Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
PODŁOŻE KRZEMOWE
Liczba odnalezionych rekordów:
3
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu:
0000073913
Parametry optyczne cienkich warstw krzemionkowych na podłożach krzemowych.
[Aut.]: E.
Skoczek
, J.
Cisowski
, Paweł
Karasiński
, J.
Jaglarz
, B.
Jarząbek
.
-
Mater. Ceram.
2012 R. 64 nr 2
, s. 282-285, bibliogr. 11 poz..
Punktacja MNiSW
6.000
cienka warstwa krzemowa
;
podłoże krzemowe
;
porowata krzemionka
;
zol-żel
;
elipsometria spektroskopowa
thin silica film
;
silicon substrate
;
porous silica
;
sol-gel
;
spectroscopic ellipsometry
2/3
Nr opisu:
0000063356
Influence of Si substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO
2
thin films studied by XPS and AFM.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, Natalia
Waczyńska
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Appl. Surf. Sci.
2010 vol. 256 iss. 19
, s. 5771-5775, bibliogr. 25 poz..
Impact Factor
1.795
dwutlenek cyny
;
cienka powłoka L-CVD
;
podłoże krzemowe
;
morfologia powierzchni
;
mikroskopia sił atomowych
;
AFM
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
XPS
tin dioxide
;
L-CVD thin film
;
surface morphology
;
atomic force microscopy
;
AFM
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
XPS
3/3
Nr opisu:
0000056438
Local surface morphology and chemistry of SnO
2
thin films deposited by rheotaxial growth and thermal oxidation method for gas sensor application.
[Aut.]: L.
Ottaviano
, Monika
Kwoka
, F.
Bisti
, P.
Parisse
, V.
Grossi
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2009 vol. 517 iss. 22
, s. 6161-6169, bibliogr. 29 poz..
Impact Factor
1.727
dwutlenek cyny
;
RGTO
;
podłoże krzemowe
;
stechiometria
;
dyfrakcja rentgenowska
;
wytrzymałość na zginanie
;
mikroskopia sił atomowych
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
tin dioxide
;
Rheological Growth and Thermal Oxidation (RGTO)
;
surface morphology
;
stoichiometry
;
X-ray diffraction
;
scanning electron microscopy
;
atomic force microscopy
;
X-ray photoelectron spectroscopy
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie