Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
JURUSIK J
Liczba odnalezionych rekordów:
25
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/25
Nr opisu:
0000095160
Optical properties of thin films of polyazomethine with flexible side chains.
[Aut.]: B.
Jarząbek
, B.
Kaczmarczyk
, J.
Jurusik
, M.
Siwy
, Jan**
Weszka
.
-
J. Non-Cryst. Solids
2013 vol. 375
, s. 13-18, bibliogr. 44 poz..
Impact Factor
1.716.
Punktacja MNiSW
30.000
poliazometiny
;
elastyczny łańcuch boczny
;
amorficzna powłoka cienka
;
parametr krawędzi absorpcji
polyazomethines
;
flexible side chain
;
amorphous thin film
;
absorption edge parameter
2/25
Nr opisu:
0000090831
Study of thin films for application in photovoltaic cells.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, Paweł
Jarka
, J.
Jurusik
, M.
Domański
, Magdalena
Szindler
.
-
Arch. Mater. Sci. Eng.
2013 vol. 64 nr 2
, s. 182-191, bibliogr. 14 poz..
Punktacja MNiSW
13.000
MePc:PTCDA
;
morfologia warstw cienkich
;
mikroskopia AFM
;
PVD
;
absorbancja
MePc:PTCDA
;
thin film morphology
;
AFM microscopy
;
PVD
;
absorbance
3/25
Nr opisu:
0000090707
Studying of thin films used in photovoltaic cells.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, Paweł
Jarka
, J.
Jurusik
, M.
Domański
, Magdalena
Szindler
.
W:
Achievements in mechanical and materials engineering
. AMME'2013. Programme and proceedings of the twenty first international scientific conference, Gliwice - Kraków, [23rd-26th June 2013]. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwice : International OCSCO World Press, 2013
, s. 120
4/25
Nr opisu:
0000071248
A study of optical properties and annealing effect on the absorption edge of pristine- and iodine-doped polyazomethine thin films.
[Aut.]: B.
Jarząbek
, Jan**
Weszka
, Barbara*
Hajduk
, J.
Jurusik
, M.
Domański
, Jan*
Cisowski
.
-
Synth. Met.
2011 vol. 161 iss. 11/12
, s. 969-975, bibliogr. 36 poz..
Impact Factor
1.829
poliazometiny
;
warstwa cienka
;
krawędź absorpcji optycznej
;
wyżarzanie
polyazomethine
;
thin film
;
optical absorption edge
;
annealing
5/25
Nr opisu:
0000067008
Influence of technological conditions on optical properties and morphology of spin-coated PPI thin films.
[Aut.]: Małgorzata*
Chwastek
, Jan**
Weszka
, J.
Jurusik
, Barbara*
Hajduk
, Paweł
Jarka
.
-
Arch. Mater. Sci. Eng.
2011 vol. 48 nr 2
, s. 69-76, bibliogr. 23 poz..
Punktacja MNiSW
9.000
spin-powłoka
;
spektroskopia UV-Vis
;
spektroskopia IR
;
mikroskopia AFM
spin-coating
;
UV-Vis spectroscopy
;
IR spectroscopy
;
AFM microscopy
6/25
Nr opisu:
0000068418
New organic materials for photovoltaics.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, J.
Cisowski
, M.
Domański
, H.
Bednarski
, B.
Jarząbek
, J.
Jurusik
, Barbara*
Hajduk
, Małgorzata*
Chwastek
.
-
Moldavian J. Phys. Sci.
2011 vol. 10
, s. 33-43, bibliogr. 19 poz.
7/25
Nr opisu:
0000067005
Reconstruction of thin films polyazomethine based on microscopic images.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, Marek
Szindler
, Agata
Śliwa
, Barbara*
Hajduk
, J.
Jurusik
.
-
Arch. Mater. Sci. Eng.
2011 vol. 48 nr 1
, s. 40-48, bibliogr. 20 poz..
Punktacja MNiSW
9.000
chemiczne osadzanie z fazy gazowej
;
mikroskopowa siła atomowa
;
mikroskop elektronowy skaningowy
;
oprogramowanie WSxM
chemical vapour deposition
;
atomic force microscope
;
scanning electron microscope
;
WSxM software
8/25
Nr opisu:
0000057804
Comparing of optical properties and morphology of polyoxadiazoles with CF
3
groups.
[Aut.]: Barbara*
Hajduk
, Paweł
Jarka
, Jan**
Weszka
, M.
Bruma
, J.
Jurusik
, Małgorzata*
Chwastek
, D.
Mańkowski
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2010 vol. 40 iss. 1
, s. 7-14, bibliogr. 19 poz.
spektroskopia UV-Vis
;
mikroskopia AFM
;
spektroskopia IR
;
metoda spin-coating
;
polimer organiczny
UV-Vis spectroscopy
;
AFM microscopy
;
IR spectroscopy
;
spin-coating method
;
organic polymer
9/25
Nr opisu:
0000063431
Comparing of optical properties and morphology of polyoxadiazoles with CF
3
groups.
[Aut.]: Barbara*
Hajduk
, Paweł
Jarka
, Jan**
Weszka
, M.
Bruma
, J.
Jurusik
, Małgorzata*
Chwastek
, D.
Mańkowski
.
W:
Achievements in mechanical and materials engineering
. AMME'2010. Proceedings of the eighteenth international scientific conference, Gliwice - Wieliczka - Zakopane, Poland, 13th-16th June 2010. [Dokument elektroniczny]. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwce : [Komitet Organizacyjny Międzynarodowych Konferencji Naukowych Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej], 2010
, dysk optyczny (CD-ROM) s. 67-68
10/25
Nr opisu:
0000069166
Morfologia powierzchni cienkich warstw ftalocjaniny niklu i pochodnej perylenu w oparciu o obrazy mikroskopowe.
[Aut.]: T.
Soniewicki
, Jan**
Weszka
, Daniel
Pakuła
, J.
Jurusik
.
W:
Sesja Okolicznościowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'10"
. Impreza towarzysząca międzynarodowej konferencji AMME 2010. Red. Bogusław Ziębowicz. Gliwice : International Organising Committee of the Scientific Conferences World Press, 2010
, s. 31-48, bibliogr. 16 poz. (
Prace Studenckich Kół Naukowych
;
Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika Śląska
nr 27)
obraz mikroskopowy
;
PcNi
;
PTCDA
microscopic image
;
PcNi
;
PTCDA
11/25
Nr opisu:
0000057727
Studying of polyoxadiazole with Si atom in the backbone.
[Aut.]: Barbara*
Hajduk
, Paweł
Jarka
, Jan**
Weszka
, M.
Bruma
, J.
Jurusik
, Małgorzata*
Chwastek
, D.
Mańkowski
.
-
Arch. Mater. Sci. Eng.
2010 vol. 42 nr 2
, s. 77-84, bibliogr. 15 poz.
spektroskopia UV-Vis
;
mikroskopia sił atomowych
;
spektroskopia w podczerwieni
;
metoda spin-coating
UV-Vis spectroscopy
;
AFM microscopy
;
IR spectroscopy
;
spin-coating method
12/25
Nr opisu:
0000087050
Tailoring electonic structure of polyazomethines thin films.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, Barbara*
Hajduk
, M.
Domański
, Małgorzata*
Chwastek
, J.
Jurusik
, B.
Jarząbek
, H.
Bednarski
, Paweł
Jarka
.
W:
Contemporary achievements in mechanics, manufacturing and materials science
. Proceedings of the Sixteenth International Scientific Conference CAM3S'2010, Gliwice - Ustroń, 22nd-24th November 2010. [Dokument elektroniczny]. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwice : International Organising Committee of the Scientific Conferences World Press, 2010
, dysk optyczny (CD-ROM) s. 76
13/25
Nr opisu:
0000049771
Influence of LCVD technological parameters on properties of polyazomethine thin films.
[Aut.]: Barbara*
Hajduk
, J.
Weszka
, J.
Jurusik
.
W:
Programme and Proceedings of the Worldwide Congress on Materials and Manufacturing Engineering and Technology
. COMMENT'09, Gliwice - Gdańsk, 14th-17th June 2009. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwice : International Organising Committee of the Scientific Conferences World Press, 2009
, s. 64
Toż na CD-ROM
14/25
Nr opisu:
0000050227
Influence of LCVD technological parameters on properties of polyazomethine thin films.
[Aut.]: Barbara*
Hajduk
, Jan**
Weszka
, J.
Jurusik
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2009 vol. 36 iss. 1
, s. 41-48, bibliogr. 19 poz.
spektroskopia UV-Vis
;
mikroskopia AFM
;
chemiczne osadzanie z fazy gazowej
;
CVD
;
LCVD
;
polimer skoniugowany
UV-Vis spectroscopy
;
AFM microscopy
;
chemical vapour deposition
;
CVD
;
LCVD
;
conjugated polymer
15/25
Nr opisu:
0000050085
Studying of kinetic growth of organic thin films.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, Paweł
Jarka
, Daniel
Pakuła
, Leszek**
Dobrzański
, M.
Domański
, J.
Jurusik
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2009 vol. 35 iss. 1
, s. 29-36, bibliogr. 15 poz.
polimer inżynierski
;
warstwa cienka
;
szybkość osadzania
engineering polymer
;
thin film
;
deposition rate
16/25
Nr opisu:
0000056361
Studying of spin-coated oxad-Si properties.
[Aut.]: Jan**
Weszka
, Leszek**
Dobrzański
, Paweł
Jarka
, J.
Jurusik
, Barbara*
Hajduk
, M.
Bruma
, Jarosław
Konieczny
, D.
Mańkowski
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2009 vol. 37 iss. 2
, s. 505-511, bibliogr. 13 poz.
warstwa cienka
;
morfologia
;
mikroskopia AFM
;
metoda spin-coating
;
absorbancja
;
oxad-Si
thin film
;
morphology
;
AFM microscopy
;
spin-coating method
;
absorbance
;
oxad-Si
17/25
Nr opisu:
0000030147
Physical properties of polyazomethine thin films doped with iodine.
[Aut.]: Barbara*
Hajduk
, Jan**
Weszka
, B.
Jarzabek
, J.
Jurusik
, M.
Domański
.
W:
Worldwide Congress on Materials and Manufacturing Engineering and Technology
. COMMENT'07, Gliwice - Cracow - Zakopane, 27th - 30th May 2007. [Dokument elektroniczny]. Congress programme and abstracts. Ed. by L. A. Dobrzański. [Gliwice] : [Komitet Organizacyjny Międzynarodowych Konferencji Naukowych Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej], 2007
, dysk optyczny (CD-ROM) s. 92
18/25
Nr opisu:
0000029402
Physical properties of polyazomethine thin films doped with iodine.
[Aut.]: Barbara*
Hajduk
, Jan**
Weszka
, B.
Jarząbek
, J.
Jurusik
, M.
Domański
.
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2007 vol. 24 iss. 2
, s. 67-70, bibliogr. 16 poz.
polimer inżynierski
;
poliazometina PPI
;
spektroskopia absorpcyjna UV-Vis
;
struktura elektronowa
engineering polymer
;
polyazomethine PPI
;
UV-Vis absorption spectromicroscopy
;
electronic structure
19/25
Nr opisu:
0000022238
Bragg's grating coupler produced by impressing method in planar optical sol-gel waveguides.
[Aut.]: Tadeusz
Pustelny
, I.
Zielonka
, J.
Jurusik
.
W:
Photonics applications in astronomy, communications, industry, and high-energy physics experiments III, Wilga, Poland, 26-30 May 2004
. Ed. Ryszard S. Romaniuk. Bellingham : SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2005
, s. 654-663 (
Proceedings of SPIE
; vol. 5775 0277-786X)
20/25
Nr opisu:
0000021578
Technology of optical Bragg's grating on planar waveguides for acoustooptic applications.
[Aut.]: Tadeusz
Pustelny
, I.
Zielonka
, Cuma
Tyszkiewicz
, Barbara**
Pustelny
, J.
Jurusik
.
-
Mol. Quantum Acoust.
2005 vol. 26
, s. 217-226
21/25
Nr opisu:
0000015198
Bragg's grating coupler in planar optical sol-gel waveguides.
[Aut.]: Tadeusz
Pustelny
, I.
Zielonka
, Paweł
Karasiński
, J.
Jurusik
.
-
Opt. Appl.
2004 vol. 34 no. 4
, s. 477-487, bibliogr. 21 poz..
Impact Factor
0.308
optyka zintegrowana
;
światłowody planarne
;
sprzęgacz siatkowy
;
metoda zol-żel
integrated optics
;
planar waveguides
;
grating coupler
;
sol-gel method
22/25
Nr opisu:
0000007172
Roughness of amorphous Zn-P thin films.
[Aut.]: B.
Jarząbek
, J.
Jurusik
, Jan*
Cisowski
, Marian
Nowak
.
-
Opt. Appl.
2001 vol. 31 no. 1
, s. 93-101.
Impact Factor
0.298
23/25
Nr opisu:
0000013692
Technologia i własności optyczne cienkich warstw amorficznych In
2
Se
3
.
[Aut.]: A.
Jędruchów
, B.
Jarząbek
, Jan*
Cisowski
, J.
Jurusik
, A.
Burian
, J.
Weszka
.
W:
Nowe technologie i materiały w metalurgii i inżynierii materiałowej
. VI Seminarium naukowe, Katowice, 22 maja 1998. [B.m.] : [b.w.], [1998]
, s. 281-284, bibliogr. 10 poz.
24/25
Nr opisu:
0000013501
Badania powierzchni półprzewodników metodą mikroskopii sił atomowych.
[Aut.]: J.
Jurusik
, Jan*
Cisowski
.
W:
Nowe technologie i materiały w metalurgii i inżynierii materiałowej
. V Seminarium naukowe, Katowice, 16 maja 1997. [B.m.] : [b.w.], [1997]
, s. 249-252, bibliogr. 3 poz.
25/25
Nr opisu:
0000028068
Inhomogeneity of amorphous Zn-P thin films from optical measurements.
[Aut.]: B.
Jarzabek
, J.
Weszka
, J.
Jurusik
, Jan*
Cisowski
.
W:
Surface and thin film structures 1996
. Proceedings of the 4th seminar, Kazimierz Dolny, Poland, September 18-21, 1996. Ed. M. Jałochowski. Warszawa : Institute of Electron Technology, 1997
, s. 193-195, bibliogr. 10 poz. (
Electron Technology
; vol. 30, no. 2 0070-9816)
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie