waczyńska-Niemiec, Wojciech Filipowski.
-Mater. Sci. Pol. 2014 vol. 32 no. 4, s. 729-736, bibliogr. 28 poz.. Impact Factor 0.507. Punktacja MNiSW 15.000

spin-coating ; spektroskopia UV-Vis ; dyfrakcja rentgenowska

spin-coating ; tin dioxide ; UV-Vis spectroscopy ; X-ray diffraction

8/21
Nr opisu: 0000096774   
Sol-gel Al2O3 antireflection coatings for silicon solar cells.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler, Magdalena Szindler, B. Hajduk.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2014 vol. 67 nr 1, s. 24-31, bibliogr. 25 poz.. Punktacja MNiSW 13.000

powłoka cienka ; tlenek glinu ; mikroskop sił atomowych ; elipsometria spektroskopowa ; spektroskopia UV-Vis

thin film ; aluminium oxide ; atomic force microscope ; spectroscopic ellipsometry ; UV-Vis spectroscopy

9/21
Nr opisu: 0000072078
Badanie morfologii i własności fizycznych cienkich warstw poliazometin. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Barbara* Hajduk.
Gliwice, 2012, 110 k., bibliogr. 117 poz. + zał.: 75 k. tabl.
Politechnika Śląska. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Promotor: dr hab. Jan** Weszka

polimer skoniugowany ; spektroskopia UV-Vis ; FTIR ; mikroskopia AFM

conjugated polymer ; UV-Vis spectroscopy ; FTIR ; AFM microscopy

10/21
Nr opisu: 0000078076   
CLSM and UV-VIS researches on polyoxadiazoles thin films.
[Aut.]: Jan** Weszka, Magdalena Szindler, M. Chwastek-Ogierman, M. Bruma, Paweł Jarka.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2012 vol. 55 nr 2, s. 53-61, bibliogr. 20 poz.. Punktacja MNiSW 9.000

polimer przewodzący ; spektroskopia UV-Vis ; metoda spin-coating ; mikroskopia CLSM

conducting polymer ; UV-Vis spectroscopy ; spin-coating method ; CLSM microscopy

11/21
Nr opisu: 0000082431   
Investigations of morphology and optical properties of thin films of TiOPc/PTCDA donor acceptor couple.
[Aut.]: Jan** Weszka, Paweł Jarka, B. Hajduk, M. Chwastek-Ogierman.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2012 vol. 55 iss. 2, s. 396-402, bibliogr. 13 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

organiczna warstwa cienka ; parowanie ; system donorowo-akceptorowy ; ftalocyjanina ; PTCDA ; spektroskopia UV-Vis ; mikroskopia AFM

organic thin film ; evaporation ; donor-acceptor system ; phthalocyanine ; PTCDA ; UV-Vis spectroscopy ; AFM microscopy

12/21
Nr opisu: 0000082859   
Researches of topography and optical properties of the thin films NiPc/PTCDA donor acceptor couple.
[Aut.]: Jan** Weszka, Paweł Jarka, M. Chwastek-Ogierman, B. Hajduk.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2012 vol. 53 iss. 2, s. 81-88, bibliogr. 20 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

organiczna warstwa cienka ; parowanie ; system donorowo-akceptorowy ; ftalocyjanina ; PTCDA ; spektroskopia UV-Vis ; mikroskopia AFM

organic thin film ; evaporation ; donor-acceptor system ; phthalocyanine ; PTCDA ; UV-Vis spectroscopy ; AFM microscopy

13/21
Nr opisu: 0000082869   
Sol gel TiO2 antireflection coatings for silicon solar cells.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2012 vol. 52 iss. 1, s. 7-14, bibliogr. 18 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

dwutlenek tytanu ; warstwa antyrefleksyjna ; mikroskopowa siła atomowa ; mikroskop elektronowy skaningowy ; spektroskopia UV-Vis

titanium dioxide ; antireflective coating ; atomic force microscope ; scanning electron microscope ; UV-Vis spectroscopy ; silicon solar cell

14/21
Nr opisu: 0000067008   
Influence of technological conditions on optical properties and morphology of spin-coated PPI thin films.
[Aut.]: Małgorzata* Chwastek, Jan** Weszka, J. Jurusik, Barbara* Hajduk, Paweł Jarka.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2011 vol. 48 nr 2, s. 69-76, bibliogr. 23 poz.. Punktacja MNiSW 9.000

spin-powłoka ; spektroskopia UV-Vis ; spektroskopia IR ; mikroskopia AFM

spin-coating ; UV-Vis spectroscopy ; IR spectroscopy ; AFM microscopy

15/21
Nr opisu: 0000069510   
Synthesis and properties of aromatic 1,3-diketones and bis-(1,3-diketones) obtained from acetophenone and phtalic acids esters.
[Aut.]: Jan** Zawadiak, Marek* Mrzyczek, Tomasz Piotrowski.
-Eur. J. Chem. 2011 vol. 2 iss. 3, s. 289-294, bibliogr. 10 poz.

1,3-diketon ; tautomeria ; bis-(1,3-diketon) ; spektroskopia UV-Vis ; efekt rozpuszczalnikowy ; filtr przeciwsłoneczny

1,3-diketone ; tautomerism ; bis-(1,3-diketone) ; UV-Vis spectroscopy ; solvent effect ; sunscreen

16/21
Nr opisu: 0000057804   
Comparing of optical properties and morphology of polyoxadiazoles with CF3 groups.
[Aut.]: Barbara* Hajduk, Paweł Jarka, Jan** Weszka, M. Bruma, J. Jurusik, Małgorzata* Chwastek, D. Mańkowski.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2010 vol. 40 iss. 1, s. 7-14, bibliogr. 19 poz.

spektroskopia UV-Vis ; mikroskopia AFM ; spektroskopia IR ; metoda spin-coating ; polimer organiczny

UV-Vis spectroscopy ; AFM microscopy ; IR spectroscopy ; spin-coating method ; organic polymer

17/21
Nr opisu: 0000057727   
Studying of polyoxadiazole with Si atom in the backbone.
[Aut.]: Barbara* Hajduk, Paweł Jarka, Jan** Weszka, M. Bruma, J. Jurusik, Małgorzata* Chwastek, D. Mańkowski.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2010 vol. 42 nr 2, s. 77-84, bibliogr. 15 poz.

spektroskopia UV-Vis ; mikroskopia sił atomowych ; spektroskopia w podczerwieni ; metoda spin-coating

UV-Vis spectroscopy ; AFM microscopy ; IR spectroscopy ; spin-coating method

18/21
Nr opisu: 0000050227   
Influence of LCVD technological parameters on properties of polyazomethine thin films.
[Aut.]: Barbara* Hajduk, Jan** Weszka, J. Jurusik.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2009 vol. 36 iss. 1, s. 41-48, bibliogr. 19 poz.

spektroskopia UV-Vis ; mikroskopia AFM ; chemiczne osadzanie z fazy gazowej ; CVD ; LCVD ; polimer skoniugowany

UV-Vis spectroscopy ; AFM microscopy ; chemical vapour deposition ; CVD ; LCVD ; conjugated polymer

19/21
Nr opisu: 0000050259   
Optical properties of polyazomethine with oxygen atom in the backbone.
[Aut.]: Barbara* Hajduk, Jan** Weszka, V. Cozan, B. Kaczmarczyk, B. Jarząbek, M. Domański.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2008 vol. 32 iss. 2, s. 85-88, bibliogr. 15 poz.

polimer skoniugowany ; grupa eterowa ; pasmo energetyczne wzbronione ; spektroskopia UV-Vis ; spektroskopia FTIR

conjugated polymer ; ether group ; energy gap ; UV-Vis spectroscopy ; FTIR spectroscopy

20/21
Nr opisu: 0000066722
Przejścia optyczne w poliazometinach z grupami eterowymi w łańcuchu głównym.
[Aut.]: Barbara* Hajduk, Jan** Weszka, V. Cozan, B. Jarząbek.
W: Modyfikacja polimerów. Stan i perspektywy w roku 2007. Praca zbiorowa. Pod red. R. Stellera, D. Żuchowskiej. Wydział Chemiczny. Politechnika Wrocławska. Wrocław : Oficyna Wydaw. Politechniki Wrocławskiej, 2007, s. 234-237, bibliogr. 5 poz.

polimer skoniugowany ; spektroskopia absorpcyjna ; spektroskopia UV-Vis

conjugated polymer ; absorption spectroscopy ; UV-Vis spectroscopy

21/21
Nr opisu: 0000008335   
On the synthesis and basicity of 1,3-diaminoisoquinolines.
[Aut.]: Wojciech** Zieliński, Agnieszka Kudelko.
-Monatsh. Chem. 2003 vol. 134 iss. 3, s. 403-409, bibliogr. 17 poz.. Impact Factor 0.886

spektroskopia UV-Vis ; metoda spektroskopowa

UV-Vis spectroscopy ; spectroscopic method

stosując format:
Nowe wyszukiwanie