Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
ATOMIC FORCE MICROSCOPE
Liczba odnalezionych rekordów:
17
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/17
Nr opisu:
0000131450
Zastosowanie mikroskopu sił atomowych w badaniach materiałów stomatologicznych.
[Aut.]: Bogusław
Ziębowicz
, Anna
Ziębowicz
.
-
LAB Laboratoria Apar. Bad.
2019 nr 4
, s. 16-20, bibliogr. 10 poz..
Punktacja MNiSW
5.000
mikroskop sił atomowych
;
materiał stomatologiczny
;
metodologia badań
atomic force microscope
;
dental material
;
methodology of research
2/17
Nr opisu:
0000127424
Zastosowanie mikroskopu sił atomowych w badaniach powierzchni materiałów stomatoloogicznych.
[Aut.]: W.
Bil
, Anna
Woźniak
, Bogusław
Ziębowicz
.
W:
Konferencja Studenckich Kół Naukowych
. TalentDetector'2018. Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska, 2018
, s. 18 (
Prace Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych
;
Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska
z. 5)
mikroskop sił atomowych
;
badanie powierzchni
;
materiał stomatologiczny
atomic force microscope
;
surface examination
;
dental material
3/17
Nr opisu:
0000106780
Analiza UV-VIS cienkich warstw kompozytowych PVP/SiO2.
[Aut.]: Wiktor
Matysiak
, S.
Zieliński
, Tomasz
Tański
, M.
Zaborowska
, P.
Witek
, Ewa
Rusek
, Artur*
Skorupa
, M.
Latusek
.
W:
Materiały i technologie XXI wieku
. XVIII Międzynarodowa studencka sesja naukowa, Katowice, 19 maja 2016. [Dokument elektroniczny]. Red. Marcin Godzierz, Adam Gryc, Marta Biesaga, Aleksandra Miczek, Konrad Brzyski. Katowice : [b.w.], 2016
, pamięć USB (PenDrive) s. 240-245, bibliogr. 17 poz.
cienka warstwa kompozytowa
;
morfologia kompozytów
;
morfologia powierzchni
;
mikroskop sił atomowych
;
spektroskopia UV-Vis
thin composite layer
;
morphology of composites
;
surface morphology
;
atomic force microscope
;
UV-Vis spectroscopy
4/17
Nr opisu:
0000097326
Morfologia powierzchni cienkich warstw zol-żel.
[Aut.]: Magdalena
Szindler
, Marek
Szindler
.
W:
Sesja Okolicznościowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'15"
. Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej, 2015
, 63-68, bibliogr. 14 poz. (
Prace Studenckich Kół Naukowych
;
Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika Śląska
nr 35)
metoda zol-żel
;
tlenek tytanu
;
mikroskop sił atomowych
sol-gel method
;
titanium oxide
;
atomic force microscope
5/17
Nr opisu:
0000103515
Surface morphology and optical properties of Al
2
O
3
thin films deposited by ALD method.
[Aut.]: Leszek**
Dobrzański
, Marek
Szindler
, Magdalena
Szindler
.
-
Arch. Mater. Sci. Eng.
2015 vol. 73 nr 1
, s. 18-24, bibliogr. 26 poz..
Punktacja MNiSW
13.000
powłoka cienka
;
tlenek glinu
;
mikroskop sił atomowych
;
elipsometria spektroskopowa
thin film
;
aluminium oxide
;
atomic force microscope
;
spectroscopic ellipsometry
6/17
Nr opisu:
0000096774
Sol-gel Al
2
O
3
antireflection coatings for silicon solar cells.
[Aut.]: Leszek**
Dobrzański
, Marek
Szindler
, Magdalena
Szindler
, B.
Hajduk
.
-
Arch. Mater. Sci. Eng.
2014 vol. 67 nr 1
, s. 24-31, bibliogr. 25 poz..
Punktacja MNiSW
13.000
powłoka cienka
;
tlenek glinu
;
mikroskop sił atomowych
;
elipsometria spektroskopowa
;
spektroskopia UV-Vis
thin film
;
aluminium oxide
;
atomic force microscope
;
spectroscopic ellipsometry
;
UV-Vis spectroscopy
7/17
Nr opisu:
0000091265
Badanie z wykorzystaniem mikroskopu z sondą skanującą.
[Aut.]: Paweł
Jarka
, Marcin
Staszuk
, Tomasz*
Gaweł
, Tomasz
Tański
.
W:
Ćwiczenia laboratoryjne z inżynierii materiałowej i nanotechnologii
. Praca zbiorowa. Pod red. Leszka A. Dobrzańskiego i Tomasza Tańskiego. Gliwice : International OCSCO World Press, 2013
, s. 88-91 (
Open Access Library
; vol. 10 (28) 2083-5191)
mikroskopia ze skanującą sondą
;
mikroskop sił atomowych
;
badanie makroskopowe
;
ćwiczenia laboratoryjne
scanning probe microscopy
;
atomic force microscope
;
microscopic examination
;
laboratory exercises
8/17
Nr opisu:
0000090820
Influence of solvent on the surface morphology and optoelectronic properties of a spin coated polymer thin films.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, Magdalena
Szindler
, Magdalena*
Szczęsna
, Marek
Szindler
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2013 vol. 61 iss. 2
, s. 302-307, bibliogr. 18 poz..
Punktacja MNiSW
12.000
MEH-PPV
;
spin-powłoka
;
spektrometr UV/VIS
;
mikroskopowa siła atomowa
MEH-PPV
;
spin-coating
;
spectrometer UV/VIS
;
atomic force microscope
9/17
Nr opisu:
0000082869
Sol gel TiO
2
antireflection coatings for silicon solar cells.
[Aut.]: Leszek**
Dobrzański
, Marek
Szindler
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2012 vol. 52 iss. 1
, s. 7-14, bibliogr. 18 poz..
Punktacja MNiSW
8.000
dwutlenek tytanu
;
warstwa antyrefleksyjna
;
mikroskopowa siła atomowa
;
mikroskop elektronowy skaningowy
;
spektroskopia UV-Vis
titanium dioxide
;
antireflective coating
;
atomic force microscope
;
scanning electron microscope
;
UV-Vis spectroscopy
;
silicon solar cell
10/17
Nr opisu:
0000083538
Wykorzystanie mikroskopii sił atomowych w badaniach cienkich warstw.
[Aut.]: Leszek**
Dobrzański
, Marek
Szindler
, Dariusz
Łukowiec
.
W:
Proceedings of the Eighteenth International Scientific Conference on Contemporary Achievements in Mechanics, Manufacturing and Materials Science
. CAM3S'2012, Gliwice - Ustroń, 27th - 29th February 2012. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwice : International Organising Committee of the Scientific Conferences World Press, 2012
, s. 43, bibliogr. 3 poz.
mikroskopia sił atomowych
;
warstwa cienka
;
morfologia powierzchni
atomic force microscope
;
thin film
;
surface morphology
11/17
Nr opisu:
0000067005
Reconstruction of thin films polyazomethine based on microscopic images.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, Marek
Szindler
, Agata
Śliwa
, Barbara*
Hajduk
, J.
Jurusik
.
-
Arch. Mater. Sci. Eng.
2011 vol. 48 nr 1
, s. 40-48, bibliogr. 20 poz..
Punktacja MNiSW
9.000
chemiczne osadzanie z fazy gazowej
;
mikroskopowa siła atomowa
;
mikroskop elektronowy skaningowy
;
oprogramowanie WSxM
chemical vapour deposition
;
atomic force microscope
;
scanning electron microscope
;
WSxM software
12/17
Nr opisu:
0000057448
Badania struktury, morfologii powierzchni oraz właściwości sensorowych cienkich warstw SnO
2
.
[Aut.]: Weronika
Izydorczyk
, M.
Pisarek
, Jerzy**
Żak
.
-
Elektronika
2010 R. 51 nr 6
, s. 50-53, bibliogr. 13 poz.
morfologia powierzchni
;
dyfraktometria rentgenowska
;
mikroskopowa siła atomowa
;
mikroskopia AFM
;
spektroskopia elektronów Augera
;
adsorpcja tlenu
surface morphology
;
X-ray diffraction
;
atomic force microscope
;
AFM microscopy
;
Auger electron spectroscopy
;
oxygen adsorption
13/17
Nr opisu:
0000069147
Komputerowa analiza i przetwarzanie obrazów otrzymywanych mikroskopem sił atomowych.
[Aut.]: Marek
Szindler
, Agata
Śliwa
.
W:
Sesja Okolicznościowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'10"
. Impreza towarzysząca międzynarodowej konferencji naukowej AMME 2010. Red. Bogusław Ziębowicz. Gliwice : International Organising Committee of the Scientific Conferences World Press, 2010
, s. 73-82, bibliogr. 6 poz. (
Prace Studenckich Kół Naukowych
;
Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika Śląska
nr 26)
analiza obrazu
;
mikroskop sił atomowych
;
program WSxM
image analysis
;
atomic force microscope
;
WSxM program
14/17
Nr opisu:
0000036430
Wykorzystanie mikroskopii sił atomowych w badaniach nad formowaniem powierzchni krzemowych ogniw słonecznych.
[Aut.]: Krzysztof**
Waczyński
, Wojciech
Filipowski
, P.
Panek
, K.
Drabczyk
, A.
Olechowska
.
-
Elektronika
2008 R. 49 nr 1
, s. 83-86, bibliogr. 8 poz.
krzemowe ogniwo słoneczne
;
mikroskop sił atomowych
;
krzem monokrystaliczny
;
krzem multikrystaliczny
;
warstwa porowata
;
trawienie
silicon solar cell
;
atomic force microscope
;
monocrystalline silicon
;
multicrystalline silicon
;
porous layer
;
etching
15/17
Nr opisu:
0000022972
Fractal and multifractal characteristics of CVD coatings deposited onto the nitride tool ceramics.
[Aut.]: Waldemar
Kwaśny
, Daniel
Pakuła
, Mariola
Woźniak
, Leszek**
Dobrzański
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2007 vol. 20 iss. 1/2
, s. 371-374, bibliogr. 15 poz.
komputerowa nauka o materiałach
;
powłoka CVD
;
geometria multifraktalna
;
mikroskop sił atomowych
;
AFM
computational materials science
;
CVD coating
;
multifractal geometry
;
atomic force microscope
;
AFM
16/17
Nr opisu:
0000123726
On the correlation between morphology and electronic properties of copper phthalocyanine (CuPc) thin films.
[Aut.]: Lucyna
Grządziel
, Jerzy**
Żak
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2003 vol. 436 iss. 1
, s. 70-75, bibliogr. 23 poz.
Referat wygłoszony na: 3rd International Seminar on Semiconductor Gas Sensors. SGS'2002, Ustroń, Poland, 19-22 September 2002.
Impact Factor
1.598
ftalocyjanina miedzi
;
cienka powłoka
;
fotoemisja
;
mikroskop sił atomowych
copper phthalocyanine
;
thin film
;
photoemission
;
atomic force microscope
17/17
Nr opisu:
0000011696
On the correlation between the morphology and the electronic properties of copper phthalocyanine (CuPc) thin films.
[Aut.]: Lucyna
Grządziel
, Jerzy**
Żak
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2003 vol. 436 iss. 1
, s. 70-75, bibliogr. 23 poz..
Impact Factor
1.598
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
fotoemisja
;
mikroskop sił atomowych
copper phthalocyanine
;
thin film
;
photoemission
;
atomic force microscope
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie