Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
AFM MICROSCOPY
Liczba odnalezionych rekordów:
13
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/13
Nr opisu:
0000093538
Ocena jakości powierzchni podbudów pełnoceramicznych uzupełnień protetycznych wykonanych z tlenku cyrkonu.
[Aut.]: T.
Brzezinka
, Bogusław
Ziębowicz
.
W:
Sesja Okolicznościowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'14"
. Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej, 2014
, s. 13-20, bibliogr. 10 poz. (
Prace Studenckich Kół Naukowych
;
Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika Śląska
nr 29)
implant stomatologiczny
;
proteza stomatologiczna
;
tlenek cyrkonu
;
AFM
;
CAD/CAM
dental implant
;
dental prosthesis
;
zirconium oxide
;
AFM microscopy
;
CAD/CAM
2/13
Nr opisu:
0000090831
Study of thin films for application in photovoltaic cells.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, Paweł
Jarka
, J.
Jurusik
, M.
Domański
, Magdalena
Szindler
.
-
Arch. Mater. Sci. Eng.
2013 vol. 64 nr 2
, s. 182-191, bibliogr. 14 poz..
Punktacja MNiSW
13.000
MePc:PTCDA
;
morfologia warstw cienkich
;
mikroskopia AFM
;
PVD
;
absorbancja
MePc:PTCDA
;
thin film morphology
;
AFM microscopy
;
PVD
;
absorbance
3/13
Nr opisu:
0000072078
Badanie morfologii i własności fizycznych cienkich warstw poliazometin. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Barbara*
Hajduk
.
Gliwice, 2012, 110 k., bibliogr. 117 poz. + zał.: 75 k. tabl.
Politechnika Śląska. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Promotor: dr hab. Jan** Weszka
polimer skoniugowany
;
spektroskopia UV-Vis
;
FTIR
;
mikroskopia AFM
conjugated polymer
;
UV-Vis spectroscopy
;
FTIR
;
AFM microscopy
4/13
Nr opisu:
0000082431
Investigations of morphology and optical properties of thin films of TiOPc/PTCDA donor acceptor couple.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, Paweł
Jarka
, B.
Hajduk
, M.
Chwastek-Ogierman
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2012 vol. 55 iss. 2
, s. 396-402, bibliogr. 13 poz..
Punktacja MNiSW
8.000
organiczna warstwa cienka
;
parowanie
;
system donorowo-akceptorowy
;
ftalocyjanina
;
PTCDA
;
spektroskopia UV-Vis
;
mikroskopia AFM
organic thin film
;
evaporation
;
donor-acceptor system
;
phthalocyanine
;
PTCDA
;
UV-Vis spectroscopy
;
AFM microscopy
5/13
Nr opisu:
0000082859
Researches of topography and optical properties of the thin films NiPc/PTCDA donor acceptor couple.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, Paweł
Jarka
, M.
Chwastek-Ogierman
, B.
Hajduk
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2012 vol. 53 iss. 2
, s. 81-88, bibliogr. 20 poz..
Punktacja MNiSW
8.000
organiczna warstwa cienka
;
parowanie
;
system donorowo-akceptorowy
;
ftalocyjanina
;
PTCDA
;
spektroskopia UV-Vis
;
mikroskopia AFM
organic thin film
;
evaporation
;
donor-acceptor system
;
phthalocyanine
;
PTCDA
;
UV-Vis spectroscopy
;
AFM microscopy
6/13
Nr opisu:
0000067008
Influence of technological conditions on optical properties and morphology of spin-coated PPI thin films.
[Aut.]: Małgorzata*
Chwastek
, Jan**
Weszka
, J.
Jurusik
, Barbara*
Hajduk
, Paweł
Jarka
.
-
Arch. Mater. Sci. Eng.
2011 vol. 48 nr 2
, s. 69-76, bibliogr. 23 poz..
Punktacja MNiSW
9.000
spin-powłoka
;
spektroskopia UV-Vis
;
spektroskopia IR
;
mikroskopia AFM
spin-coating
;
UV-Vis spectroscopy
;
IR spectroscopy
;
AFM microscopy
7/13
Nr opisu:
0000070571
Surface morphology of thin films polyoxadiazoles.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, Magdalena
Szindler
, M.
Chwastek-Ogierman
, M.
Bruma
, Paweł
Jarka
, Błażej
Tomiczek
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2011 vol. 49 iss. 2
, s. 224-232, bibliogr. 16 poz..
Punktacja MNiSW
8.000
polimer organiczny
;
AFM
;
metoda spin-coating
organic polymer
;
AFM microscopy
;
spin-coating method
8/13
Nr opisu:
0000057448
Badania struktury, morfologii powierzchni oraz właściwości sensorowych cienkich warstw SnO
2
.
[Aut.]: Weronika
Izydorczyk
, M.
Pisarek
, Jerzy**
Żak
.
-
Elektronika
2010 R. 51 nr 6
, s. 50-53, bibliogr. 13 poz.
morfologia powierzchni
;
dyfraktometria rentgenowska
;
mikroskopowa siła atomowa
;
mikroskopia AFM
;
spektroskopia elektronów Augera
;
adsorpcja tlenu
surface morphology
;
X-ray diffraction
;
atomic force microscope
;
AFM microscopy
;
Auger electron spectroscopy
;
oxygen adsorption
9/13
Nr opisu:
0000057804
Comparing of optical properties and morphology of polyoxadiazoles with CF
3
groups.
[Aut.]: Barbara*
Hajduk
, Paweł
Jarka
, Jan**
Weszka
, M.
Bruma
, J.
Jurusik
, Małgorzata*
Chwastek
, D.
Mańkowski
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2010 vol. 40 iss. 1
, s. 7-14, bibliogr. 19 poz.
spektroskopia UV-Vis
;
mikroskopia AFM
;
spektroskopia IR
;
metoda spin-coating
;
polimer organiczny
UV-Vis spectroscopy
;
AFM microscopy
;
IR spectroscopy
;
spin-coating method
;
organic polymer
10/13
Nr opisu:
0000057727
Studying of polyoxadiazole with Si atom in the backbone.
[Aut.]: Barbara*
Hajduk
, Paweł
Jarka
, Jan**
Weszka
, M.
Bruma
, J.
Jurusik
, Małgorzata*
Chwastek
, D.
Mańkowski
.
-
Arch. Mater. Sci. Eng.
2010 vol. 42 nr 2
, s. 77-84, bibliogr. 15 poz.
spektroskopia UV-Vis
;
mikroskopia sił atomowych
;
spektroskopia w podczerwieni
;
metoda spin-coating
UV-Vis spectroscopy
;
AFM microscopy
;
IR spectroscopy
;
spin-coating method
11/13
Nr opisu:
0000050227
Influence of LCVD technological parameters on properties of polyazomethine thin films.
[Aut.]: Barbara*
Hajduk
, Jan**
Weszka
, J.
Jurusik
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2009 vol. 36 iss. 1
, s. 41-48, bibliogr. 19 poz.
spektroskopia UV-Vis
;
mikroskopia AFM
;
chemiczne osadzanie z fazy gazowej
;
CVD
;
LCVD
;
polimer skoniugowany
UV-Vis spectroscopy
;
AFM microscopy
;
chemical vapour deposition
;
CVD
;
LCVD
;
conjugated polymer
12/13
Nr opisu:
0000056347
Predicting properties of PVD and CVD coatings based on fractal quantities describing their surface.
[Aut.]: Waldemar
Kwaśny
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2009 vol. 37 iss. 2
, s. 125-192, bibliogr. 156 poz.
powłoka cienka
;
powłoka gruba
;
powłoka PVD
;
powłoka CVD
;
analiza obrazu
;
analiza fraktalna
;
analiza rentgenowska
;
mikroskopia AFM
thin coating
;
thick coating
;
PVD coating
;
CVD coating
;
image analysis
;
fractal analysis
;
X-ray analysis
;
AFM microscopy
13/13
Nr opisu:
0000056361
Studying of spin-coated oxad-Si properties.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, Leszek**
Dobrzański
, Paweł
Jarka
, J.
Jurusik
, Barbara*
Hajduk
, M.
Bruma
, Jarosław
Konieczny
, D.
Mańkowski
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2009 vol. 37 iss. 2
, s. 505-511, bibliogr. 13 poz.
warstwa cienka
;
morfologia
;
mikroskopia AFM
;
metoda spin-coating
;
absorbancja
;
oxad-Si
thin film
;
morphology
;
AFM microscopy
;
spin-coating method
;
absorbance
;
oxad-Si
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie