Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SCAN PATH
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000098366
Integration of a long pattern generator composed of T-type flip-flops into a scan path.
[Aut.]: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
W: IFAC Workshop on Programmable Devices and Systems. PDS 2003, Ostrava, Czech Republik, February 11th-13th, 2003. Preprints. Ostrava : VSB - Technicka univerzita Ostrava, 2003, s. 441-446, bibliogr. 7 poz.

generator obrazu kontrolnego ; wbudowane samotestowanie ; ścieżka skanowania ; skanowanie w trybie quasi ; przerzutnik

test pattern generator ; built-in self test ; scan path ; quasi-scan mode ; flip-flop

2/2
Nr opisu: 0000006309
Integration of a long test pattern generator composed of T-type flip-flops into a scan path.
[Aut.]: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
W: Programmable devices and systems 2003. (PDS 2003). A proceedings volume from the 6th IFAC Workshop, Ostrava, Czech Republik, 11-13 February 2003. Ed. by: V. Srovnal, K. Vlcek. Oxford : Pergamon Press, 2003, s. 281-286, bibliogr. 7 poz.

generator obrazu kontrolnego ; wbudowane samotestowanie ; ścieżka skanowania ; skanowanie w trybie quasi ; przerzutnik bistabilny typu T

test pattern generator ; built-in self test ; scan path ; quasi-scan mode ; T-type flip-flop

stosując format:
Nowe wyszukiwanie