Wyniki wyszukiwania

Wynik wyszukiwania

1/25
Nr opisu: 0000095160
Optical properties of thin films of polyazomethine with flexible side chains.
[Aut.]: B. Jarząbek, B. Kaczmarczyk, J. Jurusik, M. Siwy, Jan** Weszka.
-J. Non-Cryst. Solids 2013 vol. 375, s. 13-18, bibliogr. 44 poz.. Impact Factor 1.716. Punktacja MNiSW 30.000

poliazometiny ; elastyczny łańcuch boczny ; amorficzna powłoka cienka ; parametr krawędzi absorpcji

polyazomethines ; flexible side chain ; amorphous thin film ; absorption edge parameter

2/25
Nr opisu: 0000090831
Study of thin films for application in photovoltaic cells.
[Aut.]: Jan** Weszka, Paweł Jarka, J. Jurusik, M. Domański, Magdalena Szindler.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2013 vol. 64 nr 2, s. 182-191, bibliogr. 14 poz.. Punktacja MNiSW 13.000

MePc:PTCDA ; morfologia warstw cienkich ; mikroskopia AFM ; PVD ; absorbancja

MePc:PTCDA ; thin film morphology ; AFM microscopy ; PVD ; absorbance

3/25
Nr opisu: 0000090707
Studying of thin films used in photovoltaic cells.
[Aut.]: Jan** Weszka, Paweł Jarka, J. Jurusik, M. Domański, Magdalena Szindler.
W: Achievements in mechanical and materials engineering. AMME'2013. Programme and proceedings of the twenty first international scientific conference, Gliwice - Kraków, [23rd-26th June 2013]. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwice : International OCSCO World Press, 2013, s. 120

4/25
Nr opisu: 0000071248
A study of optical properties and annealing effect on the absorption edge of pristine- and iodine-doped polyazomethine thin films.
[Aut.]: B. Jarząbek, Jan** Weszka, Barbara* Hajduk, J. Jurusik, M. Domański, Jan* Cisowski.
-Synth. Met. 2011 vol. 161 iss. 11/12, s. 969-975, bibliogr. 36 poz.. Impact Factor 1.829

poliazometiny ; warstwa cienka ; krawędź absorpcji optycznej ; wyżarzanie

polyazomethine ; thin film ; optical absorption edge ; annealing

5/25
Nr opisu: 0000067008
Influence of technological conditions on optical properties and morphology of spin-coated PPI thin films.
[Aut.]: Małgorzata* Chwastek, Jan** Weszka, J. Jurusik, Barbara* Hajduk, Paweł Jarka.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2011 vol. 48 nr 2, s. 69-76, bibliogr. 23 poz.. Punktacja MNiSW 9.000

spin-powłoka ; spektroskopia UV-Vis ; spektroskopia IR ; mikroskopia AFM

spin-coating ; UV-Vis spectroscopy ; IR spectroscopy ; AFM microscopy

6/25
Nr opisu: 0000068418
New organic materials for photovoltaics.
[Aut.]: Jan** Weszka, J. Cisowski, M. Domański, H. Bednarski, B. Jarząbek, J. Jurusik, Barbara* Hajduk, Małgorzata* Chwastek.
-Moldavian J. Phys. Sci. 2011 vol. 10, s. 33-43, bibliogr. 19 poz.

7/25
Nr opisu: 0000067005
Reconstruction of thin films polyazomethine based on microscopic images.
[Aut.]: Jan** Weszka, Marek Szindler, Agata Śliwa, Barbara* Hajduk, J. Jurusik.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2011 vol. 48 nr 1, s. 40-48, bibliogr. 20 poz.. Punktacja MNiSW 9.000

chemiczne osadzanie z fazy gazowej ; mikroskopowa siła atomowa ; mikroskop elektronowy skaningowy ; oprogramowanie WSxM

chemical vapour deposition ; atomic force microscope ; scanning electron microscope ; WSxM software

8/25
Nr opisu: 0000057804
Comparing of optical properties and morphology of polyoxadiazoles with CF₃ groups.
[Aut.]: Barbara* Hajduk, Paweł Jarka, Jan** Weszka, M. Bruma, J. Jurusik, Małgorzata* Chwastek, D. Mańkowski.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2010 vol. 40 iss. 1, s. 7-14, bibliogr. 19 poz.

spektroskopia UV-Vis ; mikroskopia AFM ; spektroskopia IR ; metoda spin-coating ; polimer organiczny

UV-Vis spectroscopy ; AFM microscopy ; IR spectroscopy ; spin-coating method ; organic polymer

9/25
Nr opisu: 0000063431
Comparing of optical properties and morphology of polyoxadiazoles with CF₃groups.
[Aut.]: Barbara* Hajduk, Paweł Jarka, Jan** Weszka, M. Bruma, J. Jurusik, Małgorzata* Chwastek, D. Mańkowski.
W: Achievements in mechanical and materials engineering. AMME'2010. Proceedings of the eighteenth international scientific conference, Gliwice - Wieliczka - Zakopane, Poland, 13th-16th June 2010. [Dokument elektroniczny]. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwce : [Komitet Organizacyjny Międzynarodowych Konferencji Naukowych Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej], 2010, dysk optyczny (CD-ROM) s. 67-68

10/25
Nr opisu: 0000069166
Morfologia powierzchni cienkich warstw ftalocjaniny niklu i pochodnej perylenu w oparciu o obrazy mikroskopowe.
[Aut.]: T. Soniewicki, Jan** Weszka, Daniel Pakuła, J. Jurusik.
W: Sesja Okolicznościowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'10". Impreza towarzysząca międzynarodowej konferencji AMME 2010. Red. Bogusław Ziębowicz. Gliwice : International Organising Committee of the Scientific Conferences World Press, 2010, s. 31-48, bibliogr. 16 poz. (Prace Studenckich Kół Naukowych ; Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika Śląska nr 27)

obraz mikroskopowy ; PcNi ; PTCDA

microscopic image ; PcNi ; PTCDA

11/25
Nr opisu: 0000057727
Studying of polyoxadiazole with Si atom in the backbone.
[Aut.]: Barbara* Hajduk, Paweł Jarka, Jan** Weszka, M. Bruma, J. Jurusik, Małgorzata* Chwastek, D. Mańkowski.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2010 vol. 42 nr 2, s. 77-84, bibliogr. 15 poz.

spektroskopia UV-Vis ; mikroskopia sił atomowych ; spektroskopia w podczerwieni ; metoda spin-coating

UV-Vis spectroscopy ; AFM microscopy ; IR spectroscopy ; spin-coating method

12/25
Nr opisu: 0000087050
Tailoring electonic structure of polyazomethines thin films.
[Aut.]: Jan** Weszka, Barbara* Hajduk, M. Domański, Małgorzata* Chwastek, J. Jurusik, B. Jarząbek, H. Bednarski, Paweł Jarka.
W: Contemporary achievements in mechanics, manufacturing and materials science. Proceedings of the Sixteenth International Scientific Conference CAM3S'2010, Gliwice - Ustroń, 22nd-24th November 2010. [Dokument elektroniczny]. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwice : International Organising Committee of the Scientific Conferences World Press, 2010, dysk optyczny (CD-ROM) s. 76

13/25
Nr opisu: 0000049771
Influence of LCVD technological parameters on properties of polyazomethine thin films.
[Aut.]: Barbara* Hajduk, J. Weszka, J. Jurusik.
W: Programme and Proceedings of the Worldwide Congress on Materials and Manufacturing Engineering and Technology. COMMENT'09, Gliwice - Gdańsk, 14th-17th June 2009. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwice : International Organising Committee of the Scientific Conferences World Press, 2009, s. 64
Toż na CD-ROM

14/25
Nr opisu: 0000050227
Influence of LCVD technological parameters on properties of polyazomethine thin films.
[Aut.]: Barbara* Hajduk, Jan** Weszka, J. Jurusik.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2009 vol. 36 iss. 1, s. 41-48, bibliogr. 19 poz.

spektroskopia UV-Vis ; mikroskopia AFM ; chemiczne osadzanie z fazy gazowej ; CVD ; LCVD ; polimer skoniugowany

UV-Vis spectroscopy ; AFM microscopy ; chemical vapour deposition ; CVD ; LCVD ; conjugated polymer

15/25
Nr opisu: 0000050085
Studying of kinetic growth of organic thin films.
[Aut.]: Jan** Weszka, Paweł Jarka, Daniel Pakuła, Leszek** Dobrzański, M. Domański, J. Jurusik.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2009 vol. 35 iss. 1, s. 29-36, bibliogr. 15 poz.

polimer inżynierski ; warstwa cienka ; szybkość osadzania

engineering polymer ; thin film ; deposition rate

16/25
Nr opisu: 0000056361
Studying of spin-coated oxad-Si properties.
[Aut.]: Jan** Weszka, Leszek** Dobrzański, Paweł Jarka, J. Jurusik, Barbara* Hajduk, M. Bruma, Jarosław Konieczny, D. Mańkowski.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2009 vol. 37 iss. 2, s. 505-511, bibliogr. 13 poz.

warstwa cienka ; morfologia ; mikroskopia AFM ; metoda spin-coating ; absorbancja ; oxad-Si

thin film ; morphology ; AFM microscopy ; spin-coating method ; absorbance ; oxad-Si

17/25
Nr opisu: 0000030147
Physical properties of polyazomethine thin films doped with iodine.
[Aut.]: Barbara* Hajduk, Jan** Weszka, B. Jarzabek, J. Jurusik, M. Domański.
W: Worldwide Congress on Materials and Manufacturing Engineering and Technology. COMMENT'07, Gliwice - Cracow - Zakopane, 27th - 30th May 2007. [Dokument elektroniczny]. Congress programme and abstracts. Ed. by L. A. Dobrzański. [Gliwice] : [Komitet Organizacyjny Międzynarodowych Konferencji Naukowych Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej], 2007, dysk optyczny (CD-ROM) s. 92

18/25
Nr opisu: 0000029402
Physical properties of polyazomethine thin films doped with iodine.
[Aut.]: Barbara* Hajduk, Jan** Weszka, B. Jarząbek, J. Jurusik, M. Domański.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2007 vol. 24 iss. 2, s. 67-70, bibliogr. 16 poz.

polimer inżynierski ; poliazometina PPI ; spektroskopia absorpcyjna UV-Vis ; struktura elektronowa

engineering polymer ; polyazomethine PPI ; UV-Vis absorption spectromicroscopy ; electronic structure

19/25
Nr opisu: 0000022238
Bragg's grating coupler produced by impressing method in planar optical sol-gel waveguides.
[Aut.]: Tadeusz Pustelny, I. Zielonka, J. Jurusik.
W: Photonics applications in astronomy, communications, industry, and high-energy physics experiments III, Wilga, Poland, 26-30 May 2004. Ed. Ryszard S. Romaniuk. Bellingham : SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2005, s. 654-663 (Proceedings of SPIE ; vol. 5775 0277-786X)

20/25
Nr opisu: 0000021578
Technology of optical Bragg's grating on planar waveguides for acoustooptic applications.
[Aut.]: Tadeusz Pustelny, I. Zielonka, Cuma Tyszkiewicz, Barbara** Pustelny, J. Jurusik.
-Mol. Quantum Acoust. 2005 vol. 26, s. 217-226

21/25
Nr opisu: 0000015198
Bragg's grating coupler in planar optical sol-gel waveguides.
[Aut.]: Tadeusz Pustelny, I. Zielonka, Paweł Karasiński, J. Jurusik.
-Opt. Appl. 2004 vol. 34 no. 4, s. 477-487, bibliogr. 21 poz.. Impact Factor 0.308

optyka zintegrowana ; światłowody planarne ; sprzęgacz siatkowy ; metoda zol-żel

integrated optics ; planar waveguides ; grating coupler ; sol-gel method

22/25
Nr opisu: 0000007172
Roughness of amorphous Zn-P thin films.
[Aut.]: B. Jarząbek, J. Jurusik, Jan* Cisowski, Marian Nowak.
-Opt. Appl. 2001 vol. 31 no. 1, s. 93-101. Impact Factor 0.298

23/25
Nr opisu: 0000013692
Technologia i własności optyczne cienkich warstw amorficznych In₂Se₃.
[Aut.]: A. Jędruchów, B. Jarząbek, Jan* Cisowski, J. Jurusik, A. Burian, J. Weszka.
W: Nowe technologie i materiały w metalurgii i inżynierii materiałowej. VI Seminarium naukowe, Katowice, 22 maja 1998. [B.m.] : [b.w.], [1998], s. 281-284, bibliogr. 10 poz.

24/25
Nr opisu: 0000013501
Badania powierzchni półprzewodników metodą mikroskopii sił atomowych.
[Aut.]: J. Jurusik, Jan* Cisowski.
W: Nowe technologie i materiały w metalurgii i inżynierii materiałowej. V Seminarium naukowe, Katowice, 16 maja 1997. [B.m.] : [b.w.], [1997], s. 249-252, bibliogr. 3 poz.

25/25
Nr opisu: 0000028068
Inhomogeneity of amorphous Zn-P thin films from optical measurements.
[Aut.]: B. Jarzabek, J. Weszka, J. Jurusik, Jan* Cisowski.
W: Surface and thin film structures 1996. Proceedings of the 4th seminar, Kazimierz Dolny, Poland, September 18-21, 1996. Ed. M. Jałochowski. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1997, s. 193-195, bibliogr. 10 poz. (Electron Technology ; vol. 30, no. 2 0070-9816)

stosując format: