Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SKANINGOWY MIKROSKOP ELEKTRONOWY
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000122968
Analysis of the corrosion protective ability of atomic layer deposition silica-based coatings deposited on 316LVM steel.
[Aut.]: Marcin Basiaga, Witold Walke, Wojciech Kajzer, Agnieszka* Hyla, Alina Domanowska, Anna Michalewicz, C. Krawczyk.
-Materialwissensch. Werkstofftech. 2018 vol. 49 iss. 5, s. 551-561, bibliogr. 53 poz.. Impact Factor 0.556. Punktacja MNiSW 15.000

316 LVM ; SiO2 ; osadzanie warstw atomowych ; spektroskopia elektronów Augera ; skaningowy mikroskop elektronowy ; test potencjodynamiczny ; wykres impedancji elektrochemicznej

316 LVM ; SiO2 ; atomic layer deposition ; Auger electron spectroscopy ; scanning electron microscopy ; potentiodynamic test ; electrochemical impedance plot

2/6
Nr opisu: 0000125011   
Influence of milling time on amorphization of Mg-Zn-Ca powders synthesized by mechanical alloying technique.
[Aut.]: Sabina Lesz, Marek Kremzer, Klaudiusz Gołombek, Ryszard** Nowosielski.
-Arch. Metall. Mater. 2018 vol. 63 iss. 2, s. 845-851, bibliogr. 39 poz.. Impact Factor 0.697. Punktacja MNiSW 30.000

proszki na bazie magnezu ; transmisyjny mikroskop elektronowy ; skaningowy mikroskop elektronowy ; mechaniczne wytwarzanie stopu

Mg-based powder ; transmission electron microscopy ; scanning electron microscopy ; mechanicall alloying

3/6
Nr opisu: 0000122027
Metody spektroskopowe w mikroskopii elektronowej.
[Aut.]: Paulina Boryło, Bartłomiej Sobel.
-LAB Laboratoria Apar. Bad. 2018 nr 1, s. 24-32, bibliogr. 9 poz.. Punktacja MNiSW 1.000

skaningowy mikroskop elektronowy ; skład chemiczny ; analiza ; mikroskopia elektronowa ; EDS ; mikroskop transmisyjny

scanning electron microscope ; chemical composition ; analysis ; electron microscopy ; EDS ; transmission microscope

4/6
Nr opisu: 0000122441   
Use of a laser disc for cutting silicon wafers.
[Aut.]: Małgorzata Musztyfaga-Staszuk, Damian Janicki, P. Panek, Maciej* Wiśniowski.
-Mater. Tehnol. 2018 vol. 52 iss. 2, s. 139-142, bibliogr. 10 poz.. Impact Factor 0.714. Punktacja MNiSW 15.000

cięcie laserowe ; wafel krzemowy ; konfokalny laserowy mikroskop skaningowy ; skaningowy mikroskop elektronowy

laser cutting ; silicon wafer ; confocal laser-scanning microscope ; scanning electron microscope

5/6
Nr opisu: 0000083494
Badania morfologii grafitu ekspandowanego przy użyciu SEM.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Dariusz Łukowiec, Marek Szindler.
W: Proceedings of the Eighteenth International Scientific Conference on Contemporary Achievements in Mechanics, Manufacturing and Materials Science. CAM3S'2012, Gliwice - Ustroń, 27th - 29th February 2012. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwice : International Organising Committee of the Scientific Conferences World Press, 2012, s. 37, bibliogr. 2 poz.

grafit ekspandowany ; morfologia grafitu ; skaningowy mikroskop elektronowy ; SEM

expanded graphite ; graphite morphology ; scanning electron microscope ; SEM

6/6
Nr opisu: 0000008328   
Application of Vickers indentation for assessment of PDV TiN coated new nonledeburitic high-speed steels.
[Aut.]: Janusz Richter.
-Surf. Coat. Technol. 2003 vol. 162 iss. 2/3, s. 119-130. Impact Factor 1.410

test twardości Vickersa ; skaningowy mikroskop elektronowy ; PVD ; stal szybkotnąca

Vickers hardness test ; scanning electron microscope ; PVD ; high-speed steel

stosując format:
Nowe wyszukiwanie