Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
FTALOCYJANINA MIEDZI
Liczba odnalezionych rekordów:
9
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/9
Nr opisu:
0000089658
Surface states and space charge layer electronic parameters specification for long term air-exposed copper phthalocyanine thin films.
[Aut.]: Lucyna
Grządziel
, Maciej
Krzywiecki
.
-
Thin Solid Films
2014 vol. 550
, s. 361-366, bibliogr. 29 poz..
Impact Factor
1.759.
Punktacja MNiSW
30.000
półprzewodnik organiczny
;
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
właściwości elektronowe powierzchni
;
wydajność kwantowa fotoemisji
;
dipol powierzchni
;
efekt dipola
organic semiconductor
;
copper phthalocyanine
;
thin film
;
surface electronic properties
;
photoemission yield spectroscopy
;
surface dipole
;
dipole effect
2/9
Nr opisu:
0000077214
Bi-layer nanostructures of CuPc and Pd for resistance-type and SAW-type hydrogen gas sensors.
[Aut.]: Wiesław
Jakubik
, Maciej
Krzywiecki
, Erwin
Maciak
, Marian**
Urbańczyk
.
-
Sens. Actuators, B Chem.
2012 vol. 175
, s. 255-262, bibliogr. 31 poz..
Impact Factor
3.535.
Punktacja MNiSW
40.000
nanostruktura
;
czujnik SAW
;
czujnik rezystancyjny
;
ftalocyjanina miedzi
;
pallad
;
wodór
nanostructure
;
SAW sensor
;
resistance sensor
;
copper phthalocyanine
;
palladium
;
hydrogen
3/9
Nr opisu:
0000084384
The optoelectronic ammonia gas sensor system based on Pd/CuPc interferometric nanostructures.
[Aut.]: Erwin
Maciak
, Tadeusz
Pustelny
, Zbigniew
Opilski
.
W:
Eurosensors 2012
. 26th European Conference on Solid-State Transducers, Kraków, Poland, September 9-12, 2012. Eds: R. Walczak, J. Dziuban. Amsterdam : Elsevier, 2012
, s. 738-741, bibliogr. 5 poz. (
Procedia Engineering
; vol. 47 1877-7058)
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
nanostruktura wielowarstwowa
copper phthalocyanine
;
thin film
;
multi-layered nanostructure
4/9
Nr opisu:
0000077215
Comparative study of surface morphology of copper phthalocyanine ultra thin films deposited on Si (111) native and RCA-cleaned substrates.
[Aut.]: Maciej
Krzywiecki
, Lucyna
Grządziel
, Jerzy
Bodzenta
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2012 vol. 520 iss. 11
, s. 3965-3970, bibliogr. 35 poz..
Impact Factor
1.890.
Punktacja MNiSW
30.000
półprzewodnik organiczny
;
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
mikroskopia sił atomowych
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
obróbka RCA
organic semiconductor
;
copper phthalocyanine
;
thin film
;
atomic force microscopy
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
RCA treatment
;
silicon native substrate
5/9
Nr opisu:
0000063754
Influence of ambient air exposure on surface chemistry and electronic properties of thin copper phthalocyanine sensing layers.
[Aut.]: Lucyna
Grządziel
, Maciej
Krzywiecki
, H.
Peisert
, T.
Chasse
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2011 vol. 519 iss. 7
, s. 2187-2192, bibliogr. 41 poz..
Impact Factor
1.890.
Punktacja MNiSW
30.000
półprzewodnik organiczny
;
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
właściwości elektroniczne
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
spektroskopia fotoelektronów w nadfiolecie
organic semiconductor
;
copper phthalocyanine
;
thin film
;
electronic properties
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
ultraviolet photoelectron spectroscopy
6/9
Nr opisu:
0000056850
Influence of substrate doping on the surface chemistry and morphology of Copper Phthalocyanine ultra thin films on Si (111) substrates.
[Aut.]: Maciej
Krzywiecki
, L.
Ottaviano
, Lucyna
Grządziel
, P.
Parisse
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2009 vol. 517 iss. 5
, s. 1630-1635, bibliogr. 15 poz.
półprzewodnik organiczny
;
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
właściwości powierzchniowe
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
mikroskopia sił atomowych
organic semiconductor
;
copper phthalocyanine
;
thin film
;
surface properties
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
atomic force microscopy
7/9
Nr opisu:
0000048128
XPS study of air exposed copper phthalocyanine ultra-thin films deposited on Si(111) native substrates.
[Aut.]: Maciej
Krzywiecki
, L.
Grzadziel
, L.
Ottaviano
, P.
Parisse
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Mater. Sci. Pol.
2008 vol. 26 no. 2
, s. 287-294, bibliogr. 21 poz..
Impact Factor
0.368
ftalocyjanina miedzi
;
CuPc
;
warstwa cienka
;
chemia powierzchni
copper phthalocyanine
;
CuPc
;
thin film
;
surface chemistry
8/9
Nr opisu:
0000123726
On the correlation between morphology and electronic properties of copper phthalocyanine (CuPc) thin films.
[Aut.]: Lucyna
Grządziel
, Jerzy**
Żak
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2003 vol. 436 iss. 1
, s. 70-75, bibliogr. 23 poz.
Referat wygłoszony na: 3rd International Seminar on Semiconductor Gas Sensors. SGS'2002, Ustroń, Poland, 19-22 September 2002.
Impact Factor
1.598
ftalocyjanina miedzi
;
cienka powłoka
;
fotoemisja
;
mikroskop sił atomowych
copper phthalocyanine
;
thin film
;
photoemission
;
atomic force microscope
9/9
Nr opisu:
0000011696
On the correlation between the morphology and the electronic properties of copper phthalocyanine (CuPc) thin films.
[Aut.]: Lucyna
Grządziel
, Jerzy**
Żak
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2003 vol. 436 iss. 1
, s. 70-75, bibliogr. 23 poz..
Impact Factor
1.598
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
fotoemisja
;
mikroskop sił atomowych
copper phthalocyanine
;
thin film
;
photoemission
;
atomic force microscope
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie