Wynik wyszukiwania
Zapytanie: MIKROSKOPOWA SIŁA ATOMOWA
Liczba odnalezionych rekordów: 4



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/4
Nr opisu: 0000090820   
Influence of solvent on the surface morphology and optoelectronic properties of a spin coated polymer thin films.
[Aut.]: Jan** Weszka, Magdalena Szindler, Magdalena* Szczęsna, Marek Szindler.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2013 vol. 61 iss. 2, s. 302-307, bibliogr. 18 poz.. Punktacja MNiSW 12.000

MEH-PPV ; spin-powłoka ; spektrometr UV/VIS ; mikroskopowa siła atomowa

MEH-PPV ; spin-coating ; spectrometer UV/VIS ; atomic force microscope

2/4
Nr opisu: 0000082869   
Sol gel TiO2 antireflection coatings for silicon solar cells.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2012 vol. 52 iss. 1, s. 7-14, bibliogr. 18 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

dwutlenek tytanu ; warstwa antyrefleksyjna ; mikroskopowa siła atomowa ; mikroskop elektronowy skaningowy ; spektroskopia UV-Vis

titanium dioxide ; antireflective coating ; atomic force microscope ; scanning electron microscope ; UV-Vis spectroscopy ; silicon solar cell

3/4
Nr opisu: 0000067005   
Reconstruction of thin films polyazomethine based on microscopic images.
[Aut.]: Jan** Weszka, Marek Szindler, Agata Śliwa, Barbara* Hajduk, J. Jurusik.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2011 vol. 48 nr 1, s. 40-48, bibliogr. 20 poz.. Punktacja MNiSW 9.000

chemiczne osadzanie z fazy gazowej ; mikroskopowa siła atomowa ; mikroskop elektronowy skaningowy ; oprogramowanie WSxM

chemical vapour deposition ; atomic force microscope ; scanning electron microscope ; WSxM software

4/4
Nr opisu: 0000057448   
Badania struktury, morfologii powierzchni oraz właściwości sensorowych cienkich warstw SnO2.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, M. Pisarek, Jerzy** Żak.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 6, s. 50-53, bibliogr. 13 poz.

morfologia powierzchni ; dyfraktometria rentgenowska ; mikroskopowa siła atomowa ; mikroskopia AFM ; spektroskopia elektronów Augera ; adsorpcja tlenu

surface morphology ; X-ray diffraction ; atomic force microscope ; AFM microscopy ; Auger electron spectroscopy ; oxygen adsorption

stosując format:
Nowe wyszukiwanie