Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
CIENKA POWŁOKA L-CVD
Liczba odnalezionych rekordów:
5
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/5
Nr opisu:
0000082832
Photoemission studies of the surface electronic properties of L-CVD SnO
2
ultra thin films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, Jacek**
Szuber
.
-
Appl. Surf. Sci.
2012 vol. 258 iss. 21
, s. 8425-8429, bibliogr. 30 poz..
Impact Factor
2.112.
Punktacja MNiSW
30.000
cienka powłoka L-CVD
;
poziom Fermiego
;
dwutlenek cyny
L-CVD thin film
;
Fermi level
;
tin dioxide
2/5
Nr opisu:
0000063356
Influence of Si substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO
2
thin films studied by XPS and AFM.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, Natalia
Waczyńska
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Appl. Surf. Sci.
2010 vol. 256 iss. 19
, s. 5771-5775, bibliogr. 25 poz..
Impact Factor
1.795
dwutlenek cyny
;
cienka powłoka L-CVD
;
podłoże krzemowe
;
morfologia powierzchni
;
mikroskopia sił atomowych
;
AFM
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
XPS
tin dioxide
;
L-CVD thin film
;
surface morphology
;
atomic force microscopy
;
AFM
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
XPS
3/5
Nr opisu:
0000047687
XPS study of the surface chemistry of Ag-covered L-CVD SnO
2
thin films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, M.
Passacantando
, G.
Czempik
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Appl. Surf. Sci.
2008 vol. 254 iss. 24
, s. 8089-8092, bibliogr. 13 poz..
Impact Factor
1.576
dwutlenek cyny
;
cienka powłoka L-CVD
;
domieszkowanie Ag
;
XPS
;
chemia powierzchni
;
profilowanie głębokościowe
tin dioxide
;
L-CVD thin film
;
Ag-doping
;
XPS
;
surface chemistry
;
depth profiling
4/5
Nr opisu:
0000039992
AFM study of the surface morphology of L-CVD SnO
2
thin films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2007 vol. 515 iss. 23
, s. 8328-8331, bibliogr. 14 poz..
Impact Factor
1.693
dwutlenek cyny
;
cienka powłoka L-CVD
;
mikroskopia sił atomowych
;
morfologia powierzchni
tin dioxide
;
L-CVD thin film
;
atomic force microscopy
;
surface morphology
5/5
Nr opisu:
0000036413
Studies of surface properties of L-CVD SnO
2
thin films. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Monika
Kwoka
.
Gliwice, 2007, 128 k., bibliogr. 84 poz. + zał.: 46 k.
Politechnika Śląska. Wydział Matematyczno-Fizyczny. Promotor: prof. dr hab. inż. Jacek** Szuber
cienka warstwa SnO2
;
cienka powłoka L-CVD
;
dwutlenek cyny
;
spektroskopia fotoelektronowa
;
mikroskopia sił atomowych
;
chemia powierzchni
;
własności elektronowe
;
morfologia powierzchni
;
osadzanie
SnO2 thin film
;
L-CVD thin film
;
tin dioxide
;
photoelectron spectroscopy
;
atomic force microscopy
;
surface chemistry
;
electronic properties
;
surface morphology
;
deposition
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie