Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
ANALOGOWY UKŁAD ELEKTRONICZNY
Liczba odnalezionych rekordów:
27
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/27
Nr opisu:
0000138809
Analog circuits specification driven testing by means of digital stream and non-linear estimation model optimized evolutionarily.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Łukasz
Chruszczyk
.
-
Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci.
2020 vol. 68 no. 6
, s. 1283-1299, bibliogr. 35 poz..
Impact Factor
1.385.
Punktacja MNiSW
100.000
analogowy układ elektroniczny
;
testowanie sterowane specyfikacją
;
obliczenia ewolucyjne
;
regresja wielokrotna
analog electronic circuit
;
specification driven testing
;
evolutionary computations
;
multiple regression
2/27
Nr opisu:
0000137812
Ewolucyjna metoda testowania funkcjonalnego analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
.
W:
Prace Komisji Naukowych
. z. 41-42. Katowice : Polska Akademia Nauk. Oddział w Katowicach, 2019
, s. 273-276
analogowy układ elektroniczny
;
testowanie funkcjonalne
analog electronic circuit
;
functional testing
3/27
Nr opisu:
0000074609
Hybrydowe metody testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych. Wybrane zagadnienia.
[Aut.]: Damian
Grzechca
.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2012, 166 s., bibliogr. 169 poz.
(
Monografia
;
[Politechnika Śląska]
nr 395)
Rozprawa habilitacyjna
analogowy układ elektroniczny
;
diagnostyka
;
metoda hybrydowa
;
testowanie układu analogowego
analog electronic circuit
;
diagnostics
;
hybrid method
;
analogue circuit testing
4/27
Nr opisu:
0000082690
Zastosowanie transformaty Walsha-Hadamarda do diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Piotr*
Jantos
.
W:
Jedenasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-14.06.2012]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2012
, s. 64
Pełny tekst na CD-ROM
analogowy układ elektroniczny
;
diagnostyka układów analogowych
;
transformata Walsha-Hadamarda
;
korelacja Pearsona
;
regresja liniowa
analog electronic circuit
;
analog circuit diagnosis
;
Walsh-Hadamard transform
;
Pearson correlation
;
linear regression
5/27
Nr opisu:
0000071521
A functional testing of analogue electronic circuits with the use of specification approximation in the time-domain response features space.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
-
Prz. Elektrot.
2011 R. 87 nr 10
, s. 110-113, bibliogr. 15 poz..
Impact Factor
0.244.
Punktacja MNiSW
15.000
triangulacja Delaunaya
;
testowanie funkcjonalne
;
analogowy układ elektroniczny
;
sztuczna sieć neuronowa
Delaunay's triangulation
;
specification driven testing
;
analogue electronic circuit
;
artificial neural network
6/27
Nr opisu:
0000081583
An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Mixed design of integrated circuits and systems
. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2011
, dysk optyczny (CD-ROM) s. 485-489
analogowy układ elektroniczny
;
testowanie funkcjonalne
;
czas odpowiedzi
analogue electronic circuits
;
functional testing
;
response time
7/27
Nr opisu:
0000071513
Soft fault clustering in analog electronic circuits with the use of self organizing neural network.
[Aut.]: Damian
Grzechca
.
-
Metrol. Meas. Syst.
2011 vol. 18 nr 4
, s. 555-568, bibliogr. 46 poz..
Impact Factor
0.764.
Punktacja MNiSW
20.000
wykrywanie uszkodzeń
;
uszkodzenia parametryczne
;
analogowy układ elektroniczny
;
samoorganizująca się sieć neuronowa
fault detection
;
parametric faults
;
analogue electronic circuit
;
self-organizing neural network
8/27
Nr opisu:
0000082610
Testowanie funkcjonalne analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem aproksymacji specyfikacji w przestrzeni cech odpowiedzi układu testowanego.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011
, s. 231
Pełny tekst na CD-ROM
triangulacja Delaunaya
;
testowanie funkcjonalne
;
analogowy układ elektroniczny
;
sztuczna sieć neuronowa
Delaunay's triangulation
;
specification driven testing
;
analog electronic circuit
;
artificial neural network
9/27
Nr opisu:
0000082611
Zastosowanie pobudzenia pasmowego do testowania analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Piotr*
Jantos
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011
, s. 232
Pełny tekst na CD-ROM
analogowy układ elektroniczny
;
testowanie układu analogowego
;
obliczenia ewolucyjne
;
gęstość widmowa
;
szereg Fouriera
analog electronic circuit
;
analogue circuit testing
;
evolutionary computations
;
spectral density
;
Fourier series
10/27
Nr opisu:
0000062779
Generacja cykli fundamentalnych metodą dynamicznego budowania drzewa grafu.
[Aut.]: Andrzej
Pułka
, Ł.
Golly
.
-
Elektronika
2010 R. 51 nr 12
, s. 75-77, bibliogr. 9 poz.
teoria grafów
;
teoria obwodów
;
analiza symboliczna
;
analogowy układ elektroniczny
graph theory
;
circuit theory
;
symbolic analysis
;
analog electronic circuit
11/27
Nr opisu:
0000056515
Faults classification in analog electronic circuits with use of the SVM algorithm.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, S.
Czeczótka
.
W:
European Conference on Circuit Theory and Design
. ECCTD 2009, Antalya, Turkey, 23-27 August 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009
, s. 659-662, bibliogr. 5 poz.
analogowy układ elektroniczny
;
SVM
;
Maszyna Wektorów Nośnych
analog electronic circuit
;
SVM
;
Support Vector Machine
12/27
Nr opisu:
0000052106
Wykorzystanie algorytmu PSO w diagnostyce analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Piotr*
Kyzioł
, Jerzy**
Rutkowski
, Damian
Grzechca
.
-
Elektronika
2009 R. 50 nr 10
, s. 57-59, bibliogr. 5 poz.
optymalizacja rojem cząstek
;
PSO
;
analogowy układ elektroniczny
particle swarm optimization
;
PSO
;
analog electronic circuit
13/27
Nr opisu:
0000038044
Heuristic methods to test frequencies optimization for analogue circuits diagnosis.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
-
Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci.
2008 vol. 56 no. 1
, s. 29-38, bibliogr. 20 poz.
analogowy układ elektroniczny
;
analogowy układ scalony
;
logika rozmyta
;
ekspresja genów
;
algorytm genetyczny
;
wyżarzanie
analog electronic circuit
;
analog integrated circuit
;
fuzzy logic
;
gene expression
;
genetic algorithm
;
annealing
14/27
Nr opisu:
0000032119
Ewolucyjny dobór częstotliwości sygnałów testujących z rozmytą inicjalizacją systemu.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]
. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Książek Technicznych SIGMA-NOT, 2007
, s. 72-75, bibliogr. 12 poz. (
Elektronika
; R. 48, nr 11 0033-2089)
analogowy układ elektroniczny
;
optymalna częstotliwość
analog electronic circuit
;
optimal frequency
15/27
Nr opisu:
0000032118
Ewolucyjny projektant filtrów.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, S.
Fedrizzi
, Damian
Grzechca
.
W:
VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]
. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Książek Technicznych SIGMA-NOT, 2007
, s. 58-61, bibliogr. 10 poz. (
Elektronika
; R. 48, nr 11 0033-2089)
analogowy układ elektroniczny
;
ewolucyjny system optymalizacji
analog electronic circuit
;
evolutionary optimization system
16/27
Nr opisu:
0000031567
Finding of optimal excitation signal for testing of analog electric circuits.
[Aut.]: Łukasz
Chruszczyk
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
-
Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci.
2007 vol. 55 no. 3
, s. 273-280, bibliogr. 5 poz.
wykrywanie uszkodzeń
;
lokalizacja uszkodzeń
;
diagnostyka uszkodzeń
;
analogowy układ elektroniczny
;
transformata falkowa
;
algorytm genetyczny
fault detection
;
fault location
;
fault diagnosis
;
analog electronic circuit
;
wavelet transform
;
genetic algorithm
17/27
Nr opisu:
0000031908
Optimal excitation in fault diagnosis of analog electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz
Chruszczyk
, Jerzy**
Rutkowski
, Damian
Grzechca
.
W:
Mixed design of integrated circuits and systems
. MIXDES 2007. Proceedings of the 14th international conference, Ciechocinek, Poland, 21-23 June 2007. Ed. by A. Napieralski. [Łódź] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2007
, s. 523-528, bibliogr. 4 poz.
analogowy układ elektroniczny
;
diagnostyka uszkodzeń
;
słownik uszkodzeń
;
transformata falkowa
analog electronic circuit
;
fault diagnosis
;
fault dictionary
;
wavelet transform
18/27
Nr opisu:
0000031052
Optymalizacja uzysku analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]
. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007
, s. 125-130, bibliogr. 8 poz.
optymalizacja uzysku
;
analogowy układ elektroniczny
;
koszt produkcji
;
algorytm genetyczny
;
strategia ewolucyjna
yield optimization
;
analog electronic circuit
;
production cost
;
genetic algorithm
;
evolutionary strategy
19/27
Nr opisu:
0000032124
Wykorzystanie metody symulowanego wyżarzania do doboru optymalnego pobudzenia testującego analogowe układy elektroniczne.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]
. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Książek Technicznych SIGMA-NOT, 2007
, s. 121-124, bibliogr. 5 poz. (
Elektronika
; R. 48, nr 11 0033-2089)
wyżarzanie symulowane
;
analogowy układ elektroniczny
simulated annealing
;
analog electronic circuit
20/27
Nr opisu:
0000032117
Wykorzystanie neuronowych sieci modularnych do diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: I.
Kurowski
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]
. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Książek Technicznych SIGMA-NOT, 2007
, s. 37-39, bibliogr. 13 poz. (
Elektronika
; R. 48, nr 11 0033-2089)
analogowy układ elektroniczny
;
klasyfikator neuronowy
;
sieć neuronowa
analog electronic circuit
;
neural classifier
;
neural network
21/27
Nr opisu:
0000031023
Wykorzystanie neuronowych sieci modularnych do diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: I.
Kurowski
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]
. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007
, s. 71-76, bibliogr. 13 poz.
analogowy układ elektroniczny
;
diagnostyka układów analogowych
;
klasyfikator neuronowy
;
RBF
;
sieć neuronowa
;
słownik uszkodzeń
;
metoda BKS
;
modularna sieć neuronowa
analogue electronic circuit
;
analog circuit diagnosis
;
neural classifier
;
RBF
;
neural network
;
dictionary of damages
;
BKS method
;
analog electronic circuit
;
modular neural network
;
dictionary of faults
22/27
Nr opisu:
0000031053
Zastosowanie programowania wyrażeń genetycznych do wyboru optymalnego zbioru częstotliwości w diagnostyce analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Damian
Grzechca
.
W:
Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]
. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007
, s. 143-148, bibliogr. 6 poz.
diagnostyka uszkodzeń
;
analogowy układ elektroniczny
;
słownik uszkodzeń
;
programowanie wyrażeń genetycznych
;
algorytm ewolucyjny
;
GEP
fault diagnosis
;
analogue electronic circuit
;
dictionary of damages
;
gene expression programming
;
evolutionary algorithm
;
GEP
;
analog electronic circuit
;
dictionary of faults
23/27
Nr opisu:
0000013962
Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]
. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004
, s. 13-22, bibliogr.
testowanie
;
diagnostyka uszkodzeń
;
analogowy układ elektroniczny
testing
;
fault diagnosis
;
analog electronic circuit
24/27
Nr opisu:
0000013975
Straty mocy w układach wzmacniaczy klasy G i klasy H - analiza teoretyczna i wnioski.
[Aut.]: Adam*
Kristof
.
W:
Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]
. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004
, s. 235-240, bibliogr. 12 poz.
wzmacniacz mocy
;
straty mocy
;
sprawność energetyczna
;
analogowy układ elektroniczny
power amplifier
;
power losses
;
energetic efficiency
;
analog electronic circuit
25/27
Nr opisu:
0000013969
Wykorzystanie ewolucyjnych technik obliczeniowych do centrowania układów elektronicznych.
[Aut.]: Jerzy**
Rutkowski
, Ł.
Zieliński
.
W:
Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]
. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004
, s. 145-150, bibliogr. 11 poz.
centrowanie
;
strategia ewolucyjna
;
analogowy układ elektroniczny
;
optymalizacja
centering
;
evolutionary strategy
;
analog electronic circuit
;
optimization
26/27
Nr opisu:
0000018460
Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Jerzy**
Rutkowski
.
Warszawa : Wydaw. Komunikacji i Łączności, 2003, 176 s., bibliogr.
analogowy układ elektroniczny
analog electronic circuit
27/27
Nr opisu:
0000013070
Wykorzystanie sieci neuronowych i technik rozmytych do testowania analogowych układów elektronicznych. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Damian
Grzechca
.
Gliwice, 2003, 99 s., bibliogr. 44 poz.
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Promotor: dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski
analogowy układ elektroniczny
;
diagnostyka uszkodzeń
;
sieć neuronowa
;
teoria zbiorów rozmytych
;
testowanie analogowych układów elektronicznych
analog electronic circuit
;
fault diagnosis
;
neural network
;
fuzzy set theory
;
analog circuit fault diagnosis
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie