Wynik wyszukiwania
Zapytanie: KWOKA MONIKA
Liczba odnalezionych rekordów: 73



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/73
Nr opisu: 0000137543   
Novel insight on the local surface properties of ZnO nanowires.
[Aut.]: Monika Kwoka, Anna Kuliś-Kapuścińska, D. Zappa, E. Comini, Jacek** Szuber.
-Nanotechnology 2020 vol. 31 iss. 46, s. 1-9, bibliogr. 67 poz.. Impact Factor 3.551. Punktacja MNiSW 100.000

nanoprzewody ZnO ; morfologia powierzchni ; SEM ; chemia powierzchni ; XPS ; reaktywność powierzchni ; TDS

ZnO nanowires ; surface morphology ; SEM ; surface chemistry ; XPS ; surface reactivity ; TDS

2/73
Nr opisu: 0000135362   
Rheotaxially grown and vacuum oxidized SnOx nanolayers for NO2 sensing characteristics at ppb level and room temperature.
[Aut.]: Barbara Łysoń-Sypień, Monika Kwoka.
-Sensors 2020 vol. 20 iss. 5, art. no. 1323 s. 1-12, bibliogr. 50 poz.. Impact Factor 3.275. Punktacja MNiSW 100.000

sensor gazów na bazie efektu fotonapięcia powierzchniowego ; RGVO ; nanowarstwa SnOx

NO2 surface photovoltage gas sensor NO2 ; RGVO ; SnOx nanolayer ; room temperature detection limit ; ppb level

3/73
Nr opisu: 0000134113   
Studies of NO2 gas-sensing characteristics of a novel room-temperature surface-photovoltage gas sensor device.
[Aut.]: Monika Kwoka, Jacek** Szuber.
-Sensors 2020 vol. 20 iss. 2, art. no. 408 s. 1-9, bibliogr. 31 poz.. Impact Factor 3.275. Punktacja MNiSW 100.000

sensor gazów na bazie efektu fotonapięcia powierzchniowego ; warunki pracy w temperaturze pokojowej ; charakterystyka czujnika gazu ; atmosfera NO2

surface photovoltage gas sensor ; room temperature working conditions ; gas sensor characteristics ; NO2 atmosphere

4/73
Nr opisu: 0000135822   
Surface properties of SnO2 nanolayers prepared by spin-coating and thermal oxidation.
[Aut.]: Monika Kwoka, Barbara Łysoń-Sypień, E. Comini, Maciej Krzywiecki, Krzysztof** Waczyński, Jacek** Szuber.
-Nanotechnology 2020 vol. 31 iss. 31, art. no. 315714 s. 1-7, bibliogr. 27 poz.. Impact Factor 3.551. Punktacja MNiSW 100.000

dwutlenek cyny ; nanowarstwa SnO2 ; powlekanie obrotowe ; morfologia powierzchni ; SEM ; AFM ; chemia powierzchni ; XPS

tin dioxide ; SnO2 nanolayer ; spin coating ; surface morphology ; SEM ; AFM ; surface chemistry ; XPS

5/73
Nr opisu: 0000133338   
Novel type of SnO2 rheotaxially grown and vacuum oxidated films for NO2 sensing at room temperature.
[Aut.]: Barbara Łysoń-Sypień, Monika Kwoka.
W: SMS 2019 / EGF 2019 / NanoMed 2019. Joint International Conferences and Exhibition, 23-25 October 2019 Lisbon, Portugal. Book of abstracts [online]. Joint International Conferences and Exhibition, 23 - 25 October 2019 Lisbon - Portugal. Book of abstracts [online]. [B.m.] : [b.w.], 2019, s. 171, bibliogr. 4 poz.
Dostępny w Internecie : http://www.setcor.org/userfiles/files/2019/SMSEGFNanomed2019/SMS2019-EGF2019-NanoMed2019-Joint-Conferences-Book-of-Abstracts.pdf [dostęp 26 listopada 2019]

cienka warstwa SnO2 ; wzrost reotaksjalny i utlenianie próżniowe ; czujnik NO2 ; temperatura pomieszczenia

SnO2 thin film ; rheotaxial growth and vacuum oxidation ; NO2 sensor ; room temperature

6/73
Nr opisu: 0000130695   
Opracowanie i wstępne testy ekstudera do druku 3D w technologii mieszanek na spoiwach cementowych.
[Aut.]: Tomasz Ponikiewski, Paweł Kowol, Monika Kwoka, Grzegorz Ćwikła.
-PM News 2019 wyd. 19, s. 22

druk 3D ; ekstruder

3D printing ; extruder

7/73
Nr opisu: 0000125819
A novel type room temperature surface photovoltage gas sensor device.
[Aut.]: Monika Kwoka, M. A. Borysiewicz, A. Tomkiewicz, A. Piotrowska, Jacek** Szuber.
-Sensors 2018 vol. 18 iss. 9, art. no. 2919 s. 1-11, bibliogr. 37 poz.. Impact Factor 3.031. Punktacja MNiSW 30.000

czujnik gazu w temperaturze pokojowej

room temperature gas sensor ; surface photovoltage effect ; porous ZnO nanostructured thin films

8/73
Nr opisu: 0000124542   
Oxide-organic heterostructures: a case study of charge transfer disturbance at a SnO2-copper phthalocyanine buried interface.
[Aut.]: Maciej Krzywiecki, Lucyna Grządziel, Paulina Powroźnik, Monika Kwoka, J. Rechmann, A. Erbe.
-Phys. Chem. Chem. Phys. 2018 vol. 20 iss. 23, s. 6092-16101, bibliogr. 79 poz.. Impact Factor 3.567. Punktacja MNiSW 40.000

9/73
Nr opisu: 0000121550   
Surface properties of nanostructured, porous ZnO thin films prepared by direct current reactive magnetron sputtering.
[Aut.]: Monika Kwoka, Barbara Łysoń-Sypień, Anna Kuliś, M. A. Borysiewicz, E. Kamińska, Jacek** Szuber.
-Materials 2018 vol. 11 iss. 1, art. no 131 s. 1-11, bibliogr. 31 poz.. Impact Factor 2.972. Punktacja MNiSW 35.000

nanostruktura ZnO ; reaktywne rozpylanie magnetronowe ; XPS ; chemia powierzchni

ZnO nanostructure ; reactive magnetron sputtering ; XPS ; surface chemistry

10/73
Nr opisu: 0000126068   
Surface properties of SnO2 nanowires deposited on Si substrate covered by Au catalyst studies by XPS, TDS and SEM.
[Aut.]: Monika Kwoka, Barbara Łysoń-Sypień, Anna Kuliś, D. Zappa, E. Comini.
-Nanomaterials 2018 vol. 8 iss. 9, art. no. 738 s. 1-10, bibliogr. 31 poz.. Impact Factor 4.034. Punktacja MNiSW 35.000

morfologia powierzchni ; chemia powierzchni ; osadzanie z fazy gazowej ; nanodruty dwutlenku cyny ; nanodruty SnO2

surface morphology ; surface chemistry ; vapor phase deposition ; tin dioxide nanowires ; SnO2 nanowires

11/73
Nr opisu: 0000126456   
Surface properties of tin dioxide nanowires.
[Aut.]: Barbara Łysoń-Sypień, Monika Kwoka, Anna Kuliś, D. Zappa, E. Comini.
W: 3rd International Conference InterNanoPoland 2018, 12-13 September 2018, Katowice. Abstracts book. Ed. by Marta Zaborowska and Agnieszka Piekara. Katowice : The NANONET Foundation, 2018, s. 103, bibliogr. 3 poz.

12/73
Nr opisu: 0000126455   
XPS studies of surface chemistry of ZnO nanowires for gas sensors application.
[Aut.]: Monika Kwoka, D. Zappa, E. Comini, Jacek** Szuber.
W: 3rd International Conference InterNanoPoland 2018, 12-13 September 2018, Katowice. Abstracts book. Ed. by Marta Zaborowska and Agnieszka Piekara. Katowice : The NANONET Foundation, 2018, s. 101, bibliogr. 6 poz.

13/73
Nr opisu: 0000114163   
Comparative analysis of physico-chemical and gas sensing characteristics of two different forms of SnO2 films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, J. Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2017 vol. 401, s. 256-261, bibliogr. 19 poz.. Impact Factor 4.439. Punktacja MNiSW 35.000

dwutlenek cyny ; technologia RGTO ; krystaliczność ; morfologia ; chemia ; XRD ; SEM ; AFM ; XPS ; sensoryka NO2

tin dioxide ; RGTO technology ; crystallinity ; morphology ; chemistry ; XRD ; SEM ; AFM ; XPS ; NO2 sensor

14/73
Nr opisu: 0000115278
Impact of air exposure and annealing on the chemical and electronic properties of the surface of SnO2 nanolayers deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Monika Kwoka, Maciej Krzywiecki.
-Beilstein J. Nanotechnol. 2017 vol. 8, s. 514-521, bibliogr. 41 poz.. Impact Factor 2.968. Punktacja MNiSW 35.000

RGVO ; tlenek cyny ; XPS

RGVO ; tin oxide ; XPS

15/73
Nr opisu: 0000116580   
Oxidation of graphite by different modified Hummers methods.
[Aut.]: R. Muzyka, Monika Kwoka, Ł. Smędowski, N. Diez, G. Gryglewicz.
-New Carbon Mater. 2017 vol. 32 iss. 1, s. 15-20, bibliogr. 21 poz.. Impact Factor 1.171. Punktacja MNiSW 20.000

grafit ; zmodyfikowana metoda Hummersa ; tlenek grafitu ; struktura

graphite ; modified Hummers method ; graphite oxide ; structure

16/73
Nr opisu: 0000120834   
Pure and highly Nb-doped titanium dioxide nanotubular arrays: characterization of local surface properties.
[Aut.]: Monika Kwoka, V. Galstyan, E. Comini, Jacek** Szuber.
-Nanomaterials 2017 vol. 7 iss. 12, art. no. 456 s. 1-13, bibliogr. 43 poz.. Impact Factor 3.504. Punktacja MNiSW 35.000

nanorurki TiO2 ; domieszkowanie Nb ; chemia powierzchni ; XPS ; morfologia powierzchni ; SEM

TiO2 nanotubes ; Nb-doping ; surface chemistry ; XPS ; surface morphology ; SEM

17/73
Nr opisu: 0000107554   
Influence of absolute argon and oxygen flow values at a constant ratio on the growth of Zn/ZnO nanostructures obtained by DC reactive magnetron sputtering.
[Aut.]: M. Masłyk, M. A. Borysiewicz, M. Wzorek, Monika Kwoka, E. Kamińska.
-Appl. Surf. Sci. 2016 vol. 389, s. 287-293, bibliogr. 23 poz.. Impact Factor 3.387. Punktacja MNiSW 35.000

Zn ; nanostruktura ; przepływ gazu ; tlen ; zanieczyszczenie ; reaktywne rozpylanie magnetronowe

Zn ; nanostructure ; gas flow ; oxygen ; impurity ; reactive magnetron sputtering

18/73
Nr opisu: 0000113629
Nowe trendy w rozwoju czujników gazów toksycznych opartych na dwutlenku cyny.
[Aut.]: Monika Kwoka.
W: Prace Komisji Naukowych. z. 39-40. Katowice : Polska Akademia Nauk. Oddział w Katowicach, 2016, s. 325-327

dwutlenek cyny ; czujnik gazu

tin dioxide ; gas sensor

19/73
Nr opisu: 0000112434   
Preface. Special Issue IX International Workshop on Semiconductor Gas Sensors-SGS'2015.
[Aut.]: Monika Kwoka.
-Thin Solid Films 2016 vol. 618 pt. B, iss. SI, s. 231

20/73
Nr opisu: 0000107834   
Technologia cienkich warstw tlenku cynku o kontrolowanych własnościach strukturalnych, transportowych i optycznych.
[Aut.]: M. A. Borysiewicz, E. Kamińska, T. Wojciechowski, K. Gołaszewska, E. Dynowska, M. Wzorek, R. Kruszka, K. D. Pągowska, Monika Kwoka, Jacek** Szuber, T. Boll, K. Stiller, T. Wojtowicz, A. Piotrowska.
-Elektronika 2016 R. 57 nr 8, s. 75-80, bibliogr. 10 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

tlenek cynku ; ZnO ; katodowe rozpylanie magnetronowe ; przezroczysta elektronika ; czujnik

zinc oxide ; ZnO ; magnetron sputtering ; transparent electronics ; sensor

21/73
Nr opisu: 0000104603
Defect states in tin oxide - a subtle way for tuning the oxide's sensing properties.
[Aut.]: Maciej Krzywiecki, Monika Kwoka, A. Sarfraz, G. Genchev, A. Erbe.
W: IX International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2015, Zakopane, Poland, 13-16 December 2015. Programme, abstracts, info. [B.m.] : [b.w.], 2015, s. 41

22/73
Nr opisu: 0000102948   
Elektrochemiczna redukcja soli diazoniowych jako metoda immobilizacji pochodnych fenotiazyn.
[Aut.]: Katarzyna Piwowar, Jerzy** Żak, J. Szuber, Monika Kwoka, Piotr* Kościelniak, Agata Blacha-Grzechnik.
W: 58 Zjazd Naukowy Polskiego Towarzystwa Chemicznego w Gdańsku. Polska chemia w mieście wolności, 21-25 września 2015. Materiały zjazdowe. Cz. 1, Streszczenia. Warszawa : Polskie Towarzystwo Chemiczne, 2015, s. 339, bibliogr. 2 poz.

nanowarstwa ; warstwa organiczna ; tlen singletowy ; sól diazoniowa ; pochodna fenotiazyny

nanolayer ; organic layer ; singlet oxygen ; diazonium salt ; phenothiazine derivative

23/73
Nr opisu: 0000103227   
Phenothiazines grafted on the electrode surface from diazonium salts as molecular layers for photochemical generation of singlet oxygen.
[Aut.]: Agata Blacha-Grzechnik, Katarzyna Piwowar, Piotr* Kościelniak, Monika Kwoka, Jacek** Szuber, Jerzy** Żak.
-Electrochim. Acta 2015 vol. 182, s. 1085-1092, bibliogr. 41 poz.. Impact Factor 4.803. Punktacja MNiSW 40.000

tlen singletowy ; fenotiazyna ; wytwarzanie fotochemiczne ; elektroszczepienie ; fotouczulacz

singlet oxygen ; phenothiazine ; photochemical generation ; electrografting ; photosensitizer

24/73
Nr opisu: 0000100782   
Rheotaxial growth and vacuum oxidation - novel technique of tin oxide deposition. In situ monitoring of oxidation process.
[Aut.]: Monika Kwoka, Maciej Krzywiecki.
-Mater. Lett. 2015 vol. 154, s. 1-4, bibliogr. 16 poz.. Impact Factor 2.437. Punktacja MNiSW 35.000

SnO2 ; RGVO ; nanowarstwa ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; XPS ; AFM

SnO2 ; RGVO ; nanolayer ; surface chemistry ; surface morphology ; XPS ; AFM

25/73
Nr opisu: 0000104599
Study of gas-sensing and catalytic properties of one-dimensional ZnO structures modified with gold nanoparticles.
[Aut.]: H. Teterycz, P. Suchorska-Woźniak, Monika Kwoka, O. Rac, M. Fiedot.
W: IX International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2015, Zakopane, Poland, 13-16 December 2015. Programme, abstracts, info. [B.m.] : [b.w.], 2015, s. 29, bibliogr. 2 poz.

26/73
Nr opisu: 0000104604
XPS studies of surface chemistry of pure and Nb-doped TiO2 nanotubes for gas sensor application.
[Aut.]: Monika Kwoka, V. Galstyan, E. Comini, Jacek** Szuber.
W: IX International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2015, Zakopane, Poland, 13-16 December 2015. Programme, abstracts, info. [B.m.] : [b.w.], 2015, s. 42, bibliogr. 10 poz.

27/73
Nr opisu: 0000096287   
Comparative analysis of physico-chemical and gas sensing characteristics of two different forms of SnO2 films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Jacek** Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2014 vol. 326, s. 27-31, bibliogr. 20 poz.. Impact Factor 2.711. Punktacja MNiSW 35.000

dwutlenek cyny ; morfologia ; chemia ; odpowiedź czujnika

tin dioxide ; morphology ; chemistry ; sensor response

28/73
Nr opisu: 0000101036
Comparative analysis of the surface properties of tin dioxide SnO2 one-dimensional and two-diemnsional nanostructures. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Michał* Sitarz.
Gliwice, 2014, 79 k., bibliogr. 61 poz.
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Promotor: prof. dr hab. inż. Jacek** Szuber, dr Monika Kwoka

nanostruktura SnO2 ; SnO2 ; dwutlenek cyny ; właściwości powierzchniowe ; analiza porównawcza

SnO2 nanostructure ; SnO2 ; tin dioxide ; surface properties ; comparative analysis

29/73
Nr opisu: 0000093503   
Niskowymiarowe nanostruktury dwutlenku cyny SnO2 w sensoryce gazów.
[Aut.]: Monika Kwoka, Jacek** Szuber.
-Elektronika 2014 R. 55 nr 9, s. 39-44, bibliogr. 4 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

dwutlenek cyny ; SnO2 ; nanostruktura niskowymiarowa ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; charakterystyka sensorowa ; czujnik gazu

tin dioxide ; SnO2 ; low dimensional nanostructure ; surface chemistry ; surface morphology ; sensor characteristic ; gas sensor

30/73
Nr opisu: 0000093862
Niskowymiarowe nanostruktury SnO2 w sensoryce gazów.
[Aut.]: Monika Kwoka, Jacek** Szuber.
W: Trzynasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 09-13.06.2014]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2014, s. 99
Pełny tekst na CD-ROM

struktura 2D ; struktura 1D ; dwutlenek cyny ; chemia ogólna ; morfologia ; sensoryka NO2

2D structure ; 1D structure ; tin dioxide ; general chemistry ; morphology ; NO2 sensor

31/73
Nr opisu: 0000091089   
Surface chemistry of SnO2 nanowires on Ag-catalyst-covered Si substrate studied using XPS and TDS methods.
[Aut.]: Michał* Sitarz, Monika Kwoka, E. Comini, D. Zappa, Jacek** Szuber.
-Nanoscale Res. Lett. 2014 vol. 9 iss. 1, s. 1-6, bibliogr. 24 poz.. Impact Factor 2.779. Punktacja MNiSW 35.000

SnO2 ; nanodruty ; Ag ; chemia powierzchni ; XPS ; TDS ; morfologia powierzchni ; SEM

SnO2 ; nanowires ; Ag ; surface chemistry ; XPS ; TDS ; surface morphology ; SEM

32/73
Nr opisu: 0000096259   
XPS, TDS, and AFM studies of surface chemistry and morphology of Ag-covered L-CVD SnO2 nanolayers.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Piotr* Kościelniak, Jacek** Szuber.
-Nanoscale Res. Lett. 2014 vol. 9 iss. 1, s. 1-6, bibliogr. 13 poz.. Impact Factor 2.779. Punktacja MNiSW 35.000

dwutlenek cyny ; SnO2 ; powłoki cienkie L-CVD ; domieszkowanie Ag ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; XPS ; TDS ; AFM

tin dioxide ; SnO2 ; L-CVD thin films ; Ag-doping ; surface chemistry ; surface morphology ; XPS ; TDS ; AFM

33/73
Nr opisu: 0000087782   
Badania wybranych nanostruktur SnO2 w aspekcie zastosowań sensorowych.
[Aut.]: Monika Kwoka, Jacek** Szuber.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 9, s. 17-19, bibliogr. 11 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

tlenek przewodzący ; dwutlenek cyny ; nanostruktura ; właściwości sensorowe

conductive oxide ; tin dioxide ; nanostructure ; sensor properties

34/73
Nr opisu: 0000093837
Badania wybranych nanostruktur SnO2 w aspekcie zastosowań sensorowych.
[Aut.]: Monika Kwoka, Jacek** Szuber.
W: Dwunasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 10-13.06.2013]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2013, s. 180 + tekst na CD-ROM
Pełny tekst na CD-ROM

SnO2 ; nanostruktura SnO2 ; właściwości sensorowe

SnO2 ; SnO2 nanostructure ; sensor properties

35/73
Nr opisu: 0000113757
Influence of nitrogen implantation on electrical properties of Al/SiO2/4H-SiC MOS structure.
[Aut.]: K. Król, M. Sochacki, M. Turek, J. Zuk, M. Przewlocki, T. Gutt, P. Borowicz, M. Guziewicz, Jacek** Szuber, Monika Kwoka, Piotr* Kościelniak, J. Szmidt.
W: Silicon carbide and related materials 2012. Selected, peer reviewed papers from the 9th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ECSCRM 2012), September 2-6, 2012, St. Petersburg, Russian Federation. Ed. by Alexander A. Lebedev, Sergey Yu. Davydov, Pavel A. Ivanov and Mikhail E. Levinshtein. Durnten-Zurich : Trans Tech Publications, 2013, s. 733-736, bibliogr. 6 poz. (Materials Science Forum ; vol. 740/742 0255-5476)

implantacja jonów ; węglik krzemu ; utlenianie termiczne

ion implantation ; silicon carbide ; thermal oxidation ; ion implantation damage

36/73
Nr opisu: 0000082758
Redukcja stanów pułapkowych w strukturze MOS 4H-SiC(0001) pod wpływem implantacji azotu - wpływ profilu implantacji.
[Aut.]: K. Król, M. Sochacki, W. Strupiński, M. Turek, J. Żuk, P. Borowicz, H. Przewłocki, Monika Kwoka, Piotr* Kościelniak, Jacek** Szuber, J. Szmidt.
W: Technologia elektronowa. ELTE '2013. XI Konferencja naukowa, Ryn, 10-20 kwietnia 2013. [Dokument elektroniczny]. Warszawa : Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej, 2013, dysk optyczny (CD-ROM) s. 155-156, bibliogr. 3 poz.

stan pułapkowy ; implantacja jonów ; struktura MOS

trapping state ; ion implantation ; MOS structure

37/73
Nr opisu: 0000089092
Surface properties of the 1D and 2D SnO2 nanostructures.
[Aut.]: Monika Kwoka, Michał* Sitarz, L. Ottaviano, E. Comini, D. Zappa, Jacek** Szuber.
W: Proceedings of 8th Solid State Surfaces and Interfaces. 8th SSSI, Smolenice Castle, Slovak Republik, November 25-28, 2013. Extended abstract book. Ed. R. Brunner. Bratislava : Comenius University, 2013, s. 86, bibliogr. 4 poz.

38/73
Nr opisu: 0000071977
Comparative analysis of surface properties of selected SnO2 nanostructures.
[Aut.]: Monika Kwoka, Michał* Sitarz, Piotr* Kościelniak, Jacek** Szuber.
W: Powierzchnia i struktury cienkowarstwowe. XII Seminarium. SemPiSC, Szklarska Poręba, 9-12 maja 2012. Książka streszczeń. [B.m.] : [b.w.], 2012, s. 1

39/73
Nr opisu: 0000071982
Optimization of technology for deposition of ultrathin SnO2 films by spin-coating method.
[Aut.]: Krzysztof** Waczyński, Monika Kwoka, Piotr* Kościelniak, Michał* Sitarz, Jacek** Szuber.
W: Powierzchnia i struktury cienkowarstwowe. XII Seminarium. SemPiSC, Szklarska Poręba, 9-12 maja 2012. Książka streszczeń. [B.m.] : [b.w.], 2012, s. 1, bibliogr. 6 poz.

40/73
Nr opisu: 0000082740
Optymalizacja technologii osadzania nanowarstw SnO2 metodą rozwirowywania z roztworów (spin-coating).
[Aut.]: Jacek** Szuber, Krzysztof** Waczyński, Monika Kwoka, Michał* Sitarz, Natalia Waczyńska-Niemiec, Piotr* Kościelniak.
W: Jedenasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-14.06.2012]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2012, s. 159
Pełny tekst na CD-ROM

SnO2 ; nanowarstwa ; spin-coating ; technologia osadzania

SnO2 ; nanolayer ; spin-coating ; deposition technology

41/73
Nr opisu: 0000075136
Optymalizacja technologii reotaksjalnego osadzania cienkich warstw wybranych tlenków przewodzących w aspekcie zastosowań sensorowych.
[Aut.]: Jacek** Szuber, Monika Kwoka, Piotr* Kościelniak, Michał* Sitarz.
W: Czujniki optoelektroniczne i elektroniczne. COE'2012. XII Konferencja naukowa, Karpacz, 24-27 czerwca 2012. Politechnika Wrocławska. [B.m] : [b.w.], 2012, s. 38, bibliogr. 5 poz.

tlenki przewodzące ; dwutlenek cyny ; trójtlenek indu ; technologia RGTO ; nanowarstwa

conductive oxides ; tin dioxide ; indium trioxide ; RGTO technology ; nanolayer

42/73
Nr opisu: 0000082832   
Photoemission studies of the surface electronic properties of L-CVD SnO2 ultra thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Jacek** Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2012 vol. 258 iss. 21, s. 8425-8429, bibliogr. 30 poz.. Impact Factor 2.112. Punktacja MNiSW 30.000

cienka powłoka L-CVD ; poziom Fermiego ; dwutlenek cyny

L-CVD thin film ; Fermi level ; tin dioxide

43/73
Nr opisu: 0000083460
SEM, XPS and TDS studies of surface properties of SNO2 nanowires prepared on Ag and Au catalyst layers deposited on Si substrate.
[Aut.]: Michał* Sitarz, E. Comini, Monika Kwoka, D. Zappa, Piotr* Kościelniak, Jacek** Szuber.
W: VIII International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2012, Cracow, Poland, 11-15 September 2012. Programme & abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2012, s. 58, bibliogr. 4 poz.

44/73
Nr opisu: 0000083459
XPS and TDS comparative studies of the surface chemistry of Ag-doped L-CVD SnO2 nanolayers and SnO2 nanowires after air exposure.
[Aut.]: Monika Kwoka, Michał* Sitarz, L. Ottaviano, E. Comini, D. Zappa, Jacek** Szuber.
W: VIII International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2012, Cracow, Poland, 11-15 September 2012. Programme & abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2012, s. 55, bibliogr. 3 poz.

45/73
Nr opisu: 0000084473   
Optymalizacja technologii osadzania reotaksjalnego nanowarstw wybranych przezroczystych tlenków przewodzących.
[Aut.]: Jacek** Szuber, Monika Kwoka, Piotr* Kościelniak.
W: V Krajowa Konferencja Nanotechnologii. NANO 2011, Gdańsk, 3-7 lipca 2011. Streszczenia wystąpień. Pod red. Jarosława Rybickiego i Wojciecha Sadowskiego. Gdańsk : TASK Publishing, 2011, s. 89-90, bibliogr. 6 poz.

nanowarstwa ; tlenek przewodzący ; SEM ; AFM

nanolayer ; conductive oxide ; SEM ; AFM

46/73
Nr opisu: 0000068351   
Optymalizacja technologii reotaksjalnego osadzania nanowarstw wybranych przezroczystych tlenków przewodzących.
[Aut.]: Jacek** Szuber, Monika Kwoka, Piotr* Kościelniak, Michał* Sitarz.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 9, s. 25-27, bibliogr. 6 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

nanowarstwa ; SEM ; AFM ; tlenki przewodzące

nanolayer ; SEM ; AFM ; conductive oxides

47/73
Nr opisu: 0000082099
Optymalizacja technologii RGTO osadzania bardzo cienkich warstw wybranych przezroczystych tlenków przewodzących.
[Aut.]: Jacek** Szuber, Monika Kwoka, Piotr* Kościelniak.
W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 131
Pełny tekst na CD-ROM

tlenek przewodzący ; SnO2 ; In2O3 ; warstwa cienka ; nanowarstwa ; stechiometria ; morfologia powierzchni ; AFM ; XPS ; SEM

conductive oxide ; SnO2 ; In2O3 ; thin film ; nanolayer ; stoichiometry ; surface morphology ; AFM ; XPS ; SEM

48/73
Nr opisu: 0000071525   
X-ray photoelectron spectroscopy and thermal desorption spectroscopy comparative studies of L-CVD SnO2 ultra thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, Natalia Waczyńska, Piotr* Kościelniak, Michał* Sitarz, Jacek** Szuber.
-Thin Solid Films 2011 vol. 520 iss. 3, s. 913-917, bibliogr. 29 poz.. Impact Factor 1.890. Punktacja MNiSW 30.000

dwutlenek cyny ; L-CVD ; powłoka cienka ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS ; profilowanie głębokościowe ; spektroskopia termodesorpcyjna ; chemia powierzchni

tin dioxide ; L-CVD ; ultrathin film ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS ; depth profiling ; thermal desorption spectroscopy ; surface chemistry

49/73
Nr opisu: 0000071524   
XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, Jacek* Mazur, J. Henek, Monika Kwoka, Ł. Pawela, Jacek** Szuber.
-Thin Solid Films 2011 vol. 520 iss. 3, s. 927-931, bibliogr. 36 poz.. Impact Factor 1.890. Punktacja MNiSW 30.000

In2O3 ; RGVO ; chemia powierzchni ; XPS ; morfologia powierzchni ; AFM

In2O3 ; RGVO ; surface chemistry ; XPS ; surface morphology ; AFM

50/73
Nr opisu: 0000063356   
Influence of Si substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO2 thin films studied by XPS and AFM.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Natalia Waczyńska, S. Santucci, Jacek** Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2010 vol. 256 iss. 19, s. 5771-5775, bibliogr. 25 poz.. Impact Factor 1.795

dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; podłoże krzemowe ; morfologia powierzchni ; mikroskopia sił atomowych ; AFM ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS

tin dioxide ; L-CVD thin film ; surface morphology ; atomic force microscopy ; AFM ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS

51/73
Nr opisu: 0000070114
Nanoforms of SnO2 for microelectronics application.
[Aut.]: Jacek** Szuber, Monika Kwoka.
W: Symposium on Surface and Interface of Advanced Thin Films. SIATF 2010, Kraków, Poland, 16-17 September 2010. Programme and abstracts. Ed. ed. Nhu-Tarnawska Hoa Kim Ngan. [Kraków] : [Pedagogical University. Faculty of Mathematics-Physics-Techniques], 2010, s. 16

52/73
Nr opisu: 0000084565
Nanostruktury dwutlenku cyny SnO2 w zastosowaniach sensorowych.
[Aut.]: Jacek** Szuber, Monika Kwoka.
W: Czujniki optoelektroniczne i elektroniczne. COE 2010. XI Konferencja naukowa, Nałęczów, 20-23 czerwca 2010. Streszczenia. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2010, dysk optyczny (CD-ROM) s. 63, bibliogr. 7 poz.

SnO2 ; nanostruktura ; nanosensor ; czujnik gazowy ; czujnik półprzewodnikowy

SnO2 ; nanostructure ; nanosensor ; gas sensor ; semiconductor sensor

53/73
Nr opisu: 0000070273   
Nanowarstwy dwutlenku cyny SnO2 w aspekcie zastosowań w mikroelektronice.
[Aut.]: Jacek** Szuber, Monika Kwoka.
W: IV Krajowa Konferencja Nanotechnologii. NANO 2010, Poznań, 28.06-02.07 2010. Program i streszczenia. Wydział Fizyki Technicznej Politechniki Poznańskiej [et al.].. Poznań : [b.w.], 2010, s. 68, bibliogr. 11 poz.

mikroelektronika ; dwutlenek cyny ; nanowarstwa ; warstwa cienka

microelectronics ; tin dioxide ; nanolayer ; thin coating

54/73
Nr opisu: 0000070118
Preparation and characterization of SnO2 nanostructures for microelectronics application.
[Aut.]: Jacek** Szuber, Monika Kwoka.
W: 7th Solid State Surfaces and Interfaces. SSSI 2010, Smolenice, Slovakia, 22-25 November, 2010. Extended abstract book. [B.m.] : [b.w.], 2010, s. 31-32

55/73
Nr opisu: 0000071753   
XPS and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 ultrathin films deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, Jacek* Mazur, J. Henek, Monika Kwoka, L. Pawela, Jacek** Szuber.
-Thin Solid Films 2010 vol. 520 iss. 3, s. 927-931, bibliogr. 36 poz.. Impact Factor 1.935

In2O3 ; RGVO ; XPS ; chemia powierzchni ; morfologia powierzchni ; AFM

In2O3 ; RGVO ; XPS ; surface chemistry ; surface morphology ; AFM

56/73
Nr opisu: 0000069313
XPS and TPD-MS Comparative studies of L-CVD SnO2 ultra thien films.
[Aut.]: Monika Kwoka, Natalia Waczyńska, Piotr* Kościelniak, Jacek** Szuber.
W: VII International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2010, Kraków, Poland, 12-16 September 2010. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2010, s. 58

57/73
Nr opisu: 0000069312
XPX and AFM studies of initial state of Sn deposition on Si substrate for preparation of SnO2 nanolayers for gas sensor application.
[Aut.]: Monika Kwoka, Piotr* Kościelniak, Jacek** Szuber.
W: VII International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2010, Kraków, Poland, 12-16 September 2010. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2010, s. 57

58/73
Nr opisu: 0000069310
XPX and AFM studies of surface chemistry and morphology of In2O3 nanolayers deposited by rheotaxial growth and vacuum oxidation.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, Jacek* Mazur, J. Henel, Ł. Pawela, Monika Kwoka, Jacek** Szuber.
W: VII International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2010, Kraków, Poland, 12-16 September 2010. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2010, s. 55

59/73
Nr opisu: 0000058962
Influence of substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO2 thin films studied by XPS and AFM.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Natalia Waczyńska, Jacek** Szuber.
W: VI International Workshop on Semiconductor Surface Passivation, Zakopane, Poland, September 13-18, 2009. [B.m.] : [b.w.], 2009, s. 53

60/73
Nr opisu: 0000056438   
Local surface morphology and chemistry of SnO2 thin films deposited by rheotaxial growth and thermal oxidation method for gas sensor application.
[Aut.]: L. Ottaviano, Monika Kwoka, F. Bisti, P. Parisse, V. Grossi, S. Santucci, Jacek** Szuber.
-Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 22, s. 6161-6169, bibliogr. 29 poz.. Impact Factor 1.727

dwutlenek cyny ; RGTO ; podłoże krzemowe ; stechiometria ; dyfrakcja rentgenowska ; wytrzymałość na zginanie ; mikroskopia sił atomowych ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów

tin dioxide ; Rheological Growth and Thermal Oxidation (RGTO) ; surface morphology ; stoichiometry ; X-ray diffraction ; scanning electron microscopy ; atomic force microscopy ; X-ray photoelectron spectroscopy

61/73
Nr opisu: 0000047687   
XPS study of the surface chemistry of Ag-covered L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek** Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2008 vol. 254 iss. 24, s. 8089-8092, bibliogr. 13 poz.. Impact Factor 1.576

dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; domieszkowanie Ag ; XPS ; chemia powierzchni ; profilowanie głębokościowe

tin dioxide ; L-CVD thin film ; Ag-doping ; XPS ; surface chemistry ; depth profiling

62/73
Nr opisu: 0000039992   
AFM study of the surface morphology of L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Jacek** Szuber.
-Thin Solid Films 2007 vol. 515 iss. 23, s. 8328-8331, bibliogr. 14 poz.. Impact Factor 1.693

dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; mikroskopia sił atomowych ; morfologia powierzchni

tin dioxide ; L-CVD thin film ; atomic force microscopy ; surface morphology

63/73
Nr opisu: 0000076035
Nanoforms of SnO2 for gas sensor application.
[Aut.]: Jacek** Szuber, Monika Kwoka.
W: IX Electron Technology Conference. ELTE 2007, Kraków, 4-7.09.2007. Book of abstracts. Eds: K. Zakrzewska [et al.]. Kraków : Przedsiębiorstwo Wielobranżowe STABIL, 2007, s. 126, bibliogr. 9 poz.

64/73
Nr opisu: 0000036413   
Studies of surface properties of L-CVD SnO2 thin films. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Monika Kwoka.
Gliwice, 2007, 128 k., bibliogr. 84 poz. + zał.: 46 k.
Politechnika Śląska. Wydział Matematyczno-Fizyczny. Promotor: prof. dr hab. inż. Jacek** Szuber

cienka warstwa SnO2 ; cienka powłoka L-CVD ; dwutlenek cyny ; spektroskopia fotoelektronowa ; mikroskopia sił atomowych ; chemia powierzchni ; własności elektronowe ; morfologia powierzchni ; osadzanie

SnO2 thin film ; L-CVD thin film ; tin dioxide ; photoelectron spectroscopy ; atomic force microscopy ; surface chemistry ; electronic properties ; surface morphology ; deposition

65/73
Nr opisu: 0000076043
XRD and XPS comparative studies of stoichiometry of RGTO SnO2 thin films for gas sensor application.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, P. Parissi, F. Bisti, Jacek** Szuber.
W: IX Electron Technology Conference. ELTE 2007, Kraków, 4-7.09.2007. Book of abstracts. Eds: K. Zakrzewska [et al.]. Kraków : Przedsiębiorstwo Wielobranżowe STABIL, 2007, s. 198, bibliogr. 7 poz.

66/73
Nr opisu: 0000025450   
Comparative photoemission study of the electronic properties of L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek** Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2006 vol. 252 iss. 21, s. 7734-7738, bibliogr. 23 poz.
Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005. Impact Factor 1.436

dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; nakładanie L-CVD ; właściwości elektroniczne warstwy ładunku przestrzennego ; poziom Fermiego ; elektroniczne pasmo wzbronione

tin dioxide ; thin film ; L-CVD deposition ; electronic properties of space charge layer ; Fermi level ; electronic band gap

67/73
Nr opisu: 0000023051
Surface morphology of L-CVD SnO2 thin films for gas sensor application.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, S. Santucci, Jacek** Szuber.
W: V International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2006, Ustroń, Poland, September 10-13, 2006. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2006, s. 46

68/73
Nr opisu: 0000025442   
XPS depth profiling studies of L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, S. Santucci, Jacek** Szuber.
-Appl. Surf. Sci. 2006 vol. 252 iss. 21, s. 7730-7733, bibliogr. 14 poz.
Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005. Impact Factor 1.436

dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; profilowanie głębokościowe ; XPS

tin dioxide ; thin film ; depth profiling ; XPS

69/73
Nr opisu: 0000023052
XPS studies of surface chemistry and electronic properties of Ag-doped L-VCD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek** Szuber.
W: V International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2006, Ustroń, Poland, September 10-13, 2006. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2006, s. 47, bibliogr. 8 poz.

70/73
Nr opisu: 0000021700   
On the correlation between morphology and gas sensing properties of RGTO SnO2 thin films.
[Aut.]: Jacek** Szuber, Jerzy Uljanow, Teresa** Buczek-Karczewska, Wiesław Jakubik, Krzysztof** Waczyński, Monika Kwoka, Sławomir** Kończak.
-Thin Solid Films 2005 vol. 490 iss. 1, s. 54-58, bibliogr. 18 poz.. Impact Factor 1.569

dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; osadzanie ; utlenianie

tin dioxide ; thin film ; deposition ; oxidation

71/73
Nr opisu: 0000021604   
X-ray photoemission spectroscopy study of the surface chemistry of laser-assisted chemical vapour deposition SnOx thin films after exposure to hydrogen.
[Aut.]: Monika Kwoka, Grzegorz* Czempik, Jacek** Szuber.
-Acta Phys. Slovaca 2005 vol. 55 nr 3, s. 331-339, bibliogr. 15 poz.. Impact Factor 0.359

72/73
Nr opisu: 0000021704   
XPS study of the surface chemistry of L-CVD SnO2 thin films after oxidation.
[Aut.]: Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, S. Santucci, Grzegorz* Czempik, Jacek** Szuber.
-Thin Solid Films 2005 vol. 490 iss. 1, s. 36-42, bibliogr. 18 poz.. Impact Factor 1.569

dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; osadzanie ; utlenianie

tin dioxide ; thin film ; deposition ; oxidation

73/73
Nr opisu: 0000015577
Influence of oxidation on surface chemistry of L-CVD SnO2 thin films.
[Aut.]: Monika Kwoka, R. Larciprete, Grzegorz* Czempik, Jacek** Szuber.
W: Czujniki optoelektroniczne i elektroniczne. COE 2004. VIII konferencja naukowa, Wrocław, 27-30 czerwca 2004. Materiały konferencyjne. Wrocław : Wydział Elektroniki Mikrosystemów Politechniki Wrocławskiej, 2004, s. 379-382, bibliogr. 4 poz.

stosując format:
Nowe wyszukiwanie