Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
MIKROSKOPOWA SIŁA ATOMOWA
Liczba odnalezionych rekordów:
4
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/4
Nr opisu:
0000090820
Influence of solvent on the surface morphology and optoelectronic properties of a spin coated polymer thin films.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, Magdalena
Szindler
, Magdalena*
Szczęsna
, Marek
Szindler
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2013 vol. 61 iss. 2
, s. 302-307, bibliogr. 18 poz..
Punktacja MNiSW
12.000
MEH-PPV
;
spin-powłoka
;
spektrometr UV/VIS
;
mikroskopowa siła atomowa
MEH-PPV
;
spin-coating
;
spectrometer UV/VIS
;
atomic force microscope
2/4
Nr opisu:
0000082869
Sol gel TiO
2
antireflection coatings for silicon solar cells.
[Aut.]: Leszek**
Dobrzański
, Marek
Szindler
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2012 vol. 52 iss. 1
, s. 7-14, bibliogr. 18 poz..
Punktacja MNiSW
8.000
dwutlenek tytanu
;
warstwa antyrefleksyjna
;
mikroskopowa siła atomowa
;
mikroskop elektronowy skaningowy
;
spektroskopia UV-Vis
titanium dioxide
;
antireflective coating
;
atomic force microscope
;
scanning electron microscope
;
UV-Vis spectroscopy
;
silicon solar cell
3/4
Nr opisu:
0000067005
Reconstruction of thin films polyazomethine based on microscopic images.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, Marek
Szindler
, Agata
Śliwa
, Barbara*
Hajduk
, J.
Jurusik
.
-
Arch. Mater. Sci. Eng.
2011 vol. 48 nr 1
, s. 40-48, bibliogr. 20 poz..
Punktacja MNiSW
9.000
chemiczne osadzanie z fazy gazowej
;
mikroskopowa siła atomowa
;
mikroskop elektronowy skaningowy
;
oprogramowanie WSxM
chemical vapour deposition
;
atomic force microscope
;
scanning electron microscope
;
WSxM software
4/4
Nr opisu:
0000057448
Badania struktury, morfologii powierzchni oraz właściwości sensorowych cienkich warstw SnO
2
.
[Aut.]: Weronika
Izydorczyk
, M.
Pisarek
, Jerzy**
Żak
.
-
Elektronika
2010 R. 51 nr 6
, s. 50-53, bibliogr. 13 poz.
morfologia powierzchni
;
dyfraktometria rentgenowska
;
mikroskopowa siła atomowa
;
mikroskopia AFM
;
spektroskopia elektronów Augera
;
adsorpcja tlenu
surface morphology
;
X-ray diffraction
;
atomic force microscope
;
AFM microscopy
;
Auger electron spectroscopy
;
oxygen adsorption
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie