Wynik wyszukiwania
Zapytanie: 2011 IEEE 17TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR DESIGN AND TECHNOLOGY OF ELECTRONIC
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000082885   
A digital approach to nonlinearity measurement of voltage ramp.
[Aut.]: Edward** Hrynkiewicz.
W: 2011 IEEE 17th International Symposium for Design and Technology of Electronics Packages (SIITME), Timisoara, Romania, 20-23 Oct 2011. Conference proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011, s. 323-325, bibliogr. 5 poz.

rampa napięciowa ; pomiar nieliniowości ; błąd nieliniowości

voltage ramp ; nonlinearity measurement ; nonlinearity error

stosując format:
Nowe wyszukiwanie