Wynik wyszukiwania
Zapytanie: MIKROSKOPIA SOND SKANUJĄCYCH
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000133639   
Microscopic investigations of morphology and thermal properties of ZnO thin films grown by atomic layer deposition method.
[Aut.]: Anna Kaźmierczak-Bałata, Jerzy Bodzenta, M. Guziewicz.
-Ultramicroscopy 2020 vol. 210s, art. no. 112923 s. 1-13, bibliogr. 49 poz.. Impact Factor 2.452. Punktacja MNiSW 140.000

mikroskopia sond skanujących ; cienka warstwa ZnO ; przewodnictwo cieplne ; przewodnictwo elektryczne

scanning probe microscopy ; ZnO thin film ; thermal conductivity ; electrical conductivity

2/2
Nr opisu: 0000131144
Scanning thermal microscopy - a tool for thermal measurement in the nanoscale.
[Aut.]: Jerzy Bodzenta.
W: Nanostructured thin films. Fundamentals and applications. Ed. by Maria Benelmekki, Andreas Erbe. Amsterdam : Elsevier, 2019, s. 181-213, bibliogr. 127 poz. (Frontiers of Nanoscience ; vol. 14 1876-2778). Punktacja MNiSW 20.000

pomiar termiczny w nanoskali ; mikroskopia sond skanujących ; skaningowa mikroskopia termiczna ; SPM ; SThM ; transport termiczny w nanoskali

nanoscale thermal measurement ; scanning probe microscopy ; scanning thermal microscopy ; SPM ; SThM ; thermal transport at nanoscale

stosując format:
Nowe wyszukiwanie