Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
ADMITTANCE
Liczba odnalezionych rekordów:
5
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/5
Nr opisu:
0000100126
Experiences with a two-terminal-pair digital impedance bridge.
[Aut.]: L.
Callegaro
, V.
D'Elia
, Marian
Kampik
, D. B.
Kim
, M.
Ortolano
, F.
Pourdanesh
.
-
IEEE Trans. Instrum. Meas.
2015 vol. 64 no. 6
, s. 1460-1465, bibliogr. 16 poz..
Impact Factor
1.808.
Punktacja MNiSW
30.000
admitancja
;
układ mostkowy
;
impedancja
;
wzorzec miary
;
metrologia
;
pomiar precyzyjny
admittance
;
bridge circuit
;
impedance
;
measurement standard
;
metrology
;
precision measurement
2/5
Nr opisu:
0000097820
Experiences with a two terminal-pair digital impedance bridge.
[Aut.]: L.
Callegaro
, V.
D'Elia
, Marian
Kampik
, D. B.
Kim
, M.
Ortolano
, F.
Pourdanesh
, N. T. M.
Tran
.
W:
2014 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2014), Rio de Janeiro, Brazil, 24-29 August 2014
. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014
, s. 222-223, bibliogr. 5 poz.
metrologia
;
impedancja
;
admitancja
;
pomiar precyzyjny
;
układ mostkowy
;
wzorzec miary
metrology
;
impedance
;
admittance
;
precision measurement
;
bridge circuit
;
measurement standard
3/5
Nr opisu:
0000082167
A new always cancellation-free approach to the multilevel symbolic analysis for very large electric networks.
[Aut.]: Sławomir
Lasota
.
W:
International Conference on Signals and Electronic Systems
. ICSES 2012, Wrocław, Poland, September 18-21, 2012. The conference proceedings. Ed. by Zbigniew Sołtys, Bartłomiej Golenko. [B.m.] : IEEE Computer Society, 2012
, s. 1-6, bibliogr. 14 poz.
admitancja
;
algorytm projektowania i analizy
;
złoto
;
fosforek indu
;
zintegrowane modelowanie obiegu
;
wielomian
;
wektor
admittance
;
algorithm design and analysis
;
gold
;
indium phosphide
;
integrated circuit modeling
;
polynominal
;
vector
4/5
Nr opisu:
0000046401
Sensitivity analysis of transfer functions of active affined two-ports.
[Aut.]: Jan**
Chojcan
, Jacek
Izydorczyk
, Andrzej
Kukiełka
.
W:
XXXI Międzynarodowa Konferencja z Podstaw Elektrotechniki i Teorii Obwodów
. IC-SPETO 2008, Gliwice - Ustroń, 28-31.05.2008. Instytut Elektrotechniki Przemysłowej i Informatyki Politechniki Śląskiej [i in.]. Gliwice : [Instytut Elektrotechniki Przemysłowej i Informatyki Politechniki Śląskiej], 2008
, s. 61-62, bibliogr. 7 poz.
Pełny tekst na CD-ROM
admitancja
;
obwód
;
impedancja
;
analiza wrażliwości
;
transmitancja operatorowa
;
napięcie
admittance
;
circuit
;
impedance
;
sensitivity analysis
;
transfer function
;
voltage
5/5
Nr opisu:
0000010248
Równonapięciowa komparacja admitancji.
[Aut.]: Janusz
Guzik
, Brunon**
Szadkowski
.
-
Zesz. Nauk. PŚl., Elektr.
2004 z. 190
, s. 53-64, bibliogr. 20 poz.
admitancja
;
komparator admitancji
;
właściwości metrologiczne
;
dielektryk
admittance
;
admittance comparator
;
metrological properties
;
dielectric
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie