Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
PARISSE P
Liczba odnalezionych rekordów:
3
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu:
0000056850
Influence of substrate doping on the surface chemistry and morphology of Copper Phthalocyanine ultra thin films on Si (111) substrates.
[Aut.]: Maciej
Krzywiecki
, L.
Ottaviano
, Lucyna
Grządziel
, P.
Parisse
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2009 vol. 517 iss. 5
, s. 1630-1635, bibliogr. 15 poz.
półprzewodnik organiczny
;
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
właściwości powierzchniowe
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
mikroskopia sił atomowych
organic semiconductor
;
copper phthalocyanine
;
thin film
;
surface properties
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
atomic force microscopy
2/3
Nr opisu:
0000056438
Local surface morphology and chemistry of SnO
2
thin films deposited by rheotaxial growth and thermal oxidation method for gas sensor application.
[Aut.]: L.
Ottaviano
, Monika
Kwoka
, F.
Bisti
, P.
Parisse
, V.
Grossi
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2009 vol. 517 iss. 22
, s. 6161-6169, bibliogr. 29 poz..
Impact Factor
1.727
dwutlenek cyny
;
RGTO
;
podłoże krzemowe
;
stechiometria
;
dyfrakcja rentgenowska
;
wytrzymałość na zginanie
;
mikroskopia sił atomowych
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
tin dioxide
;
Rheological Growth and Thermal Oxidation (RGTO)
;
surface morphology
;
stoichiometry
;
X-ray diffraction
;
scanning electron microscopy
;
atomic force microscopy
;
X-ray photoelectron spectroscopy
3/3
Nr opisu:
0000048128
XPS study of air exposed copper phthalocyanine ultra-thin films deposited on Si(111) native substrates.
[Aut.]: Maciej
Krzywiecki
, L.
Grzadziel
, L.
Ottaviano
, P.
Parisse
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Mater. Sci. Pol.
2008 vol. 26 no. 2
, s. 287-294, bibliogr. 21 poz..
Impact Factor
0.368
ftalocyjanina miedzi
;
CuPc
;
warstwa cienka
;
chemia powierzchni
copper phthalocyanine
;
CuPc
;
thin film
;
surface chemistry
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie