Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY
Liczba odnalezionych rekordów:
38
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/38
Nr opisu:
0000139114
Corrosion inhibitor-modified plasma electrolytic oxidation coatings on 6061 aluminum alloy.
[Aut.]: Maciej
Sowa
, Marta
Wala
, Agata
Blacha-Grzechnik
, Artur
Maciej
, Alicja
Kazek-Kęsik
, Agnieszka
Stolarczyk
, Wojciech
Simka
.
-
Materials
2021 vol. 14 iss. 3
, s. 1-18, bibliogr. 39 poz..
Impact Factor
3.057.
Punktacja MNiSW
140.000
plazmowe utlenianie elektrolityczne
;
odporność korozyjna
;
inhibitor korozji
;
8-hydroksychinolina
;
dyfrakcja rentgenowska
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
spektroskopia Ramana
;
stop aluminium
plasma electrolytic oxidation
;
corrosion resistance
;
corrosion inhibitor
;
8-hydroxyquinoline
;
X-ray diffraction
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
Raman spectroscopy
;
aluminum alloy
2/38
Nr opisu:
0000132126
Structural and electrochemical study of resorbable Ca
32
Mg
12
Zn
38
Yb
18-x
B
x
(x=1, 2, 3) metallic glasses in Ringer's solution.
[Aut.]: Dawid
Szyba
, A.
Bajorek
, Rafał
Babilas
.
-
J. Alloys Compd.
2020 vol. 815
, art. no. 152313 s. 1-8, bibliogr. 41 poz..
Impact Factor
4.650.
Punktacja MNiSW
100.000
masywne szkło metaliczne na osnowie Ca
;
badanie elektrochemiczne
;
wydzielanie wodoru
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
elektrochemiczna spektroskopia impedancyjna
Ca-based bulk metallic glasses
;
electrochemical study
;
hydrogen evolution
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
electrochemical impedance spectroscopy
3/38
Nr opisu:
0000136297
Zastosowanie rentgenowskiej spektroskopii fotoelektronów do analizy produktów korozji stopów wapnia.
[Aut.]: Katarzyna
Młynarek
, Dawid
Szyba
, Rafał
Babilas
, A.
Bajorek
.
-
LAB Laboratoria Apar. Bad.
2020 nr 2
, s. 30-32, 41, bibliogr. 6 poz..
Punktacja MNiSW
5.000
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
analiza
;
korozja stopów wapnia
X-ray photoelectron spectroscopy
;
analysis
;
corrosion of calcium alloys
4/38
Nr opisu:
0000130949
Corrosion properties of Ca
65-x
Mg
17.5Zn17.5++x
(x = 0, 2.5, 5) alloys.
[Aut.]: Rafał
Babilas
, Paweł*
Wojciechowski
, A.
Bajorek
, Piotr
Sakiewicz
, Katarzyna
Cesarz-Andraczke
.
-
Arch. Metall. Mater.
2019 vol. 64 iss. 3
, s. 1033-1040, bibliogr. 29 poz..
Impact Factor
0.586.
Punktacja MNiSW
40.000
stop na bazie Ca
;
korozja
;
spektroskopia fotoelektronowa rentgenowska
;
pomiar wodoru
Ca-based alloy
;
corrosion
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
hydrogen evaluation
5/38
Nr opisu:
0000132273
Corrosion study of resorbable Ca-based bulk metallic glasses with gold and boron addition.
[Aut.]: Rafał
Babilas
, Dawid
Szyba
.
W:
Zeszyt abstraktów międzynarodowej konferencji Material Technologies in Silesia'2019, 13-16 października 2019, Zawiercie
. Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska, 2019
, s. 3-4, bibliogr. 9 poz. (
Prace Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych
;
Wydział Mechaniczny Technologiczny. Politechnika Śląska
z. 6)
masywne szkło metaliczne na osnowie Ca
;
badanie elektrochemiczne
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
pomiar elektrochemiczny
Ca-based bulk metallic glasses
;
electrochemical study
;
hydrogen evolution
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
electrochemical measurement
6/38
Nr opisu:
0000129783
Electrochemical characterization of Al
84
Ni
9
Y
7
metallic glass after annealing process.
[Aut.]: Rafał
Babilas
, A.
Bajorek
, Monika
Spilka
, Wojciech
Łoński
, Dawid
Szyba
.
-
J. Non-Cryst. Solids
2019 vol. 518
, s. 24-35, bibliogr. 40 poz..
Impact Factor
2.929.
Punktacja MNiSW
70.000
elektrochemiczna spektroskopia impedancyjna
;
szkło metaliczne
;
skaningowa mikroskopia elektronowa
;
dyfrakcja rentgenowska
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
electrochemical impedance spectroscopy
;
metallic glass
;
scanning electron microscopy
;
X-ray diffraction
;
X-ray photoelectron spectroscopy
7/38
Nr opisu:
0000127077
Structural study of amorphous and nanocrystalline Mg-based metallic glass examined by neutron diffraction, X-ray photoelectron spectroscopy, Reverse Monte Carlo calculations and high-resolution electron microscopy.
[Aut.]: Rafał
Babilas
, A.
Bajorek
, L.
Temleitner
.
-
J. Non-Cryst. Solids
2019 vol. 505
, s. 421-430, bibliogr. 43 poz..
Impact Factor
2.929.
Punktacja MNiSW
70.000
szkło metaliczne
;
dyfrakcja neutronowa
;
odwrócona symulacja Monte Carlo
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
mikroskopia elektronowa
metallic glass
;
neutron diffraction
;
reverse Monte Carlo simulation
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
electron microscopy
8/38
Nr opisu:
0000125508
Atomic and electronic structure of graphene oxide/Cu interface.
[Aut.]: D. W.
Boukhvalov
, E. Z.
Kurmaev
, Ewelina*
Urbańczyk
, G.
Dercz
, Agnieszka
Stolarczyk
, Wojciech
Simka
, A. I.
Kukharenko
, I. S.
Zhidkov
, A. I.
Slesarev
, A. F.
Zatsepin
, S. O.
Cholakh
.
-
Thin Solid Films
2018 vol. 665
, s. 91-108, bibliogr. 59 poz..
Impact Factor
1.888.
Punktacja MNiSW
30.000
grafen
;
tlenek grafenu
;
zredukowany tlenek grafenu
;
teoria funkcjonału gęstości
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
przewodność
graphene
;
graphene oxide
;
reduced graphene oxide
;
Density Functional Theory
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
conductivity
9/38
Nr opisu:
0000122366
Corrosion resistance of resorbable Ca-Mg-Zn-Yb metallic glasses in Ringer's solution.
[Aut.]: Rafał
Babilas
, A.
Bajorek
, Piotr
Sakiewicz
, Aneta
Kania
, Dawid
Szyba
.
-
J. Non-Cryst. Solids
2018 vol. 488
, s. 69-78, bibliogr. 33 poz..
Impact Factor
2.600.
Punktacja MNiSW
30.000
stop na osnowie Ca
;
masywne szkło metaliczne
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
badanie elektrochemiczne
;
wydzielanie wodoru
;
elektrochemiczna spektroskopia impedancyjna
Ca-based alloy
;
bulk metallic glass
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
electrochemical study
;
hydrogen evolution
;
electrochemical impedance spectroscopy
10/38
Nr opisu:
0000122723
Cyclodextrin inhibits zinc corrosion by destabilizing point defect formation in the oxide layer.
[Aut.]: A.
Altin
, Maciej
Krzywiecki
, A.
Sarfraz
, C.
Toparli
, C.
Laska
, P.
Kerger
, A.
Zeradjanin
, K. J. J.
Mayrhofer
, M.
Rohwerder
, A.
Erbe
.
-
Beilstein J. Nanotechnol.
2018 vol. 9
, s. 936-944, bibliogr. 49 poz..
Impact Factor
2.269.
Punktacja MNiSW
35.000
schemat pasmowy
;
chemia defektów
;
organiczne inhibitory korozji
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
korozja cynku
band diagram
;
defect chemistry
;
organic corrosion inhibitors
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
zinc corrosion
11/38
Nr opisu:
0000107994
Characterisation of anodic oxide films on zirconium formed in sulphuric acid: XPS and corrosion resistance investigations.
[Aut.]: Maciej
Sowa
, D.
Łastówka
, A. I.
Kukharenko
, D. M.
Korotin
, E. Z.
Kurmaev
, S. O.
Cholakh
, Wojciech
Simka
.
-
J. Solid State Electrochem.
2017 vol. 21 iss. 1
, s. 203-210, bibliogr. 29 poz..
Impact Factor
2.509.
Punktacja MNiSW
30.000
cyrkon
;
utlenianie anodowe
;
odporność na korozję
;
kwas siarkowy
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
zirconium
;
anodic oxidation
;
corrosion resistance
;
sulphuric acid
;
X-ray photoelectron spectroscopy
12/38
Nr opisu:
0000119497
Corrosion study of resorbable Ca
60
Mg
15
Zn
25
bulk metallic glasses in physiological fluids.
[Aut.]: Rafał
Babilas
, A.
Bajorek
, Adrian
Radoń
, Ryszard**
Nowosielski
.
-
Prog. Nat. Sci.
2017 vol. 27 iss. 5
, s. 627-634, bibliogr. 34 poz..
Impact Factor
2.572.
Punktacja MNiSW
30.000
szkło metaliczne na osnowie Ca
;
odporność korozyjna
;
spektroskopia FTIR
;
dyfrakcja promieniowania rentgenowskiego
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
pomiar wodoru
Ca-based metallic glasses
;
corrosion resistance
;
FTIR spectroscopy
;
X-ray diffraction
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
hydrogen evaluation
13/38
Nr opisu:
0000117817
Structural and electrochemical characterization of the Ca
50
Mg
20
Cu
25
Zn
5
amorphous alloy.
[Aut.]: Rafał
Babilas
, A.
Bajorek
, Ł.
Hawełek
, W.
Głuchowski
, Wojciech
Simka
, Dorota
Babilas
.
-
J. Non-Cryst. Solids
2017 vol. 471
, s. 467-475, bibliogr. 29 poz..
Impact Factor
2.488.
Punktacja MNiSW
30.000
szkło metaliczne na osnowie Ca
;
korozja
;
dyfrakcja rentgenowska
;
modelowanie RMC
;
fotoelektronowa spektroskopia rentgenowska
Ca-based metallic glass
;
corrosion
;
X-ray diffraction
;
RMC modelling
;
X-ray photoelectron spectroscopy
14/38
Nr opisu:
0000107284
Corrosion behavior of bioresorbable Ca-Mg-Zn bulk metallic glasses.
[Aut.]: Ryszard**
Nowosielski
, A.
Bajorek
, Rafał
Babilas
.
-
J. Non-Cryst. Solids
2016 vol. 447
, s. 126-133, bibliogr. 29 poz..
Impact Factor
2.124.
Punktacja MNiSW
30.000
szkło metaliczne na osnowie Ca
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
odporność na korozję
;
pomiar wodoru
Ca-based metallic glass
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
corrosion resistance
;
hydrogen evaluation
15/38
Nr opisu:
0000106634
Study on corrosion behavior of Mg-based bulk metallic glasses in NaCl solution.
[Aut.]: Rafał
Babilas
, A.
Bajorek
, Wojciech
Simka
, Dorota
Babilas
.
-
Electrochim. Acta
2016 vol. 209
, s. 632-642, bibliogr. 35 poz..
Impact Factor
4.798.
Punktacja MNiSW
40.000
masywne szkło metaliczne
;
dyfrakcja rentgenowska
;
mikroskopia elektronowa
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
odporność na korozję
bulk metallic glass
;
X-ray diffraction
;
electron microscopy
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
corrosion resistance
16/38
Nr opisu:
0000102782
Processes of removing zinc from water using zero-valent iron.
[Aut.]: Tomasz
Suponik
, A.
Winiarski
.
-
Water Air Soil Pollut.
2015 vol. 226
, art. no. 360 s. 1-11, bibliogr. 21 poz..
Impact Factor
1.551.
Punktacja MNiSW
25.000
żelazo metaliczne
;
cynk
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
dyfrakcja
;
ładunek powierzchniowy
zero-valent iron
;
zinc
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
diffraction
;
surface charge
17/38
Nr opisu:
0000103707
Self-assembled monolayers of partially fluorinated alcohols on Si(001): XPS and UV-photoemission study.
[Aut.]: A.
Szwajca
, Maciej
Krzywiecki
, H.
Koroniak
.
-
J. Fluorine Chem.
2015 vol. 180
, s. 248-256, bibliogr. 35 poz..
Impact Factor
2.213.
Punktacja MNiSW
30.000
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
nadfioletowa spektroskopia fotoelektronowa
;
obliczenia kwantowo-chemiczne
;
analiza powierzchni Si
;
alkohole polifluorowane
X-ray photoelectron spectroscopy
;
UV photoelectron spectroscopy
;
quantum chemical calculation
;
Si surface analysis
;
polyfluorinated alcohols
18/38
Nr opisu:
0000100485
Species formed on iron surface during removal of copper ions from aqueous solutions.
[Aut.]: Tomasz
Suponik
, A.
Winiarski
, J.
Szade
.
-
Physicochem. Probl. Miner. Process.
2015 vol. 51 iss. 2
, s. 731-743, bibliogr. 19 poz..
Impact Factor
0.977.
Punktacja MNiSW
25.000
woda
;
żelazo metaliczne
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
dyfrakcja
;
miedź
water
;
zero-valent iron
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
diffraction
;
copper
19/38
Nr opisu:
0000093253
Influence of electropolishing and anodic oxidation on morphology, chemical composition and corrosion resistance of niobium.
[Aut.]: Maciej
Sowa
, K.
Greń
, A. I.
Kukharenko
, D. M.
Korotin
, Joanna Kamila
Michalska
, L.
Szyk-Warszyńska
, M.
Mosiałek
, Jerzy**
Żak
, E.
Pamuła
, E. Z.
Kurmaev
, S. O.
Cholakh
, Wojciech
Simka
.
-
Mater. Sci. Eng., C Mater. Biol. Appl.
2014 vol. 42
, s. 529-537, bibliogr. 55 poz..
Impact Factor
3.088.
Punktacja MNiSW
30.000
niob
;
utlenianie anodowe
;
polerowanie elektrolityczne
;
odporność na korozję
;
kwas fosforowy
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
niobium
;
anodic oxidation
;
electropolishing
;
corrosion resistance
;
phosphoric acid
;
X-ray photoelectron spectroscopy
20/38
Nr opisu:
0000086701
Physicochemical and electrochemical properties of AISI 316L stainless steel used for implants in human urinary system.
[Aut.]: Witold
Walke
, Joanna**
Przondziono
.
-
Arch. Metall. Mater.
2013 vol. 58 iss. 2
, s. 625-630, bibliogr. 15 poz..
Impact Factor
0.763.
Punktacja MNiSW
30.000
stal AISI 316L
;
stal nierdzewna
;
spektroskopia elektrochemicznej impedancji
;
EIS
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
XPS
;
skaningowa mikroskopia elektronowa
;
SEM
AlSI 316L steel
;
stainless steel
;
electrochemical impedance spectroscopy
;
EIS
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
XPS
;
scanning electron microscopy
;
SEM
21/38
Nr opisu:
0000075128
Physical and chemical studies of bacterial bioaerosols at wastewater treatment plant using scanning electron mikroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy.
[Aut.]: J.
Płoszaj
, E.
Talik
, Z.
Piotrowska-Seget
, Józef
Pastuszka
.
W:
Electron microscopy XIV
. Selected peer reviewed papers from the XIV International Conference on Electron Microscopy (EM 2011), Wisla, Poland, June 26-30, 2011. Ed. by D. Stróż and K. Prusik. Stafa-Zurich : Trans Tech Publications, 2012
, s. 32-36, bibliogr. 11 poz. (
Solid State Phenomena
; vol. 186).
Punktacja MNiSW
10.000
bioaerozol
;
bakterie
;
oczyszczalnia ścieków
;
skaningowa mikroskopia elektronowa
;
SEM
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
XPS
;
cryo-SEM
bioaerosol
;
bacteria
;
wastewater treatment plant
;
scanning electron microscopy
;
SEM
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
XPS
;
cryo-SEM
22/38
Nr opisu:
0000077215
Comparative study of surface morphology of copper phthalocyanine ultra thin films deposited on Si (111) native and RCA-cleaned substrates.
[Aut.]: Maciej
Krzywiecki
, Lucyna
Grządziel
, Jerzy
Bodzenta
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2012 vol. 520 iss. 11
, s. 3965-3970, bibliogr. 35 poz..
Impact Factor
1.890.
Punktacja MNiSW
30.000
półprzewodnik organiczny
;
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
mikroskopia sił atomowych
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
obróbka RCA
organic semiconductor
;
copper phthalocyanine
;
thin film
;
atomic force microscopy
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
RCA treatment
;
silicon native substrate
23/38
Nr opisu:
0000063754
Influence of ambient air exposure on surface chemistry and electronic properties of thin copper phthalocyanine sensing layers.
[Aut.]: Lucyna
Grządziel
, Maciej
Krzywiecki
, H.
Peisert
, T.
Chasse
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2011 vol. 519 iss. 7
, s. 2187-2192, bibliogr. 41 poz..
Impact Factor
1.890.
Punktacja MNiSW
30.000
półprzewodnik organiczny
;
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
właściwości elektroniczne
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
spektroskopia fotoelektronów w nadfiolecie
organic semiconductor
;
copper phthalocyanine
;
thin film
;
electronic properties
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
ultraviolet photoelectron spectroscopy
24/38
Nr opisu:
0000071525
X-ray photoelectron spectroscopy and thermal desorption spectroscopy comparative studies of L-CVD SnO
2
ultra thin films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, Natalia
Waczyńska
, Piotr*
Kościelniak
, Michał*
Sitarz
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2011 vol. 520 iss. 3
, s. 913-917, bibliogr. 29 poz..
Impact Factor
1.890.
Punktacja MNiSW
30.000
dwutlenek cyny
;
L-CVD
;
powłoka cienka
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
XPS
;
profilowanie głębokościowe
;
spektroskopia termodesorpcyjna
;
chemia powierzchni
tin dioxide
;
L-CVD
;
ultrathin film
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
XPS
;
depth profiling
;
thermal desorption spectroscopy
;
surface chemistry
25/38
Nr opisu:
0000063356
Influence of Si substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO
2
thin films studied by XPS and AFM.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, Natalia
Waczyńska
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Appl. Surf. Sci.
2010 vol. 256 iss. 19
, s. 5771-5775, bibliogr. 25 poz..
Impact Factor
1.795
dwutlenek cyny
;
cienka powłoka L-CVD
;
podłoże krzemowe
;
morfologia powierzchni
;
mikroskopia sił atomowych
;
AFM
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
XPS
tin dioxide
;
L-CVD thin film
;
surface morphology
;
atomic force microscopy
;
AFM
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
XPS
26/38
Nr opisu:
0000063606
Struktura i własności gradientowych powłok PVD na spiekanych materiałach narzędziowych. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Ludwina*
Żukowska
.
Gliwice, 2010, 78 k., bibliogr. 167 poz. + zał.: 101 k. tabl.
Politechnika Śląska. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Promotor: prof. zw. dr hab. inż. Leszek** Dobrzański
materiały narzędziowe
;
powłoka PVD
;
powłoka gradientowa
;
spektroskopia elektronów Augera
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
tool materials
;
PVD coating
;
gradient coating
;
Auger electron spectroscopy
;
X-ray photoelectron spectroscopy
27/38
Nr opisu:
0000056850
Influence of substrate doping on the surface chemistry and morphology of Copper Phthalocyanine ultra thin films on Si (111) substrates.
[Aut.]: Maciej
Krzywiecki
, L.
Ottaviano
, Lucyna
Grządziel
, P.
Parisse
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2009 vol. 517 iss. 5
, s. 1630-1635, bibliogr. 15 poz.
półprzewodnik organiczny
;
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
właściwości powierzchniowe
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
mikroskopia sił atomowych
organic semiconductor
;
copper phthalocyanine
;
thin film
;
surface properties
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
atomic force microscopy
28/38
Nr opisu:
0000056438
Local surface morphology and chemistry of SnO
2
thin films deposited by rheotaxial growth and thermal oxidation method for gas sensor application.
[Aut.]: L.
Ottaviano
, Monika
Kwoka
, F.
Bisti
, P.
Parisse
, V.
Grossi
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2009 vol. 517 iss. 22
, s. 6161-6169, bibliogr. 29 poz..
Impact Factor
1.727
dwutlenek cyny
;
RGTO
;
podłoże krzemowe
;
stechiometria
;
dyfrakcja rentgenowska
;
wytrzymałość na zginanie
;
mikroskopia sił atomowych
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
tin dioxide
;
Rheological Growth and Thermal Oxidation (RGTO)
;
surface morphology
;
stoichiometry
;
X-ray diffraction
;
scanning electron microscopy
;
atomic force microscopy
;
X-ray photoelectron spectroscopy
29/38
Nr opisu:
0000048134
X-ray photoelectron spectroscopy and full potential studies of the electronic density of state of ternary oxyborate Na
3
La
9
O
3
(BO
3
)
8
.
[Aut.]: A. H.
Reshak
, S.
Auluck
, Iwan*
Kityk
.
-
J. Alloys Compd.
2009 vol. 472 iss. 1/2
, s. 30-34
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
struktura elektronowa
;
obliczenia DFT
;
metoda LDA
;
metoda FP LAPW
X-ray photoelectron spectroscopy
;
electronic structure
;
DFT calculations
;
LDA method
;
FP LAPW method
30/38
Nr opisu:
0000056910
XPS analysis of sonochemically prepared SbSl ethanogel.
[Aut.]: Marian
Nowak
, E.
Talik
, Piotr
Szperlich
, D.
Stróż
.
-
Appl. Surf. Sci.
2009 vol. 255 iss. 17
, s. 7689-7694, bibliogr. 48 poz..
Impact Factor
1.616
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
nanoprzewody
;
półprzewodnik
;
sonochemia
X-ray photoelectron spectroscopy
;
nanowires
;
semiconductor
;
sonochemistry
31/38
Nr opisu:
0000047661
A novel III-V semiconductor material for NO
2
detection and monitoring.
[Aut.]: K.
Wierzbowska
, L.
Bideux
, Bogusława
Adamowicz
, A.
Pauly
.
-
Sens. Actuators, A Phys.
2008 vol. 142 iss. 1
, s. 237-241, bibliogr. 9 poz.
NO2
;
dwutlenek azotu
;
InP
;
fosforek indu
;
XPS
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
spektroskopia elektronów Augera
NO2
;
nitrogen dioxide
;
InP
;
indium phosphide
;
XPS
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
Auger electron spectroscopy
32/38
Nr opisu:
0000047690
Analysis of mechanism of carbon removal from GaAs(1 0 0) surface by atomic hydrogen.
[Aut.]: Paweł*
Tomkiewicz
, A.
Winkler
, Maciej
Krzywiecki
, T.
Chasse
, Jacek**
Szuber
.
-
Appl. Surf. Sci.
2008 vol. 254 iss. 24
, s. 8035-8040, bibliogr. 42 poz..
Impact Factor
1.576
GaAs
;
oczyszczanie
;
wytrawianie
;
wodór atomowy
;
spektroskopia elektronów Augera
;
spektrometria mas
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
GaAs
;
cleaning
;
etching
;
atomic hydrogen
;
Auger electron spectroscopy
;
mass spectrometry
;
X-ray photoelectron spectroscopy
33/38
Nr opisu:
0000039951
Influence of vehicular traffic on concentration and particle surface composition of PM10 and PM2.5 in Zabrze, Poland.
[Aut.]: Wioletta*
Rogula-Kozłowska
, Józef
Pastuszka
, E.
Talik
.
-
Pol. J. Environ. Stud.
2008 vol. 17 no. 4
, s. 539-548, bibliogr. 50 poz..
Impact Factor
0.963
aerozol atmosferyczny
;
PM10
;
PM2.5
;
skład chemiczny
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
XPS
;
ruch drogowy
atmospheric aerosol
;
PM10
;
PM2.5
;
chemical composition
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
XPS
;
road traffic
34/38
Nr opisu:
0000050262
XPS and AES analysis of PVD coatings.
[Aut.]: Leszek**
Dobrzański
, Ludwina*
Żukowska
, J.
Kubacki
, Klaudiusz
Gołombek
, Jarosław
Mikuła
.
-
Arch. Mater. Sci. Eng.
2008 vol. 32 iss. 2
, s. 99-102, bibliogr. 15 poz.
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
spektroskopia elektronów Augera
;
powłoka PVD
X-ray photoelectron spectroscopy
;
Auger electron spectroscopy
;
PVD coating
35/38
Nr opisu:
0000029516
Chemical composition of passive layers formed on metallic biomaterials.
[Aut.]: Marcin
Kaczmarek
, Witold
Walke
, Wojciech
Kajzer
.
-
Arch. Mater. Sci. Eng.
2007 vol. 28 nr 5
, s. 273-276, bibliogr. 16 poz.
stop metaliczny
;
biomateriały
;
XPS
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
warstwa pasywna
metallic alloy
;
biomaterials
;
XPS
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
passive layer
36/38
Nr opisu:
0000031734
Chemical composition of surface layer of PM1, PM1-2.5, PM2.5-10.
[Aut.]: K.
Klejnowski
, E.
Talik
, Józef
Pastuszka
, Wioletta*
Rogula
, A.
Krasa
.
-
Arch. Ochr. Środ.
2007 vol. 33 nr 3
, s. 89-95, bibliogr. 11 poz.
aerozol atmosferyczny
;
skład chemiczny
;
warstwa powierzchniowa
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
XPS
;
PM1
;
PM2.5
;
PM10
atmospheric aerosol
;
chemical composition
;
surface layer
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
XPS
;
PM1
;
PM2.5
;
PM10
37/38
Nr opisu:
0000031735
Concentration level and surface chemical composition of urban airborne particles near crossroads in Zabrze, Poland.
[Aut.]: Wioletta*
Rogula
, Józef
Pastuszka
, E.
Talik
.
-
Arch. Ochr. Środ.
2007 vol. 33 nr 2
, s. 23-34, bibliogr. 28 poz.
zanieczyszczenie powietrza
;
aerozol atmosferyczny
;
PM10
;
PM2.5
;
pojazd samochodowy
;
emisja spalin
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
XPS
air pollution
;
atmospheric aerosol
;
PM10
;
PM2.5
;
motor vehicle
;
exhaust gas emission
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
XPS
38/38
Nr opisu:
0000031207
Optical and chemical characteristics of the atmospheric aerosol in four towns in southern Poland.
[Aut.]: Józef
Pastuszka
, A.
Wawroś
, E.
Talik
, K.
Paw U
.
-
Sci. Total Environ.
2003 vol. 309 iss. 1/3
, s. 237-251, bibliogr. 31 poz..
Impact Factor
1.455
aerozol atmosferyczny
;
filtr
;
odbicie
;
absorpcja
;
XPS
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
atmospheric aerosol
;
filter
;
reflection
;
absorption
;
XPS
;
X-ray photoelectron spectroscopy
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie