Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
FAULT LOCATION
Liczba odnalezionych rekordów:
12
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/12
Nr opisu:
0000083609
Deployment of system of detection and localization of leakages water supply network of PWiK Rybnik.
[Aut.]: Wojciech
Moczulski
, Krzysztof
Ciupke
, Daniel
Pająk
, Piotr
Przystałka
, Piotr*
Tomasik
, Dominik
Wachla
, Ryszard
Wyczółkowski
.
W:
XII International Technical Systems Degradation Conference
. TSD International Conference, Liptovsky Mikulas, 3-6 April 2013. Ed. J. Mączak. Faculty of Automotive and Construction Machinery Engineering. Warsaw University of Technology [et al.]. Warszawa : Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne, 2013
, s. 51-54, bibliogr. 4 poz.
wykrywanie uszkodzeń
;
lokalizacja uszkodzeń
;
diagnostyka wsparta modelowo
;
model przybliżony
;
wykrywanie nieszczelności
;
system diagnostyczny
fault detection
;
fault location
;
model-based diagnostics
;
approximate model
;
leak detection
;
diagnostic system
2/12
Nr opisu:
0000084022
Analiza możliwości i zakresu stosowania metody reflektometrycznej lokalizacji uszkodzeń w kopalnianych sieciach SN.
[Aut.]: Adam
Heyduk
, Joachim
Pielot
.
W:
XIV Krajowa Konferencja Elektryki Górniczej, Zakopane, 10-12 października 2012 r
. Katedra Elektryfikacji i Automatyzacji Górnictwa. Wydział Górnictwa i Geologii Politechniki Śląskiej w Gliwicach [i in.]. Gliwice : Katedra Elektryfikacji i Automatyzacji Górnictwa Politechniki Śląskiej, 2012
, s. 293-303, bibliogr. 6 poz.
sieć kopalniana
;
lokalizacja uszkodzeń
;
reflektometria
mine network
;
fault location
;
reflectometry
3/12
Nr opisu:
0000098085
Lokalizacja uszkodzeń kabli i przewodów oponowych w strefach zagrożonych wybuchem.
[Aut.]: A.
Kozłowski
, M.
Kryca
, J.
Chudorliński
, Sergiusz
Boron
, M.
Górny
, M.
Mistarz
.
W:
XIV Krajowa Konferencja Elektryki Górniczej, Zakopane, 10-12 października 2012 r
. Katedra Elektryfikacji i Automatyzacji Górnictwa. Wydział Górnictwa i Geologii Politechniki Śląskiej w Gliwicach [i in.]. Gliwice : Katedra Elektryfikacji i Automatyzacji Górnictwa Politechniki Śląskiej, 2012
, s. 305-313
kabel elektroenergetyczny
;
przewód oponowy
;
lokalizacja uszkodzeń
;
zagrożenie wybuchem
;
aparatura pomiarowa
power cable
;
flexible power cable
;
fault location
;
explosion hazard
;
measuring apparatus
4/12
Nr opisu:
0000083916
Przegląd górniczych kabli i przewodów oponowych z punktu widzenia możliwości lokalizacji uszkodzeń.
[Aut.]: Sergiusz
Boron
.
W:
XIV Krajowa Konferencja Elektryki Górniczej, Zakopane, 10-12 października 2012 r
. Katedra Elektryfikacji i Automatyzacji Górnictwa. Wydział Górnictwa i Geologii Politechniki Śląskiej w Gliwicach [i in.]. Gliwice : Katedra Elektryfikacji i Automatyzacji Górnictwa Politechniki Śląskiej, 2012
, s. 223-234, bibliogr. 6 poz.
przewód oponowy
;
kabel
;
lokalizacja uszkodzeń
flexible power cable
;
cable
;
fault location
5/12
Nr opisu:
0000072427
Fault diagnosis of analog electronic circuits with tolerances in mind. Design for testability with analysis of influence of components tolerance.
[Aut.]: Łukasz
Chruszczyk
.
W:
Mixed design of integrated circuits and systems
. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2011
, dysk optyczny (CD-ROM) s. 496-501, bibliogr. 18 poz.
diagnostyka uszkodzeń
;
układ analogowy
;
wykrywanie uszkodzeń
;
lokalizacja uszkodzeń
;
uszkodzenie pojedyncze
;
uszkodzenie katastroficzne
;
redukcja czasu testowania
;
tolerancja elementów
;
algorytm genetyczny
fault diagnosis
;
analog circuit
;
fault detection
;
fault location
;
single fault
;
catastrophic fault
;
test time reduction
;
components tolerance
;
genetic algorithm
6/12
Nr opisu:
0000082617
Maksymalizacja tolerancji w diagnostyce uszkodzeń analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Łukasz
Chruszczyk
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011
, s. 236
Pełny tekst na CD-ROM
diagnostyka uszkodzeń
;
elektronika analogowa
;
algorytm genetyczny
;
tolerancja elementów
;
uszkodzenie katastroficzne
;
lokalizacja uszkodzeń
fault diagnosis
;
analogue electronics
;
genetic algorithm
;
components tolerance
;
catastrophic fault
;
fault location
7/12
Nr opisu:
0000072423
Tolerance maximisation in fault diagnosis of analogue electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz
Chruszczyk
.
W:
2011 20th European Conference on Circuit Theory and Design (ECCTD), Linkoping, Sweden, 29-31 August 2011
. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011
, s. 881-884, bibliogr. 15 poz.
diagnostyka uszkodzeń
;
układ analogowy
;
detekcja uszkodzeń
;
lokalizacja uszkodzeń
;
uszkodzenie pojedyncze
;
uszkodzenie katastroficzne
;
redukcja czasu testowania
;
tolerancja elementów
;
algorytm genetyczny
fault diagnosis
;
analogue circuit
;
fault detection
;
fault location
;
single fault
;
catastrophic fault
;
test time reduction
;
components tolerance
;
genetic algorithm
8/12
Nr opisu:
0000049105
Specialised excitation and wavelet feature extraction in fault diagnosis of analog electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz
Chruszczyk
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
The 15th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems
. ICECS 2008, Malta, 31st August - 3rd September 2008. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008
, s. 242-246, bibliogr. 9 poz.
testowanie układu
;
obwód elektroniczny
;
diagnostyka uszkodzeń
;
lokalizacja uszkodzeń
;
ekstrakcja cech
;
pomiar czasu
;
ocena efektywności
circuit testing
;
electronic circuit
;
fault diagnosis
;
fault location
;
feature extraction
;
time measurement
;
performance evaluation
9/12
Nr opisu:
0000084725
Specialised excitation and wavelet feature extraction in fault diagnosis of analogue electronic circuits.
[Aut.]: Łukasz
Chruszczyk
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Mixed design of integrated circuits and systems
. MIXDES 2008. Proceedings of the 15th international conference, Poznań, Poland, 19-21 June, 2008. [Ed. by A. Napieralski]. Łódź : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2008
, s. 511-516, bibliogr. 10 poz.
lokalizacja uszkodzeń
;
diagnostyka uszkodzeń
;
słownik uszkodzeń
;
transformata falkowa
;
algorytm genetyczny
;
elektronika analogowa
fault location
;
fault diagnosis
;
fault dictionary
;
wavelet transform
;
genetic algorithm
;
analogue electronics
10/12
Nr opisu:
0000039950
Zastosowanie liniowych rejestrów pierścieniowych do testowania połączeń w układach FPGA.
[Aut.]: Andrzej**
Hławiczka
, Krzysztof*
Gucwa
, Tomasz
Garbolino
.
-
Pomiary Autom. Kontr.
2008 vol. 54 nr 8
, s. 594-597, bibliogr. 11 poz.
liniowy rejestr pierścieniowy
;
testowanie połączeń
;
lokalizacja uszkodzeń
;
identyfikacja uszkodzeń
;
sygnatura
;
słownik diagnostyczny
;
układ FPGA
Ring Linear Feedback Shift Register
;
interconnection testing
;
fault location
;
damage identification
;
signature
;
diagnostic dictionary
;
Field Programmable Gate Array
11/12
Nr opisu:
0000031907
Crosstalk-insensitive method for testing of delay faults in interconnects between cores in SoCs.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Krzysztof*
Gucwa
, M.
Kopeć
, Andrzej**
Hławiczka
.
W:
Mixed design of integrated circuits and systems
. MIXDES 2007. Proceedings of the 14th international conference, Ciechocinek, Poland, 21-23 June 2007. Ed. by A. Napieralski. [Łódź] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2007
, s. 496-500, bibliogr. 10 poz.
test połączeń
;
uszkodzenie opóźnieniowe
;
przesłuch
;
lokalizacja uszkodzeń
;
identyfikacja uszkodzeń
;
metoda test-per-clock
interconnect test
;
delay fault
;
crosstalk
;
fault location
;
fault identification
;
test-per-clock method
12/12
Nr opisu:
0000031567
Finding of optimal excitation signal for testing of analog electric circuits.
[Aut.]: Łukasz
Chruszczyk
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
-
Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci.
2007 vol. 55 no. 3
, s. 273-280, bibliogr. 5 poz.
wykrywanie uszkodzeń
;
lokalizacja uszkodzeń
;
diagnostyka uszkodzeń
;
analogowy układ elektroniczny
;
transformata falkowa
;
algorytm genetyczny
fault detection
;
fault location
;
fault diagnosis
;
analog electronic circuit
;
wavelet transform
;
genetic algorithm
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie