Wynik wyszukiwania
Zapytanie: POWŁOKA ANTYREFLEKSYJNA
Liczba odnalezionych rekordów: 9



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/9
Nr opisu: 0000136423   
Scattering phenomena in porous sol-gel-derived silica films.
[Aut.]: J. Jaglarz, P. Dulian, Paweł Karasiński, P. Winkowski.
-Coatings 2020 vol. 10 iss. 6, s. 1-13, bibliogr. 32 poz.. Impact Factor 2.436. Punktacja MNiSW 100.000

proces zol-żel ; powłoka cienka ; warstwa z krzemionki porowatej ; powłoka antyrefleksyjna ; rozpraszanie światła ; elipsometria spektroskopowa

sol-gel process ; thin film ; porous silica film ; antireflection coating ; light scattering ; spectroscopic ellipsometry

2/9
Nr opisu: 0000134200   
Thermo-optical properties of porous silica thin films produced by sol-gel method.
[Aut.]: J. Jaglarz, P. Dulias, Paweł Karasiński.
-Mater. Chem. Phys. 2020 vol. 243, art. no. 122603 s. 1-6, bibliogr. 36 poz.. Impact Factor 3.408. Punktacja MNiSW 70.000

proces zol-żel ; powłoka cienka ; elipsometria spektroskopowa ; warstwa z krzemionki porowatej ; powłoka antyrefleksyjna

sol-gel process ; thin film ; spectroscopic ellipsometry ; porous silica film ; antireflective coating

3/9
Nr opisu: 0000132604
The optical parameters of TiO2 antireflection coating prepared by ALD method for photovoltaic application.
[Aut.]: Marek Szindler, Magdalena Szindler, Paulina Boryło.
W: Zeszyt abstraktów międzynarodowej konferencji Material Technologies in Silesia'2019, 13-16 października 2019, Zawiercie. Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska, 2019, s. 165-166, bibliogr. 2 poz. (Prace Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych ; Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska z. 6)

dwutlenek tytanu ; osadzanie warstw atomowych ; powłoka antyrefleksyjna

titanium dioxide ; atomic layer deposition ; antireflection coating

4/9
Nr opisu: 0000118917   
Comparison of surface morphology and structure of Al2O3 thin films deposited by sol-gel and ALD methods.
[Aut.]: Marek Szindler, L. A. Dobrzański, Magdalena Szindler, Mirosława Pawlyta, Tymoteusz* Jung.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2017 vol. 82 iss. 2, s. 49-57, bibliogr. 31 poz.. Punktacja MNiSW 12.000

zol-żel ; osadzanie warstw atomowych ; tlenek glinu ; powłoka cienka ; powłoka antyrefleksyjna

sol-gel ; atomic layer deposition ; aluminium oxide ; thin film ; antireflection coating

5/9
Nr opisu: 0000122732
Structure and optical properties of TiO2 thin films deposited by ALD method.
[Aut.]: Marek Szindler, Magdalena Szindler, Paulina Boryło, Tymoteusz* Jung.
-Open Phys. 2017 vol 15 iss. 1, s. 1067-1071, bibliogr. 15 poz.. Impact Factor 0.755. Punktacja MNiSW 15.000

fotowoltaika ; krzemowe ogniwo słoneczne ; osadzanie warstw atomowych ; powłoka antyrefleksyjna

photovoltaic ; silicon solar cell ; atomic layer deposition ; antireflection coating

6/9
Nr opisu: 0000112625
Sol-gel derived antireflective structures for applications in silicon solar cells.
[Aut.]: Paweł Karasiński, Marcin Skolik.
W: Electron Technology Conference 2016, 11-14 September 2016, Wisła, Poland. Eds. Barbara Swatowska, Wojciech Maziarz, Tadeusz Pisarkiewicz, Wojciech Kucewicz. Bellingham : SPIE, 2016, paper 1017517 s. 1-6, bibliogr. 13 poz. (Proceedings of SPIE ; vol. 10175 0277-786X)

powłoka antyrefleksyjna ; krzemowe ogniwo słoneczne ; zol-żel ; krzem ; tytan

antireflection coating ; silicon solar cell ; sol-gel ; silica ; titanium ; matrix 2x2 formalism

7/9
Nr opisu: 0000096019   
Silicon solar cells with Al2O3 antireflection coating.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler, Aleksandra Drygała, Magdalena Szindler.
-Central Eur. J. Phys. 2014 vol. 12 nr 9, s. 666-670, bibliogr. 18 poz.. Impact Factor 1.085. Punktacja MNiSW 25.000

fotowoltaika ; krzemowe ogniwo słoneczne ; atomowe osadzanie warstw ; powłoka antyrefleksyjna

photovoltaics ; silicon solar cell ; atomic layer deposition ; antireflection coating

8/9
Nr opisu: 0000069416
Cienkie warstwy antyrefleksyjne TiO2 otrzymywane metodami zol-żel.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler, Dariusz Łukowiec.
W: Proceedings of the Seventeenth International Scientific Conference on Contemporary Achievements in Mechanics, Manufacturing and Materials Science. CAM3S'2011, Gliwice - Wrocław, 29th May - 1st June 2011. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwice : International Organising Committee of the Scientific Conferences World Press, 2011, s. 45, bibliogr. 3 poz.

powłoka antyrefleksyjna ; metoda zol-żel

antireflective coating ; sol-gel method

9/9
Nr opisu: 0000067997   
Porous silica xerogel films as antireflective coatings. Fabrication and characterization.
[Aut.]: Paweł Karasiński, J. Jaglarz, M. Reben, E. Skoczek, Jacek* Mazur.
-Opt. Mater. 2011 vol. 33 iss. 12, s. 1989-1994, bibliogr. 19 poz.. Impact Factor 2.023. Punktacja MNiSW 30.000

krzemionka porowata ; zol-żel ; powłoka antyrefleksyjna

porous silica ; sol-gel ; antireflective coating

stosując format:
Nowe wyszukiwanie