Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
ANALOGOWY UKŁAD SCALONY
Liczba odnalezionych rekordów:
10
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/10
Nr opisu:
0000082465
Evolutionary algorithms for global parametric fault diagnosis in analogue integrated circuits.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
-
Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci.
2012 vol. 60 no. 1
, s. 133-142, bibliogr. 38 poz..
Impact Factor
0.980.
Punktacja MNiSW
30.000
analogowy układ scalony
;
diagnozowanie usterek
;
lokalizacja
;
identyfikacja
;
algorytm ewolucyjny
analogue integrated circuit
;
fault diagnosis
;
localization
;
identification
;
evolutionary algorithm
2/10
Nr opisu:
0000059491
Diagnostyka analogowych układów scalonych metodą monitorowania prądu zasilania w ewolucyjnie dobranych punktach pomiarowych.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
-
Elektronika
2010 R. 51 nr 9
, s. 17-20, bibliogr. 6 poz.
genotyp
;
populacja
;
reprodukcja
;
krzyżowanie
;
mutacja
;
diagnostyka
;
analogowy układ scalony
genotype
;
population
;
reproduction
;
crossover
;
mutation
;
diagnosis
;
analog integrated circuit
3/10
Nr opisu:
0000082627
Diagnostyka analogowych układów scalonych metodą monitorowania prądu zasilania w ewolucyjnie dobranych punktach pomiarowych.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Dziewiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 30.05-02.06.2010]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2010
, s. 48
Pełny tekst na CD-ROM
genotyp
;
populacja
;
reprodukcja
;
krzyżowanie
;
mutacja
;
diagnostyka
;
analogowy układ scalony
genotype
;
population
;
reproduction
;
crossover
;
mutation
;
diagnosis
;
analog integrated circuit
4/10
Nr opisu:
0000070254
Diagnostyka globalnych uszkodzeń parametrycznych w analogowych układach scalonych.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Dziewiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 30.05-02.06.2010]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2010
, s. 45
Pełny tekst na CD-ROM
analogowy układ scalony
;
algorytm ewolucyjny
;
diagnostyka
analog integrated circuit
;
evolutionary algorithm
;
diagnostics
5/10
Nr opisu:
0000056513
A global parametric faults diagnosis with the use of artificial neural networks.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
European Conference on Circuit Theory and Design
. ECCTD 2009, Antalya, Turkey, 23-27 August 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009
, s. 651-654, bibliogr. 11 poz.
sztuczna sieć neuronowa
;
diagnostyka uszkodzeń
;
analogowy układ scalony
artificial neural network
;
fault diagnosis
;
analog integrated circuit
6/10
Nr opisu:
0000056441
Global parametric faults identification with the use of differential evolution.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Proceedings of the 2009 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
. DDECS'2009, Liberec, Czech Republic, April 15-17, 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009
, s. 222-225, bibliogr. 10 poz.
analogowy układ scalony
;
diagnostyka uszkodzeń
;
wzmacniacz operacyjny
analog integrated circuit
;
fault diagnosis
;
operational amplifier
7/10
Nr opisu:
0000043102
Globalne uszkodzenia parametryczne w testowaniu analogowych układów scalonych.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
-
Elektronika
2008 R. 49 nr 11
, s. 122-125, bibliogr. 11 poz.
analogowy układ scalony
;
testowanie
;
globalne uszkodzenie parametryczne
;
diagnostyka uszkodzeń
analog integrated circuit
;
testing
;
global parametric fault
;
fault diagnosis
8/10
Nr opisu:
0000038044
Heuristic methods to test frequencies optimization for analogue circuits diagnosis.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
-
Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci.
2008 vol. 56 no. 1
, s. 29-38, bibliogr. 20 poz.
analogowy układ elektroniczny
;
analogowy układ scalony
;
logika rozmyta
;
ekspresja genów
;
algorytm genetyczny
;
wyżarzanie
analog electronic circuit
;
analog integrated circuit
;
fuzzy logic
;
gene expression
;
genetic algorithm
;
annealing
9/10
Nr opisu:
0000048020
The influence of global parametric faults on analogue electronic circuits time domain response features.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008
. Proceedings. Eds: B. Straube [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008
, s. 299-303, bibliogr. 8 poz.
analogowy układ scalony
;
analiza w dziedzinie czasu
;
diagnostyka błędów
analog integrated circuit
;
time domain analysis
;
fault diagnosis
10/10
Nr opisu:
0000019838
A 2.4-GHz RF sampling receiver front-end in 0.18-μm CMOS.
[Aut.]: D.
Jakonis
, K.
Folkesson
, Jerzy**
Dąbrowski
, P.
Eriksson
, C.
Svensson
.
-
IEEE J. Solid-State Circuits
2005 vol. 40 iss. 6
, s. 1265-1277, bibliogr. 27 poz..
Impact Factor
1.969
filtr środkowo-przepustowy
;
układ scalony CMOS
;
analogowy układ scalony
;
mikser
;
odbiornik radiowy
;
układ próbkujący-pamiętający
;
kondensator przełączany
bandpass filter
;
CMOS integrated circuit
;
analog integrated circuit
;
mixer
;
radio receiver
;
sample and hold circuit
;
switched capacitor
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie