Wyniki wyszukiwania

Wynik wyszukiwania

Zapytanie: ANALOGOWY UKŁAD ELEKTRONICZNY
Liczba odnalezionych rekordów: 27

| | | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel |

1/27
Nr opisu: 0000138809
Analog circuits specification driven testing by means of digital stream and non-linear estimation model optimized evolutionarily.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Łukasz Chruszczyk.
-Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2020 vol. 68 no. 6, s. 1283-1299, bibliogr. 35 poz.. Impact Factor 1.385. Punktacja MNiSW 100.000

analogowy układ elektroniczny ; testowanie sterowane specyfikacją ; obliczenia ewolucyjne ; regresja wielokrotna

analog electronic circuit ; specification driven testing ; evolutionary computations ; multiple regression

2/27
Nr opisu: 0000137812
Ewolucyjna metoda testowania funkcjonalnego analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Tomasz Golonek.
W: Prace Komisji Naukowych. z. 41-42. Katowice : Polska Akademia Nauk. Oddział w Katowicach, 2019, s. 273-276

analogowy układ elektroniczny ; testowanie funkcjonalne

analog electronic circuit ; functional testing

3/27
Nr opisu: 0000074609
Hybrydowe metody testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych. Wybrane zagadnienia.
[Aut.]: Damian Grzechca.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2012, 166 s., bibliogr. 169 poz.
(Monografia ; [Politechnika Śląska] nr 395)
Rozprawa habilitacyjna

analogowy układ elektroniczny ; diagnostyka ; metoda hybrydowa ; testowanie układu analogowego

analog electronic circuit ; diagnostics ; hybrid method ; analogue circuit testing

4/27
Nr opisu: 0000082690
Zastosowanie transformaty Walsha-Hadamarda do diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos.
W: Jedenasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-14.06.2012]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2012, s. 64
Pełny tekst na CD-ROM

analogowy układ elektroniczny ; diagnostyka układów analogowych ; transformata Walsha-Hadamarda ; korelacja Pearsona ; regresja liniowa

analog electronic circuit ; analog circuit diagnosis ; Walsh-Hadamard transform ; Pearson correlation ; linear regression

5/27
Nr opisu: 0000071521
A functional testing of analogue electronic circuits with the use of specification approximation in the time-domain response features space.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-Prz. Elektrot. 2011 R. 87 nr 10, s. 110-113, bibliogr. 15 poz.. Impact Factor 0.244. Punktacja MNiSW 15.000

triangulacja Delaunaya ; testowanie funkcjonalne ; analogowy układ elektroniczny ; sztuczna sieć neuronowa

Delaunay's triangulation ; specification driven testing ; analogue electronic circuit ; artificial neural network

6/27
Nr opisu: 0000081583
An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2011, dysk optyczny (CD-ROM) s. 485-489

analogowy układ elektroniczny ; testowanie funkcjonalne ; czas odpowiedzi

analogue electronic circuits ; functional testing ; response time

7/27
Nr opisu: 0000071513
Soft fault clustering in analog electronic circuits with the use of self organizing neural network.
[Aut.]: Damian Grzechca.
-Metrol. Meas. Syst. 2011 vol. 18 nr 4, s. 555-568, bibliogr. 46 poz.. Impact Factor 0.764. Punktacja MNiSW 20.000

wykrywanie uszkodzeń ; uszkodzenia parametryczne ; analogowy układ elektroniczny ; samoorganizująca się sieć neuronowa

fault detection ; parametric faults ; analogue electronic circuit ; self-organizing neural network

8/27
Nr opisu: 0000082610
Testowanie funkcjonalne analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem aproksymacji specyfikacji w przestrzeni cech odpowiedzi układu testowanego.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 231
Pełny tekst na CD-ROM

triangulacja Delaunaya ; testowanie funkcjonalne ; analogowy układ elektroniczny ; sztuczna sieć neuronowa

Delaunay's triangulation ; specification driven testing ; analog electronic circuit ; artificial neural network

9/27
Nr opisu: 0000082611
Zastosowanie pobudzenia pasmowego do testowania analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 232
Pełny tekst na CD-ROM

analogowy układ elektroniczny ; testowanie układu analogowego ; obliczenia ewolucyjne ; gęstość widmowa ; szereg Fouriera

analog electronic circuit ; analogue circuit testing ; evolutionary computations ; spectral density ; Fourier series

10/27
Nr opisu: 0000062779
Generacja cykli fundamentalnych metodą dynamicznego budowania drzewa grafu.
[Aut.]: Andrzej Pułka, Ł. Golly.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 12, s. 75-77, bibliogr. 9 poz.

teoria grafów ; teoria obwodów ; analiza symboliczna ; analogowy układ elektroniczny

graph theory ; circuit theory ; symbolic analysis ; analog electronic circuit

11/27
Nr opisu: 0000056515
Faults classification in analog electronic circuits with use of the SVM algorithm.
[Aut.]: Damian Grzechca, S. Czeczótka.
W: European Conference on Circuit Theory and Design. ECCTD 2009, Antalya, Turkey, 23-27 August 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 659-662, bibliogr. 5 poz.

analogowy układ elektroniczny ; SVM ; Maszyna Wektorów Nośnych

analog electronic circuit ; SVM ; Support Vector Machine

12/27
Nr opisu: 0000052106
Wykorzystanie algorytmu PSO w diagnostyce analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł, Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 10, s. 57-59, bibliogr. 5 poz.

optymalizacja rojem cząstek ; PSO ; analogowy układ elektroniczny

particle swarm optimization ; PSO ; analog electronic circuit

13/27
Nr opisu: 0000038044
Heuristic methods to test frequencies optimization for analogue circuits diagnosis.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2008 vol. 56 no. 1, s. 29-38, bibliogr. 20 poz.

analogowy układ elektroniczny ; analogowy układ scalony ; logika rozmyta ; ekspresja genów ; algorytm genetyczny ; wyżarzanie

analog electronic circuit ; analog integrated circuit ; fuzzy logic ; gene expression ; genetic algorithm ; annealing

14/27
Nr opisu: 0000032119
Ewolucyjny dobór częstotliwości sygnałów testujących z rozmytą inicjalizacją systemu.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Książek Technicznych SIGMA-NOT, 2007, s. 72-75, bibliogr. 12 poz. (Elektronika ; R. 48, nr 11 0033-2089)

analogowy układ elektroniczny ; optymalna częstotliwość

analog electronic circuit ; optimal frequency

15/27
Nr opisu: 0000032118
Ewolucyjny projektant filtrów.
[Aut.]: Tomasz Golonek, S. Fedrizzi, Damian Grzechca.
W: VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Książek Technicznych SIGMA-NOT, 2007, s. 58-61, bibliogr. 10 poz. (Elektronika ; R. 48, nr 11 0033-2089)

analogowy układ elektroniczny ; ewolucyjny system optymalizacji

analog electronic circuit ; evolutionary optimization system

16/27
Nr opisu: 0000031567
Finding of optimal excitation signal for testing of analog electric circuits.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
-Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2007 vol. 55 no. 3, s. 273-280, bibliogr. 5 poz.

wykrywanie uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; diagnostyka uszkodzeń ; analogowy układ elektroniczny ; transformata falkowa ; algorytm genetyczny

fault detection ; fault location ; fault diagnosis ; analog electronic circuit ; wavelet transform ; genetic algorithm

17/27
Nr opisu: 0000031908
Optimal excitation in fault diagnosis of analog electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2007. Proceedings of the 14th international conference, Ciechocinek, Poland, 21-23 June 2007. Ed. by A. Napieralski. [Łódź] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2007, s. 523-528, bibliogr. 4 poz.

analogowy układ elektroniczny ; diagnostyka uszkodzeń ; słownik uszkodzeń ; transformata falkowa

analog electronic circuit ; fault diagnosis ; fault dictionary ; wavelet transform

18/27
Nr opisu: 0000031052
Optymalizacja uzysku analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 125-130, bibliogr. 8 poz.

optymalizacja uzysku ; analogowy układ elektroniczny ; koszt produkcji ; algorytm genetyczny ; strategia ewolucyjna

yield optimization ; analog electronic circuit ; production cost ; genetic algorithm ; evolutionary strategy

19/27
Nr opisu: 0000032124
Wykorzystanie metody symulowanego wyżarzania do doboru optymalnego pobudzenia testującego analogowe układy elektroniczne.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Książek Technicznych SIGMA-NOT, 2007, s. 121-124, bibliogr. 5 poz. (Elektronika ; R. 48, nr 11 0033-2089)

wyżarzanie symulowane ; analogowy układ elektroniczny

simulated annealing ; analog electronic circuit

20/27
Nr opisu: 0000032117
Wykorzystanie neuronowych sieci modularnych do diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: I. Kurowski, Jerzy** Rutkowski.
W: VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Książek Technicznych SIGMA-NOT, 2007, s. 37-39, bibliogr. 13 poz. (Elektronika ; R. 48, nr 11 0033-2089)

analogowy układ elektroniczny ; klasyfikator neuronowy ; sieć neuronowa

analog electronic circuit ; neural classifier ; neural network

21/27
Nr opisu: 0000031023
Wykorzystanie neuronowych sieci modularnych do diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: I. Kurowski, Jerzy** Rutkowski.
W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 71-76, bibliogr. 13 poz.

analogowy układ elektroniczny ; diagnostyka układów analogowych ; klasyfikator neuronowy ; RBF ; sieć neuronowa ; słownik uszkodzeń ; metoda BKS ; modularna sieć neuronowa

analogue electronic circuit ; analog circuit diagnosis ; neural classifier ; RBF ; neural network ; dictionary of damages ; BKS method ; analog electronic circuit ; modular neural network ; dictionary of faults

22/27
Nr opisu: 0000031053
Zastosowanie programowania wyrażeń genetycznych do wyboru optymalnego zbioru częstotliwości w diagnostyce analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca.
W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 143-148, bibliogr. 6 poz.

diagnostyka uszkodzeń ; analogowy układ elektroniczny ; słownik uszkodzeń ; programowanie wyrażeń genetycznych ; algorytm ewolucyjny ; GEP

fault diagnosis ; analogue electronic circuit ; dictionary of damages ; gene expression programming ; evolutionary algorithm ; GEP ; analog electronic circuit ; dictionary of faults

23/27
Nr opisu: 0000013962
Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 13-22, bibliogr.

testowanie ; diagnostyka uszkodzeń ; analogowy układ elektroniczny

testing ; fault diagnosis ; analog electronic circuit

24/27
Nr opisu: 0000013975
Straty mocy w układach wzmacniaczy klasy G i klasy H - analiza teoretyczna i wnioski.
[Aut.]: Adam* Kristof.
W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 235-240, bibliogr. 12 poz.

wzmacniacz mocy ; straty mocy ; sprawność energetyczna ; analogowy układ elektroniczny

power amplifier ; power losses ; energetic efficiency ; analog electronic circuit

25/27
Nr opisu: 0000013969
Wykorzystanie ewolucyjnych technik obliczeniowych do centrowania układów elektronicznych.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, Ł. Zieliński.
W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 145-150, bibliogr. 11 poz.

centrowanie ; strategia ewolucyjna ; analogowy układ elektroniczny ; optymalizacja

centering ; evolutionary strategy ; analog electronic circuit ; optimization

26/27
Nr opisu: 0000018460
Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski.
Warszawa : Wydaw. Komunikacji i Łączności, 2003, 176 s., bibliogr.

analogowy układ elektroniczny

analog electronic circuit

27/27
Nr opisu: 0000013070
Wykorzystanie sieci neuronowych i technik rozmytych do testowania analogowych układów elektronicznych. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Damian Grzechca.
Gliwice, 2003, 99 s., bibliogr. 44 poz.
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Promotor: dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski

analogowy układ elektroniczny ; diagnostyka uszkodzeń ; sieć neuronowa ; teoria zbiorów rozmytych ; testowanie analogowych układów elektronicznych

analog electronic circuit ; fault diagnosis ; neural network ; fuzzy set theory ; analog circuit fault diagnosis

stosując format: