Wynik wyszukiwania
Zapytanie: ANALOGOWY UKŁAD SCALONY
Liczba odnalezionych rekordów: 10



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/10
Nr opisu: 0000082465   
Evolutionary algorithms for global parametric fault diagnosis in analogue integrated circuits.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
-Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2012 vol. 60 no. 1, s. 133-142, bibliogr. 38 poz.. Impact Factor 0.980. Punktacja MNiSW 30.000

analogowy układ scalony ; diagnozowanie usterek ; lokalizacja ; identyfikacja ; algorytm ewolucyjny

analogue integrated circuit ; fault diagnosis ; localization ; identification ; evolutionary algorithm

2/10
Nr opisu: 0000059491   
Diagnostyka analogowych układów scalonych metodą monitorowania prądu zasilania w ewolucyjnie dobranych punktach pomiarowych.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 17-20, bibliogr. 6 poz.

genotyp ; populacja ; reprodukcja ; krzyżowanie ; mutacja ; diagnostyka ; analogowy układ scalony

genotype ; population ; reproduction ; crossover ; mutation ; diagnosis ; analog integrated circuit

3/10
Nr opisu: 0000082627
Diagnostyka analogowych układów scalonych metodą monitorowania prądu zasilania w ewolucyjnie dobranych punktach pomiarowych.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Dziewiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 30.05-02.06.2010]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2010, s. 48
Pełny tekst na CD-ROM

genotyp ; populacja ; reprodukcja ; krzyżowanie ; mutacja ; diagnostyka ; analogowy układ scalony

genotype ; population ; reproduction ; crossover ; mutation ; diagnosis ; analog integrated circuit

4/10
Nr opisu: 0000070254
Diagnostyka globalnych uszkodzeń parametrycznych w analogowych układach scalonych.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
W: Dziewiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 30.05-02.06.2010]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2010, s. 45
Pełny tekst na CD-ROM

analogowy układ scalony ; algorytm ewolucyjny ; diagnostyka

analog integrated circuit ; evolutionary algorithm ; diagnostics

5/10
Nr opisu: 0000056513   
A global parametric faults diagnosis with the use of artificial neural networks.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: European Conference on Circuit Theory and Design. ECCTD 2009, Antalya, Turkey, 23-27 August 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 651-654, bibliogr. 11 poz.

sztuczna sieć neuronowa ; diagnostyka uszkodzeń ; analogowy układ scalony

artificial neural network ; fault diagnosis ; analog integrated circuit

6/10
Nr opisu: 0000056441   
Global parametric faults identification with the use of differential evolution.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Proceedings of the 2009 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. DDECS'2009, Liberec, Czech Republic, April 15-17, 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 222-225, bibliogr. 10 poz.

analogowy układ scalony ; diagnostyka uszkodzeń ; wzmacniacz operacyjny

analog integrated circuit ; fault diagnosis ; operational amplifier

7/10
Nr opisu: 0000043102   
Globalne uszkodzenia parametryczne w testowaniu analogowych układów scalonych.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 122-125, bibliogr. 11 poz.

analogowy układ scalony ; testowanie ; globalne uszkodzenie parametryczne ; diagnostyka uszkodzeń

analog integrated circuit ; testing ; global parametric fault ; fault diagnosis

8/10
Nr opisu: 0000038044   
Heuristic methods to test frequencies optimization for analogue circuits diagnosis.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2008 vol. 56 no. 1, s. 29-38, bibliogr. 20 poz.

analogowy układ elektroniczny ; analogowy układ scalony ; logika rozmyta ; ekspresja genów ; algorytm genetyczny ; wyżarzanie

analog electronic circuit ; analog integrated circuit ; fuzzy logic ; gene expression ; genetic algorithm ; annealing

9/10
Nr opisu: 0000048020   
The influence of global parametric faults on analogue electronic circuits time domain response features.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: 2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008. Proceedings. Eds: B. Straube [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 299-303, bibliogr. 8 poz.

analogowy układ scalony ; analiza w dziedzinie czasu ; diagnostyka błędów

analog integrated circuit ; time domain analysis ; fault diagnosis

10/10
Nr opisu: 0000019838   
A 2.4-GHz RF sampling receiver front-end in 0.18-μm CMOS.
[Aut.]: D. Jakonis, K. Folkesson, Jerzy** Dąbrowski, P. Eriksson, C. Svensson.
-IEEE J. Solid-State Circuits 2005 vol. 40 iss. 6, s. 1265-1277, bibliogr. 27 poz.. Impact Factor 1.969

filtr środkowo-przepustowy ; układ scalony CMOS ; analogowy układ scalony ; mikser ; odbiornik radiowy ; układ próbkujący-pamiętający ; kondensator przełączany

bandpass filter ; CMOS integrated circuit ; analog integrated circuit ; mixer ; radio receiver ; sample and hold circuit ; switched capacitor

stosując format:
Nowe wyszukiwanie