Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
OTTAVIANO L
Liczba odnalezionych rekordów:
20
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/20
Nr opisu:
0000114163
Comparative analysis of physico-chemical and gas sensing characteristics of two different forms of SnO
2
films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, J.
Szuber
.
-
Appl. Surf. Sci.
2017 vol. 401
, s. 256-261, bibliogr. 19 poz..
Impact Factor
4.439.
Punktacja MNiSW
35.000
dwutlenek cyny
;
technologia RGTO
;
krystaliczność
;
morfologia
;
chemia
;
XRD
;
SEM
;
AFM
;
XPS
;
sensoryka NO2
tin dioxide
;
RGTO technology
;
crystallinity
;
morphology
;
chemistry
;
XRD
;
SEM
;
AFM
;
XPS
;
NO2 sensor
2/20
Nr opisu:
0000096287
Comparative analysis of physico-chemical and gas sensing characteristics of two different forms of SnO
2
films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, Jacek**
Szuber
.
-
Appl. Surf. Sci.
2014 vol. 326
, s. 27-31, bibliogr. 20 poz..
Impact Factor
2.711.
Punktacja MNiSW
35.000
dwutlenek cyny
;
morfologia
;
chemia
;
odpowiedź czujnika
tin dioxide
;
morphology
;
chemistry
;
sensor response
3/20
Nr opisu:
0000096259
XPS, TDS, and AFM studies of surface chemistry and morphology of Ag-covered L-CVD SnO
2
nanolayers.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, Piotr*
Kościelniak
, Jacek**
Szuber
.
-
Nanoscale Res. Lett.
2014 vol. 9 iss. 1
, s. 1-6, bibliogr. 13 poz..
Impact Factor
2.779.
Punktacja MNiSW
35.000
dwutlenek cyny
;
SnO2
;
powłoki cienkie L-CVD
;
domieszkowanie Ag
;
chemia powierzchni
;
morfologia powierzchni
;
XPS
;
TDS
;
AFM
tin dioxide
;
SnO2
;
L-CVD thin films
;
Ag-doping
;
surface chemistry
;
surface morphology
;
XPS
;
TDS
;
AFM
4/20
Nr opisu:
0000089092
Surface properties of the 1D and 2D SnO
2
nanostructures.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, Michał*
Sitarz
, L.
Ottaviano
, E.
Comini
, D.
Zappa
, Jacek**
Szuber
.
W:
Proceedings of 8th Solid State Surfaces and Interfaces
. 8th SSSI, Smolenice Castle, Slovak Republik, November 25-28, 2013. Extended abstract book. Ed. R. Brunner. Bratislava : Comenius University, 2013
, s. 86, bibliogr. 4 poz.
5/20
Nr opisu:
0000082832
Photoemission studies of the surface electronic properties of L-CVD SnO
2
ultra thin films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, Jacek**
Szuber
.
-
Appl. Surf. Sci.
2012 vol. 258 iss. 21
, s. 8425-8429, bibliogr. 30 poz..
Impact Factor
2.112.
Punktacja MNiSW
30.000
cienka powłoka L-CVD
;
poziom Fermiego
;
dwutlenek cyny
L-CVD thin film
;
Fermi level
;
tin dioxide
6/20
Nr opisu:
0000083459
XPS and TDS comparative studies of the surface chemistry of Ag-doped L-CVD SnO
2
nanolayers and SnO
2
nanowires after air exposure.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, Michał*
Sitarz
, L.
Ottaviano
, E.
Comini
, D.
Zappa
, Jacek**
Szuber
.
W:
VIII International Workshop on Semiconductor Gas Sensors
. SGS 2012, Cracow, Poland, 11-15 September 2012. Programme & abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2012
, s. 55, bibliogr. 3 poz.
7/20
Nr opisu:
0000063356
Influence of Si substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO
2
thin films studied by XPS and AFM.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, Natalia
Waczyńska
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Appl. Surf. Sci.
2010 vol. 256 iss. 19
, s. 5771-5775, bibliogr. 25 poz..
Impact Factor
1.795
dwutlenek cyny
;
cienka powłoka L-CVD
;
podłoże krzemowe
;
morfologia powierzchni
;
mikroskopia sił atomowych
;
AFM
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
XPS
tin dioxide
;
L-CVD thin film
;
surface morphology
;
atomic force microscopy
;
AFM
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
XPS
8/20
Nr opisu:
0000059231
AFM studies of surface morphology of GaAs(100) surface after sulfide passivation.
[Aut.]: Piotr*
Kościelniak
, L.
Ottaviano
, S.
Arabasz
, Jacek**
Szuber
.
W:
VI International Workshop on Semiconductor Surface Passivation, Zakopane, Poland, September 13-18, 2009
. [B.m.] : [b.w.], 2009
, s. 52
9/20
Nr opisu:
0000056850
Influence of substrate doping on the surface chemistry and morphology of Copper Phthalocyanine ultra thin films on Si (111) substrates.
[Aut.]: Maciej
Krzywiecki
, L.
Ottaviano
, Lucyna
Grządziel
, P.
Parisse
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2009 vol. 517 iss. 5
, s. 1630-1635, bibliogr. 15 poz.
półprzewodnik organiczny
;
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
właściwości powierzchniowe
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
mikroskopia sił atomowych
organic semiconductor
;
copper phthalocyanine
;
thin film
;
surface properties
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
atomic force microscopy
10/20
Nr opisu:
0000058962
Influence of substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO2 thin films studied by XPS and AFM.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, Natalia
Waczyńska
, Jacek**
Szuber
.
W:
VI International Workshop on Semiconductor Surface Passivation, Zakopane, Poland, September 13-18, 2009
. [B.m.] : [b.w.], 2009
, s. 53
11/20
Nr opisu:
0000056438
Local surface morphology and chemistry of SnO
2
thin films deposited by rheotaxial growth and thermal oxidation method for gas sensor application.
[Aut.]: L.
Ottaviano
, Monika
Kwoka
, F.
Bisti
, P.
Parisse
, V.
Grossi
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2009 vol. 517 iss. 22
, s. 6161-6169, bibliogr. 29 poz..
Impact Factor
1.727
dwutlenek cyny
;
RGTO
;
podłoże krzemowe
;
stechiometria
;
dyfrakcja rentgenowska
;
wytrzymałość na zginanie
;
mikroskopia sił atomowych
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
tin dioxide
;
Rheological Growth and Thermal Oxidation (RGTO)
;
surface morphology
;
stoichiometry
;
X-ray diffraction
;
scanning electron microscopy
;
atomic force microscopy
;
X-ray photoelectron spectroscopy
12/20
Nr opisu:
0000048128
XPS study of air exposed copper phthalocyanine ultra-thin films deposited on Si(111) native substrates.
[Aut.]: Maciej
Krzywiecki
, L.
Grzadziel
, L.
Ottaviano
, P.
Parisse
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Mater. Sci. Pol.
2008 vol. 26 no. 2
, s. 287-294, bibliogr. 21 poz..
Impact Factor
0.368
ftalocyjanina miedzi
;
CuPc
;
warstwa cienka
;
chemia powierzchni
copper phthalocyanine
;
CuPc
;
thin film
;
surface chemistry
13/20
Nr opisu:
0000047687
XPS study of the surface chemistry of Ag-covered L-CVD SnO
2
thin films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, M.
Passacantando
, G.
Czempik
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Appl. Surf. Sci.
2008 vol. 254 iss. 24
, s. 8089-8092, bibliogr. 13 poz..
Impact Factor
1.576
dwutlenek cyny
;
cienka powłoka L-CVD
;
domieszkowanie Ag
;
XPS
;
chemia powierzchni
;
profilowanie głębokościowe
tin dioxide
;
L-CVD thin film
;
Ag-doping
;
XPS
;
surface chemistry
;
depth profiling
14/20
Nr opisu:
0000039992
AFM study of the surface morphology of L-CVD SnO
2
thin films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2007 vol. 515 iss. 23
, s. 8328-8331, bibliogr. 14 poz..
Impact Factor
1.693
dwutlenek cyny
;
cienka powłoka L-CVD
;
mikroskopia sił atomowych
;
morfologia powierzchni
tin dioxide
;
L-CVD thin film
;
atomic force microscopy
;
surface morphology
15/20
Nr opisu:
0000076043
XRD and XPS comparative studies of stoichiometry of RGTO SnO
2
thin films for gas sensor application.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, P.
Parissi
, F.
Bisti
, Jacek**
Szuber
.
W:
IX Electron Technology Conference
. ELTE 2007, Kraków, 4-7.09.2007. Book of abstracts. Eds: K. Zakrzewska [et al.]. Kraków : Przedsiębiorstwo Wielobranżowe STABIL, 2007
, s. 198, bibliogr. 7 poz.
16/20
Nr opisu:
0000025450
Comparative photoemission study of the electronic properties of L-CVD SnO
2
thin films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, M.
Passacantando
, G.
Czempik
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Appl. Surf. Sci.
2006 vol. 252 iss. 21
, s. 7734-7738, bibliogr. 23 poz.
Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005.
Impact Factor
1.436
dwutlenek cyny
;
powłoka cienka
;
nakładanie L-CVD
;
właściwości elektroniczne warstwy ładunku przestrzennego
;
poziom Fermiego
;
elektroniczne pasmo wzbronione
tin dioxide
;
thin film
;
L-CVD deposition
;
electronic properties of space charge layer
;
Fermi level
;
electronic band gap
17/20
Nr opisu:
0000023051
Surface morphology of L-CVD SnO
2
thin films for gas sensor application.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, M.
Passacantando
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
W:
V International Workshop on Semiconductor Gas Sensors
. SGS 2006, Ustroń, Poland, September 10-13, 2006. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2006
, s. 46
18/20
Nr opisu:
0000025442
XPS depth profiling studies of L-CVD SnO
2
thin films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, M.
Passacantando
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Appl. Surf. Sci.
2006 vol. 252 iss. 21
, s. 7730-7733, bibliogr. 14 poz.
Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005.
Impact Factor
1.436
dwutlenek cyny
;
powłoka cienka
;
profilowanie głębokościowe
;
XPS
tin dioxide
;
thin film
;
depth profiling
;
XPS
19/20
Nr opisu:
0000023052
XPS studies of surface chemistry and electronic properties of Ag-doped L-VCD SnO
2
thin films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, M.
Passacantando
, G.
Czempik
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
W:
V International Workshop on Semiconductor Gas Sensors
. SGS 2006, Ustroń, Poland, September 10-13, 2006. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2006
, s. 47, bibliogr. 8 poz.
20/20
Nr opisu:
0000021704
XPS study of the surface chemistry of L-CVD SnO
2
thin films after oxidation.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, M.
Passacantando
, S.
Santucci
, Grzegorz*
Czempik
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2005 vol. 490 iss. 1
, s. 36-42, bibliogr. 18 poz..
Impact Factor
1.569
dwutlenek cyny
;
powłoka cienka
;
osadzanie
;
utlenianie
tin dioxide
;
thin film
;
deposition
;
oxidation
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie