Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
GOLONEK TOMASZ
Liczba odnalezionych rekordów:
76
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/76
Nr opisu:
0000138809
Analog circuits specification driven testing by means of digital stream and non-linear estimation model optimized evolutionarily.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Łukasz
Chruszczyk
.
-
Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci.
2020 vol. 68 no. 6
, s. 1283-1299, bibliogr. 35 poz..
Impact Factor
1.385.
Punktacja MNiSW
100.000
analogowy układ elektroniczny
;
testowanie sterowane specyfikacją
;
obliczenia ewolucyjne
;
regresja wielokrotna
analog electronic circuit
;
specification driven testing
;
evolutionary computations
;
multiple regression
2/76
Nr opisu:
0000130749
Design an identification function to reduce the computational resources on the testing process of an analog electronic circuit.
[Aut.]: Sebastian
Temich
, Tomasz
Golonek
, Damian
Grzechca
.
-
Elektron. Elektrotech.
2019 vol. 25 no. 3
, s. 25-33, bibliogr. 28 poz..
Impact Factor
0.707.
Punktacja MNiSW
40.000
pompa zasilająca Dickona
;
testowanie funkcjonalne
;
powstające wady
;
regresja ewolucyjna
;
identyfikacja obwodu CMOS
Dickson charge-pump
;
functional testing
;
incipient faults
;
evolutionary regression
;
CMOS circuit identification
3/76
Nr opisu:
0000137812
Ewolucyjna metoda testowania funkcjonalnego analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
.
W:
Prace Komisji Naukowych
. z. 41-42. Katowice : Polska Akademia Nauk. Oddział w Katowicach, 2019
, s. 273-276
analogowy układ elektroniczny
;
testowanie funkcjonalne
analog electronic circuit
;
functional testing
4/76
Nr opisu:
0000124318
Analog circuit specification testing by means of Walsh-Hadamard transform and multiple regression supported by evolutionary computations.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Jan
Machniewski
.
-
Circuits Systems Signal Process.
2018 vol. 37 iss. 7
, s. 2736-2771, bibliogr. 35 poz..
Impact Factor
1.922.
Punktacja MNiSW
25.000
obwód analogowy
;
testowanie sterowane specyfikacją
;
programowanie genetyczne
;
regresja wielokrotna
analog circuit
;
specification driven testing
;
genetic programming
;
multiple regression
5/76
Nr opisu:
0000111647
Analog circuits specifications testing by means of fast fourier transformation.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
.
W:
2016 International Conference on Signals and Electronic Systems (ICSES), Kraków, Poland, 5-7 September 2016
. Eds.: Witold Machowski and Jacek Stępień. Piscataway : IEEE, 2016
, s. 13-18, bibliogr. 12 poz.
testowanie
;
model matematyczny
;
korelacja
;
obwód analogowy
;
organizacja
;
modelowanie komputerowe
;
usterka obwodu
testing
;
mathematical model
;
correlation
;
analog circuit
;
organization
;
computational modelling
;
circuit fault
6/76
Nr opisu:
0000111706
Home ultrasound device for heart beats monitoring based on ARM microcontroller.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Marian
Kotas
, P.
Jantos
.
W:
2016 International Conference on Signals and Electronic Systems (ICSES), Kraków, Poland, 5-7 September 2016
. Eds.: Witold Machowski and Jacek Stępień. Piscataway : IEEE, 2016
, s. 243-246, bibliogr. 9 poz.
urządzenie do sygnałów mieszanych
;
monitorowanie uderzeń serca
;
fala ultradźwiękowa
;
filtrowanie sygnału analogowego
mixed signal device
;
heartbeats monitoring
;
ultrasound wave
;
analog signal filtering
7/76
Nr opisu:
0000100632
Analog testing stimulus optimization for generating by means of sigma-delta modulation.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
.
W:
Mixed design of integrated circuits and systems
. MIXDES 2015. Book of abstracts of 22nd international conference, Toruń, Poland, June 25-27, 2015. [Dokument elektroniczy].. Ed. by Andrzej Napieralski. Łódź : Department of Microelectronics and Computer Science. Lodz University of Technology, 2015
, s. 137
Toż na USB PenDrive
8/76
Nr opisu:
0000103043
Analog testing stimulus optimization for generating by means of sigma-delta modulation.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
.
W:
Mixed design of integrated circuits and systems
. MIXDES 2015. Proceedings of 22nd international conference, Toruń, Poland, June 25-27, 2015. Ed. by Andrzej Napieralski. Łódź : Department of Microelectronics and Computer Science. Lodz University of Technology, 2015
, s. 521-524, bibliogr. 10 poz.
testowanie analogowych układów elektronicznych
;
optymalizacja ewolucyjna
;
modulacja gęstości impulsów
;
modulacja sigma-delta
analog electronic circuits testing
;
evolutionary optimization
;
pulse-density modulation
;
sigma-delta modulation
9/76
Nr opisu:
0000113719
Evolutionary optimization of Sigma-Delta modulated analog stimulus.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
.
-
Int. J. Microelectron. Comput. Sci.
2015 vol. 6 nr 4
, s. 130-135, bibliogr. 12 poz..
Punktacja MNiSW
7.000
analog electronic circuits testing
;
evolutionary optimization
;
sigma-delta modulation
;
pulse-density modulation
10/76
Nr opisu:
0000095495
Analog circuits testing by means of walsh-hadamard spectrum of supply current transient state monitoring.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
.
W:
6th International Conference on Human System Interactions
. HSI, Gdańsk, Sopot, Poland, June 06-08, 2013. Eds.: W. Paja, B. Wilamowski. Piscataway : IEEE, 2013
, s. 401-406, bibliogr. 16 poz.
analiza Monte Carlo
;
przekształcenia Walsha-Hadamarda
;
analogowe wykrywanie usterek
;
badanie obwodu
Monte Carlo analysis
;
Walsh-Hadamard transform
;
analog faults detection
;
circuit under test
11/76
Nr opisu:
0000087785
Koncepcja budowy przenośnego urządzenia do lokalizacji i identyfikacji osób w obszarze nadzorowanym.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Łukasz
Chruszczyk
, P.
Knapik
.
-
Elektronika
2013 R. 54 nr 9
, s. 63-66, bibliogr. 8 poz..
Punktacja MNiSW
8.000
monitoring
;
identyfikacja osób
;
urządzenie automatycznej identyfikacji
monitoring
;
human identification
;
automatic identification device
12/76
Nr opisu:
0000093835
Koncepcja budowy przenośnego urządzenia do lokalizacji osób w obszarze nadzorowanym.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Łukasz
Chruszczyk
, P.
Knapik
.
W:
Dwunasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 10-13.06.2013]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2013
, s. 150 + tekst na CD-ROM
Pełny tekst na CD-ROM
lokalizacja obiektów
;
identyfikacja obiektów
;
transmisja bezprzewodowa
;
ISM
;
pozycjonowanie GPS
;
system nadzoru
;
system ochrony
objects' localization
;
object identification
;
wireless transmission
;
ISM
;
GPS positioning
;
surveillance system
;
protection system
13/76
Nr opisu:
0000113754
Memetic method for passive filters design.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Piotr*
Jantos
.
W:
Analog circuits
. Ed. by Yuping Wu. Rijeka : InTech, 2016
, s. 52-68, bibliogr. 16 poz.
14/76
Nr opisu:
0000087811
Protokół komunikacyjny o minimalizowanych opóźnieniach czasowych.
[Aut.]: Łukasz
Chruszczyk
, Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
.
-
Elektronika
2013 R. 54 nr 9
, s. 137-139, bibliogr. 10 poz..
Punktacja MNiSW
8.000
protokół komunikacyjny RS
;
opóźnienie czasowe
;
automatyczna identyfikacja
;
monitoring
RS communication protocol
;
time delay
;
automatic identification
;
monitoring
15/76
Nr opisu:
0000087961
Stacja bazowa modularnego systemu identyfikacji i lokalizacji obiektów znajdujących się w obszarze chronionym.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Damian
Grzechca
, Łukasz
Chruszczyk
.
-
Prz. Elektrot.
2013 R. 89 nr 10
, s. 69-72, bibliogr. 9 poz..
Punktacja MNiSW
14.000
lokalizacja obiektów
;
nadajnik radiowy
;
odbiornik GPS
;
Ethernet
objects' localization
;
transmitter
;
GPS receiver
;
Ethernet
16/76
Nr opisu:
0000093825
Stacja bazowa modularnego systemu identyfikacji i lokalizacji obiektów znajdujących się w obszarze chronionym.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Damian
Grzechca
, Łukasz
Chruszczyk
.
W:
Dwunasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 10-13.06.2013]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2013
, s. 121 + tekst na CD-ROM
Pełny tekst na CD-ROM
lokalizacja obiektów
;
nadajnik radiowy
;
GPS
;
Ethernet
objects' localization
;
transmitter
;
GPS
;
Ethernet
17/76
Nr opisu:
0000087896
Testowanie podstawowych parametrów zintegrowanych odbiorników GPS.
[Aut.]: Łukasz
Chruszczyk
, Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
.
-
Prz. Elektrot.
2013 R. 89 nr 10
, s. 53-56, bibliogr. 13 poz..
Punktacja MNiSW
14.000
GPS
;
lokalizacja
;
dokładność nawigacji
;
lokalizacja w terenie otwartym
;
bezprzewodowa identyfikacja obiektu
GPS
;
location
;
navigation accuracy
;
open area location
;
wireless object identification
18/76
Nr opisu:
0000093839
Testowanie podstawowych parametrów zintegrowanych odbiorników GPS.
[Aut.]: Łukasz
Chruszczyk
, Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
.
W:
Dwunasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 10-13.06.2013]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2013
, s. 69 + tekst na CD-ROM
Pełny tekst na CD-ROM
GPS
;
lokalizacja w terenie otwartym
;
dokładność lokalizacji
GPS
;
open area location
;
localization accuracy
19/76
Nr opisu:
0000074650
Deterministyczna metoda diagnostyki funkcjonalnej układów analogowych.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Tomasz
Golonek
.
-
Elektronika
2012 R. 53 nr 10
, s. 45-48, bibliogr. 8 poz..
Punktacja MNiSW
6.000
regresja kwadratowa
;
diagnostyka funkcjonalna
;
pomiar w dziedzinie czasu
biquadratic regression
;
specification driven test
;
time domain measurement
20/76
Nr opisu:
0000082691
Deterministyczna metoda diagnostyki funkcjonalnej układów analogowych.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Tomasz
Golonek
.
W:
Jedenasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-14.06.2012]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2012
, s. 65
Pełny tekst na CD-ROM
regresja kwadratowa
;
diagnostyka funkcjonalna
;
pomiar w dziedzinie czasu
biquadratic regression
;
specification driven test
;
time domain measurement
21/76
Nr opisu:
0000084011
Low-cost single-chip GPS receivers' efficiency for personal identification device.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, Łukasz
Chruszczyk
, Tomasz
Golonek
.
W:
Latest trends in information technology, Vienna, Austria, November 10-12, 2012
. Ed. D. Anderson, H-J. Yang, P. Varacha. [B.m.] : WSEAS Press, 2012
, s. 90-94, bibliogr. 7 poz. (
Recent Advances in Computer Engineering Series
; 7 1790-5109)
GPS
;
urządzenie lokalizujące
GPS
;
locating device
22/76
Nr opisu:
0000082585
Memetic method for passive filters design.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Piotr*
Jantos
.
W:
Analog circuits
. Ed. Y. Wu. Rijeka : InTech, 2013
, s. 51-68, bibliogr. 16 poz.
23/76
Nr opisu:
0000071090
Stimulus with limited band optimization for analogue circuit testing.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Piotr*
Jantos
, Jerzy**
Rutkowski
.
-
Metrol. Meas. Syst.
2012 vol. 19 nr 1
, s. 73-84, bibliogr. 20 poz..
Impact Factor
0.982.
Punktacja MNiSW
20.000
obliczenia ewolucyjne
;
testowanie układu analogowego
;
nieszczelność izolacji
evolutionary computations
;
analogue circuit testing
;
fault isolation
24/76
Nr opisu:
0000082690
Zastosowanie transformaty Walsha-Hadamarda do diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Piotr*
Jantos
.
W:
Jedenasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-14.06.2012]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2012
, s. 64
Pełny tekst na CD-ROM
analogowy układ elektroniczny
;
diagnostyka układów analogowych
;
transformata Walsha-Hadamarda
;
korelacja Pearsona
;
regresja liniowa
analog electronic circuit
;
analog circuit diagnosis
;
Walsh-Hadamard transform
;
Pearson correlation
;
linear regression
25/76
Nr opisu:
0000071521
A functional testing of analogue electronic circuits with the use of specification approximation in the time-domain response features space.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
-
Prz. Elektrot.
2011 R. 87 nr 10
, s. 110-113, bibliogr. 15 poz..
Impact Factor
0.244.
Punktacja MNiSW
15.000
triangulacja Delaunaya
;
testowanie funkcjonalne
;
analogowy układ elektroniczny
;
sztuczna sieć neuronowa
Delaunay's triangulation
;
specification driven testing
;
analogue electronic circuit
;
artificial neural network
26/76
Nr opisu:
0000069623
An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
-
Elektronika
2011 R. 52 nr 12
, s. 65-68, bibliogr. 11 poz..
Punktacja MNiSW
6.000
elektronika analogowa
;
układ analogowy
;
triangulacja Delaunaya
;
testowanie sterowane specyfikacją
analogue electronics
;
analogue circuit
;
Delaunay's triangulation
;
specification driven testing
27/76
Nr opisu:
0000081583
An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Mixed design of integrated circuits and systems
. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2011
, dysk optyczny (CD-ROM) s. 485-489
analogowy układ elektroniczny
;
testowanie funkcjonalne
;
czas odpowiedzi
analogue electronic circuits
;
functional testing
;
response time
28/76
Nr opisu:
0000082610
Testowanie funkcjonalne analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem aproksymacji specyfikacji w przestrzeni cech odpowiedzi układu testowanego.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011
, s. 231
Pełny tekst na CD-ROM
triangulacja Delaunaya
;
testowanie funkcjonalne
;
analogowy układ elektroniczny
;
sztuczna sieć neuronowa
Delaunay's triangulation
;
specification driven testing
;
analog electronic circuit
;
artificial neural network
29/76
Nr opisu:
0000069621
The use of specialized multi-band stimuli for analog circuits testing.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Piotr*
Jantos
, Damian
Grzechca
.
-
Elektronika
2011 R. 52 nr 12
, s. 47-49, bibliogr. 7 poz..
Punktacja MNiSW
6.000
elektronika analogowa
;
wykrywanie uszkodzeń
;
obliczenia ewolucyjne
;
gęstość widmowa amplitudy
;
pobudzenie testujące
analogue electronics
;
fault detection
;
evolutionary computations
;
amplitude density
;
testing stimuli
30/76
Nr opisu:
0000081591
The use of specialized multi-band stimuli for analog circuits testing.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Piotr*
Jantos
, Damian
Grzechca
.
W:
Mixed design of integrated circuits and systems
. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2011
, dysk optyczny (CD-ROM) s. 516-519, bibliogr. 7 poz.
wykrywanie uszkodzeń
;
gęstość widmowa amplitudy
;
obliczenia ewolucyjne
;
pobudzenie testujące
fault detection
;
amplitude density
;
evolutionary computations
;
testing stimuli
31/76
Nr opisu:
0000082611
Zastosowanie pobudzenia pasmowego do testowania analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Piotr*
Jantos
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011
, s. 232
Pełny tekst na CD-ROM
analogowy układ elektroniczny
;
testowanie układu analogowego
;
obliczenia ewolucyjne
;
gęstość widmowa
;
szereg Fouriera
analog electronic circuit
;
analogue circuit testing
;
evolutionary computations
;
spectral density
;
Fourier series
32/76
Nr opisu:
0000063360
Analog IC fault diagnosis by means of supply current monitoring in test points selected evolutionarily.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
International Conference on Signals and Electronic Systems
. ICSES'10, Gliwice, Poland, September 7-10, 2010. Conference proceedings. Ed. Andrzej Pułka, Tomasz Golonek. Gliwice : [Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki], 2010
, s. 397-400, bibliogr. 7 poz.
33/76
Nr opisu:
0000059491
Diagnostyka analogowych układów scalonych metodą monitorowania prądu zasilania w ewolucyjnie dobranych punktach pomiarowych.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
-
Elektronika
2010 R. 51 nr 9
, s. 17-20, bibliogr. 6 poz.
genotyp
;
populacja
;
reprodukcja
;
krzyżowanie
;
mutacja
;
diagnostyka
;
analogowy układ scalony
genotype
;
population
;
reproduction
;
crossover
;
mutation
;
diagnosis
;
analog integrated circuit
34/76
Nr opisu:
0000082627
Diagnostyka analogowych układów scalonych metodą monitorowania prądu zasilania w ewolucyjnie dobranych punktach pomiarowych.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Dziewiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 30.05-02.06.2010]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2010
, s. 48
Pełny tekst na CD-ROM
genotyp
;
populacja
;
reprodukcja
;
krzyżowanie
;
mutacja
;
diagnostyka
;
analogowy układ scalony
genotype
;
population
;
reproduction
;
crossover
;
mutation
;
diagnosis
;
analog integrated circuit
35/76
Nr opisu:
0000063214
PCA application to frequency reduction for fault diagnosis in analog and mixed electronic circuit.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
, Tomasz
Golonek
.
W:
Nano-bio circuit fabrics and systems
. IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS, Paris, France, May 30th - June 2nd, 2010. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010
, s. 1919-1922, bibliogr. 6 poz.
36/76
Nr opisu:
0000059493
Synteza impedancji dwójnika pasywnego RLC z wykorzystaniem algorytmu programowania genetycznego.
[Aut.]: Piotr*
Kyzioł
, Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
-
Elektronika
2010 R. 51 nr 9
, s. 24-28, bibliogr. 8 poz.
dwójnik
;
impedancja
;
programowanie genetyczne
two-terminal network
;
impedance
;
genetic programming
37/76
Nr opisu:
0000056507
Analog circuit state identification by means of differential evolution.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Mixed design of integrated circuits and systems
. MIXDES 2009. Proceedings of the 16th international conference, Łódź, Poland, 25-27 June, 2009. [Ed. by A. Napieralski]. Łódź : Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych, 2009
, s. 509-512
38/76
Nr opisu:
0000056508
Classification of analog circuit states using PSO in the multidimensional space of solutions.
[Aut.]: Piotr*
Kyzioł
, Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Mixed design of integrated circuits and systems
. MIXDES 2009. Proceedings of the 16th international conference, Łódź, Poland, 25-27 June, 2009. [Ed. by A. Napieralski]. Łódź : Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych, 2009
, s. 513-518
39/76
Nr opisu:
0000052095
Ewolucyjna metoda identyfikacji diagnostycznego stanu liniowego układu analogowego.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
-
Prz. Elektrot.
2009 R. 85 nr 11
, s. 135-138, bibliogr. 7 poz..
Impact Factor
0.196
diagnostyka układów analogowych
;
ewolucja różnicowa
;
transmitancja operatorowa
analog fault diagnosis
;
differential evolution
;
transfer function
40/76
Nr opisu:
0000051444
Ewolucyjna metoda identyfikacji stanu liniowego układu analogowego.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Ósma Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 07-10 czerwca 2009]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2009
, s. 58
Pełny tekst na CD-ROM
41/76
Nr opisu:
0000050793
Diagnosis of specification parametric faults in the FPAA - the RBF neural network approach.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
New aspects on computing research
. Proceedings of the 2nd European Computing Conference (ECC'08), Malta, September 11-13, 2008. Eds: Costin Cepisca, Guennadi A. Kouzaev, Nikos E. Mastorakis. [B.m.] : WSEAS Press, 2008
, s. 275-280, bibliogr. 8 poz.
42/76
Nr opisu:
0000050791
Global parametric faults in analogue integrated circuits: two approaches to classification with the use of differential evolution.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
New aspects on computing research
. Proceedings of the 2nd European Computing Conference (ECC'08), Malta, September 11-13, 2008. Eds: Costin Cepisca, Guennadi A. Kouzaev, Nikos E. Mastorakis. [B.m.] : WSEAS Press, 2008
, s. 281-286, bibliogr. 9 poz.
43/76
Nr opisu:
0000043102
Globalne uszkodzenia parametryczne w testowaniu analogowych układów scalonych.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
-
Elektronika
2008 R. 49 nr 11
, s. 122-125, bibliogr. 11 poz.
analogowy układ scalony
;
testowanie
;
globalne uszkodzenie parametryczne
;
diagnostyka uszkodzeń
analog integrated circuit
;
testing
;
global parametric fault
;
fault diagnosis
44/76
Nr opisu:
0000038044
Heuristic methods to test frequencies optimization for analogue circuits diagnosis.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
-
Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci.
2008 vol. 56 no. 1
, s. 29-38, bibliogr. 20 poz.
analogowy układ elektroniczny
;
analogowy układ scalony
;
logika rozmyta
;
ekspresja genów
;
algorytm genetyczny
;
wyżarzanie
analog electronic circuit
;
analog integrated circuit
;
fuzzy logic
;
gene expression
;
genetic algorithm
;
annealing
45/76
Nr opisu:
0000049055
Optimization of PWL analog testing excitation by means of genetic algorithm.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
International Conference on Signals and Electronic Systems
. ICSES'08, Kraków, Poland, September 14-17, 2008. Proceedings. [Kraków] : [Department of Electronics. AGH University of Science and Technology], 2008
, s. 541-544, bibliogr. 15 poz.
układ analogowy
;
testowanie układu
;
PWL
;
algorytm genetyczny
;
fenotyp
;
genotyp
analog circuit
;
circuit testing
;
PWL
;
genetic algorithm
;
phenotype
;
genotype
46/76
Nr opisu:
0000051411
Optymalizacja pobudzenia PWL testującego analogowe układy elektroniczne.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Siódma Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 02-04 czerwca 2008]
. Materiały konferencji. T. 2. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2008
, s. 311-316, bibliogr. 6 poz.
47/76
Nr opisu:
0000048020
The influence of global parametric faults on analogue electronic circuits time domain response features.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008
. Proceedings. Eds: B. Straube [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008
, s. 299-303, bibliogr. 8 poz.
analogowy układ scalony
;
analiza w dziedzinie czasu
;
diagnostyka błędów
analog integrated circuit
;
time domain analysis
;
fault diagnosis
48/76
Nr opisu:
0000049104
The use of variable load for RF circuit testing.
[Aut.]: Piotr*
Kyzioł
, Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
International Conference on Signals and Electronic Systems
. ICSES'08, Kraków, Poland, September 14-17, 2008. Proceedings. [Kraków] : [Department of Electronics. AGH University of Science and Technology], 2008
, s. 557-560, bibliogr. 7 poz.
49/76
Nr opisu:
0000051412
Zastosowanie układu FPAA do diagnostyki i testowania układów analogowych.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
.
W:
Siódma Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 02-04 czerwca 2008]
. Materiały konferencji. T. 2. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2008
, s. 317-323, bibliogr. 5 poz.
50/76
Nr opisu:
0000043107
Zastosowanie układu FPAA do diagnostyki i testowania układów analogowych.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
.
-
Elektronika
2008 R. 49 nr 11
, s. 158-162, bibliogr. 5 poz.
układ analogowy
;
FPAA
;
testowanie
;
diagnostyka
;
testowanie funkcjonalne
;
symulacja uszkodzeń
analog circuit
;
testing
;
diagnostics
;
functional testing
;
fault simulation
51/76
Nr opisu:
0000031632
Evolutionary system for analog test frequencies selection with fuzzy initialization.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Proceedings of the 2007 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Kraków, Poland, April 11-13, 2007
. Eds: P. Girard [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007
, s. 353-356, bibliogr. 10 poz.
testowanie analogowe
;
niejednoznaczność zbioru
;
obliczenia ewolucyjne
;
zbiór rozmyty
;
system wbudowany
analog testing
;
ambiguity set
;
evolutionary computations
;
fuzzy set
;
embedded system
52/76
Nr opisu:
0000032119
Ewolucyjny dobór częstotliwości sygnałów testujących z rozmytą inicjalizacją systemu.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]
. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Książek Technicznych SIGMA-NOT, 2007
, s. 72-75, bibliogr. 12 poz. (
Elektronika
; R. 48, nr 11 0033-2089)
analogowy układ elektroniczny
;
optymalna częstotliwość
analog electronic circuit
;
optimal frequency
53/76
Nr opisu:
0000031051
Ewolucyjny dobór częstotliwości sygnałów testujących z rozmytą inicjalizacją systemu.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]
. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007
, s. 101-106, bibliogr. 12 poz.
diagnostyka układów analogowych
;
obliczenia ewolucyjne
;
zbiór rozmyty
;
testowanie układu analogowego
;
optymalizacja ewolucyjna
analog circuit diagnosis
;
evolutionary computation
;
fuzzy set
;
analogue circuit testing
;
evolutionary optimization
;
evolutionary computations
54/76
Nr opisu:
0000032118
Ewolucyjny projektant filtrów.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, S.
Fedrizzi
, Damian
Grzechca
.
W:
VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]
. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Książek Technicznych SIGMA-NOT, 2007
, s. 58-61, bibliogr. 10 poz. (
Elektronika
; R. 48, nr 11 0033-2089)
analogowy układ elektroniczny
;
ewolucyjny system optymalizacji
analog electronic circuit
;
evolutionary optimization system
55/76
Nr opisu:
0000031058
Ewolucyjny projektant filtrów.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, S.
Fedrizzi
, Damian
Grzechca
.
W:
Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]
. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007
, s. 213-218, bibliogr. 10 poz.
transmitancja
;
filtr analogowy
;
genotyp
;
fenotyp
;
funkcja celu
transmittance
;
analog filter
;
genotype
;
phenotype
;
objective function
56/76
Nr opisu:
0000031891
Gene expression programming-based method of optimal frequency set determination for purpose of analogue circuits' diagnosis.
[Aut.]: Piotr*
Jantos
, Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Computer recognition systems 2
. Eds: M. Kurzynski [et al.]. Berlin : Springer-Verlag, 2007
, s. 794-801, bibliogr. 5 poz. (
Advances in Soft Computing
; vol. 45 1615-3871)
57/76
Nr opisu:
0000039010
Genetic-algorithm-based method for optimal analog test points selection.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
-
IEEE Trans. Circuits Syst., II
2007 vol. 54 iss. 2
, s. 117-121, bibliogr. 21 poz..
Impact Factor
1.104
układ antenowy
;
analogowy system testowania
;
testowalność
;
algorytm genetyczny
analog circuit
;
analog system testing
;
design for testability
;
genetic algorithm
58/76
Nr opisu:
0000032122
Moduł czytnika kart zbliżeniowych pracujący z częstotliwością 13,56 MHz.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, P.
Tatar
, Tomasz
Golonek
.
W:
VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]
. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Książek Technicznych SIGMA-NOT, 2007
, s. 96-99, bibliogr. 4 poz. (
Elektronika
; R. 48, nr 11 0033-2089)
RFID
;
czytnik kart zbliżeniowych
RFID
;
proximity card reader
59/76
Nr opisu:
0000031028
Moduł czytnika kart zbliżeniowych pracujący z częstotliwością 13.56 MHz.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, P.
Tatar
, Tomasz
Golonek
.
W:
Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]
. Materiały konferencji. T. 2. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007
, s. 481-486, bibliogr. 4 poz.
RFID
;
karta zbliżeniowa
;
czytnik kart
;
czytnik
RFID
;
smart card
;
card reader
;
contactless smart card
;
reader device
60/76
Nr opisu:
0000039873
Simulated annealing with fuzzy fitness function for test frequencies selection.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
2007 IEEE International Fuzzy Systems Conference
. FUZZ-IEEE 2007, London, UK, July 23-26, 2007. [Dokument elektroniczny]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007
, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-6, bibliogr. 8 poz.
testowanie układu
;
diagnostyka uszkodzeń
;
teoria zbiorów rozmytych
;
symulowane wyżarzanie
circuit testing
;
fault diagnosis
;
fuzzy set theory
;
simulated annealing
61/76
Nr opisu:
0000039872
The use of simulated annealing with fuzzy objective function to optimal frequency selection for analog circuit diagnosis.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems
. ICECS 2007, Marrakech, Morocco, December 11-14, 2007. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007
, s. 899-902, bibliogr. 9 poz.
układ analogowy
;
niezawodność obwodu
;
diagnostyka uszkodzeń
;
teoria zbiorów rozmytych
analogue circuit
;
circuit reliability
;
fault diagnosis
;
fuzzy set theory
62/76
Nr opisu:
0000032124
Wykorzystanie metody symulowanego wyżarzania do doboru optymalnego pobudzenia testującego analogowe układy elektroniczne.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]
. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Książek Technicznych SIGMA-NOT, 2007
, s. 121-124, bibliogr. 5 poz. (
Elektronika
; R. 48, nr 11 0033-2089)
wyżarzanie symulowane
;
analogowy układ elektroniczny
simulated annealing
;
analog electronic circuit
63/76
Nr opisu:
0000031049
Wykorzystanie metody symulowanego wyżarzania do doboru optymalnego pobudzenia testującego analogowe układy elektroniczne.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
.
W:
Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]
. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007
, s. 83-88, bibliogr. 5 poz.
symulowane wyżarzanie
;
optymalizacja pobudzenia
;
testowanie układu analogowego
;
diagnostyka układów analogowych
;
algorytm symulowanego wyżarzania
simulated annealing
;
optimization of excitation
;
analogue circuit testing
;
simulated annealing algorithm
;
analog circuit diagnosis
64/76
Nr opisu:
0000031165
Analog fault AC dictionary creation - the fuzzy set approach.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
2006 IEEE International Symposium on Circuits and Systems
. ISCAS 2006, Island of Kos, May 21-24, 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006
, s. 5744-5747, bibliogr. 4 poz.
testowanie układu
;
słownik
;
sprzęt elektroniczny
;
częstotliwość
;
teoria zbiorów rozmytych
;
wytwarzanie
;
macierz rzadka
circuit testing
;
dictionary
;
electronic equipment
;
frequency
;
fuzzy set theory
;
manufacturing
65/76
Nr opisu:
0000031164
Application of genetic programming to edge detector design.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
2006 IEEE International Symposium on Circuits and Systems
. ISCAS 2006, Island of Kos, May 21-24, 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006
, s. 4683-4686, bibliogr. 7 poz.
pomiar prądu
;
detektor
;
programowanie genetyczne
;
przetwarzanie obrazu
;
piksel
;
układ logiki programowalnej
;
proces stochastyczny
;
transmitancja operatorowa
current measurement
;
detector
;
genetic programming
;
image processing
;
pixel
;
programmable logic device
;
stochastic process
;
transfer function
66/76
Nr opisu:
0000031163
Evolutionary method for test frequencies selection based on entropy index an ambiguity sets.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
International Conference on Signals and Electronic Systems
. ICSES'06, Łódź, Poland, September 17-20, 2006. Conference proceedings. Institute of Circuit Theory, Metrology and Materials Science of the Technical Unifersity of Łódź, Poland [et al.]. [Łódź] : [Instytut Elektrotechniki Teoretycznej, Metrologii i Materiałoznawstwa Politechniki Łódzkiej], [2006]
, s. 511-514
67/76
Nr opisu:
0000031753
Ewolucyjny detektor krawędzi.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Piąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 12-14 czerwca 2006]
. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2006
, s. 105-110, bibliogr. 5 poz.
68/76
Nr opisu:
0000031746
Konstrukcja rozmytego słownika uszkodzeń z wykorzystaniem rzadkości macierzy wrażliwości do testowania w dziedzinie częstotliwości.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Piąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 12-14 czerwca 2006]
. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2006
, s. 87-92, bibliogr. 4 poz.
69/76
Nr opisu:
0000017970
Use of the Multi Layer Perceptron to analog fault functional test creation.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
, Tomasz
Golonek
.
W:
Proceedings of IFAC Workshop on Programmable Devices and Embedded Systems
. PDeS 2006, Brno, February 14th - 16th, 2006. [Brno] : [Brno University of Technology], [2006]
, s. 352-355, bibliogr. 6 poz.
70/76
Nr opisu:
0000016941
Creation of functional test - the neural network utilization.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Methods of artificial intelligence
. AI-METH 2005. [Proceedings of the Symposium on Methods of Artificial Intelligence AI-METH 2005 and the Workshop on Knowledge Acquisition in Mechanical Engineering, Gliwice, Poland, 16-18 November 2005]. Eds: T. Burczyński, W. Cholewa, W. Moczulski. Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, Polish Association for Computational Mechanics. [Gliwice] : Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, 2005
, s. 57-58, bibliogr. 5 poz.
sieć neuronowa
;
perceptron wielowarstwowy
;
analogowe wykrywanie usterek
;
diagnostyka układów analogowych
;
wykrywanie błędów
neural network
;
multilayer perceptron
;
analog faults detection
;
analog fault diagnosis
;
fault detection
71/76
Nr opisu:
0000017094
Creation of functional test - the neural network utilization.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Recent developments in artificial intelligence methods
. AI-METH 2005. Eds: T. Burczyński, W. Cholewa, W. Moczulski. Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, Polish Association for Computational Mechanics. Gliwice : Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, 2005
, s. 95-98, bibliogr. 8 poz.
pełny tekst na CD-ROM
sieć neuronowa
;
perceptron wielowarstwowy
;
analogowe wykrywanie usterek
;
diagnostyka układów analogowych
neural network
;
multilayer perceptron
;
analog faults detection
;
analog fault diagnosis
72/76
Nr opisu:
0000013970
Zastosowanie ewolucji różnicowej do projektowania odcinkowo-liniowego pobudzenia testującego analogowe układy elektroniczne.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
, Damian
Grzechca
.
W:
Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]
. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004
, s. 151-156, bibliogr. 7 poz.
diagnostyka układów analogowych
;
pobudzenie testujące
;
ewolucja różnicowa
;
populacja
;
genotyp
analog circuit diagnosis
;
testing stimuli
;
differential evolution
;
population
;
genotype
73/76
Nr opisu:
0000013973
Zastosowanie teorii zbiorów rozmytych oraz rzadkości macierzy wrażliwości do detekcji i lokalizacji uszkodzeń w układach analogowych.
[Aut.]: Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
, Tomasz
Golonek
.
W:
Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]
. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004
, s. 169-174, bibliogr. 5 poz.
teoria zbiorów rozmytych
;
detekcja uszkodzeń
;
lokalizacja uszkodzeń
;
układ analogowy
;
wrażliwość
fuzzy set theory
;
fault detection
;
fault localization
;
analogue circuit
;
sensitivity
74/76
Nr opisu:
0000009232
Application of genetic programming to analog fault decoder design.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
Proceedings of the 16th European Conference on Circuits Theory and Design
. ECCTD'03, Cracow, Poland, September 1st-4th, 2003. Vol. 2. Eds: Z. Galias [i in.]. Kraków : Wydaw. Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica
, s. II-113-116, bibliogr. 6 poz.
75/76
Nr opisu:
0000009178
Strategia ewolucyjna doboru optymalnego skokowego pobudzenia testującego.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
W:
II Krajowa Konferencja Elektroniki
. KKE'2003, Kołobrzeg, 9-12 czerwca 2003. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2003
, s. 235-240, bibliogr. 5 poz.
76/76
Nr opisu:
0000013074
Wykorzystanie ewolucyjnych technik obliczeniowych do projektowania i diagnozowania analogowych układów elektronicznych. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Tomasz
Golonek
.
Gliwice, 2003, 98 s., bibliogr. 53 poz.
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Promotor: dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski
elektronika analogowa
;
układ elektroniczny
;
diagnostyka układów analogowych
;
ewolucyjne techniki obliczeniowe
;
programowanie genetyczne
analogue electronics
;
electronic system
;
analog circuit diagnosis
;
evolutionary computational techniques
;
genetic programming
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie