Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
ZNO THIN FILM
Liczba odnalezionych rekordów:
3
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu:
0000133639
Microscopic investigations of morphology and thermal properties of ZnO thin films grown by atomic layer deposition method.
[Aut.]: Anna
Kaźmierczak-Bałata
, Jerzy
Bodzenta
, M.
Guziewicz
.
-
Ultramicroscopy
2020 vol. 210s
, art. no. 112923 s. 1-13, bibliogr. 49 poz..
Impact Factor
2.452.
Punktacja MNiSW
140.000
mikroskopia sond skanujących
;
cienka warstwa ZnO
;
przewodnictwo cieplne
;
przewodnictwo elektryczne
scanning probe microscopy
;
ZnO thin film
;
thermal conductivity
;
electrical conductivity
2/3
Nr opisu:
0000118876
Wpływ parametrów osadzania cienkich warstw ZnO metodą ALD.
[Aut.]: Paulina
Boryło
, Krzysztof
Lukaszkowicz
.
W:
Innowacyjne badania dla nauki i przemysłu
. Red. Mirosław Bonek, Anna Filipowska, Łukasz Kohlbrenner, Tomasz Gaweł. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej, 2017
, s. 2-9, bibliogr. 12 poz. (
Prace Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej w Gliwicach
; ).
Punktacja MNiSW
20.000
cienka warstwa ZnO
;
osadzanie
;
metoda ALD
;
transparentność
ZnO thin film
;
deposition
;
ALD method
;
transparency
3/3
Nr opisu:
0000116858
Wytwarzanie, morfologia i własności optyczne cienkich warstw tlenku cynku do zastosowań w barwnikowych ogniwach fotowoltaicznych.
[Aut.]: Marta
Zaborowska
, Wiktor
Matysiak
, Tomasz
Tański
.
W:
Materiały i technologie XXI wieku
. XIX Międzynarodowa studencka sesja naukowa, Katowice, 18 maja 2017 r. Red. Marcin Godzierz, Adam Gryc. Wydział Inżynierii Materiałowej i Metalurgii Politechniki Śląskiej. Katowice : [b.w.], 2017
, s. 31 + tekst na CD-ROM
Pełny tekst na CD-ROM
cienka warstwa ZnO
;
barwnikowe ogniwa fotowoltaiczne
;
analiza morfologiczna
;
analiza strukturalna
;
właściwości optyczne
ZnO thin film
;
dye sensitized solar cell
;
morphological analysis
;
structural analysis
;
optical properties
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie