Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SCANNING PROBE MICROSCOPY
Liczba odnalezionych rekordów: 4



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/4
Nr opisu: 0000133639   
Microscopic investigations of morphology and thermal properties of ZnO thin films grown by atomic layer deposition method.
[Aut.]: Anna Kaźmierczak-Bałata, Jerzy Bodzenta, M. Guziewicz.
-Ultramicroscopy 2020 vol. 210s, art. no. 112923 s. 1-13, bibliogr. 49 poz.. Impact Factor 2.452. Punktacja MNiSW 140.000

mikroskopia sond skanujących ; cienka warstwa ZnO ; przewodnictwo cieplne ; przewodnictwo elektryczne

scanning probe microscopy ; ZnO thin film ; thermal conductivity ; electrical conductivity

2/4
Nr opisu: 0000131144
Scanning thermal microscopy - a tool for thermal measurement in the nanoscale.
[Aut.]: Jerzy Bodzenta.
W: Nanostructured thin films. Fundamentals and applications. Ed. by Maria Benelmekki, Andreas Erbe. Amsterdam : Elsevier, 2019, s. 181-213, bibliogr. 127 poz. (Frontiers of Nanoscience ; vol. 14 1876-2778). Punktacja MNiSW 20.000

pomiar termiczny w nanoskali ; mikroskopia sond skanujących ; skaningowa mikroskopia termiczna ; SPM ; SThM ; transport termiczny w nanoskali

nanoscale thermal measurement ; scanning probe microscopy ; scanning thermal microscopy ; SPM ; SThM ; thermal transport at nanoscale

3/4
Nr opisu: 0000091265
Badanie z wykorzystaniem mikroskopu z sondą skanującą.
[Aut.]: Paweł Jarka, Marcin Staszuk, Tomasz* Gaweł, Tomasz Tański.
W: Ćwiczenia laboratoryjne z inżynierii materiałowej i nanotechnologii. Praca zbiorowa. Pod red. Leszka A. Dobrzańskiego i Tomasza Tańskiego. Gliwice : International OCSCO World Press, 2013, s. 88-91 (Open Access Library ; vol. 10 (28) 2083-5191)

mikroskopia ze skanującą sondą ; mikroskop sił atomowych ; badanie makroskopowe ; ćwiczenia laboratoryjne

scanning probe microscopy ; atomic force microscope ; microscopic examination ; laboratory exercises

4/4
Nr opisu: 0000079453   
Skaningowa mikroskopia tunelowa - powierzchniowa metoda badawcza o atomowej rozdzielczości.
[Aut.]: Jerzy** Żak, P. Ślęczkowski.
-Laboratorium 2013 nr 3/4, s. 16-19. Punktacja MNiSW 2.000

skaningowa mikroskopia tunelowa ; STM ; mikroskopia ze skanującą sondą ; SPM ; nanotechnologia

scanning tunneling microscopy ; STM ; scanning probe microscopy ; SPM ; nanotechnology

stosując format:
Nowe wyszukiwanie