Wynik wyszukiwania
Zapytanie: AFM MICROSCOPY
Liczba odnalezionych rekordów: 13



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/13
Nr opisu: 0000093538   
Ocena jakości powierzchni podbudów pełnoceramicznych uzupełnień protetycznych wykonanych z tlenku cyrkonu.
[Aut.]: T. Brzezinka, Bogusław Ziębowicz.
W: Sesja Okolicznościowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'14". Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej, 2014, s. 13-20, bibliogr. 10 poz. (Prace Studenckich Kół Naukowych ; Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika Śląska nr 29)

implant stomatologiczny ; proteza stomatologiczna ; tlenek cyrkonu ; AFM ; CAD/CAM

dental implant ; dental prosthesis ; zirconium oxide ; AFM microscopy ; CAD/CAM

2/13
Nr opisu: 0000090831   
Study of thin films for application in photovoltaic cells.
[Aut.]: Jan** Weszka, Paweł Jarka, J. Jurusik, M. Domański, Magdalena Szindler.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2013 vol. 64 nr 2, s. 182-191, bibliogr. 14 poz.. Punktacja MNiSW 13.000

MePc:PTCDA ; morfologia warstw cienkich ; mikroskopia AFM ; PVD ; absorbancja

MePc:PTCDA ; thin film morphology ; AFM microscopy ; PVD ; absorbance

3/13
Nr opisu: 0000072078
Badanie morfologii i własności fizycznych cienkich warstw poliazometin. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Barbara* Hajduk.
Gliwice, 2012, 110 k., bibliogr. 117 poz. + zał.: 75 k. tabl.
Politechnika Śląska. Wydział Mechaniczny Technologiczny. Promotor: dr hab. Jan** Weszka

polimer skoniugowany ; spektroskopia UV-Vis ; FTIR ; mikroskopia AFM

conjugated polymer ; UV-Vis spectroscopy ; FTIR ; AFM microscopy

4/13
Nr opisu: 0000082431   
Investigations of morphology and optical properties of thin films of TiOPc/PTCDA donor acceptor couple.
[Aut.]: Jan** Weszka, Paweł Jarka, B. Hajduk, M. Chwastek-Ogierman.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2012 vol. 55 iss. 2, s. 396-402, bibliogr. 13 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

organiczna warstwa cienka ; parowanie ; system donorowo-akceptorowy ; ftalocyjanina ; PTCDA ; spektroskopia UV-Vis ; mikroskopia AFM

organic thin film ; evaporation ; donor-acceptor system ; phthalocyanine ; PTCDA ; UV-Vis spectroscopy ; AFM microscopy

5/13
Nr opisu: 0000082859   
Researches of topography and optical properties of the thin films NiPc/PTCDA donor acceptor couple.
[Aut.]: Jan** Weszka, Paweł Jarka, M. Chwastek-Ogierman, B. Hajduk.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2012 vol. 53 iss. 2, s. 81-88, bibliogr. 20 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

organiczna warstwa cienka ; parowanie ; system donorowo-akceptorowy ; ftalocyjanina ; PTCDA ; spektroskopia UV-Vis ; mikroskopia AFM

organic thin film ; evaporation ; donor-acceptor system ; phthalocyanine ; PTCDA ; UV-Vis spectroscopy ; AFM microscopy

6/13
Nr opisu: 0000067008   
Influence of technological conditions on optical properties and morphology of spin-coated PPI thin films.
[Aut.]: Małgorzata* Chwastek, Jan** Weszka, J. Jurusik, Barbara* Hajduk, Paweł Jarka.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2011 vol. 48 nr 2, s. 69-76, bibliogr. 23 poz.. Punktacja MNiSW 9.000

spin-powłoka ; spektroskopia UV-Vis ; spektroskopia IR ; mikroskopia AFM

spin-coating ; UV-Vis spectroscopy ; IR spectroscopy ; AFM microscopy

7/13
Nr opisu: 0000070571   
Surface morphology of thin films polyoxadiazoles.
[Aut.]: Jan** Weszka, Magdalena Szindler, M. Chwastek-Ogierman, M. Bruma, Paweł Jarka, Błażej Tomiczek.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2011 vol. 49 iss. 2, s. 224-232, bibliogr. 16 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

polimer organiczny ; AFM ; metoda spin-coating

organic polymer ; AFM microscopy ; spin-coating method

8/13
Nr opisu: 0000057448   
Badania struktury, morfologii powierzchni oraz właściwości sensorowych cienkich warstw SnO2.
[Aut.]: Weronika Izydorczyk, M. Pisarek, Jerzy** Żak.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 6, s. 50-53, bibliogr. 13 poz.

morfologia powierzchni ; dyfraktometria rentgenowska ; mikroskopowa siła atomowa ; mikroskopia AFM ; spektroskopia elektronów Augera ; adsorpcja tlenu

surface morphology ; X-ray diffraction ; atomic force microscope ; AFM microscopy ; Auger electron spectroscopy ; oxygen adsorption

9/13
Nr opisu: 0000057804   
Comparing of optical properties and morphology of polyoxadiazoles with CF3 groups.
[Aut.]: Barbara* Hajduk, Paweł Jarka, Jan** Weszka, M. Bruma, J. Jurusik, Małgorzata* Chwastek, D. Mańkowski.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2010 vol. 40 iss. 1, s. 7-14, bibliogr. 19 poz.

spektroskopia UV-Vis ; mikroskopia AFM ; spektroskopia IR ; metoda spin-coating ; polimer organiczny

UV-Vis spectroscopy ; AFM microscopy ; IR spectroscopy ; spin-coating method ; organic polymer

10/13
Nr opisu: 0000057727   
Studying of polyoxadiazole with Si atom in the backbone.
[Aut.]: Barbara* Hajduk, Paweł Jarka, Jan** Weszka, M. Bruma, J. Jurusik, Małgorzata* Chwastek, D. Mańkowski.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2010 vol. 42 nr 2, s. 77-84, bibliogr. 15 poz.

spektroskopia UV-Vis ; mikroskopia sił atomowych ; spektroskopia w podczerwieni ; metoda spin-coating

UV-Vis spectroscopy ; AFM microscopy ; IR spectroscopy ; spin-coating method

11/13
Nr opisu: 0000050227   
Influence of LCVD technological parameters on properties of polyazomethine thin films.
[Aut.]: Barbara* Hajduk, Jan** Weszka, J. Jurusik.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2009 vol. 36 iss. 1, s. 41-48, bibliogr. 19 poz.

spektroskopia UV-Vis ; mikroskopia AFM ; chemiczne osadzanie z fazy gazowej ; CVD ; LCVD ; polimer skoniugowany

UV-Vis spectroscopy ; AFM microscopy ; chemical vapour deposition ; CVD ; LCVD ; conjugated polymer

12/13
Nr opisu: 0000056347   
Predicting properties of PVD and CVD coatings based on fractal quantities describing their surface.
[Aut.]: Waldemar Kwaśny.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2009 vol. 37 iss. 2, s. 125-192, bibliogr. 156 poz.

powłoka cienka ; powłoka gruba ; powłoka PVD ; powłoka CVD ; analiza obrazu ; analiza fraktalna ; analiza rentgenowska ; mikroskopia AFM

thin coating ; thick coating ; PVD coating ; CVD coating ; image analysis ; fractal analysis ; X-ray analysis ; AFM microscopy

13/13
Nr opisu: 0000056361   
Studying of spin-coated oxad-Si properties.
[Aut.]: Jan** Weszka, Leszek** Dobrzański, Paweł Jarka, J. Jurusik, Barbara* Hajduk, M. Bruma, Jarosław Konieczny, D. Mańkowski.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2009 vol. 37 iss. 2, s. 505-511, bibliogr. 13 poz.

warstwa cienka ; morfologia ; mikroskopia AFM ; metoda spin-coating ; absorbancja ; oxad-Si

thin film ; morphology ; AFM microscopy ; spin-coating method ; absorbance ; oxad-Si

stosując format:
Nowe wyszukiwanie