Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
KWOKA MONIKA
Liczba odnalezionych rekordów:
73
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/73
Nr opisu:
0000137543
Novel insight on the local surface properties of ZnO nanowires.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, Anna
Kuliś-Kapuścińska
, D.
Zappa
, E.
Comini
, Jacek**
Szuber
.
-
Nanotechnology
2020 vol. 31 iss. 46
, s. 1-9, bibliogr. 67 poz..
Impact Factor
3.551.
Punktacja MNiSW
100.000
nanoprzewody ZnO
;
morfologia powierzchni
;
SEM
;
chemia powierzchni
;
XPS
;
reaktywność powierzchni
;
TDS
ZnO nanowires
;
surface morphology
;
SEM
;
surface chemistry
;
XPS
;
surface reactivity
;
TDS
2/73
Nr opisu:
0000135362
Rheotaxially grown and vacuum oxidized SnOx nanolayers for NO2 sensing characteristics at ppb level and room temperature.
[Aut.]: Barbara
Łysoń-Sypień
, Monika
Kwoka
.
-
Sensors
2020 vol. 20 iss. 5
, art. no. 1323 s. 1-12, bibliogr. 50 poz..
Impact Factor
3.275.
Punktacja MNiSW
100.000
sensor gazów na bazie efektu fotonapięcia powierzchniowego
;
RGVO
;
nanowarstwa SnOx
NO2 surface photovoltage gas sensor NO2
;
RGVO
;
SnOx nanolayer
;
room temperature detection limit
;
ppb level
3/73
Nr opisu:
0000134113
Studies of NO2 gas-sensing characteristics of a novel room-temperature surface-photovoltage gas sensor device.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, Jacek**
Szuber
.
-
Sensors
2020 vol. 20 iss. 2
, art. no. 408 s. 1-9, bibliogr. 31 poz..
Impact Factor
3.275.
Punktacja MNiSW
100.000
sensor gazów na bazie efektu fotonapięcia powierzchniowego
;
warunki pracy w temperaturze pokojowej
;
charakterystyka czujnika gazu
;
atmosfera NO2
surface photovoltage gas sensor
;
room temperature working conditions
;
gas sensor characteristics
;
NO2 atmosphere
4/73
Nr opisu:
0000135822
Surface properties of SnO2 nanolayers prepared by spin-coating and thermal oxidation.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, Barbara
Łysoń-Sypień
, E.
Comini
, Maciej
Krzywiecki
, Krzysztof**
Waczyński
, Jacek**
Szuber
.
-
Nanotechnology
2020 vol. 31 iss. 31
, art. no. 315714 s. 1-7, bibliogr. 27 poz..
Impact Factor
3.551.
Punktacja MNiSW
100.000
dwutlenek cyny
;
nanowarstwa SnO2
;
powlekanie obrotowe
;
morfologia powierzchni
;
SEM
;
AFM
;
chemia powierzchni
;
XPS
tin dioxide
;
SnO2 nanolayer
;
spin coating
;
surface morphology
;
SEM
;
AFM
;
surface chemistry
;
XPS
5/73
Nr opisu:
0000133338
Novel type of SnO
2
rheotaxially grown and vacuum oxidated films for NO
2
sensing at room temperature.
[Aut.]: Barbara
Łysoń-Sypień
, Monika
Kwoka
.
W:
SMS 2019 / EGF 2019 / NanoMed 2019
. Joint International Conferences and Exhibition, 23-25 October 2019 Lisbon, Portugal. Book of abstracts [online]. Joint International Conferences and Exhibition, 23 - 25 October 2019 Lisbon - Portugal. Book of abstracts [online]. [B.m.] : [b.w.], 2019
, s. 171, bibliogr. 4 poz.
Dostępny w Internecie : http://www.setcor.org/userfiles/files/2019/SMSEGFNanomed2019/SMS2019-EGF2019-NanoMed2019-Joint-Conferences-Book-of-Abstracts.pdf [dostęp 26 listopada 2019]
cienka warstwa SnO2
;
wzrost reotaksjalny i utlenianie próżniowe
;
czujnik NO2
;
temperatura pomieszczenia
SnO2 thin film
;
rheotaxial growth and vacuum oxidation
;
NO2 sensor
;
room temperature
6/73
Nr opisu:
0000130695
Opracowanie i wstępne testy ekstudera do druku 3D w technologii mieszanek na spoiwach cementowych.
[Aut.]: Tomasz
Ponikiewski
, Paweł
Kowol
, Monika
Kwoka
, Grzegorz
Ćwikła
.
-
PM News
2019 wyd. 19
, s. 22
druk 3D
;
ekstruder
3D printing
;
extruder
7/73
Nr opisu:
0000125819
A novel type room temperature surface photovoltage gas sensor device.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, M. A.
Borysiewicz
, A.
Tomkiewicz
, A.
Piotrowska
, Jacek**
Szuber
.
-
Sensors
2018 vol. 18 iss. 9
, art. no. 2919 s. 1-11, bibliogr. 37 poz..
Impact Factor
3.031.
Punktacja MNiSW
30.000
czujnik gazu w temperaturze pokojowej
room temperature gas sensor
;
surface photovoltage effect
;
porous ZnO nanostructured thin films
8/73
Nr opisu:
0000124542
Oxide-organic heterostructures: a case study of charge transfer disturbance at a SnO
2
-copper phthalocyanine buried interface.
[Aut.]: Maciej
Krzywiecki
, Lucyna
Grządziel
, Paulina
Powroźnik
, Monika
Kwoka
, J.
Rechmann
, A.
Erbe
.
-
Phys. Chem. Chem. Phys.
2018 vol. 20 iss. 23
, s. 6092-16101, bibliogr. 79 poz..
Impact Factor
3.567.
Punktacja MNiSW
40.000
9/73
Nr opisu:
0000121550
Surface properties of nanostructured, porous ZnO thin films prepared by direct current reactive magnetron sputtering.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, Barbara
Łysoń-Sypień
, Anna
Kuliś
, M. A.
Borysiewicz
, E.
Kamińska
, Jacek**
Szuber
.
-
Materials
2018 vol. 11 iss. 1
, art. no 131 s. 1-11, bibliogr. 31 poz..
Impact Factor
2.972.
Punktacja MNiSW
35.000
nanostruktura ZnO
;
reaktywne rozpylanie magnetronowe
;
XPS
;
chemia powierzchni
ZnO nanostructure
;
reactive magnetron sputtering
;
XPS
;
surface chemistry
10/73
Nr opisu:
0000126068
Surface properties of SnO
2
nanowires deposited on Si substrate covered by Au catalyst studies by XPS, TDS and SEM.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, Barbara
Łysoń-Sypień
, Anna
Kuliś
, D.
Zappa
, E.
Comini
.
-
Nanomaterials
2018 vol. 8 iss. 9
, art. no. 738 s. 1-10, bibliogr. 31 poz..
Impact Factor
4.034.
Punktacja MNiSW
35.000
morfologia powierzchni
;
chemia powierzchni
;
osadzanie z fazy gazowej
;
nanodruty dwutlenku cyny
;
nanodruty SnO2
surface morphology
;
surface chemistry
;
vapor phase deposition
;
tin dioxide nanowires
;
SnO2 nanowires
11/73
Nr opisu:
0000126456
Surface properties of tin dioxide nanowires.
[Aut.]: Barbara
Łysoń-Sypień
, Monika
Kwoka
, Anna
Kuliś
, D.
Zappa
, E.
Comini
.
W:
3rd International Conference InterNanoPoland 2018, 12-13 September 2018, Katowice
. Abstracts book. Ed. by Marta Zaborowska and Agnieszka Piekara. Katowice : The NANONET Foundation, 2018
, s. 103, bibliogr. 3 poz.
12/73
Nr opisu:
0000126455
XPS studies of surface chemistry of ZnO nanowires for gas sensors application.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, D.
Zappa
, E.
Comini
, Jacek**
Szuber
.
W:
3rd International Conference InterNanoPoland 2018, 12-13 September 2018, Katowice
. Abstracts book. Ed. by Marta Zaborowska and Agnieszka Piekara. Katowice : The NANONET Foundation, 2018
, s. 101, bibliogr. 6 poz.
13/73
Nr opisu:
0000114163
Comparative analysis of physico-chemical and gas sensing characteristics of two different forms of SnO
2
films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, J.
Szuber
.
-
Appl. Surf. Sci.
2017 vol. 401
, s. 256-261, bibliogr. 19 poz..
Impact Factor
4.439.
Punktacja MNiSW
35.000
dwutlenek cyny
;
technologia RGTO
;
krystaliczność
;
morfologia
;
chemia
;
XRD
;
SEM
;
AFM
;
XPS
;
sensoryka NO2
tin dioxide
;
RGTO technology
;
crystallinity
;
morphology
;
chemistry
;
XRD
;
SEM
;
AFM
;
XPS
;
NO2 sensor
14/73
Nr opisu:
0000115278
Impact of air exposure and annealing on the chemical and electronic properties of the surface of SnO
2
nanolayers deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, Maciej
Krzywiecki
.
-
Beilstein J. Nanotechnol.
2017 vol. 8
, s. 514-521, bibliogr. 41 poz..
Impact Factor
2.968.
Punktacja MNiSW
35.000
RGVO
;
tlenek cyny
;
XPS
RGVO
;
tin oxide
;
XPS
15/73
Nr opisu:
0000116580
Oxidation of graphite by different modified Hummers methods.
[Aut.]: R.
Muzyka
, Monika
Kwoka
, Ł.
Smędowski
, N.
Diez
, G.
Gryglewicz
.
-
New Carbon Mater.
2017 vol. 32 iss. 1
, s. 15-20, bibliogr. 21 poz..
Impact Factor
1.171.
Punktacja MNiSW
20.000
grafit
;
zmodyfikowana metoda Hummersa
;
tlenek grafitu
;
struktura
graphite
;
modified Hummers method
;
graphite oxide
;
structure
16/73
Nr opisu:
0000120834
Pure and highly Nb-doped titanium dioxide nanotubular arrays: characterization of local surface properties.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, V.
Galstyan
, E.
Comini
, Jacek**
Szuber
.
-
Nanomaterials
2017 vol. 7 iss. 12
, art. no. 456 s. 1-13, bibliogr. 43 poz..
Impact Factor
3.504.
Punktacja MNiSW
35.000
nanorurki TiO2
;
domieszkowanie Nb
;
chemia powierzchni
;
XPS
;
morfologia powierzchni
;
SEM
TiO2 nanotubes
;
Nb-doping
;
surface chemistry
;
XPS
;
surface morphology
;
SEM
17/73
Nr opisu:
0000107554
Influence of absolute argon and oxygen flow values at a constant ratio on the growth of Zn/ZnO nanostructures obtained by DC reactive magnetron sputtering.
[Aut.]: M.
Masłyk
, M. A.
Borysiewicz
, M.
Wzorek
, Monika
Kwoka
, E.
Kamińska
.
-
Appl. Surf. Sci.
2016 vol. 389
, s. 287-293, bibliogr. 23 poz..
Impact Factor
3.387.
Punktacja MNiSW
35.000
Zn
;
nanostruktura
;
przepływ gazu
;
tlen
;
zanieczyszczenie
;
reaktywne rozpylanie magnetronowe
Zn
;
nanostructure
;
gas flow
;
oxygen
;
impurity
;
reactive magnetron sputtering
18/73
Nr opisu:
0000113629
Nowe trendy w rozwoju czujników gazów toksycznych opartych na dwutlenku cyny.
[Aut.]: Monika
Kwoka
.
W:
Prace Komisji Naukowych
. z. 39-40. Katowice : Polska Akademia Nauk. Oddział w Katowicach, 2016
, s. 325-327
dwutlenek cyny
;
czujnik gazu
tin dioxide
;
gas sensor
19/73
Nr opisu:
0000112434
Preface. Special Issue IX International Workshop on Semiconductor Gas Sensors-SGS'2015.
[Aut.]: Monika
Kwoka
.
-
Thin Solid Films
2016 vol. 618 pt. B, iss. SI
, s. 231
20/73
Nr opisu:
0000107834
Technologia cienkich warstw tlenku cynku o kontrolowanych własnościach strukturalnych, transportowych i optycznych.
[Aut.]: M. A.
Borysiewicz
, E.
Kamińska
, T.
Wojciechowski
, K.
Gołaszewska
, E.
Dynowska
, M.
Wzorek
, R.
Kruszka
, K. D.
Pągowska
, Monika
Kwoka
, Jacek**
Szuber
, T.
Boll
, K.
Stiller
, T.
Wojtowicz
, A.
Piotrowska
.
-
Elektronika
2016 R. 57 nr 8
, s. 75-80, bibliogr. 10 poz..
Punktacja MNiSW
8.000
tlenek cynku
;
ZnO
;
katodowe rozpylanie magnetronowe
;
przezroczysta elektronika
;
czujnik
zinc oxide
;
ZnO
;
magnetron sputtering
;
transparent electronics
;
sensor
21/73
Nr opisu:
0000104603
Defect states in tin oxide - a subtle way for tuning the oxide's sensing properties.
[Aut.]: Maciej
Krzywiecki
, Monika
Kwoka
, A.
Sarfraz
, G.
Genchev
, A.
Erbe
.
W:
IX International Workshop on Semiconductor Gas Sensors
. SGS 2015, Zakopane, Poland, 13-16 December 2015. Programme, abstracts, info. [B.m.] : [b.w.], 2015
, s. 41
22/73
Nr opisu:
0000102948
Elektrochemiczna redukcja soli diazoniowych jako metoda immobilizacji pochodnych fenotiazyn.
[Aut.]: Katarzyna
Piwowar
, Jerzy**
Żak
, J.
Szuber
, Monika
Kwoka
, Piotr*
Kościelniak
, Agata
Blacha-Grzechnik
.
W:
58 Zjazd Naukowy Polskiego Towarzystwa Chemicznego w Gdańsku
. Polska chemia w mieście wolności, 21-25 września 2015. Materiały zjazdowe. Cz. 1, Streszczenia. Warszawa : Polskie Towarzystwo Chemiczne, 2015
, s. 339, bibliogr. 2 poz.
nanowarstwa
;
warstwa organiczna
;
tlen singletowy
;
sól diazoniowa
;
pochodna fenotiazyny
nanolayer
;
organic layer
;
singlet oxygen
;
diazonium salt
;
phenothiazine derivative
23/73
Nr opisu:
0000103227
Phenothiazines grafted on the electrode surface from diazonium salts as molecular layers for photochemical generation of singlet oxygen.
[Aut.]: Agata
Blacha-Grzechnik
, Katarzyna
Piwowar
, Piotr*
Kościelniak
, Monika
Kwoka
, Jacek**
Szuber
, Jerzy**
Żak
.
-
Electrochim. Acta
2015 vol. 182
, s. 1085-1092, bibliogr. 41 poz..
Impact Factor
4.803.
Punktacja MNiSW
40.000
tlen singletowy
;
fenotiazyna
;
wytwarzanie fotochemiczne
;
elektroszczepienie
;
fotouczulacz
singlet oxygen
;
phenothiazine
;
photochemical generation
;
electrografting
;
photosensitizer
24/73
Nr opisu:
0000100782
Rheotaxial growth and vacuum oxidation - novel technique of tin oxide deposition. In situ monitoring of oxidation process.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, Maciej
Krzywiecki
.
-
Mater. Lett.
2015 vol. 154
, s. 1-4, bibliogr. 16 poz..
Impact Factor
2.437.
Punktacja MNiSW
35.000
SnO2
;
RGVO
;
nanowarstwa
;
chemia powierzchni
;
morfologia powierzchni
;
XPS
;
AFM
SnO2
;
RGVO
;
nanolayer
;
surface chemistry
;
surface morphology
;
XPS
;
AFM
25/73
Nr opisu:
0000104599
Study of gas-sensing and catalytic properties of one-dimensional ZnO structures modified with gold nanoparticles.
[Aut.]: H.
Teterycz
, P.
Suchorska-Woźniak
, Monika
Kwoka
, O.
Rac
, M.
Fiedot
.
W:
IX International Workshop on Semiconductor Gas Sensors
. SGS 2015, Zakopane, Poland, 13-16 December 2015. Programme, abstracts, info. [B.m.] : [b.w.], 2015
, s. 29, bibliogr. 2 poz.
26/73
Nr opisu:
0000104604
XPS studies of surface chemistry of pure and Nb-doped TiO
2
nanotubes for gas sensor application.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, V.
Galstyan
, E.
Comini
, Jacek**
Szuber
.
W:
IX International Workshop on Semiconductor Gas Sensors
. SGS 2015, Zakopane, Poland, 13-16 December 2015. Programme, abstracts, info. [B.m.] : [b.w.], 2015
, s. 42, bibliogr. 10 poz.
27/73
Nr opisu:
0000096287
Comparative analysis of physico-chemical and gas sensing characteristics of two different forms of SnO
2
films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, Jacek**
Szuber
.
-
Appl. Surf. Sci.
2014 vol. 326
, s. 27-31, bibliogr. 20 poz..
Impact Factor
2.711.
Punktacja MNiSW
35.000
dwutlenek cyny
;
morfologia
;
chemia
;
odpowiedź czujnika
tin dioxide
;
morphology
;
chemistry
;
sensor response
28/73
Nr opisu:
0000101036
Comparative analysis of the surface properties of tin dioxide SnO
2
one-dimensional and two-diemnsional nanostructures. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Michał*
Sitarz
.
Gliwice, 2014, 79 k., bibliogr. 61 poz.
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Promotor: prof. dr hab. inż. Jacek** Szuber, dr Monika Kwoka
nanostruktura SnO2
;
SnO2
;
dwutlenek cyny
;
właściwości powierzchniowe
;
analiza porównawcza
SnO2 nanostructure
;
SnO2
;
tin dioxide
;
surface properties
;
comparative analysis
29/73
Nr opisu:
0000093503
Niskowymiarowe nanostruktury dwutlenku cyny SnO
2
w sensoryce gazów.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, Jacek**
Szuber
.
-
Elektronika
2014 R. 55 nr 9
, s. 39-44, bibliogr. 4 poz..
Punktacja MNiSW
8.000
dwutlenek cyny
;
SnO2
;
nanostruktura niskowymiarowa
;
chemia powierzchni
;
morfologia powierzchni
;
charakterystyka sensorowa
;
czujnik gazu
tin dioxide
;
SnO2
;
low dimensional nanostructure
;
surface chemistry
;
surface morphology
;
sensor characteristic
;
gas sensor
30/73
Nr opisu:
0000093862
Niskowymiarowe nanostruktury SnO
2
w sensoryce gazów.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, Jacek**
Szuber
.
W:
Trzynasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 09-13.06.2014]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2014
, s. 99
Pełny tekst na CD-ROM
struktura 2D
;
struktura 1D
;
dwutlenek cyny
;
chemia ogólna
;
morfologia
;
sensoryka NO2
2D structure
;
1D structure
;
tin dioxide
;
general chemistry
;
morphology
;
NO2 sensor
31/73
Nr opisu:
0000091089
Surface chemistry of SnO
2
nanowires on Ag-catalyst-covered Si substrate studied using XPS and TDS methods.
[Aut.]: Michał*
Sitarz
, Monika
Kwoka
, E.
Comini
, D.
Zappa
, Jacek**
Szuber
.
-
Nanoscale Res. Lett.
2014 vol. 9 iss. 1
, s. 1-6, bibliogr. 24 poz..
Impact Factor
2.779.
Punktacja MNiSW
35.000
SnO2
;
nanodruty
;
Ag
;
chemia powierzchni
;
XPS
;
TDS
;
morfologia powierzchni
;
SEM
SnO2
;
nanowires
;
Ag
;
surface chemistry
;
XPS
;
TDS
;
surface morphology
;
SEM
32/73
Nr opisu:
0000096259
XPS, TDS, and AFM studies of surface chemistry and morphology of Ag-covered L-CVD SnO
2
nanolayers.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, Piotr*
Kościelniak
, Jacek**
Szuber
.
-
Nanoscale Res. Lett.
2014 vol. 9 iss. 1
, s. 1-6, bibliogr. 13 poz..
Impact Factor
2.779.
Punktacja MNiSW
35.000
dwutlenek cyny
;
SnO2
;
powłoki cienkie L-CVD
;
domieszkowanie Ag
;
chemia powierzchni
;
morfologia powierzchni
;
XPS
;
TDS
;
AFM
tin dioxide
;
SnO2
;
L-CVD thin films
;
Ag-doping
;
surface chemistry
;
surface morphology
;
XPS
;
TDS
;
AFM
33/73
Nr opisu:
0000087782
Badania wybranych nanostruktur SnO
2
w aspekcie zastosowań sensorowych.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, Jacek**
Szuber
.
-
Elektronika
2013 R. 54 nr 9
, s. 17-19, bibliogr. 11 poz..
Punktacja MNiSW
8.000
tlenek przewodzący
;
dwutlenek cyny
;
nanostruktura
;
właściwości sensorowe
conductive oxide
;
tin dioxide
;
nanostructure
;
sensor properties
34/73
Nr opisu:
0000093837
Badania wybranych nanostruktur SnO
2
w aspekcie zastosowań sensorowych.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, Jacek**
Szuber
.
W:
Dwunasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 10-13.06.2013]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2013
, s. 180 + tekst na CD-ROM
Pełny tekst na CD-ROM
SnO2
;
nanostruktura SnO2
;
właściwości sensorowe
SnO2
;
SnO2 nanostructure
;
sensor properties
35/73
Nr opisu:
0000113757
Influence of nitrogen implantation on electrical properties of Al/SiO2/4H-SiC MOS structure.
[Aut.]: K.
Król
, M.
Sochacki
, M.
Turek
, J.
Zuk
, M.
Przewlocki
, T.
Gutt
, P.
Borowicz
, M.
Guziewicz
, Jacek**
Szuber
, Monika
Kwoka
, Piotr*
Kościelniak
, J.
Szmidt
.
W:
Silicon carbide and related materials 2012
. Selected, peer reviewed papers from the 9th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ECSCRM 2012), September 2-6, 2012, St. Petersburg, Russian Federation. Ed. by Alexander A. Lebedev, Sergey Yu. Davydov, Pavel A. Ivanov and Mikhail E. Levinshtein. Durnten-Zurich : Trans Tech Publications, 2013
, s. 733-736, bibliogr. 6 poz. (
Materials Science Forum
; vol. 740/742 0255-5476)
implantacja jonów
;
węglik krzemu
;
utlenianie termiczne
ion implantation
;
silicon carbide
;
thermal oxidation
;
ion implantation damage
36/73
Nr opisu:
0000082758
Redukcja stanów pułapkowych w strukturze MOS 4H-SiC(0001) pod wpływem implantacji azotu - wpływ profilu implantacji.
[Aut.]: K.
Król
, M.
Sochacki
, W.
Strupiński
, M.
Turek
, J.
Żuk
, P.
Borowicz
, H.
Przewłocki
, Monika
Kwoka
, Piotr*
Kościelniak
, Jacek**
Szuber
, J.
Szmidt
.
W:
Technologia elektronowa
. ELTE '2013. XI Konferencja naukowa, Ryn, 10-20 kwietnia 2013. [Dokument elektroniczny]. Warszawa : Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej, 2013
, dysk optyczny (CD-ROM) s. 155-156, bibliogr. 3 poz.
stan pułapkowy
;
implantacja jonów
;
struktura MOS
trapping state
;
ion implantation
;
MOS structure
37/73
Nr opisu:
0000089092
Surface properties of the 1D and 2D SnO
2
nanostructures.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, Michał*
Sitarz
, L.
Ottaviano
, E.
Comini
, D.
Zappa
, Jacek**
Szuber
.
W:
Proceedings of 8th Solid State Surfaces and Interfaces
. 8th SSSI, Smolenice Castle, Slovak Republik, November 25-28, 2013. Extended abstract book. Ed. R. Brunner. Bratislava : Comenius University, 2013
, s. 86, bibliogr. 4 poz.
38/73
Nr opisu:
0000071977
Comparative analysis of surface properties of selected SnO
2
nanostructures.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, Michał*
Sitarz
, Piotr*
Kościelniak
, Jacek**
Szuber
.
W:
Powierzchnia i struktury cienkowarstwowe
. XII Seminarium. SemPiSC, Szklarska Poręba, 9-12 maja 2012. Książka streszczeń. [B.m.] : [b.w.], 2012
, s. 1
39/73
Nr opisu:
0000071982
Optimization of technology for deposition of ultrathin SnO
2
films by spin-coating method.
[Aut.]: Krzysztof**
Waczyński
, Monika
Kwoka
, Piotr*
Kościelniak
, Michał*
Sitarz
, Jacek**
Szuber
.
W:
Powierzchnia i struktury cienkowarstwowe
. XII Seminarium. SemPiSC, Szklarska Poręba, 9-12 maja 2012. Książka streszczeń. [B.m.] : [b.w.], 2012
, s. 1, bibliogr. 6 poz.
40/73
Nr opisu:
0000082740
Optymalizacja technologii osadzania nanowarstw SnO
2
metodą rozwirowywania z roztworów (spin-coating).
[Aut.]: Jacek**
Szuber
, Krzysztof**
Waczyński
, Monika
Kwoka
, Michał*
Sitarz
, Natalia
Waczyńska-Niemiec
, Piotr*
Kościelniak
.
W:
Jedenasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-14.06.2012]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2012
, s. 159
Pełny tekst na CD-ROM
SnO2
;
nanowarstwa
;
spin-coating
;
technologia osadzania
SnO2
;
nanolayer
;
spin-coating
;
deposition technology
41/73
Nr opisu:
0000075136
Optymalizacja technologii reotaksjalnego osadzania cienkich warstw wybranych tlenków przewodzących w aspekcie zastosowań sensorowych.
[Aut.]: Jacek**
Szuber
, Monika
Kwoka
, Piotr*
Kościelniak
, Michał*
Sitarz
.
W:
Czujniki optoelektroniczne i elektroniczne
. COE'2012. XII Konferencja naukowa, Karpacz, 24-27 czerwca 2012. Politechnika Wrocławska. [B.m] : [b.w.], 2012
, s. 38, bibliogr. 5 poz.
tlenki przewodzące
;
dwutlenek cyny
;
trójtlenek indu
;
technologia RGTO
;
nanowarstwa
conductive oxides
;
tin dioxide
;
indium trioxide
;
RGTO technology
;
nanolayer
42/73
Nr opisu:
0000082832
Photoemission studies of the surface electronic properties of L-CVD SnO
2
ultra thin films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, Jacek**
Szuber
.
-
Appl. Surf. Sci.
2012 vol. 258 iss. 21
, s. 8425-8429, bibliogr. 30 poz..
Impact Factor
2.112.
Punktacja MNiSW
30.000
cienka powłoka L-CVD
;
poziom Fermiego
;
dwutlenek cyny
L-CVD thin film
;
Fermi level
;
tin dioxide
43/73
Nr opisu:
0000083460
SEM, XPS and TDS studies of surface properties of SNO
2
nanowires prepared on Ag and Au catalyst layers deposited on Si substrate.
[Aut.]: Michał*
Sitarz
, E.
Comini
, Monika
Kwoka
, D.
Zappa
, Piotr*
Kościelniak
, Jacek**
Szuber
.
W:
VIII International Workshop on Semiconductor Gas Sensors
. SGS 2012, Cracow, Poland, 11-15 September 2012. Programme & abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2012
, s. 58, bibliogr. 4 poz.
44/73
Nr opisu:
0000083459
XPS and TDS comparative studies of the surface chemistry of Ag-doped L-CVD SnO
2
nanolayers and SnO
2
nanowires after air exposure.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, Michał*
Sitarz
, L.
Ottaviano
, E.
Comini
, D.
Zappa
, Jacek**
Szuber
.
W:
VIII International Workshop on Semiconductor Gas Sensors
. SGS 2012, Cracow, Poland, 11-15 September 2012. Programme & abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2012
, s. 55, bibliogr. 3 poz.
45/73
Nr opisu:
0000084473
Optymalizacja technologii osadzania reotaksjalnego nanowarstw wybranych przezroczystych tlenków przewodzących.
[Aut.]: Jacek**
Szuber
, Monika
Kwoka
, Piotr*
Kościelniak
.
W:
V Krajowa Konferencja Nanotechnologii
. NANO 2011, Gdańsk, 3-7 lipca 2011. Streszczenia wystąpień. Pod red. Jarosława Rybickiego i Wojciecha Sadowskiego. Gdańsk : TASK Publishing, 2011
, s. 89-90, bibliogr. 6 poz.
nanowarstwa
;
tlenek przewodzący
;
SEM
;
AFM
nanolayer
;
conductive oxide
;
SEM
;
AFM
46/73
Nr opisu:
0000068351
Optymalizacja technologii reotaksjalnego osadzania nanowarstw wybranych przezroczystych tlenków przewodzących.
[Aut.]: Jacek**
Szuber
, Monika
Kwoka
, Piotr*
Kościelniak
, Michał*
Sitarz
.
-
Elektronika
2011 R. 52 nr 9
, s. 25-27, bibliogr. 6 poz..
Punktacja MNiSW
6.000
nanowarstwa
;
SEM
;
AFM
;
tlenki przewodzące
nanolayer
;
SEM
;
AFM
;
conductive oxides
47/73
Nr opisu:
0000082099
Optymalizacja technologii RGTO osadzania bardzo cienkich warstw wybranych przezroczystych tlenków przewodzących.
[Aut.]: Jacek**
Szuber
, Monika
Kwoka
, Piotr*
Kościelniak
.
W:
Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011
, s. 131
Pełny tekst na CD-ROM
tlenek przewodzący
;
SnO2
;
In2O3
;
warstwa cienka
;
nanowarstwa
;
stechiometria
;
morfologia powierzchni
;
AFM
;
XPS
;
SEM
conductive oxide
;
SnO2
;
In2O3
;
thin film
;
nanolayer
;
stoichiometry
;
surface morphology
;
AFM
;
XPS
;
SEM
48/73
Nr opisu:
0000071525
X-ray photoelectron spectroscopy and thermal desorption spectroscopy comparative studies of L-CVD SnO
2
ultra thin films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, Natalia
Waczyńska
, Piotr*
Kościelniak
, Michał*
Sitarz
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2011 vol. 520 iss. 3
, s. 913-917, bibliogr. 29 poz..
Impact Factor
1.890.
Punktacja MNiSW
30.000
dwutlenek cyny
;
L-CVD
;
powłoka cienka
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
XPS
;
profilowanie głębokościowe
;
spektroskopia termodesorpcyjna
;
chemia powierzchni
tin dioxide
;
L-CVD
;
ultrathin film
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
XPS
;
depth profiling
;
thermal desorption spectroscopy
;
surface chemistry
49/73
Nr opisu:
0000071524
XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In
2
O
3
ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Piotr*
Kościelniak
, Jacek*
Mazur
, J.
Henek
, Monika
Kwoka
, Ł.
Pawela
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2011 vol. 520 iss. 3
, s. 927-931, bibliogr. 36 poz..
Impact Factor
1.890.
Punktacja MNiSW
30.000
In2O3
;
RGVO
;
chemia powierzchni
;
XPS
;
morfologia powierzchni
;
AFM
In2O3
;
RGVO
;
surface chemistry
;
XPS
;
surface morphology
;
AFM
50/73
Nr opisu:
0000063356
Influence of Si substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO
2
thin films studied by XPS and AFM.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, Natalia
Waczyńska
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Appl. Surf. Sci.
2010 vol. 256 iss. 19
, s. 5771-5775, bibliogr. 25 poz..
Impact Factor
1.795
dwutlenek cyny
;
cienka powłoka L-CVD
;
podłoże krzemowe
;
morfologia powierzchni
;
mikroskopia sił atomowych
;
AFM
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
;
XPS
tin dioxide
;
L-CVD thin film
;
surface morphology
;
atomic force microscopy
;
AFM
;
X-ray photoelectron spectroscopy
;
XPS
51/73
Nr opisu:
0000070114
Nanoforms of SnO
2
for microelectronics application.
[Aut.]: Jacek**
Szuber
, Monika
Kwoka
.
W:
Symposium on Surface and Interface of Advanced Thin Films
. SIATF 2010, Kraków, Poland, 16-17 September 2010. Programme and abstracts. Ed. ed. Nhu-Tarnawska Hoa Kim Ngan. [Kraków] : [Pedagogical University. Faculty of Mathematics-Physics-Techniques], 2010
, s. 16
52/73
Nr opisu:
0000084565
Nanostruktury dwutlenku cyny SnO2 w zastosowaniach sensorowych.
[Aut.]: Jacek**
Szuber
, Monika
Kwoka
.
W:
Czujniki optoelektroniczne i elektroniczne
. COE 2010. XI Konferencja naukowa, Nałęczów, 20-23 czerwca 2010. Streszczenia. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2010
, dysk optyczny (CD-ROM) s. 63, bibliogr. 7 poz.
SnO2
;
nanostruktura
;
nanosensor
;
czujnik gazowy
;
czujnik półprzewodnikowy
SnO2
;
nanostructure
;
nanosensor
;
gas sensor
;
semiconductor sensor
53/73
Nr opisu:
0000070273
Nanowarstwy dwutlenku cyny SnO
2
w aspekcie zastosowań w mikroelektronice.
[Aut.]: Jacek**
Szuber
, Monika
Kwoka
.
W:
IV Krajowa Konferencja Nanotechnologii
. NANO 2010, Poznań, 28.06-02.07 2010. Program i streszczenia. Wydział Fizyki Technicznej Politechniki Poznańskiej [et al.].. Poznań : [b.w.], 2010
, s. 68, bibliogr. 11 poz.
mikroelektronika
;
dwutlenek cyny
;
nanowarstwa
;
warstwa cienka
microelectronics
;
tin dioxide
;
nanolayer
;
thin coating
54/73
Nr opisu:
0000070118
Preparation and characterization of SnO
2
nanostructures for microelectronics application.
[Aut.]: Jacek**
Szuber
, Monika
Kwoka
.
W:
7th Solid State Surfaces and Interfaces
. SSSI 2010, Smolenice, Slovakia, 22-25 November, 2010. Extended abstract book. [B.m.] : [b.w.], 2010
, s. 31-32
55/73
Nr opisu:
0000071753
XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In
2
O
3
ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Piotr*
Kościelniak
, Jacek*
Mazur
, J.
Henek
, Monika
Kwoka
, L.
Pawela
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2010 vol. 520 iss. 3
, s. 927-931, bibliogr. 36 poz..
Impact Factor
1.935
In2O3
;
RGVO
;
XPS
;
chemia powierzchni
;
morfologia powierzchni
;
AFM
In2O3
;
RGVO
;
XPS
;
surface chemistry
;
surface morphology
;
AFM
56/73
Nr opisu:
0000069313
XPS and TPD-MS Comparative studies of L-CVD SnO
2
ultra thien films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, Natalia
Waczyńska
, Piotr*
Kościelniak
, Jacek**
Szuber
.
W:
VII International Workshop on Semiconductor Gas Sensors
. SGS 2010, Kraków, Poland, 12-16 September 2010. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2010
, s. 58
57/73
Nr opisu:
0000069312
XPX and AFM studies of initial state of Sn deposition on Si substrate for preparation of SnO
2
nanolayers for gas sensor application.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, Piotr*
Kościelniak
, Jacek**
Szuber
.
W:
VII International Workshop on Semiconductor Gas Sensors
. SGS 2010, Kraków, Poland, 12-16 September 2010. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2010
, s. 57
58/73
Nr opisu:
0000069310
XPX and AFM studies of surface chemistry and morphology of In
2
O
3
nanolayers deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Piotr*
Kościelniak
, Jacek*
Mazur
, J.
Henel
, Ł.
Pawela
, Monika
Kwoka
, Jacek**
Szuber
.
W:
VII International Workshop on Semiconductor Gas Sensors
. SGS 2010, Kraków, Poland, 12-16 September 2010. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2010
, s. 55
59/73
Nr opisu:
0000058962
Influence of substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO2 thin films studied by XPS and AFM.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, Natalia
Waczyńska
, Jacek**
Szuber
.
W:
VI International Workshop on Semiconductor Surface Passivation, Zakopane, Poland, September 13-18, 2009
. [B.m.] : [b.w.], 2009
, s. 53
60/73
Nr opisu:
0000056438
Local surface morphology and chemistry of SnO
2
thin films deposited by rheotaxial growth and thermal oxidation method for gas sensor application.
[Aut.]: L.
Ottaviano
, Monika
Kwoka
, F.
Bisti
, P.
Parisse
, V.
Grossi
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2009 vol. 517 iss. 22
, s. 6161-6169, bibliogr. 29 poz..
Impact Factor
1.727
dwutlenek cyny
;
RGTO
;
podłoże krzemowe
;
stechiometria
;
dyfrakcja rentgenowska
;
wytrzymałość na zginanie
;
mikroskopia sił atomowych
;
rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
tin dioxide
;
Rheological Growth and Thermal Oxidation (RGTO)
;
surface morphology
;
stoichiometry
;
X-ray diffraction
;
scanning electron microscopy
;
atomic force microscopy
;
X-ray photoelectron spectroscopy
61/73
Nr opisu:
0000047687
XPS study of the surface chemistry of Ag-covered L-CVD SnO
2
thin films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, M.
Passacantando
, G.
Czempik
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Appl. Surf. Sci.
2008 vol. 254 iss. 24
, s. 8089-8092, bibliogr. 13 poz..
Impact Factor
1.576
dwutlenek cyny
;
cienka powłoka L-CVD
;
domieszkowanie Ag
;
XPS
;
chemia powierzchni
;
profilowanie głębokościowe
tin dioxide
;
L-CVD thin film
;
Ag-doping
;
XPS
;
surface chemistry
;
depth profiling
62/73
Nr opisu:
0000039992
AFM study of the surface morphology of L-CVD SnO
2
thin films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2007 vol. 515 iss. 23
, s. 8328-8331, bibliogr. 14 poz..
Impact Factor
1.693
dwutlenek cyny
;
cienka powłoka L-CVD
;
mikroskopia sił atomowych
;
morfologia powierzchni
tin dioxide
;
L-CVD thin film
;
atomic force microscopy
;
surface morphology
63/73
Nr opisu:
0000076035
Nanoforms of SnO
2
for gas sensor application.
[Aut.]: Jacek**
Szuber
, Monika
Kwoka
.
W:
IX Electron Technology Conference
. ELTE 2007, Kraków, 4-7.09.2007. Book of abstracts. Eds: K. Zakrzewska [et al.]. Kraków : Przedsiębiorstwo Wielobranżowe STABIL, 2007
, s. 126, bibliogr. 9 poz.
64/73
Nr opisu:
0000036413
Studies of surface properties of L-CVD SnO
2
thin films. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Monika
Kwoka
.
Gliwice, 2007, 128 k., bibliogr. 84 poz. + zał.: 46 k.
Politechnika Śląska. Wydział Matematyczno-Fizyczny. Promotor: prof. dr hab. inż. Jacek** Szuber
cienka warstwa SnO2
;
cienka powłoka L-CVD
;
dwutlenek cyny
;
spektroskopia fotoelektronowa
;
mikroskopia sił atomowych
;
chemia powierzchni
;
własności elektronowe
;
morfologia powierzchni
;
osadzanie
SnO2 thin film
;
L-CVD thin film
;
tin dioxide
;
photoelectron spectroscopy
;
atomic force microscopy
;
surface chemistry
;
electronic properties
;
surface morphology
;
deposition
65/73
Nr opisu:
0000076043
XRD and XPS comparative studies of stoichiometry of RGTO SnO
2
thin films for gas sensor application.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, P.
Parissi
, F.
Bisti
, Jacek**
Szuber
.
W:
IX Electron Technology Conference
. ELTE 2007, Kraków, 4-7.09.2007. Book of abstracts. Eds: K. Zakrzewska [et al.]. Kraków : Przedsiębiorstwo Wielobranżowe STABIL, 2007
, s. 198, bibliogr. 7 poz.
66/73
Nr opisu:
0000025450
Comparative photoemission study of the electronic properties of L-CVD SnO
2
thin films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, M.
Passacantando
, G.
Czempik
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Appl. Surf. Sci.
2006 vol. 252 iss. 21
, s. 7734-7738, bibliogr. 23 poz.
Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005.
Impact Factor
1.436
dwutlenek cyny
;
powłoka cienka
;
nakładanie L-CVD
;
właściwości elektroniczne warstwy ładunku przestrzennego
;
poziom Fermiego
;
elektroniczne pasmo wzbronione
tin dioxide
;
thin film
;
L-CVD deposition
;
electronic properties of space charge layer
;
Fermi level
;
electronic band gap
67/73
Nr opisu:
0000023051
Surface morphology of L-CVD SnO
2
thin films for gas sensor application.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, M.
Passacantando
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
W:
V International Workshop on Semiconductor Gas Sensors
. SGS 2006, Ustroń, Poland, September 10-13, 2006. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2006
, s. 46
68/73
Nr opisu:
0000025442
XPS depth profiling studies of L-CVD SnO
2
thin films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, M.
Passacantando
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
-
Appl. Surf. Sci.
2006 vol. 252 iss. 21
, s. 7730-7733, bibliogr. 14 poz.
Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005.
Impact Factor
1.436
dwutlenek cyny
;
powłoka cienka
;
profilowanie głębokościowe
;
XPS
tin dioxide
;
thin film
;
depth profiling
;
XPS
69/73
Nr opisu:
0000023052
XPS studies of surface chemistry and electronic properties of Ag-doped L-VCD SnO
2
thin films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, M.
Passacantando
, G.
Czempik
, S.
Santucci
, Jacek**
Szuber
.
W:
V International Workshop on Semiconductor Gas Sensors
. SGS 2006, Ustroń, Poland, September 10-13, 2006. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2006
, s. 47, bibliogr. 8 poz.
70/73
Nr opisu:
0000021700
On the correlation between morphology and gas sensing properties of RGTO SnO
2
thin films.
[Aut.]: Jacek**
Szuber
, Jerzy
Uljanow
, Teresa**
Buczek-Karczewska
, Wiesław
Jakubik
, Krzysztof**
Waczyński
, Monika
Kwoka
, Sławomir**
Kończak
.
-
Thin Solid Films
2005 vol. 490 iss. 1
, s. 54-58, bibliogr. 18 poz..
Impact Factor
1.569
dwutlenek cyny
;
powłoka cienka
;
osadzanie
;
utlenianie
tin dioxide
;
thin film
;
deposition
;
oxidation
71/73
Nr opisu:
0000021604
X-ray photoemission spectroscopy study of the surface chemistry of laser-assisted chemical vapour deposition SnOx thin films after exposure to hydrogen.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, Grzegorz*
Czempik
, Jacek**
Szuber
.
-
Acta Phys. Slovaca
2005 vol. 55 nr 3
, s. 331-339, bibliogr. 15 poz..
Impact Factor
0.359
72/73
Nr opisu:
0000021704
XPS study of the surface chemistry of L-CVD SnO
2
thin films after oxidation.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, L.
Ottaviano
, M.
Passacantando
, S.
Santucci
, Grzegorz*
Czempik
, Jacek**
Szuber
.
-
Thin Solid Films
2005 vol. 490 iss. 1
, s. 36-42, bibliogr. 18 poz..
Impact Factor
1.569
dwutlenek cyny
;
powłoka cienka
;
osadzanie
;
utlenianie
tin dioxide
;
thin film
;
deposition
;
oxidation
73/73
Nr opisu:
0000015577
Influence of oxidation on surface chemistry of L-CVD SnO
2
thin films.
[Aut.]: Monika
Kwoka
, R.
Larciprete
, Grzegorz*
Czempik
, Jacek**
Szuber
.
W:
Czujniki optoelektroniczne i elektroniczne
. COE 2004. VIII konferencja naukowa, Wrocław, 27-30 czerwca 2004. Materiały konferencyjne. Wrocław : Wydział Elektroniki Mikrosystemów Politechniki Wrocławskiej, 2004
, s. 379-382, bibliogr. 4 poz.
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie