Wynik wyszukiwania
Zapytanie: POMIAR PRECYZYJNY
Liczba odnalezionych rekordów: 7



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/7
Nr opisu: 0000127098   
Improved sine-fitting algorithms for measurements of complex ratio of AC voltages by asynchronous sequential sampling.
[Aut.]: J. Augustyn, Marian Kampik.
-IEEE Trans. Instrum. Meas. 2019 vol. 68 iss. 6, s. 1659-1665, bibliogr. 38 poz.. Impact Factor 3.658. Punktacja MNiSW 100.000

próbkowanie asynchroniczne ; zespolony stosunek napięć ; CVR ; algorytm numeryczny ; pomiar przesunięcia fazowego ; pomiar precyzyjny ; pomiary próbkujące ; algorytm dopasowania do sinusoidy

asynchronous sampling ; complex voltage ratio ; CVR ; numerical algorithm ; phase shift measurement ; precise measurement ; sampling measurements ; sine-fitting algorithm

2/7
Nr opisu: 0000127012   
Improved sine-fitting algorithms for sampling measurements of complex ratio of AC voltages.
[Aut.]: J. Augustyn, Marian Kampik.
W: 2018 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2018), Paris, France, July 8-13, 2018. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2018, s. 1-2, bibliogr. 6 poz.. Punktacja MNiSW 15.000

zespolony stosunek napięć ; algorytm numeryczny ; algorytm dopasowania do sinusoidy ; pomiar przesunięcia fazowego ; pomiar precyzyjny ; pomiary próbkujące

complex voltage ratio ; numerical algorithm ; sine-fitting algorithm ; phase shift measurement ; precise measurement ; sampling measurements

3/7
Nr opisu: 0000116246   
Application of ellipse fitting algorithm in incoherent sampling measurements of complex ratio of AC voltages.
[Aut.]: J. Augustyn, Marian Kampik.
-IEEE Trans. Instrum. Meas. 2017 vol. 66 iss. 6, s. 1117-1123, bibliogr. 26 poz.. Impact Factor 2.794. Punktacja MNiSW 30.000

zespolony stosunek napięć ; dyskretna transformata Fouriera ; DFT ; algorytm dopasowania do elipsy ; EFA ; algorytm numeryczny ; pomiar precyzyjny ; pomiary próbkujące ; próbkowanie niekoherentne

complex voltage ratio ; discrete Fourier transform ; DFT ; Ellipse Fitting Algorithm ; EFA ; numerical algorithm ; precise measurement ; sampling measurements ; incoherent sampling

4/7
Nr opisu: 0000108118   
About the use of an Ellipse fitting algorithm in sampling measurements of complex ratio of AC voltages.
[Aut.]: J. Augustyn, Marian Kampik.
W: 2016 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2016), Ottawa, 10-15 July 2016. Piscataway : IEEE, 2016, s. 1-2, bibliogr. 5 poz.

algorytm numeryczny ; pomiar precyzyjny ; algorytm dopasowania do elipsy ; DFT ; pomiary próbkujące ; zespolony stosunek napięć

numerical algorithm ; precise measurement ; Ellipse Fitting Algorithm ; DFT ; sampling measurements ; complex voltage ratio

5/7
Nr opisu: 0000103416   
Comparison of two buffers for impendance metrology.
[Aut.]: Marian Kampik, Janusz Tokarski, Krzysztof Musioł, Wojciech* Barwinek, R. Rybski, J. Kaczmarek, M. Kozioł, J. Nissila.
-Meas. Autom. Monit. 2015 vol. 61 nr 5, s. 127-131, bibliogr. 11 poz.. Punktacja MNiSW 11.000

układ mostkowy ; impedancja ; wzorzec miary ; metrologia ; pomiar precyzyjny

bridge circuit ; impedance ; measurement standard ; metrology ; precision measurement

6/7
Nr opisu: 0000100126
Experiences with a two-terminal-pair digital impedance bridge.
[Aut.]: L. Callegaro, V. D'Elia, Marian Kampik, D. B. Kim, M. Ortolano, F. Pourdanesh.
-IEEE Trans. Instrum. Meas. 2015 vol. 64 no. 6, s. 1460-1465, bibliogr. 16 poz.. Impact Factor 1.808. Punktacja MNiSW 30.000

admitancja ; układ mostkowy ; impedancja ; wzorzec miary ; metrologia ; pomiar precyzyjny

admittance ; bridge circuit ; impedance ; measurement standard ; metrology ; precision measurement

7/7
Nr opisu: 0000097820   
Experiences with a two terminal-pair digital impedance bridge.
[Aut.]: L. Callegaro, V. D'Elia, Marian Kampik, D. B. Kim, M. Ortolano, F. Pourdanesh, N. T. M. Tran.
W: 2014 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2014), Rio de Janeiro, Brazil, 24-29 August 2014. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, s. 222-223, bibliogr. 5 poz.

metrologia ; impedancja ; admitancja ; pomiar precyzyjny ; układ mostkowy ; wzorzec miary

metrology ; impedance ; admittance ; precision measurement ; bridge circuit ; measurement standard

stosując format:
Nowe wyszukiwanie