Wynik wyszukiwania
Zapytanie: ELIPSOMETRIA SPEKTROSKOPOWA
Liczba odnalezionych rekordów: 12



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/12
Nr opisu: 0000136423   
Scattering phenomena in porous sol-gel-derived silica films.
[Aut.]: J. Jaglarz, P. Dulian, Paweł Karasiński, P. Winkowski.
-Coatings 2020 vol. 10 iss. 6, s. 1-13, bibliogr. 32 poz.. Impact Factor 2.436. Punktacja MNiSW 100.000

proces zol-żel ; powłoka cienka ; warstwa z krzemionki porowatej ; powłoka antyrefleksyjna ; rozpraszanie światła ; elipsometria spektroskopowa

sol-gel process ; thin film ; porous silica film ; antireflection coating ; light scattering ; spectroscopic ellipsometry

2/12
Nr opisu: 0000134200   
Thermo-optical properties of porous silica thin films produced by sol-gel method.
[Aut.]: J. Jaglarz, P. Dulias, Paweł Karasiński.
-Mater. Chem. Phys. 2020 vol. 243, art. no. 122603 s. 1-6, bibliogr. 36 poz.. Impact Factor 3.408. Punktacja MNiSW 70.000

proces zol-żel ; powłoka cienka ; elipsometria spektroskopowa ; warstwa z krzemionki porowatej ; powłoka antyrefleksyjna

sol-gel process ; thin film ; spectroscopic ellipsometry ; porous silica film ; antireflective coating

3/12
Nr opisu: 0000128475
Badanie rozkładu grubości powierzchni cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej spektroskopowej.
[Aut.]: B. Hajduk, Paweł Jarka, P. Nitschke.
-LAB Laboratoria Apar. Bad. 2019 nr 1, s. 6-8, bibliogr. 3 poz.. Punktacja MNiSW 5.000

elipsometria spektroskopowa ; mapowanie powierzchni ; warstwa cienka

spectroscopic ellipsometry ; surface mapping ; thin layer

4/12
Nr opisu: 0000132458
Pomiar temperatury zeszklenia metodą zmiennotemperaturowej elipsometrii spektroskopowej.
[Aut.]: B. Hajduk, Paweł Jarka, H. Janeczek.
-LAB Laboratoria Apar. Bad. 2019 nr 5, s. 12-14, 29, bibliogr. 8 poz.. Punktacja MNiSW 5.000

elipsometria spektroskopowa ; pomiar temperatury ; przemiany termiczne

spectroscopic ellipsometry ; temperature measurement ; thermal transformations

5/12
Nr opisu: 0000126574   
Synthesis, ellipsometry and non-linear optical features of substituted 1,3,5-triphenylpyrazolines.
[Aut.]: E. Gondek, J. Nizioł, A. Danel, M. Kucharek, J. Jędryka, Paweł Karasiński, N. Nosidlak, A. A. Fedorchuk.
-Dyes and Pigments 2019 vol. 162, s. 741-745, bibliogr. 31 poz.. Impact Factor 4.613. Punktacja MNiSW 100.000

optyka nieliniowa ; metoda DFT ; elipsometria spektroskopowa ; pirazolina

nonlinear optics ; DFT method ; spectroscopic ellipsometry ; pyrazoline

6/12
Nr opisu: 0000122509   
Effect of temperature changes on parameters of the sol-gel derived silica-titania films.
[Aut.]: J. Nizioł, E. Gondek, Paweł Karasiński.
-Mater. Lett. 2018 vol. 223, s. 102-104, bibliogr. 12 poz.. Impact Factor 3.019. Punktacja MNiSW 35.000

metoda zol-żel ; powłoka krzemionkowo-tytanowa ; elipsometria spektroskopowa ; współczynnik załamania światła ; cienka powłoka ; falowód płaski

sol-gel method ; silica-titania film ; spectroscopic ellipsometry ; refractive index ; thin film ; slab waveguide

7/12
Nr opisu: 0000108285   
Manufacturing and investigation of physical properties of polyacrylonitrile nanofibre composites with SiO2, TiO2 and Bi2O3 nanoparticles.
[Aut.]: Tomasz Tański, Wiktor Matysiak, Barbara* Hajduk.
-Beilstein J. Nanotechnol. 2016 vol. 7, s. 1141-1155, bibliogr. 43 poz.. Impact Factor 3.127. Punktacja MNiSW 35.000

nanocząstki ceramiczne ; metoda elektroprzędzenia ; poliakrylonitryl ; nanowłóknisty polimer kompozytowy ; elipsometria spektroskopowa

ceramic nanoparticles ; electrospinning method ; polyacrylonitrile ; polymer composite nanofibre ; spectroscopic ellipsometry

8/12
Nr opisu: 0000103515   
Surface morphology and optical properties of Al2O3 thin films deposited by ALD method.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler, Magdalena Szindler.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2015 vol. 73 nr 1, s. 18-24, bibliogr. 26 poz.. Punktacja MNiSW 13.000

powłoka cienka ; tlenek glinu ; mikroskop sił atomowych ; elipsometria spektroskopowa

thin film ; aluminium oxide ; atomic force microscope ; spectroscopic ellipsometry

9/12
Nr opisu: 0000096774   
Sol-gel Al2O3 antireflection coatings for silicon solar cells.
[Aut.]: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler, Magdalena Szindler, B. Hajduk.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2014 vol. 67 nr 1, s. 24-31, bibliogr. 25 poz.. Punktacja MNiSW 13.000

powłoka cienka ; tlenek glinu ; mikroskop sił atomowych ; elipsometria spektroskopowa ; spektroskopia UV-Vis

thin film ; aluminium oxide ; atomic force microscope ; spectroscopic ellipsometry ; UV-Vis spectroscopy

10/12
Nr opisu: 0000092466   
Thermo-optical properties of 1H[3,4-b] quinoline films used in electroluminescent devices.
[Aut.]: J. Jaglarz, Mirosława Kępińska, J. Sanetra.
-Opt. Mater. 2014 vol. 36 iss. 8, s. 1275-1280, bibliogr. 26 poz.. Impact Factor 1.981. Punktacja MNiSW 35.000

elipsometria spektroskopowa ; właściwości termooptyczne ; warstwa chinoliny

spectroscopic ellipsometry ; thermo-optical coefficient ; quinoline film

11/12
Nr opisu: 0000073913   
Parametry optyczne cienkich warstw krzemionkowych na podłożach krzemowych.
[Aut.]: E. Skoczek, J. Cisowski, Paweł Karasiński, J. Jaglarz, B. Jarząbek.
-Mater. Ceram. 2012 R. 64 nr 2, s. 282-285, bibliogr. 11 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

cienka warstwa krzemowa ; podłoże krzemowe ; porowata krzemionka ; zol-żel ; elipsometria spektroskopowa

thin silica film ; silicon substrate ; porous silica ; sol-gel ; spectroscopic ellipsometry

12/12
Nr opisu: 0000063444   
Optical investigations of AlSiSiC composites subjected to laser CO2 annealing.
[Aut.]: J. Jaglarz, Andrzej Grabowski.
-Opt. Laser Eng. 2010 vol. 48 nr 10, s. 1038-1044, bibliogr. 17 poz.. Impact Factor 1.576

materiały kompozytowe ; odbicie optyczne ; rozproszenie optyczne ; elipsometria spektroskopowa

composite materials ; optical reflection ; optical scattering ; spectroscopic ellipsometry

stosując format:
Nowe wyszukiwanie