Wynik wyszukiwania
Zapytanie: INCIPIENT FAULTS
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000130749   
Design an identification function to reduce the computational resources on the testing process of an analog electronic circuit.
[Aut.]: Sebastian Temich, Tomasz Golonek, Damian Grzechca.
-Elektron. Elektrotech. 2019 vol. 25 no. 3, s. 25-33, bibliogr. 28 poz.. Impact Factor 0.707. Punktacja MNiSW 40.000

pompa zasilająca Dickona ; testowanie funkcjonalne ; powstające wady ; regresja ewolucyjna ; identyfikacja obwodu CMOS

Dickson charge-pump ; functional testing ; incipient faults ; evolutionary regression ; CMOS circuit identification

stosując format:
Nowe wyszukiwanie