Wyniki wyszukiwania

Wynik wyszukiwania

1/12
Nr opisu: 0000136907
On determination of complex ratio of AC voltages in a simultaneously sampled two-channel data acquisition system.
[Aut.]: J. Augustyn, Marian Kampik, Krzysztof Musioł.
W: 2020 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM). Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2020, s. 1-2, bibliogr. 5 poz.

zespolony stosunek napięć ; próbkowanie ; algorytm numeryczny ; DFT ; dopasowanie sinusoidalne ; dopasowanie do elipsy ; przesunięcie fazowe

complex voltage ratio ; sampling ; numerical algorithm ; DFT ; sine-fitting ; ellipse fitting ; phase shift

2/12
Nr opisu: 0000123645
Pomiary zespolonego stosunku napięć sinusoidalnych z wykorzystaniem asynchronicznej metody próbkowania.
[Aut.]: Wojciech* Barwinek, Marian Kampik, Krzysztof Musioł.
W: Problems and progress in metrology. PPM'18, Szczyrk, 03-06 June 2018. [Dokument elektroniczny]. Polish Academy of Sciences. Katowice Branch. Katowice : Metrology Commission of Katowice Branch of Polish Academy of Sciences, 2018, pamięć USB (PenDrive) s. 1-6, bibliogr. 3 poz. (Proceedings of Metrology Commission of Katowice Branch of the Polish Academy of Sciences ; Conferences ; no. 22). Punktacja MNiSW 20.000

zespolony stosunek napięć ; próbkowanie ; EFA ; DFT

complex voltage ratio ; sampling ; EFA ; DFT

3/12
Nr opisu: 0000126690
Projektowanie stopów o wysokiej entropii.
[Aut.]: Martyna* Lachowska, Paweł Gradoń, Jarosław Piątkowski.
-Rudy Metale 2018 R. 63 nr 10, s. 3-7, bibliogr. 20 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

stop o wysokiej entropii ; projektowanie stopu ; CALPHAD ; DFT

high entropy alloy ; alloy design ; CALPHAD ; DFT

4/12
Nr opisu: 0000116246
Application of ellipse fitting algorithm in incoherent sampling measurements of complex ratio of AC voltages.
[Aut.]: J. Augustyn, Marian Kampik.
-IEEE Trans. Instrum. Meas. 2017 vol. 66 iss. 6, s. 1117-1123, bibliogr. 26 poz.. Impact Factor 2.794. Punktacja MNiSW 30.000

zespolony stosunek napięć ; dyskretna transformata Fouriera ; DFT ; algorytm dopasowania do elipsy ; EFA ; algorytm numeryczny ; pomiar precyzyjny ; pomiary próbkujące ; próbkowanie niekoherentne

complex voltage ratio ; discrete Fourier transform ; DFT ; Ellipse Fitting Algorithm ; EFA ; numerical algorithm ; precise measurement ; sampling measurements ; incoherent sampling

5/12
Nr opisu: 0000108118
About the use of an Ellipse fitting algorithm in sampling measurements of complex ratio of AC voltages.
[Aut.]: J. Augustyn, Marian Kampik.
W: 2016 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2016), Ottawa, 10-15 July 2016. Piscataway : IEEE, 2016, s. 1-2, bibliogr. 5 poz.

algorytm numeryczny ; pomiar precyzyjny ; algorytm dopasowania do elipsy ; DFT ; pomiary próbkujące ; zespolony stosunek napięć

numerical algorithm ; precise measurement ; Ellipse Fitting Algorithm ; DFT ; sampling measurements ; complex voltage ratio

6/12
Nr opisu: 0000096534
Spectral kinetics of fluorescence spectra of fluoroderivatives of pyrazoloquinoline in different polymer matrices.
[Aut.]: M. Markiton, Wojciech* Kuźnik, I. V. Kityk, M. G. Brik, V. Kiisk, E. Gondek, T. Uchacz, P. Szlachcic.
-Spectrochim. Acta, A Mol. Biomol. Spectrosc. 2014 vol. 120, s. 494-498, bibliogr. 14 poz.. Impact Factor 2.353. Punktacja MNiSW 30.000

widmo UV-Vis ; fluorescencja ; solwatochromia ; kompozyty ; DFT

UV-Vis spectra ; fluorescence ; solvatochromism ; composites ; DFT

7/12
Nr opisu: 0000048715
Birefringence, linear and nonlinear second-order optical susceptibilities of a noncentrosymmetric chalcopyrite compound HgGa₂S₄.
[Aut.]: A. H. Reshak, S. Auluck, Iwan* Kityk.
-Curr. Opin. Solid State Mater. Sci. 2008 vol. 12 iss. 1, s. 14-18, bibliogr. 33 poz.. Impact Factor 2.976

HgGa2S4 ; własności optyczne ; DFT ; LDA ; FPLAPW

HgGa2S4 ; optical properties ; DFT ; LDA ; FPLAPW

8/12
Nr opisu: 0000047670
X-ray photoelectron spectra and the electronic band structure for non-centrosymmetric Bi₂ZnB₂O₇ nonlinear single crystal.
[Aut.]: A. H. Reshak, X. Chen, Iwan* Kityk, S. Auluck, K. Iliopoulos, S. Couris, R. Khenata.
-Curr. Opin. Solid State Mater. Sci. 2008 vol. 12 iss. 2, s. 26-31, bibliogr. 26 poz.. Impact Factor 2.976

Bi2ZnB2O7 ; XRD ; XPS ; DFT ; FPLAPW

Bi2ZnB2O7 ; XRD ; XPS ; DFT ; FPLAPW

9/12
Nr opisu: 0000048989
Specific features of second order optical susceptibilities for a complex borate crystal Bi₂ZnB₂O₇. Experiment and theory.
[Aut.]: A. H. Reshak, X. Chen, Iwan* Kityk, S. Auluck.
-Curr. Opin. Solid State Mater. Sci. 2007 vol. 11 iss. 3/4, s. 33-39, bibliogr. 31 poz.

Bi2ZnB2O7 ; własności optyczne ; DFT ; LDA ; FPLAPW

Bi2ZnB2O7 ; optical properties ; DFT ; LDA ; FPLAPW

10/12
Nr opisu: 0000019359
Rearrangements of free radicals during 2-naphthol synthesis from 2-isopropylnaphthalene.
[Aut.]: P. Fiedorow, M. Pasikowska, H. Koroniak, Roman** Mazurkiewicz, Jan** Zawadiak, Beata Orlińska, Zbigniew** Stec, Mirosława Grymel.
-J. Mol. Struct., Theochem 2006 vol. 758 no. 1, s. 75-79, bibliogr. 18 poz.. Impact Factor 1.016

modelowanie molekularne ; wolne rodniki ; przegrupowanie ; DFT

molecular modelling ; free radicals ; rearrangement ; DFT

11/12
Nr opisu: 0000133298
Theoretical estimation of acid-base properties of Lewis and Bronsted centres at the V-W-O catalyst surface: water molecule as the probe in DFT calculations.
[Aut.]: Artur Góra, E. Brocławik.
-J. Mol. Catal., A Chem. 2004 vol. 215 iss. 1/2, s. 187-193, bibliogr. 27 poz.. Impact Factor 2.316

powierzchnia katalizatora V-W-O ; teoria Bronsteda i Lewisa ; DFT

V-W-O catalyst surface ; Lewis and Bronsted sites ; DFT

12/12
Nr opisu: 0000133316
Quantum chemical modeling (DFT) of active species on the V-W-O catalyst surface in various redox conditions.
[Aut.]: Artur Góra, E. Brocławik, M. Najbar.
-Comput. Chem. 2000 vol. 24 iss. 3/4, s. 405-410, bibliogr.. Impact Factor 0.926

DFT ; WO3-V2O5 s.s. ; adsorpcja wody

DFT ; WO3-V2O5 s.s. ; water absorption

stosując format: