Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
SKOCZEK E
Liczba odnalezionych rekordów:
7
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/7
Nr opisu:
0000073603
Badania topografii i grubości warstw pasywnych na utlenianym anodowo stopie Ti6Al4V.
[Aut.]: Janusz
Szewczenko
, J.
Jaglarz
, Marcin
Basiaga
, E.
Skoczek
.
W:
Zastosowania elektromagnetyzmu w nowoczesnych technikach i informatyce
. XXII Sympozjum środowiskowe PTZE, Sandomierz, 9-12 września 2012. PTZE Polskie Towarzystwo Zastosowań Elektromagnetyzmu [ i in.]. Warszawa : Polskie Towarzystwo Zastosowań Elektromagnetyzmu, 2012
, s. 203-205
stop Ti6Al4V
;
warstwa pasywna
;
biomateriał metalowy
;
topografia
Ti6Al4V alloy
;
passive layer
;
metallic biomaterial
;
topography
2/7
Nr opisu:
0000073913
Parametry optyczne cienkich warstw krzemionkowych na podłożach krzemowych.
[Aut.]: E.
Skoczek
, J.
Cisowski
, Paweł
Karasiński
, J.
Jaglarz
, B.
Jarząbek
.
-
Mater. Ceram.
2012 R. 64 nr 2
, s. 282-285, bibliogr. 11 poz..
Punktacja MNiSW
6.000
cienka warstwa krzemowa
;
podłoże krzemowe
;
porowata krzemionka
;
zol-żel
;
elipsometria spektroskopowa
thin silica film
;
silicon substrate
;
porous silica
;
sol-gel
;
spectroscopic ellipsometry
3/7
Nr opisu:
0000076148
Topografia i grubość warstw pasywnych na utlenianym anodowo stopie Ti6Al4V.
[Aut.]: Janusz
Szewczenko
, J.
Jaglarz
, Marcin
Basiaga
, J.
Kurzyk
, E.
Skoczek
, Zbigniew
Paszenda
.
-
Prz. Elektrot.
2012 R. 88 nr 12b
, s. 228-231, bibliogr. 20 poz..
Punktacja MNiSW
15.000
stop Ti-6Al-4V
;
biomateriały
;
warstwa pasywna
;
światło
;
rozpraszanie
;
warstwa cienka
;
optyka cienkich warstw
Ti6Al4V alloy
;
biomaterials
;
passive layer
;
light
;
scattering
;
thin film
;
thin films optics
4/7
Nr opisu:
0000068198
Ellipsometric and spectrophotometric investigations of porous silica thin films produced by sol-gel method.
[Aut.]: E.
Skoczek
, J.
Jaglarz
, Paweł
Karasiński
.
-
Acta Phys. Pol. A
2011 vol. 120 no. 4
, s. 732-735, bibliogr. 12 poz..
Impact Factor
0.444.
Punktacja MNiSW
15.000
metoda zol-żel
;
warstwa krzemionkowa
;
SiO2
sol-gel method
;
silica thin film
;
SiO2
5/7
Nr opisu:
0000087947
Ellipsometric and spectrophotometric investigations of the optical properties of porous silica thin films produced by sol-gel method.
[Aut.]: E.
Skoczek
, Paweł
Karasiński
, J.
Jaglarz
, J.
Mazur
.
W:
Integrated optics - sensors, sensing structures and methods
. IOS 2011, Szczyrk - Beskidy Mountains, Poland, 28th February to 4th March 2011. Program. [B.m.] : [b.w.], 2011
, s. [24]
6/7
Nr opisu:
0000067731
Optical properties of silica antireflective films formed in sol-gel processes.
[Aut.]: J.
Jaglarz
, Paweł
Karasiński
, E.
Skoczek
.
-
Phys. Status Solidi, C Curr. Top. Solid State Phys.
2011 vol. 8 iss. 9
, s. 2645-2648, bibliogr. 9 poz.
antyrefleksyjna powłoka
;
krzemionka porowata
;
elipsometria
;
zol-żel
antireflective coating
;
porous silica
;
ellipsometry
;
sol-gel
7/7
Nr opisu:
0000067997
Porous silica xerogel films as antireflective coatings. Fabrication and characterization.
[Aut.]: Paweł
Karasiński
, J.
Jaglarz
, M.
Reben
, E.
Skoczek
, Jacek*
Mazur
.
-
Opt. Mater.
2011 vol. 33 iss. 12
, s. 1989-1994, bibliogr. 19 poz..
Impact Factor
2.023.
Punktacja MNiSW
30.000
krzemionka porowata
;
zol-żel
;
powłoka antyrefleksyjna
porous silica
;
sol-gel
;
antireflective coating
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie