Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
JAGLARZ J
Liczba odnalezionych rekordów:
23
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/23
Nr opisu:
0000136423
Scattering phenomena in porous sol-gel-derived silica films.
[Aut.]: J.
Jaglarz
, P.
Dulian
, Paweł
Karasiński
, P.
Winkowski
.
-
Coatings
2020 vol. 10 iss. 6
, s. 1-13, bibliogr. 32 poz..
Impact Factor
2.436.
Punktacja MNiSW
100.000
proces zol-żel
;
powłoka cienka
;
warstwa z krzemionki porowatej
;
powłoka antyrefleksyjna
;
rozpraszanie światła
;
elipsometria spektroskopowa
sol-gel process
;
thin film
;
porous silica film
;
antireflection coating
;
light scattering
;
spectroscopic ellipsometry
2/23
Nr opisu:
0000134200
Thermo-optical properties of porous silica thin films produced by sol-gel method.
[Aut.]: J.
Jaglarz
, P.
Dulias
, Paweł
Karasiński
.
-
Mater. Chem. Phys.
2020 vol. 243
, art. no. 122603 s. 1-6, bibliogr. 36 poz..
Impact Factor
3.408.
Punktacja MNiSW
70.000
proces zol-żel
;
powłoka cienka
;
elipsometria spektroskopowa
;
warstwa z krzemionki porowatej
;
powłoka antyrefleksyjna
sol-gel process
;
thin film
;
spectroscopic ellipsometry
;
porous silica film
;
antireflective coating
3/23
Nr opisu:
0000105476
Niestandardowe metody optyczne w badaniach powierzchni elektrochemicznie spasywowanego stopu Ti6Al7Nb.
[Aut.]: N.
Wolska
, J.
Jaglarz
, Janusz
Szewczenko
.
-
Ochr. przed Koroz.
2016 R. 59 nr 3
, s. 74-78, bibliogr. 13 poz..
Punktacja MNiSW
12.000
stop Ti6Al7Nb
;
BRDF
;
dwukierunkowa funkcja rozkładu odbicia
;
rozpraszanie światła
;
optyka warstw cienkich
;
warstwa pasywna
Ti6Al7Nb alloy
;
BRDF
;
bidirectional reflection distribution function
;
light scattering
;
thin films optics
;
passive layer
4/23
Nr opisu:
0000099686
Niestandardowe metody optyczne w badaniach powierzchni pasywowanych elektrochemicznie stopów TiAl4. [Krótkie doniesienia].
[Aut.]: N.
Wolska
, J.
Jaglarz
, Janusz
Szewczenko
, Marcin
Basiaga
.
-
Ochr. przed Koroz.
2015 R. 58 nr 5
, s. 205.
Punktacja MNiSW
12.000
stop TiAl
;
pasywowanie
;
metoda optyczna
TiAl alloy
;
passivating
;
optical method
5/23
Nr opisu:
0000103752
Nonstandard optical methods as a tool for rough surface analysis.
[Aut.]: J.
Jaglarz
, Janusz
Szewczenko
, K.
Marszałek
, Marcin
Basiaga
, M.
Marszałek
.
W:
7th International Symposium on Macro- and Supramolecular Architectures and Materials, [Johannesburg, South Africa, 23-27 November 2014]
. Ed. by Sabelo Mhlanga, Lucky Sikhwivhilu, Tshepo Malefetse and Richard Harris. Amsterdam : Elsevier, 2015
, s. 4046-4052, bibliogr. 24 poz. (
Materials Today: Proceedings
; vol. 2, iss. 7 2214-7853)
powłoka cienka
;
dwukierunkowa funkcja rozkładu odbicia
thin film
;
bidirectional reflection distribution function
6/23
Nr opisu:
0000092466
Thermo-optical properties of 1H[3,4-b] quinoline films used in electroluminescent devices.
[Aut.]: J.
Jaglarz
, Mirosława
Kępińska
, J.
Sanetra
.
-
Opt. Mater.
2014 vol. 36 iss. 8
, s. 1275-1280, bibliogr. 26 poz..
Impact Factor
1.981.
Punktacja MNiSW
35.000
elipsometria spektroskopowa
;
właściwości termooptyczne
;
warstwa chinoliny
spectroscopic ellipsometry
;
thermo-optical coefficient
;
quinoline film
7/23
Nr opisu:
0000087861
Optical methods applied in thickness and topography testing of passive layers on implantable titanium alloys.
[Aut.]: Janusz
Szewczenko
, J.
Jaglarz
, Marcin
Basiaga
, J.
Kurzyk
, Zbigniew
Paszenda
.
-
Opt. Appl.
2013 vol. 43 no. 1
, s. 173-180, bibliogr. 14 poz..
Impact Factor
0.643.
Punktacja MNiSW
15.000
biomateriały
;
Ti6Al7Nb
;
warstwa pasywna
;
rozpraszanie światła
;
dwukierunkowa funkcja rozkładu odbicia
;
BRDF
;
optyka cienkich warstw
biomaterials
;
Ti6Al7Nb
;
passive layer
;
light scattering
;
bidirectional reflection distribution function
;
BRDF
;
thin films optics
8/23
Nr opisu:
0000086702
Topografia i grubość warstw węglowych wytworzonych na stali martenzytycznej przeznaczonej na narzędzia chirurgiczne.
[Aut.]: Marta
Kiel-Jamrozik
, Marcin
Basiaga
, Zbigniew
Paszenda
, J.
Jaglarz
.
W:
Zastosowania elektromagnetyzmu w nowoczesnych technikach i medycynie
. XXIII Sympozjum Środowiskowe PTZE, Mikołajki, 16-19 czerwca 2013. PTZE Polskie Towarzystwo Zastosowań Elektromagnetyzmu [i in.]. Warszawa : Polskie Towarzystwo Zastosowań Elektromagnetyzmu, 2013
, s. 116-118
narzędzia chirurgiczne
;
stal martenzytyczna
;
warstwa węglowa
;
odporność korozyjna
surgical tools
;
martensitic steel
;
carbon coating
;
corrosion resistance
9/23
Nr opisu:
0000088781
Topografia i grubość warstw węglowych wytworzonych na stali martenzytycznej przeznaczonej na narzędzia chirurgiczne.
[Aut.]: Marta
Kiel-Jamrozik
, Marcin
Basiaga
, Janusz
Szewczenko
, Zbigniew
Paszenda
, J.
Jaglarz
.
-
Prz. Elektrot.
2013 R. 89 nr 12
, s. 317-319, bibliogr. 20 poz..
Punktacja MNiSW
14.000
DLC
;
warstwa węglowa
;
stal martenzytyczna
;
X39Cr13
;
spektroskopia elipsometryczna
;
narzędzia chirurgiczne
DLC
;
carbon coating
;
martensitic steel
;
X39Cr13
;
ellipsometric spectroscopy
;
surgical tools
10/23
Nr opisu:
0000073603
Badania topografii i grubości warstw pasywnych na utlenianym anodowo stopie Ti6Al4V.
[Aut.]: Janusz
Szewczenko
, J.
Jaglarz
, Marcin
Basiaga
, E.
Skoczek
.
W:
Zastosowania elektromagnetyzmu w nowoczesnych technikach i informatyce
. XXII Sympozjum środowiskowe PTZE, Sandomierz, 9-12 września 2012. PTZE Polskie Towarzystwo Zastosowań Elektromagnetyzmu [ i in.]. Warszawa : Polskie Towarzystwo Zastosowań Elektromagnetyzmu, 2012
, s. 203-205
stop Ti6Al4V
;
warstwa pasywna
;
biomateriał metalowy
;
topografia
Ti6Al4V alloy
;
passive layer
;
metallic biomaterial
;
topography
11/23
Nr opisu:
0000071981
Optical methods applied in thickness and topography testing of passive layers on implantable titanium alloys.
[Aut.]: Janusz
Szewczenko
, J.
Jaglarz
, Marcin
Basiaga
.
W:
Powierzchnia i struktury cienkowarstwowe
. XII Seminarium. SemPiSC, Szklarska Poręba, 9-12 maja 2012. Książka streszczeń. [B.m.] : [b.w.], 2012
, s. 1, bibliogr. 2 poz.
12/23
Nr opisu:
0000073913
Parametry optyczne cienkich warstw krzemionkowych na podłożach krzemowych.
[Aut.]: E.
Skoczek
, J.
Cisowski
, Paweł
Karasiński
, J.
Jaglarz
, B.
Jarząbek
.
-
Mater. Ceram.
2012 R. 64 nr 2
, s. 282-285, bibliogr. 11 poz..
Punktacja MNiSW
6.000
cienka warstwa krzemowa
;
podłoże krzemowe
;
porowata krzemionka
;
zol-żel
;
elipsometria spektroskopowa
thin silica film
;
silicon substrate
;
porous silica
;
sol-gel
;
spectroscopic ellipsometry
13/23
Nr opisu:
0000076148
Topografia i grubość warstw pasywnych na utlenianym anodowo stopie Ti6Al4V.
[Aut.]: Janusz
Szewczenko
, J.
Jaglarz
, Marcin
Basiaga
, J.
Kurzyk
, E.
Skoczek
, Zbigniew
Paszenda
.
-
Prz. Elektrot.
2012 R. 88 nr 12b
, s. 228-231, bibliogr. 20 poz..
Punktacja MNiSW
15.000
stop Ti-6Al-4V
;
biomateriały
;
warstwa pasywna
;
światło
;
rozpraszanie
;
warstwa cienka
;
optyka cienkich warstw
Ti6Al4V alloy
;
biomaterials
;
passive layer
;
light
;
scattering
;
thin film
;
thin films optics
14/23
Nr opisu:
0000068198
Ellipsometric and spectrophotometric investigations of porous silica thin films produced by sol-gel method.
[Aut.]: E.
Skoczek
, J.
Jaglarz
, Paweł
Karasiński
.
-
Acta Phys. Pol. A
2011 vol. 120 no. 4
, s. 732-735, bibliogr. 12 poz..
Impact Factor
0.444.
Punktacja MNiSW
15.000
metoda zol-żel
;
warstwa krzemionkowa
;
SiO2
sol-gel method
;
silica thin film
;
SiO2
15/23
Nr opisu:
0000087947
Ellipsometric and spectrophotometric investigations of the optical properties of porous silica thin films produced by sol-gel method.
[Aut.]: E.
Skoczek
, Paweł
Karasiński
, J.
Jaglarz
, J.
Mazur
.
W:
Integrated optics - sensors, sensing structures and methods
. IOS 2011, Szczyrk - Beskidy Mountains, Poland, 28th February to 4th March 2011. Program. [B.m.] : [b.w.], 2011
, s. [24]
16/23
Nr opisu:
0000067731
Optical properties of silica antireflective films formed in sol-gel processes.
[Aut.]: J.
Jaglarz
, Paweł
Karasiński
, E.
Skoczek
.
-
Phys. Status Solidi, C Curr. Top. Solid State Phys.
2011 vol. 8 iss. 9
, s. 2645-2648, bibliogr. 9 poz.
antyrefleksyjna powłoka
;
krzemionka porowata
;
elipsometria
;
zol-żel
antireflective coating
;
porous silica
;
ellipsometry
;
sol-gel
17/23
Nr opisu:
0000066301
Optical rib waveguides based on sol-gel derived silica-titania films.
[Aut.]: Paweł
Karasiński
, Cuma
Tyszkiewicz
, Roman
Rogoziński
, J.
Jaglarz
, Jacek*
Mazur
.
-
Thin Solid Films
2011 vol. 519 iss. 16
, s. 5544-5551, bibliogr. 31 poz..
Impact Factor
1.890.
Punktacja MNiSW
30.000
zol-żel
;
powłoka krzemionkowo-tytanowa
;
światłowód planarny
;
światłowód żebrowy
sol-gel
;
silica-titania film
;
planar waveguide
;
rib waveguide
18/23
Nr opisu:
0000067997
Porous silica xerogel films as antireflective coatings. Fabrication and characterization.
[Aut.]: Paweł
Karasiński
, J.
Jaglarz
, M.
Reben
, E.
Skoczek
, Jacek*
Mazur
.
-
Opt. Mater.
2011 vol. 33 iss. 12
, s. 1989-1994, bibliogr. 19 poz..
Impact Factor
2.023.
Punktacja MNiSW
30.000
krzemionka porowata
;
zol-żel
;
powłoka antyrefleksyjna
porous silica
;
sol-gel
;
antireflective coating
19/23
Nr opisu:
0000056556
Low loss silica-titania waveguide films.
[Aut.]: Paweł
Karasiński
, J.
Jaglarz
, Jacek*
Mazur
.
-
Photonics Lett. Pol.
2010 vol. 2 iss. 1
, s. 37-39, bibliogr. 9 poz.
20/23
Nr opisu:
0000063444
Optical investigations of AlSiSiC composites subjected to laser CO
2
annealing.
[Aut.]: J.
Jaglarz
, Andrzej
Grabowski
.
-
Opt. Laser Eng.
2010 vol. 48 nr 10
, s. 1038-1044, bibliogr. 17 poz..
Impact Factor
1.576
materiały kompozytowe
;
odbicie optyczne
;
rozproszenie optyczne
;
elipsometria spektroskopowa
composite materials
;
optical reflection
;
optical scattering
;
spectroscopic ellipsometry
21/23
Nr opisu:
0000082872
Porous silica xerogel films as antireflective coatings - fabrication and characterization.
[Aut.]: Paweł
Karasiński
, J.
Jaglarz
, M.
Reben
, A.
Mazur
.
W:
XXII International Congress on Glass
. ICG 2010, Bahia, Brazil, September 20-25, 2010. Proceedings. Eds: J. R. Martinelli, S. M. Toffoli, L. C. Barbosa. [Brasil] : [ABIVIDRO - Associacao Tecnica Brasileira das Industrias Automaticas de Vidro], 2010
, s. 1-9, bibliogr.
22/23
Nr opisu:
0000063114
Warstwy falowodowe SiO
2
:TiO
2
o ultra niskiej tłumienności.
[Aut.]: Paweł
Karasiński
, J.
Jaglarz
, Jacek*
Mazur
.
W:
Światłowody i ich zastosowania
. TAL 2009. XII Konferencja, Lublin - Krasnobród, 14-17 października 2009. Referaty i komunikaty. Lublin : Wydaw. Liber Duo, 2009
, s. 243-248, bibliogr. 4 poz.
23/23
Nr opisu:
0000048698
Optical investigations of macro and microporous silicon antireflection coating.
[Aut.]: J.
Jaglarz
, M.
Lipiński
, Paweł
Karasiński
.
W:
Optical fibres and their applications 2008, Białowieża, Poland, 30 January - 2 February 2008
. Eds: J. Dorosz [et al.]. Bellingham : SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2008
, s. 71200D - 71200D-5 (
Proceedings of SPIE
; vol. 7120 0277-786X)
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie