Wyniki wyszukiwania

Wynik wyszukiwania

1/18
Nr opisu: 0000127546
Zastosowanie nanowarstw ZnO osadzonych metodą ALD w mikroelektronice i fotowoltaice.
[Aut.]: J. Szczypara, D. Paczuła, Paulina Boryło.
W: Konferencja Studenckich Kół Naukowych. TalentDetector'2018. Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska, 2018, s. 43 (Prace Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych ; Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska z. 5)

ZnO ; metoda ALD ; nanowarstwa

ZnO ; ALD method ; nanolayer

2/18
Nr opisu: 0000102948
Elektrochemiczna redukcja soli diazoniowych jako metoda immobilizacji pochodnych fenotiazyn.
[Aut.]: Katarzyna Piwowar, Jerzy** Żak, J. Szuber, Monika Kwoka, Piotr* Kościelniak, Agata Blacha-Grzechnik.
W: 58 Zjazd Naukowy Polskiego Towarzystwa Chemicznego w Gdańsku. Polska chemia w mieście wolności, 21-25 września 2015. Materiały zjazdowe. Cz. 1, Streszczenia. Warszawa : Polskie Towarzystwo Chemiczne, 2015, s. 339, bibliogr. 2 poz.

nanowarstwa ; warstwa organiczna ; tlen singletowy ; sól diazoniowa ; pochodna fenotiazyny

nanolayer ; organic layer ; singlet oxygen ; diazonium salt ; phenothiazine derivative

3/18
Nr opisu: 0000100782
Rheotaxial growth and vacuum oxidation - novel technique of tin oxide deposition. In situ monitoring of oxidation process.
[Aut.]: Monika Kwoka, Maciej Krzywiecki.
-Mater. Lett. 2015 vol. 154, s. 1-4, bibliogr. 16 poz.. Impact Factor 2.437. Punktacja MNiSW 35.000

SnO2 ; RGVO ; nanowarstwa ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; XPS ; AFM

SnO2 ; RGVO ; nanolayer ; surface chemistry ; surface morphology ; XPS ; AFM

4/18
Nr opisu: 0000102926
Zmiany położenia rdzenia ftalocyjanin w nanowarstwach organicznych.
[Aut.]: A. Szwajca, Maciej Krzywiecki, H. Koroniak.
W: 58 Zjazd Naukowy Polskiego Towarzystwa Chemicznego w Gdańsku. Polska chemia w mieście wolności, 21-25 września 2015. Materiały zjazdowe. Cz. 1, Streszczenia. Warszawa : Polskie Towarzystwo Chemiczne, 2015, s. 68, bibliogr. 2 poz.

ftalocyjaniny ; nanowarstwa ; właściwości fizykochemiczne

phthalocyanines ; nanolayer ; physico-chemical properties

5/18
Nr opisu: 0000087639
Cienkie warstwy dwutlenku cyny w aspekcie zastosowań w mikroelektronice.
[Aut.]: Krzysztof** Waczyński.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2013, 134 s., bibliogr. 19 poz.
(Monografia ; [Politechnika Śląska] nr 488)
Rozprawa habilitacyjna

dwutlenek cyny ; mikroelektronika ; warstwa cienka ; nanowarstwa

tin dioxide ; microelectronics ; thin coating ; nanolayer

6/18
Nr opisu: 0000082740
Optymalizacja technologii osadzania nanowarstw SnO₂ metodą rozwirowywania z roztworów (spin-coating).
[Aut.]: Jacek** Szuber, Krzysztof** Waczyński, Monika Kwoka, Michał* Sitarz, Natalia Waczyńska-Niemiec, Piotr* Kościelniak.
W: Jedenasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-14.06.2012]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2012, s. 159
Pełny tekst na CD-ROM

SnO2 ; nanowarstwa ; spin-coating ; technologia osadzania

SnO2 ; nanolayer ; spin-coating ; deposition technology

7/18
Nr opisu: 0000075136
Optymalizacja technologii reotaksjalnego osadzania cienkich warstw wybranych tlenków przewodzących w aspekcie zastosowań sensorowych.
[Aut.]: Jacek** Szuber, Monika Kwoka, Piotr* Kościelniak, Michał* Sitarz.
W: Czujniki optoelektroniczne i elektroniczne. COE'2012. XII Konferencja naukowa, Karpacz, 24-27 czerwca 2012. Politechnika Wrocławska. [B.m] : [b.w.], 2012, s. 38, bibliogr. 5 poz.

tlenki przewodzące ; dwutlenek cyny ; trójtlenek indu ; technologia RGTO ; nanowarstwa

conductive oxides ; tin dioxide ; indium trioxide ; RGTO technology ; nanolayer

8/18
Nr opisu: 0000084473
Optymalizacja technologii osadzania reotaksjalnego nanowarstw wybranych przezroczystych tlenków przewodzących.
[Aut.]: Jacek** Szuber, Monika Kwoka, Piotr* Kościelniak.
W: V Krajowa Konferencja Nanotechnologii. NANO 2011, Gdańsk, 3-7 lipca 2011. Streszczenia wystąpień. Pod red. Jarosława Rybickiego i Wojciecha Sadowskiego. Gdańsk : TASK Publishing, 2011, s. 89-90, bibliogr. 6 poz.

nanowarstwa ; tlenek przewodzący ; SEM ; AFM

nanolayer ; conductive oxide ; SEM ; AFM

9/18
Nr opisu: 0000068351
Optymalizacja technologii reotaksjalnego osadzania nanowarstw wybranych przezroczystych tlenków przewodzących.
[Aut.]: Jacek** Szuber, Monika Kwoka, Piotr* Kościelniak, Michał* Sitarz.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 9, s. 25-27, bibliogr. 6 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

nanowarstwa ; SEM ; AFM ; tlenki przewodzące

nanolayer ; SEM ; AFM ; conductive oxides

10/18
Nr opisu: 0000082099
Optymalizacja technologii RGTO osadzania bardzo cienkich warstw wybranych przezroczystych tlenków przewodzących.
[Aut.]: Jacek** Szuber, Monika Kwoka, Piotr* Kościelniak.
W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 131
Pełny tekst na CD-ROM

tlenek przewodzący ; SnO2 ; In2O3 ; warstwa cienka ; nanowarstwa ; stechiometria ; morfologia powierzchni ; AFM ; XPS ; SEM

conductive oxide ; SnO2 ; In2O3 ; thin film ; nanolayer ; stoichiometry ; surface morphology ; AFM ; XPS ; SEM

11/18
Nr opisu: 0000070273
Nanowarstwy dwutlenku cyny SnO₂ w aspekcie zastosowań w mikroelektronice.
[Aut.]: Jacek** Szuber, Monika Kwoka.
W: IV Krajowa Konferencja Nanotechnologii. NANO 2010, Poznań, 28.06-02.07 2010. Program i streszczenia. Wydział Fizyki Technicznej Politechniki Poznańskiej [et al.].. Poznań : [b.w.], 2010, s. 68, bibliogr. 11 poz.

mikroelektronika ; dwutlenek cyny ; nanowarstwa ; warstwa cienka

microelectronics ; tin dioxide ; nanolayer ; thin coating

12/18
Nr opisu: 0000052103
Teoretyczna analiza adsorpcji tlenu na powierzchni ziaren SnO₂ o geometrii płaskiej.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk.
-Elektronika 2009 R. 50 nr 10, s. 45-48, bibliogr. 20 poz.

warstwa cienka ; nanowarstwa ; adsorpcja tlenu ; warstwa zubożona

thin film ; nanolayer ; oxygen adsorption ; depletion layer

13/18
Nr opisu: 0000049661
Zastosowanie procesu zol-żel do pokrywania powierzchni włókien węglowych warstwą SiO₂.
[Aut.]: Anita Olszówka-Myalska, Agnieszka* Botor-Probierz, J. Krzak-Roś, A. Łukowiak, Tomasz Rzychoń.
-Kompozyty 2009 R. 9 nr 4, s. 332-336, bibliogr. 15 poz.

włókno węglowe ; nanowarstwa ; tlenek krzemu ; zol-żel ; kompozyt metalowy

carbon fibre ; nanolayer ; silicon oxide ; sol-gel ; metal matrix composite

14/18
Nr opisu: 0000073359
Zastosowanie wiązki atomowego wodoru do oczyszczania podłoży GaAs dla celów MBE.
[Aut.]: Jacek** Szuber.
W: III Krajowa Konferencja Nanotechnologii. NANO 2009, Warszawa, 22-26 czerwca 2009 r. Streszczenia. Red. J. Kaniewski. Warszawa : Instytut Technologii Elektronowej, 2009, s. 71, bibliogr. 13 poz.

wodór atomowy ; MBE ; podłoże GaAs ; nanowarstwa

atomic hydrogen ; MBE ; GaAs base ; nanolayer

15/18
Nr opisu: 0000073181
Badania struktury cienkich warstw SnO₂ oraz ich właściwości sensorowych w atmosferze zawierającej tlen.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Bogusława Adamowicz, Jacek Izydorczyk, E. Papis, E. Kamińska, A. Piotrowska, Janusz Mazurkiewicz, Waldemar Kwaśny, Jacek* Mazur, Jerzy Bodzenta, Wiesław Jakubik, Andrzej** Klimasek, J. Żywicki.
W: II Krajowa Konferencja Nanotechnologii, Kraków, 25-28 czerwca 2008. Książka streszczeń. [B.m.] : [b.w.], 2008, s. Sr-P-10

SnO2 ; nanowarstwa ; właściwości sensorowe

SnO2 ; nanolayer ; sensor properties

16/18
Nr opisu: 0000073183
Warstwowe nanostruktury sensorowe w optycznych i światłowodowych czujnikach gazów.
[Aut.]: Erwin Maciak, Tadeusz Pustelny, Zbigniew Opilski, Przemysław Struk.
W: II Krajowa Konferencja Nanotechnologii, Kraków, 25-28 czerwca 2008. Książka streszczeń. [B.m.] : [b.w.], 2008, s. Sr-P-13

czujnik gazu ; czujnik optyczny ; czujnik światłowodowy ; nanowarstwa

gas sensor ; optical sensor ; waveguide sensor ; nanolayer

17/18
Nr opisu: 0000039011
Computer analysis of oxygen adsorption at SnO₂ thin films.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, Bogusława Adamowicz.
-Opt. Appl. 2007 vol. 37 no. 4, s. 377-385, bibliogr. 23 poz.. Impact Factor 0.284

SnO2 ; warstwa cienka ; nanowarstwa ; adsorpcja tlenu ; warstwa zubożona ; struktura sensorowa ; modelowanie

SnO2 ; thin film ; nanolayer ; oxygen adsorption ; depletion layer ; sensor structure ; modelling

18/18
Nr opisu: 0000011345
Optical investigations concerning layered metalphthalocyanine nanostructures affected by NO₂.
[Aut.]: Tadeusz Pustelny, Jolanta Ignac-Nowicka, B. Jarzabek, A. Burian.
-Opt. Appl. 2004 vol. 34 no. 4, s. 551-561, bibliogr. 15 poz.. Impact Factor 0.308

ftalocyjaniny ; transmisja optyczna ; promieniowanie rentgenowskie ; nanowarstwa ; wykrywanie dwutlenku azotu

phthalocyanines ; optical transmission ; X-ray diffraction ; nanolayer ; nitrogen dioxide detection

stosując format: