Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SPECIFICATION DRIVEN TESTING
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000138809   
Analog circuits specification driven testing by means of digital stream and non-linear estimation model optimized evolutionarily.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Łukasz Chruszczyk.
-Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2020 vol. 68 no. 6, s. 1283-1299, bibliogr. 35 poz.. Impact Factor 1.385. Punktacja MNiSW 100.000

analogowy układ elektroniczny ; testowanie sterowane specyfikacją ; obliczenia ewolucyjne ; regresja wielokrotna

analog electronic circuit ; specification driven testing ; evolutionary computations ; multiple regression

2/6
Nr opisu: 0000124318   
Analog circuit specification testing by means of Walsh-Hadamard transform and multiple regression supported by evolutionary computations.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Jan Machniewski.
-Circuits Systems Signal Process. 2018 vol. 37 iss. 7, s. 2736-2771, bibliogr. 35 poz.. Impact Factor 1.922. Punktacja MNiSW 25.000

obwód analogowy ; testowanie sterowane specyfikacją ; programowanie genetyczne ; regresja wielokrotna

analog circuit ; specification driven testing ; genetic programming ; multiple regression

3/6
Nr opisu: 0000124370   
Application of neural network for testing selected specification parameters of voltage-controlled oscillator.
[Aut.]: Damian Grzechca, Sebastian Temich.
-Int. J. Electron. Telecommun. 2018 vol. 64 nr 2, s. 203-207, bibliogr. 12 poz.. Punktacja MNiSW 15.000

testowanie sterowane specyfikacją ; oscylator sterowany napięciem ; oscylator pierścieniowy ; sztuczna sieć neuronowa

specification driven testing ; voltage-controlled oscillator ; ring oscillator ; artificial neural network

4/6
Nr opisu: 0000071521   
A functional testing of analogue electronic circuits with the use of specification approximation in the time-domain response features space.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-Prz. Elektrot. 2011 R. 87 nr 10, s. 110-113, bibliogr. 15 poz.. Impact Factor 0.244. Punktacja MNiSW 15.000

triangulacja Delaunaya ; testowanie funkcjonalne ; analogowy układ elektroniczny ; sztuczna sieć neuronowa

Delaunay's triangulation ; specification driven testing ; analogue electronic circuit ; artificial neural network

5/6
Nr opisu: 0000069623   
An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 12, s. 65-68, bibliogr. 11 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

elektronika analogowa ; układ analogowy ; triangulacja Delaunaya ; testowanie sterowane specyfikacją

analogue electronics ; analogue circuit ; Delaunay's triangulation ; specification driven testing

6/6
Nr opisu: 0000082610
Testowanie funkcjonalne analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem aproksymacji specyfikacji w przestrzeni cech odpowiedzi układu testowanego.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 231
Pełny tekst na CD-ROM

triangulacja Delaunaya ; testowanie funkcjonalne ; analogowy układ elektroniczny ; sztuczna sieć neuronowa

Delaunay's triangulation ; specification driven testing ; analog electronic circuit ; artificial neural network

stosując format:
Nowe wyszukiwanie