Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
ELECTRICAL MEASUREMENT
Liczba odnalezionych rekordów:
8
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/8
Nr opisu:
0000108558
Aproksymacja charakterystyki strumieniowo-parowej przetwornika elektromechanicznego wykorzystująca wyniki pomiarów.
[Aut.]: Zygmunt
Kowalik
.
-
Informat. Autom. Pomiary Gosp. Ochr. Środ.
2016 z. 3
, s. 60-63, bibliogr. 6 poz..
Punktacja MNiSW
7.000
aproksymacja symplicjalna
;
modelowanie matematyczne
;
pomiary elektryczne
;
charakterystyka strumieniowo-prądowa
simplicial approximation
;
mathematical modelling
;
electrical measurement
;
flux-current characteristic
2/8
Nr opisu:
0000107410
Measurement results based approximation of the nonlinear flux-current characteristic of an electromechanical actuator.
[Aut.]: Zygmunt
Kowalik
.
-
Meas. Autom. Monit.
2016 vol. 62 nr 2
, s. 49-55, bibliogr. 7 poz..
Punktacja MNiSW
11.000
aproksymacja symplicjalna
;
modelowanie matematyczne
;
pomiary elektryczne
;
strumień prądu
simplical approximation
;
mathematical modelling
;
electrical measurement
;
flux-current
3/8
Nr opisu:
0000091170
Laboratorium podstaw miernictwa. Praca zbiorowa. Pod red. Dariusza Buchczika, Stanisława Walusia.
[Aut.]: Wojciech*
Błotnicki
, Dariusz
Buchczik
, Sebastian
Budzan
, Tomasz
Grychowski
, Andrzej
Kozyra
, Stanisław*
Waluś
, Alicja
Wiora
, Józef
Wiora
, Roman
Wyżgolik
, Janusz**
Żelezik
.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2014, 174 s., bibliogr.
Skrypt nr 2534
miernictwo elektryczne
;
pomiar
;
pomiar analogowy
;
pomiar cyfrowy
;
pomiar wielkości elektrycznych
;
pomiar wielkości nieelektrycznych
;
ocena niepewności
electrical measurements
;
measurement
;
analog measurement
;
digital measurement
;
electrical measurement
;
nonelectrical measurement
;
uncertainty evaluation
4/8
Nr opisu:
0000072214
Some aspects of the analysis and the interpretation of electrical measurements of submerged arc-resistance furnace.
[Aut.]: Bernard**
Baron
, Piotr*
Świszcz
, Tomasz*
Kraszewski
.
-
Prz. Elektrot.
2012 R. 88 nr 7b
, s. 211-213, bibliogr. 10 poz..
Punktacja MNiSW
15.000
piec łukowo-oporowy
;
łuk elektryczny
;
układ nieliniowy
;
pomiar wielkości elektrycznych
arc resistance furnace
;
electrical arc
;
nonlinear system
;
electrical measurement
5/8
Nr opisu:
0000059397
Miernictwo.
[Aut.]: Andrzej**
Marcyniuk
, J.
Przygodzki
, Stanisław*
Waluś
.
W:
Poradnik inżyniera elektryka
. T. 1. Wyd. 3 zm. i rozsz.. Warszawa : Wydaw. Naukowo-Techniczne, 2009
, s. 739-816, bibliogr. 187 poz.
miernictwo elektryczne
;
pomiar magnetyczny
;
pomiar energii elektrycznej
;
pomiar wielkości nieelektrycznych
electrical measurement
;
magnetic measurement
;
measurement of electricity
;
nonelectrical measurement
6/8
Nr opisu:
0000025451
Charge transient spectroscopy measurements of GaAs metal-insulator-semiconductor structures.
[Aut.]: Stanisław**
Kochowski
, Michał*
Szydłowski
, I.
Thurzo
, D.
Zahn
.
-
Appl. Surf. Sci.
2006 vol. 252 iss. 21
, s. 2631-2635, bibliogr. 32 poz.
Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005.
Impact Factor
1.436
arsenek galu
;
struktura metal-izolator-półprzewodnik
;
spektroskopia produktów przejściowych
;
właściwości elektryczne
;
miernictwo elektryczne
gallium arsenide
;
metal-insulator-semiconductor structure
;
charge transient spectroscopy
;
electrical properties
;
electrical measurement
7/8
Nr opisu:
0000025436
XPS, electric and photoluminescence-based analysis of the GaAs (1 0 0) nitridation.
[Aut.]: Z.
Benamara
, N.
Mecirdi
, B.
Bouiadjra
, L.
Bideux
, B.
Gruzza
, C.
Robert
, Marcin**
Miczek
, Bogusława
Adamowicz
.
-
Appl. Surf. Sci.
2006 vol. 252 iss. 22
, s. 7890-7894, bibliogr. 14 poz..
Impact Factor
1.436
azotowanie
;
XPS
;
pomiar wielkości elektrycznych
;
fotoluminescencja
nitridation
;
XPS
;
electrical measurement
;
photoluminescence
8/8
Nr opisu:
0000011168
Characterization of the interface and the bulk phenomena in metal-SiO2-(n) GaAs structure by analysis of the equivalent circuit parameters at different temperatures.
[Aut.]: Stanisław**
Kochowski
, K.
Nitsch
, B.
Paszkiewicz
, R.
Paszkiewicz
.
-
Thin Solid Films
2004 vol. 467 iss. 1/2
, s. 190-196, bibliogr. 42 poz..
Impact Factor
1.647
element stałofazowy
;
właściwości elektryczne
;
miernictwo elektryczne
;
arsenek galu
constant phase element
;
electrical properties
;
electrical measurement
;
gallium arsenide
;
metal-insulator-semiconductor structure
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie