Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
ANALOG FAULT DIAGNOSIS
Liczba odnalezionych rekordów:
4
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/4
Nr opisu:
0000052095
Ewolucyjna metoda identyfikacji diagnostycznego stanu liniowego układu analogowego.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
-
Prz. Elektrot.
2009 R. 85 nr 11
, s. 135-138, bibliogr. 7 poz..
Impact Factor
0.196
diagnostyka układów analogowych
;
ewolucja różnicowa
;
transmitancja operatorowa
analog fault diagnosis
;
differential evolution
;
transfer function
2/4
Nr opisu:
0000016941
Creation of functional test - the neural network utilization.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Methods of artificial intelligence
. AI-METH 2005. [Proceedings of the Symposium on Methods of Artificial Intelligence AI-METH 2005 and the Workshop on Knowledge Acquisition in Mechanical Engineering, Gliwice, Poland, 16-18 November 2005]. Eds: T. Burczyński, W. Cholewa, W. Moczulski. Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, Polish Association for Computational Mechanics. [Gliwice] : Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, 2005
, s. 57-58, bibliogr. 5 poz.
sieć neuronowa
;
perceptron wielowarstwowy
;
analogowe wykrywanie usterek
;
diagnostyka układów analogowych
;
wykrywanie błędów
neural network
;
multilayer perceptron
;
analog faults detection
;
analog fault diagnosis
;
fault detection
3/4
Nr opisu:
0000017094
Creation of functional test - the neural network utilization.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Recent developments in artificial intelligence methods
. AI-METH 2005. Eds: T. Burczyński, W. Cholewa, W. Moczulski. Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, Polish Association for Computational Mechanics. Gliwice : Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, 2005
, s. 95-98, bibliogr. 8 poz.
pełny tekst na CD-ROM
sieć neuronowa
;
perceptron wielowarstwowy
;
analogowe wykrywanie usterek
;
diagnostyka układów analogowych
neural network
;
multilayer perceptron
;
analog faults detection
;
analog fault diagnosis
4/4
Nr opisu:
0000011198
Entropy-based optimum test points selection for analog fault dictionary techniques.
[Aut.]: J.
Starzyk
, D.
Liu
, Z.
Liu
, D.
Nelson
, Jerzy**
Rutkowski
.
-
IEEE Trans. Instrum. Meas.
2004 vol. 53 iss. 3
, s. 754-761, bibliogr. 19 poz..
Impact Factor
0.446
diagnostyka układów analogowych
;
słownik uszkodzeń
;
teoria zbiorów przybliżonych
;
punkt pomiarowy
analog fault diagnosis
;
fault dictionary
;
rough set theory
;
test point
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie