Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
ATOMIC FORCE MICROSCOPY
Liczba odnalezionych rekordów:
34
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/34
Nr opisu:
0000136304
Analysis of AFM images of nanofibre mats for automated processing.
[Aut.]: Tomasz
Błachowicz
, T.
Bohm
, Jacek
Grzybowski
, K.
Domino
, A.
Ehrmann
.
-
Tekstilec
2020 vol. 63 no. 2
, s. 104-112, bibliogr. 46 poz..
Punktacja MNiSW
20.000
elektroprzędzenie
;
poliakrylonitryl
;
mata z nanowłókien
;
mikroskopia sił atomowych
;
wykładnik Hursta
;
błądzenie przypadkowe
electrospinning
;
polyacrylonitrile
;
nanofiber mat
;
atomic force microscopy
;
Hurst exponent
;
random walk
2/34
Nr opisu:
0000130586
Assessment of tribological properties of low friction thin layers produced by vacuum methods.
[Aut.]: Agnieszka*
Paradecka
, Krzysztof
Lukaszkowicz
, J.
Sondor
.
W:
Functional thin films and special coatings
. Eds.: Tomasz Tański, Przemysław Snopiński. Stafa-Zurich : Trans Tech Publications, 2019
, s. 125-140 (
Solid State Phenomena
; vol. 293 1662-9779).
Punktacja MNiSW
5.000
mikroskopia sił atomowych
;
AFM
;
współczynnik tarcia
;
cienkie warstwy o niskim tarciu
;
SEM
atomic force microscopy
;
AFM
;
friction coefficient
;
low friction thin layers
;
SEM
3/34
Nr opisu:
0000130587
Comparison of the structure of AlCrSiN coating produced by planar and rotating arc technology.
[Aut.]: Justyna*
Galeja
, Krzysztof
Lukaszkowicz
.
W:
Functional thin films and special coatings
. Eds.: Tomasz Tański, Przemysław Snopiński. Stafa-Zurich : Trans Tech Publications, 2019
, s. 141-153 (
Solid State Phenomena
; vol. 293 1662-9779).
Punktacja MNiSW
5.000
AlCrSiN
;
mikroskopia sił atomowych
;
AFM
;
powłoka
;
technologia planarna ARC
;
PVD
;
technologia rotacyjna LARC
;
skaningowa mikroskopia elektronowa
;
SEM
;
transmisyjna mikroskopia elektronowa
;
TEM
;
trybologia
AlCrSiN
;
atomic force microscopy
;
AFM
;
coating
;
planar ARC technology
;
PVD
;
Rotating LARC Technology
;
scanning electron microscopy
;
SEM
;
transmission electron microscopy
;
TEM
;
tribology
4/34
Nr opisu:
0000135340
Evaluation of the microstructure and tribological properties of TIC low-friction thin film.
[Aut.]: Agnieszka*
Paradecka
.
W:
Topical issues of rational use of natural resources
. Proceedings of the International Forum-Contest of Young Researchers, April 18-20, 2018, St. Petersburg, Russia. Ed. Vladimir Litvinenko. Boca Raton : Taylor & Francis Group, 2019
, s. 217-222.
Punktacja MNiSW
50.000
mikroskopia sił atomowych
;
odporność korozyjna
;
tarcie
;
mikrostruktura
;
zasoby naturalne
;
skaningowa mikroskopia elektronowa
;
węglik tytanu
;
trybologia
;
zużycie materiałów
;
odporność na zużycie
atomic force microscopy
;
corrosion resistance
;
friction
;
microstructure
;
natural resources
;
scanning electron microscopy
;
titanium carbide
;
tribology
;
wear of materials
;
wear resistance
5/34
Nr opisu:
0000122026
Analiza powierzchni z wykorzystaniem mikroskopu sił atomowych.
[Aut.]: Bogusław
Ziębowicz
, Marcin
Staszuk
, Paweł
Jarka
.
-
LAB Laboratoria Apar. Bad.
2018 nr 1
, s. 18-22, bibliogr. 7 poz..
Punktacja MNiSW
1.000
mikroskopia sił atomowych
;
AFM
;
badanie powierzchni
;
cienka warstwa organiczna
atomic force microscopy
;
AFM
;
surface exploration
;
thin organic film
6/34
Nr opisu:
0000124713
Multi-scale characterization and biological evaluation of composite surface layers produced under glow discharge conditions on NiTi shape memory alloy for potential cardiological application.
[Aut.]: A.
Chlanda
, J.
Witkowska
, J.
Morgiel
, Katarzyna
Nowińska
, E.
Choińska
, W.
Swieszkowski
, T.
Wierzchoń
.
-
Micron
2018 vol. 114
, s. 14-22, bibliogr. 47 poz..
Impact Factor
1.530.
Punktacja MNiSW
30.000
mikroskopia sił atomowych
;
spektroskopia sił
;
utlenianie jarzeniowe
;
proces RFCVD
;
stop z pamięcią kształtu
atomic force microscopy
;
force spectroscopy
;
glow discharge oxidizing
;
RFCVD process
;
shape memory alloy
7/34
Nr opisu:
0000124893
The method of determining the characteristic features of graphene oxides by atomic force microscopy.
[Aut.]: Sabina
Drewniak
, R.
Muzyka
.
W:
13th Conference on Integrated Optics: Sensors, Sensing Structures, and Methods
. Eds.: Przemyslaw Struk, Tadeusz Pustelny. Bellingham : SPIE, 2018
, paper 1083011 s. 1-7 (
Proceedings of SPIE
; vol. 10830 0277-786X).
Punktacja MNiSW
15.000
mikroskopia sił atomowych
;
zredukowany tlenek grafenu
;
grafit
;
metoda utleniania
atomic force microscopy
;
reduced graphene oxide
;
graphite
;
method of oxidation
8/34
Nr opisu:
0000120189
Thermal characterization of metal phthalocyanine layers using photothermal radiometry and scanning thermal microscopy methods.
[Aut.]: Dominika
Trefon-Radziejewska
, Justyna
Juszczyk
, A.
Fleming
, N.
Horny
, J. S.
Antoniow
, M.
Chirtoc
, Anna
Kaźmierczak-Bałata
, Jerzy
Bodzenta
.
-
Synth. Met.
2017 vol. 232
, s. 72-78, bibliogr. 43 poz..
Impact Factor
2.526.
Punktacja MNiSW
30.000
półprzewodnik organiczny
;
metaloftalocyjanina
;
przewodność cieplna
;
skaningowa mikroskopia termiczna
;
mikroskopia sił atomowych
;
radiometria fototermiczna
organic semiconductor
;
metal phthalocyanine
;
thermal conductivity
;
scanning thermal microscopy
;
atomic force microscopy
;
photothermal radiometry
9/34
Nr opisu:
0000106201
Mechanical properties of atomic layer deposition (ALD) TiO2 layers on stainless steel substrates.
[Aut.]: Marcin
Basiaga
, Marcin
Staszuk
, Witold
Walke
, Zbigniew
Opilski
.
-
Materialwissensch. Werkstofftech.
2016 vol. 47 iss. 5/6
, s. 512-520, bibliogr. 29 poz..
Impact Factor
0.524.
Punktacja MNiSW
15.000
316 LVM
;
TiO2
;
osadzanie warstw atomowych
;
próba zarysowania
;
nanotwardość
;
elipsometria
;
mikroskopia sił atomowych
;
AFM
316 LVM
;
TiO2
;
atomic layer deposition
;
scratch test
;
nanohardness
;
ellipsometry
;
atomic force microscopy
;
AFM
10/34
Nr opisu:
0000115077
Mikroskopia sił atomowych w badaniach powierzchni materiałów stosowanych w protetyce stomatologicznej.
[Aut.]: Bogusław
Ziębowicz
, Anna
Ziębowicz
.
W:
Biomateriały i mechanika w stomatologii
. XVI konferencja, Ustroń, 13-16 października 2016 r. Program i streszczenia referatów. Red. Jacek Kasperski, Grzegorz Chladek, Sewer Kruczkowski. Ustroń : [b.w.], 2016
, s. 85
materiał dentystyczny
;
mikroskopia sił atomowych
dental material
;
atomic force microscopy
11/34
Nr opisu:
0000116007
The study of parameters of the organic photovoltaic cells.
[Aut.]: Paweł
Jarka
, Tomasz
Tański
, B.
Hajduk
, M.
Domański
.
W:
1st International Conference InterNanoPoland 2016
. International Conference Center, Katowice, 14-15 June, 2016. Abstracts book. Ed. Agnieszka Piekara, Karol Lemański. Katowice : The Foundation of Nanoscience and Nanotechnology Support Nanonet, 2016
, s. [33], bibliogr. 2 poz.
organiczne ogniwo fotowoltaiczne
;
mikroskopia sił atomowych
;
spektroskopia UV-Vis
;
charakterystyka prądowo-napięciowa
organic solar cell
;
atomic force microscopy
;
UV-Vis spectroscopy
;
current-voltage characteristic
;
bulk heterojunction
12/34
Nr opisu:
0000116182
UV-VIS analysis of PVP/SiO2 thin films.
[Aut.]: Wiktor
Matysiak
, Sebastian
Zieliński
, Tomasz
Tański
.
W:
1st International Conference InterNanoPoland 2016
. International Conference Center, Katowice, 14-15 June, 2016. Abstracts book. Ed. Agnieszka Piekara, Karol Lemański. Katowice : The Foundation of Nanoscience and Nanotechnology Support Nanonet, 2016
, s. [48], bibliogr. 3 poz.
cienka powłoka
;
UV-Vis
;
nanokompozyt PVP/SiO2
;
mikroskopia sił atomowych
thin film
;
UV-Vis
;
PVP/SiO2 nanocomposite
;
atomic force microscopy
13/34
Nr opisu:
0000101974
Badanie warstw powierzchniowych z zastosowaniem mikroskopu sił atomowych.
[Aut.]: E.
Kotas
, Marcin
Staszuk
.
W:
Sesja Okolicznościowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'15"
. Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej, 2015
, s. 67-74, bibliogr. 15 poz. (
Prace Studenckich Kół Naukowych
;
Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika Śląska
nr 39)
mikroskopia sił atomowych
;
warstwa powierzchniowa
;
PVD
atomic force microscopy
;
surface layer
;
PVD
14/34
Nr opisu:
0000102675
Cienkie warstwy polimerowe stosowane w fotowoltaice.
[Aut.]: Magdalena
Szindler
, Katarzyna*
Basa
.
W:
II Interdyscyplinarna Sesja Wyjazdowa Doktorantów Politechniki Śląskiej, Gliwice - Szczyrk, 2015
. Red.: Mirosław Bonek, Tomasz Gaweł, Dawid Cichocki. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej, 2015
, s. 296-307, bibliogr. 30 poz. (
Prace Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej w Gliwicach
; )
materiały polimerowe
;
cienka warstwa przewodząca prąd elektryczny
;
mikroskop sił atomowych
;
spektrometr UV/VIS
;
metoda spin-coating
polymeric materials
;
electrically conductive thin film
;
atomic force microscopy
;
spin-coating method
15/34
Nr opisu:
0000096685
Quantitative correlation between air induced changes of electronic parameters and morphological features of copper phthalocyanine thin film surfaces.
[Aut.]: Lucyna
Grządziel
, Maciej
Krzywiecki
.
-
Mater. Chem. Phys.
2015 vol. 149/150
, s. 574-581, bibliogr. 37 poz..
Impact Factor
2.101.
Punktacja MNiSW
35.000
powierzchnia
;
powłoka cienka
;
mikroskop sił atomowych
;
spektroskopia fotoelektronowa
;
adsorpcja
;
utlenianie
surface
;
thin film
;
atomic force microscopy
;
photoelectron spectroscopy
;
adsorption
;
oxidation
16/34
Nr opisu:
0000096044
Correlation between morphology and local thermal properties of iron (II) phthalocyanine thin layers.
[Aut.]: Maciej
Krzywiecki
, Lucyna
Grządziel
, Justyna
Juszczyk
, Anna
Kaźmierczak-Bałata
, A.
Erbe
, Jerzy
Bodzenta
.
-
J. Phys., D Appl. Phys.
2014 vol. 47 iss. 33
, Art. nr 335304, s. 1-7, bibliogr. 47.
Impact Factor
2.721.
Punktacja MNiSW
35.000
półprzewodnik organiczny
;
morfologia FePc
;
mikroskopia sił atomowych
;
skaningowa mikroskopia termiczna
;
warstwa cienka
;
właściwości termiczne
;
ftalocyjaniny żelaza
organic semiconductor
;
FePc morphology
;
atomic force microscopy
;
scanning thermal microscopy
;
thin film
;
thermal properties
;
iron phthalocyanine
17/34
Nr opisu:
0000093679
Metoda atomowego osadzania cienkich warstw optycznych.
[Aut.]: Paulina
Boryło
, Marek
Szindler
, Magdalena
Szindler
.
W:
Sesja Okolicznościowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'14"
. Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej, 2014
, s. 3-8, bibliogr. 12 poz. (
Prace Studenckich Kół Naukowych
;
Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika Śląska
nr 30)
atomowe osadzanie warstw
;
mikroskopia sił atomowych
;
elipsometria
atomic layer deposition
;
atomic force microscopy
;
ellipsometry
18/34
Nr opisu:
0000100976
Metody charakteryzacji grafenu wykorzystywanego w sensorowych układach rezystancyjnych.
[Aut.]: Sabina
Drewniak
, Tadeusz
Pustelny
, W.
Strupiński
, I.
Pasternak
, Zbigniew
Opilski
.
-
Pr. Nauk. PŚl., Elektr.
2014 R. 60 z. 2/3
, s. 63-72, bibliogr. 15 poz..
Punktacja MNiSW
6.000
grafen
;
czujnik gazowy
;
mikroskopia sił atomowych
;
spektroskopia Ramana
graphene
;
gas sensor
;
atomic force microscopy
;
Raman spectroscopy
19/34
Nr opisu:
0000094441
Application of scanning microscopy to study correlation between thermal properties and morphology of BaTiO
3
thin films.
[Aut.]: Anna
Kaźmierczak-Bałata
, Jerzy
Bodzenta
, Maciej
Krzywiecki
, Justyna
Juszczyk
, J.
Szmidt
, P.
Firlek
.
-
Thin Solid Films
2013 vol. 545
, s. 217-221, bibliogr. 26 poz..
Impact Factor
1.867.
Punktacja MNiSW
30.000
mikroskopia sił atomowych
;
tytanian baru
;
warstwa cienka
;
skaningowa mikroskopia termiczna
;
właściwości termiczne
atomic force microscopy
;
barium titanate
;
thin film
;
scanning thermal microscopy
;
thermal properties
20/34
Nr opisu:
0000080338
Influence of natural organic matter on fouling and ultrafiltration membranes properties - AFM analysis.
[Aut.]: Aleksandra*
Płatkowska-Siwiec
, Michał**
Bodzek
.
-
Ecol. Chem. Eng. A
2012 vol. 19 no. 12
, s. 1561-1570, bibliogr. 16 poz..
Punktacja MNiSW
7.000
fouling
;
ultrafiltracja
;
naturalna substancja organiczna
;
mikroskopia sił atomowych
fouling
;
ultrafiltration
;
natural organic matter
;
atomic force microscopy
21/34
Nr opisu:
0000078463
Rozwój i zastosowanie zaawansowanych technik mikroskopii sił atomowych w diagnostyce materiałów elektrotechnicznych. Wybrane zagadnienia.
[Aut.]: Andrzej
Sikora
.
Warszawa : Instytut Elektrotechniki, 2012, 185 s., bibliogr. 419 poz.
(
Prace Instytutu Elektrotechniki
; R. 59, z. 257 0032-6216)
mikroskopia sił atomowych
;
diagnostyka powierzchni
;
nanoskala
;
elektrotechnika
atomic force microscopy
;
surface diagnostics
;
nanoscale
;
electrotechnics
22/34
Nr opisu:
0000071375
Changes of semifusinite and fusinite surface roughness during heat treatment determined by atomic force microscopy.
[Aut.]: Rafał
Morga
.
-
Int. J. Coal Geol.
2011 vol. 88 iss. 4
, s. 218-226, bibliogr..
Impact Factor
2.542.
Punktacja MNiSW
30.000
węgiel
;
inertynit
;
semifuzynit
;
fuzynit
;
mikroskopia sił atomowych
coal
;
inertinite
;
semifusinite
;
fusinite
;
atomic force microscopy
23/34
Nr opisu:
0000077215
Comparative study of surface morphology of copper phthalocyanine ultra thin films deposited on Si (111) native and RCA-cleaned substrates.
[Aut.]: Maciej
Krzywiecki
, Lucyna
Grządziel
, Jerzy
Bodzenta
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2012 vol. 520 iss. 11
, s. 3965-3970, bibliogr. 35 poz..
Impact Factor
1.890.
Punktacja MNiSW
30.000
półprzewodnik organiczny
;
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
mikroskopia sił atomowych
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
obróbka RCA
organic semiconductor
;
copper phthalocyanine
;
thin film
;
atomic force microscopy
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
RCA treatment
;
silicon native substrate
24/34
Nr opisu:
0000059306
Carbon nanomaterials from carbon monoxide using nickel and cobalt catalysts.
[Aut.]: B.
Liszka
, A.
Krztoń
, Mirosława
Pawlyta
.
-
Acta Phys. Pol. A
2010 vol. 118 no. 3
, s. 471-474, bibliogr. 22 poz..
Impact Factor
0.467
nanocząstki
;
tlenek węgla
;
kataliza niklu
;
kataliza kobaltu
;
mikroskopia sił atomowych
;
skaningowa mikroskopia elektronowa
nanoparticles
;
carbon monoxide
;
nickel catalysis
;
cobalt catalysis
;
atomic force microscopy
;
scanning electron microscopy
25/34
Nr opisu:
0000063356
Influence of Si substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO
2
thin films studied by XPS and AFM.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, Natalia
Waczyńska
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Appl. Surf. Sci.
2010 vol. 256 iss. 19
, s. 5771-5775, bibliogr. 25 poz..
Impact Factor
1.795
dwutlenek cyny
;
cienka powłoka L-CVD
;
podłoże krzemowe
;
morfologia powierzchni
;
mikroskopia sił atomowych
;
AFM
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
XPS
tin dioxide
;
L-CVD thin film
;
surface morphology
;
atomic force microscopy
;
AFM
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
XPS
26/34
Nr opisu:
0000056850
Influence of substrate doping on the surface chemistry and morphology of Copper Phthalocyanine ultra thin films on Si (111) substrates.
[Aut.]: Maciej
Krzywiecki
, L.
Ottaviano
, Lucyna
Grządziel
, P.
Parisse
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2009 vol. 517 iss. 5
, s. 1630-1635, bibliogr. 15 poz.
półprzewodnik organiczny
;
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
właściwości powierzchniowe
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
mikroskopia sił atomowych
organic semiconductor
;
copper phthalocyanine
;
thin film
;
surface properties
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
atomic force microscopy
27/34
Nr opisu:
0000056438
Local surface morphology and chemistry of SnO
2
thin films deposited by rheotaxial growth and thermal oxidation method for gas sensor application.
[Aut.]: L.
Ottaviano
, Monika
Kwoka
, F.
Bisti
, P.
Parisse
, V.
Grossi
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2009 vol. 517 iss. 22
, s. 6161-6169, bibliogr. 29 poz..
Impact Factor
1.727
dwutlenek cyny
;
RGTO
;
podłoże krzemowe
;
stechiometria
;
dyfrakcja rentgenowska
;
wytrzymałość na zginanie
;
mikroskopia sił atomowych
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
tin dioxide
;
Rheological Growth and Thermal Oxidation (RGTO)
;
surface morphology
;
stoichiometry
;
X-ray diffraction
;
scanning electron microscopy
;
atomic force microscopy
;
X-ray photoelectron spectroscopy
28/34
Nr opisu:
0000056458
Structure-property relationships in dimethacrylate networks based on Bis-GMA, UDMA and TEGDMA.
[Aut.]: Izabela
Barszczewska-Rybarek
.
-
Dent. Mater.
2009 vol. 25 iss. 9
, s. 1082-1089, bibliogr. 27 poz..
Impact Factor
2.882
dimetakrylan
;
sieć polimerowa
;
niejednorodność strukturalna
;
właściwości mechaniczne
;
mikroskopia sił atomowych
;
proszkowa dyfrakcja rentgenowska
dimethacrylate
;
polymer network
;
structural heterogeneity
;
mechanical properties
;
atomic force microscopy
;
X-ray powder diffraction
29/34
Nr opisu:
0000039992
AFM study of the surface morphology of L-CVD SnO
2
thin films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2007 vol. 515 iss. 23
, s. 8328-8331, bibliogr. 14 poz..
Impact Factor
1.693
dwutlenek cyny
;
cienka powłoka L-CVD
;
mikroskopia sił atomowych
;
morfologia powierzchni
tin dioxide
;
L-CVD thin film
;
atomic force microscopy
;
surface morphology
30/34
Nr opisu:
0000039060
Structure, physical properties and multifractal characteristics of the PVD and CVD coatings deposition onto the Al
2
O
3
+ TiC ceramics.
[Aut.]: Waldemar
Kwaśny
, M.
Woźniak
, Jarosław
Mikuła
, Leszek**
Dobrzański
.
-
Int. J. Comput. Mater. Sci. Surf. Eng.
2007 vol. 1 no. 1
, s. 97-113, bibliogr. 16 poz.
analiza
;
modelowanie
;
komputerowa nauka o materiałach
;
powłoka PVD
;
geometria multifraktalna
;
mikroskopia sił atomowych
;
AFM
;
powłoka CVD
;
ceramika narzędziowa
;
skład fazowy
;
własności mechaniczne
;
badanie grubości
;
badanie twardości
;
badanie chropowatości
;
struktura powierzchni
;
topografia powierzchni
analysis
;
modelling
;
computational materials science
;
PVD coating
;
multifractal geometry
;
atomic force microscopy
;
AFM
;
CVD coating
;
tool ceramics
;
phase composition
;
mechanical properties
;
thickness test
;
hardness test
;
roughness test
;
surface structure
;
surface topography
31/34
Nr opisu:
0000036413
Studies of surface properties of L-CVD SnO
2
thin films. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Monika
Kwoka
.
Gliwice, 2007, 128 k., bibliogr. 84 poz. + zał.: 46 k.
Politechnika Śląska. Wydział Matematyczno-Fizyczny. Promotor: prof. dr hab. inż. Jacek** Szuber
cienka warstwa SnO2
;
cienka powłoka L-CVD
;
dwutlenek cyny
;
spektroskopia fotoelektronowa
;
mikroskopia sił atomowych
;
chemia powierzchni
;
własności elektronowe
;
morfologia powierzchni
;
osadzanie
SnO2 thin film
;
L-CVD thin film
;
tin dioxide
;
photoelectron spectroscopy
;
atomic force microscopy
;
surface chemistry
;
electronic properties
;
surface morphology
;
deposition
32/34
Nr opisu:
0000007979
Badania odporności korozyjnej stentów wieńcowych z uwzględnieniem specyfiki układu naczyń wieńcowych.
[Aut.]: Zbigniew
Paszenda
, Jadwiga**
Tyrlik-Held
, Z.
Nawrat
, Jerzy**
Żak
, K.
Wilczek
.
-
Inż. Biomater.
2004 R. 7 nr 34
, s. 26-33, bibliogr. 19 poz.
Tekst równoległy w jęz. ang.
stenty wieńcowe
;
warstwa pasywno-węglowa
;
stal Cr-Ni-Mo
;
badanie korozyjne
;
badanie zmęczeniowe
;
mikroskopia sił atomowych
coronary stents
;
passive-carbon layer
;
Cr-Ni-Mo steel
;
corrosion test
;
fatigue test
;
atomic force microscopy
33/34
Nr opisu:
0000015135
Usefulness of passive-carbon layer for implants applied in interventional cardiology.
[Aut.]: Zbigniew
Paszenda
, Jadwiga**
Tyrlik-Held
, Z.
Nawrat
, Jerzy**
Żak
, K.
Wilczek
.
-
J. Mater. Process. Technol.
2004 vol. 157/158
, s. 399-404, bibliogr. 29 poz..
Impact Factor
0.578
stent wieńcowy
;
warstwa pasywno-węglowa
;
stal Cr-Ni-Mo
;
korozja
;
badanie zmęczeniowe
;
mikroskopia sił atomowych
coronary stent
;
passive-carbon layer
;
Cr-Ni-Mo steel
;
corrosion
;
fatigue test
;
atomic force microscopy
34/34
Nr opisu:
0000011623
Surface morphology of the polyurethane-based pervaporation membrane studies by atomic force microscopy.. [Cz.] 1: Effect of the polyurethane molecular structure.
[Aut.]: A.
Wolińska
, Jerzy**
Żak
, A.
Jankowski
, J.
Muszyński
.
-
J. Macromol. Sci. - Pure Appl. Chem.
2003 vol. A40 iss. 3
, s. 225-237, bibliogr. 14 poz..
Impact Factor
0.681
poliuretan
;
mikroskopia sił atomowych
;
morfologia
polyurethane
;
atomic force microscopy
;
morphology
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie