Wyniki wyszukiwania

Wynik wyszukiwania

1/76
Nr opisu: 0000138809
Analog circuits specification driven testing by means of digital stream and non-linear estimation model optimized evolutionarily.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Łukasz Chruszczyk.
-Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2020 vol. 68 no. 6, s. 1283-1299, bibliogr. 35 poz.. Impact Factor 1.385. Punktacja MNiSW 100.000

analogowy układ elektroniczny ; testowanie sterowane specyfikacją ; obliczenia ewolucyjne ; regresja wielokrotna

analog electronic circuit ; specification driven testing ; evolutionary computations ; multiple regression

2/76
Nr opisu: 0000130749
Design an identification function to reduce the computational resources on the testing process of an analog electronic circuit.
[Aut.]: Sebastian Temich, Tomasz Golonek, Damian Grzechca.
-Elektron. Elektrotech. 2019 vol. 25 no. 3, s. 25-33, bibliogr. 28 poz.. Impact Factor 0.707. Punktacja MNiSW 40.000

pompa zasilająca Dickona ; testowanie funkcjonalne ; powstające wady ; regresja ewolucyjna ; identyfikacja obwodu CMOS

Dickson charge-pump ; functional testing ; incipient faults ; evolutionary regression ; CMOS circuit identification

3/76
Nr opisu: 0000137812
Ewolucyjna metoda testowania funkcjonalnego analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Tomasz Golonek.
W: Prace Komisji Naukowych. z. 41-42. Katowice : Polska Akademia Nauk. Oddział w Katowicach, 2019, s. 273-276

analogowy układ elektroniczny ; testowanie funkcjonalne

analog electronic circuit ; functional testing

4/76
Nr opisu: 0000124318
Analog circuit specification testing by means of Walsh-Hadamard transform and multiple regression supported by evolutionary computations.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Jan Machniewski.
-Circuits Systems Signal Process. 2018 vol. 37 iss. 7, s. 2736-2771, bibliogr. 35 poz.. Impact Factor 1.922. Punktacja MNiSW 25.000

obwód analogowy ; testowanie sterowane specyfikacją ; programowanie genetyczne ; regresja wielokrotna

analog circuit ; specification driven testing ; genetic programming ; multiple regression

5/76
Nr opisu: 0000111647
Analog circuits specifications testing by means of fast fourier transformation.
[Aut.]: Tomasz Golonek.
W: 2016 International Conference on Signals and Electronic Systems (ICSES), Kraków, Poland, 5-7 September 2016. Eds.: Witold Machowski and Jacek Stępień. Piscataway : IEEE, 2016, s. 13-18, bibliogr. 12 poz.

testowanie ; model matematyczny ; korelacja ; obwód analogowy ; organizacja ; modelowanie komputerowe ; usterka obwodu

testing ; mathematical model ; correlation ; analog circuit ; organization ; computational modelling ; circuit fault

6/76
Nr opisu: 0000111706
Home ultrasound device for heart beats monitoring based on ARM microcontroller.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Marian Kotas, P. Jantos.
W: 2016 International Conference on Signals and Electronic Systems (ICSES), Kraków, Poland, 5-7 September 2016. Eds.: Witold Machowski and Jacek Stępień. Piscataway : IEEE, 2016, s. 243-246, bibliogr. 9 poz.

urządzenie do sygnałów mieszanych ; monitorowanie uderzeń serca ; fala ultradźwiękowa ; filtrowanie sygnału analogowego

mixed signal device ; heartbeats monitoring ; ultrasound wave ; analog signal filtering

7/76
Nr opisu: 0000100632
Analog testing stimulus optimization for generating by means of sigma-delta modulation.
[Aut.]: Tomasz Golonek.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2015. Book of abstracts of 22nd international conference, Toruń, Poland, June 25-27, 2015. [Dokument elektroniczy].. Ed. by Andrzej Napieralski. Łódź : Department of Microelectronics and Computer Science. Lodz University of Technology, 2015, s. 137
Toż na USB PenDrive

8/76
Nr opisu: 0000103043
Analog testing stimulus optimization for generating by means of sigma-delta modulation.
[Aut.]: Tomasz Golonek.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2015. Proceedings of 22nd international conference, Toruń, Poland, June 25-27, 2015. Ed. by Andrzej Napieralski. Łódź : Department of Microelectronics and Computer Science. Lodz University of Technology, 2015, s. 521-524, bibliogr. 10 poz.

testowanie analogowych układów elektronicznych ; optymalizacja ewolucyjna ; modulacja gęstości impulsów ; modulacja sigma-delta

analog electronic circuits testing ; evolutionary optimization ; pulse-density modulation ; sigma-delta modulation

9/76
Nr opisu: 0000113719
Evolutionary optimization of Sigma-Delta modulated analog stimulus.
[Aut.]: Tomasz Golonek.
-Int. J. Microelectron. Comput. Sci. 2015 vol. 6 nr 4, s. 130-135, bibliogr. 12 poz.. Punktacja MNiSW 7.000

analog electronic circuits testing ; evolutionary optimization ; sigma-delta modulation ; pulse-density modulation

10/76
Nr opisu: 0000095495
Analog circuits testing by means of walsh-hadamard spectrum of supply current transient state monitoring.
[Aut.]: Tomasz Golonek.
W: 6th International Conference on Human System Interactions. HSI, Gdańsk, Sopot, Poland, June 06-08, 2013. Eds.: W. Paja, B. Wilamowski. Piscataway : IEEE, 2013, s. 401-406, bibliogr. 16 poz.

analiza Monte Carlo ; przekształcenia Walsha-Hadamarda ; analogowe wykrywanie usterek ; badanie obwodu

Monte Carlo analysis ; Walsh-Hadamard transform ; analog faults detection ; circuit under test

11/76
Nr opisu: 0000087785
Koncepcja budowy przenośnego urządzenia do lokalizacji i identyfikacji osób w obszarze nadzorowanym.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Łukasz Chruszczyk, P. Knapik.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 9, s. 63-66, bibliogr. 8 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

monitoring ; identyfikacja osób ; urządzenie automatycznej identyfikacji

monitoring ; human identification ; automatic identification device

12/76
Nr opisu: 0000093835
Koncepcja budowy przenośnego urządzenia do lokalizacji osób w obszarze nadzorowanym.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Łukasz Chruszczyk, P. Knapik.
W: Dwunasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 10-13.06.2013]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2013, s. 150 + tekst na CD-ROM
Pełny tekst na CD-ROM

lokalizacja obiektów ; identyfikacja obiektów ; transmisja bezprzewodowa ; ISM ; pozycjonowanie GPS ; system nadzoru ; system ochrony

objects' localization ; object identification ; wireless transmission ; ISM ; GPS positioning ; surveillance system ; protection system

13/76
Nr opisu: 0000113754
Memetic method for passive filters design.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos.
W: Analog circuits. Ed. by Yuping Wu. Rijeka : InTech, 2016, s. 52-68, bibliogr. 16 poz.

14/76
Nr opisu: 0000087811
Protokół komunikacyjny o minimalizowanych opóźnieniach czasowych.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Damian Grzechca, Tomasz Golonek.
-Elektronika 2013 R. 54 nr 9, s. 137-139, bibliogr. 10 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

protokół komunikacyjny RS ; opóźnienie czasowe ; automatyczna identyfikacja ; monitoring

RS communication protocol ; time delay ; automatic identification ; monitoring

15/76
Nr opisu: 0000087961
Stacja bazowa modularnego systemu identyfikacji i lokalizacji obiektów znajdujących się w obszarze chronionym.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Łukasz Chruszczyk.
-Prz. Elektrot. 2013 R. 89 nr 10, s. 69-72, bibliogr. 9 poz.. Punktacja MNiSW 14.000

lokalizacja obiektów ; nadajnik radiowy ; odbiornik GPS ; Ethernet

objects' localization ; transmitter ; GPS receiver ; Ethernet

16/76
Nr opisu: 0000093825
Stacja bazowa modularnego systemu identyfikacji i lokalizacji obiektów znajdujących się w obszarze chronionym.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Łukasz Chruszczyk.
W: Dwunasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 10-13.06.2013]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2013, s. 121 + tekst na CD-ROM
Pełny tekst na CD-ROM

lokalizacja obiektów ; nadajnik radiowy ; GPS ; Ethernet

objects' localization ; transmitter ; GPS ; Ethernet

17/76
Nr opisu: 0000087896
Testowanie podstawowych parametrów zintegrowanych odbiorników GPS.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Damian Grzechca, Tomasz Golonek.
-Prz. Elektrot. 2013 R. 89 nr 10, s. 53-56, bibliogr. 13 poz.. Punktacja MNiSW 14.000

GPS ; lokalizacja ; dokładność nawigacji ; lokalizacja w terenie otwartym ; bezprzewodowa identyfikacja obiektu

GPS ; location ; navigation accuracy ; open area location ; wireless object identification

18/76
Nr opisu: 0000093839
Testowanie podstawowych parametrów zintegrowanych odbiorników GPS.
[Aut.]: Łukasz Chruszczyk, Damian Grzechca, Tomasz Golonek.
W: Dwunasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 10-13.06.2013]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2013, s. 69 + tekst na CD-ROM
Pełny tekst na CD-ROM

GPS ; lokalizacja w terenie otwartym ; dokładność lokalizacji

GPS ; open area location ; localization accuracy

19/76
Nr opisu: 0000074650
Deterministyczna metoda diagnostyki funkcjonalnej układów analogowych.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 10, s. 45-48, bibliogr. 8 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

regresja kwadratowa ; diagnostyka funkcjonalna ; pomiar w dziedzinie czasu

biquadratic regression ; specification driven test ; time domain measurement

20/76
Nr opisu: 0000082691
Deterministyczna metoda diagnostyki funkcjonalnej układów analogowych.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek.
W: Jedenasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-14.06.2012]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2012, s. 65
Pełny tekst na CD-ROM

regresja kwadratowa ; diagnostyka funkcjonalna ; pomiar w dziedzinie czasu

biquadratic regression ; specification driven test ; time domain measurement

21/76
Nr opisu: 0000084011
Low-cost single-chip GPS receivers' efficiency for personal identification device.
[Aut.]: Damian Grzechca, Łukasz Chruszczyk, Tomasz Golonek.
W: Latest trends in information technology, Vienna, Austria, November 10-12, 2012. Ed. D. Anderson, H-J. Yang, P. Varacha. [B.m.] : WSEAS Press, 2012, s. 90-94, bibliogr. 7 poz. (Recent Advances in Computer Engineering Series ; 7 1790-5109)

GPS ; urządzenie lokalizujące

GPS ; locating device

22/76
Nr opisu: 0000082585
Memetic method for passive filters design.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos.
W: Analog circuits. Ed. Y. Wu. Rijeka : InTech, 2013, s. 51-68, bibliogr. 16 poz.

23/76
Nr opisu: 0000071090
Stimulus with limited band optimization for analogue circuit testing.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
-Metrol. Meas. Syst. 2012 vol. 19 nr 1, s. 73-84, bibliogr. 20 poz.. Impact Factor 0.982. Punktacja MNiSW 20.000

obliczenia ewolucyjne ; testowanie układu analogowego ; nieszczelność izolacji

evolutionary computations ; analogue circuit testing ; fault isolation

24/76
Nr opisu: 0000082690
Zastosowanie transformaty Walsha-Hadamarda do diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos.
W: Jedenasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-14.06.2012]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2012, s. 64
Pełny tekst na CD-ROM

analogowy układ elektroniczny ; diagnostyka układów analogowych ; transformata Walsha-Hadamarda ; korelacja Pearsona ; regresja liniowa

analog electronic circuit ; analog circuit diagnosis ; Walsh-Hadamard transform ; Pearson correlation ; linear regression

25/76
Nr opisu: 0000071521
A functional testing of analogue electronic circuits with the use of specification approximation in the time-domain response features space.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-Prz. Elektrot. 2011 R. 87 nr 10, s. 110-113, bibliogr. 15 poz.. Impact Factor 0.244. Punktacja MNiSW 15.000

triangulacja Delaunaya ; testowanie funkcjonalne ; analogowy układ elektroniczny ; sztuczna sieć neuronowa

Delaunay's triangulation ; specification driven testing ; analogue electronic circuit ; artificial neural network

26/76
Nr opisu: 0000069623
An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 12, s. 65-68, bibliogr. 11 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

elektronika analogowa ; układ analogowy ; triangulacja Delaunaya ; testowanie sterowane specyfikacją

analogue electronics ; analogue circuit ; Delaunay's triangulation ; specification driven testing

27/76
Nr opisu: 0000081583
An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2011, dysk optyczny (CD-ROM) s. 485-489

analogowy układ elektroniczny ; testowanie funkcjonalne ; czas odpowiedzi

analogue electronic circuits ; functional testing ; response time

28/76
Nr opisu: 0000082610
Testowanie funkcjonalne analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem aproksymacji specyfikacji w przestrzeni cech odpowiedzi układu testowanego.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 231
Pełny tekst na CD-ROM

triangulacja Delaunaya ; testowanie funkcjonalne ; analogowy układ elektroniczny ; sztuczna sieć neuronowa

Delaunay's triangulation ; specification driven testing ; analog electronic circuit ; artificial neural network

29/76
Nr opisu: 0000069621
The use of specialized multi-band stimuli for analog circuits testing.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Damian Grzechca.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 12, s. 47-49, bibliogr. 7 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

elektronika analogowa ; wykrywanie uszkodzeń ; obliczenia ewolucyjne ; gęstość widmowa amplitudy ; pobudzenie testujące

analogue electronics ; fault detection ; evolutionary computations ; amplitude density ; testing stimuli

30/76
Nr opisu: 0000081591
The use of specialized multi-band stimuli for analog circuits testing.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Damian Grzechca.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2011, dysk optyczny (CD-ROM) s. 516-519, bibliogr. 7 poz.

wykrywanie uszkodzeń ; gęstość widmowa amplitudy ; obliczenia ewolucyjne ; pobudzenie testujące

fault detection ; amplitude density ; evolutionary computations ; testing stimuli

31/76
Nr opisu: 0000082611
Zastosowanie pobudzenia pasmowego do testowania analogowych układów elektronicznych.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 232
Pełny tekst na CD-ROM

analogowy układ elektroniczny ; testowanie układu analogowego ; obliczenia ewolucyjne ; gęstość widmowa ; szereg Fouriera

analog electronic circuit ; analogue circuit testing ; evolutionary computations ; spectral density ; Fourier series

32/76
Nr opisu: 0000063360
Analog IC fault diagnosis by means of supply current monitoring in test points selected evolutionarily.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'10, Gliwice, Poland, September 7-10, 2010. Conference proceedings. Ed. Andrzej Pułka, Tomasz Golonek. Gliwice : [Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki], 2010, s. 397-400, bibliogr. 7 poz.

33/76
Nr opisu: 0000059491
Diagnostyka analogowych układów scalonych metodą monitorowania prądu zasilania w ewolucyjnie dobranych punktach pomiarowych.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 17-20, bibliogr. 6 poz.

genotyp ; populacja ; reprodukcja ; krzyżowanie ; mutacja ; diagnostyka ; analogowy układ scalony

genotype ; population ; reproduction ; crossover ; mutation ; diagnosis ; analog integrated circuit

34/76
Nr opisu: 0000082627
Diagnostyka analogowych układów scalonych metodą monitorowania prądu zasilania w ewolucyjnie dobranych punktach pomiarowych.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Dziewiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 30.05-02.06.2010]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2010, s. 48
Pełny tekst na CD-ROM

genotyp ; populacja ; reprodukcja ; krzyżowanie ; mutacja ; diagnostyka ; analogowy układ scalony

genotype ; population ; reproduction ; crossover ; mutation ; diagnosis ; analog integrated circuit

35/76
Nr opisu: 0000063214
PCA application to frequency reduction for fault diagnosis in analog and mixed electronic circuit.
[Aut.]: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski, Tomasz Golonek.
W: Nano-bio circuit fabrics and systems. IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS, Paris, France, May 30th - June 2nd, 2010. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, s. 1919-1922, bibliogr. 6 poz.

36/76
Nr opisu: 0000059493
Synteza impedancji dwójnika pasywnego RLC z wykorzystaniem algorytmu programowania genetycznego.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 24-28, bibliogr. 8 poz.

dwójnik ; impedancja ; programowanie genetyczne

two-terminal network ; impedance ; genetic programming

37/76
Nr opisu: 0000056507
Analog circuit state identification by means of differential evolution.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2009. Proceedings of the 16th international conference, Łódź, Poland, 25-27 June, 2009. [Ed. by A. Napieralski]. Łódź : Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych, 2009, s. 509-512

38/76
Nr opisu: 0000056508
Classification of analog circuit states using PSO in the multidimensional space of solutions.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2009. Proceedings of the 16th international conference, Łódź, Poland, 25-27 June, 2009. [Ed. by A. Napieralski]. Łódź : Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych, 2009, s. 513-518

39/76
Nr opisu: 0000052095
Ewolucyjna metoda identyfikacji diagnostycznego stanu liniowego układu analogowego.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
-Prz. Elektrot. 2009 R. 85 nr 11, s. 135-138, bibliogr. 7 poz.. Impact Factor 0.196

diagnostyka układów analogowych ; ewolucja różnicowa ; transmitancja operatorowa

analog fault diagnosis ; differential evolution ; transfer function

40/76
Nr opisu: 0000051444
Ewolucyjna metoda identyfikacji stanu liniowego układu analogowego.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Ósma Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 07-10 czerwca 2009]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2009, s. 58
Pełny tekst na CD-ROM

41/76
Nr opisu: 0000050793
Diagnosis of specification parametric faults in the FPAA - the RBF neural network approach.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: New aspects on computing research. Proceedings of the 2nd European Computing Conference (ECC'08), Malta, September 11-13, 2008. Eds: Costin Cepisca, Guennadi A. Kouzaev, Nikos E. Mastorakis. [B.m.] : WSEAS Press, 2008, s. 275-280, bibliogr. 8 poz.

42/76
Nr opisu: 0000050791
Global parametric faults in analogue integrated circuits: two approaches to classification with the use of differential evolution.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: New aspects on computing research. Proceedings of the 2nd European Computing Conference (ECC'08), Malta, September 11-13, 2008. Eds: Costin Cepisca, Guennadi A. Kouzaev, Nikos E. Mastorakis. [B.m.] : WSEAS Press, 2008, s. 281-286, bibliogr. 9 poz.

43/76
Nr opisu: 0000043102
Globalne uszkodzenia parametryczne w testowaniu analogowych układów scalonych.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 122-125, bibliogr. 11 poz.

analogowy układ scalony ; testowanie ; globalne uszkodzenie parametryczne ; diagnostyka uszkodzeń

analog integrated circuit ; testing ; global parametric fault ; fault diagnosis

44/76
Nr opisu: 0000038044
Heuristic methods to test frequencies optimization for analogue circuits diagnosis.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2008 vol. 56 no. 1, s. 29-38, bibliogr. 20 poz.

analogowy układ elektroniczny ; analogowy układ scalony ; logika rozmyta ; ekspresja genów ; algorytm genetyczny ; wyżarzanie

analog electronic circuit ; analog integrated circuit ; fuzzy logic ; gene expression ; genetic algorithm ; annealing

45/76
Nr opisu: 0000049055
Optimization of PWL analog testing excitation by means of genetic algorithm.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'08, Kraków, Poland, September 14-17, 2008. Proceedings. [Kraków] : [Department of Electronics. AGH University of Science and Technology], 2008, s. 541-544, bibliogr. 15 poz.

układ analogowy ; testowanie układu ; PWL ; algorytm genetyczny ; fenotyp ; genotyp

analog circuit ; circuit testing ; PWL ; genetic algorithm ; phenotype ; genotype

46/76
Nr opisu: 0000051411
Optymalizacja pobudzenia PWL testującego analogowe układy elektroniczne.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Siódma Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 02-04 czerwca 2008]. Materiały konferencji. T. 2. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2008, s. 311-316, bibliogr. 6 poz.

47/76
Nr opisu: 0000048020
The influence of global parametric faults on analogue electronic circuits time domain response features.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: 2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008. Proceedings. Eds: B. Straube [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 299-303, bibliogr. 8 poz.

analogowy układ scalony ; analiza w dziedzinie czasu ; diagnostyka błędów

analog integrated circuit ; time domain analysis ; fault diagnosis

48/76
Nr opisu: 0000049104
The use of variable load for RF circuit testing.
[Aut.]: Piotr* Kyzioł, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'08, Kraków, Poland, September 14-17, 2008. Proceedings. [Kraków] : [Department of Electronics. AGH University of Science and Technology], 2008, s. 557-560, bibliogr. 7 poz.

49/76
Nr opisu: 0000051412
Zastosowanie układu FPAA do diagnostyki i testowania układów analogowych.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek.
W: Siódma Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 02-04 czerwca 2008]. Materiały konferencji. T. 2. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2008, s. 317-323, bibliogr. 5 poz.

50/76
Nr opisu: 0000043107
Zastosowanie układu FPAA do diagnostyki i testowania układów analogowych.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek.
-Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 158-162, bibliogr. 5 poz.

układ analogowy ; FPAA ; testowanie ; diagnostyka ; testowanie funkcjonalne ; symulacja uszkodzeń

analog circuit ; testing ; diagnostics ; functional testing ; fault simulation

51/76
Nr opisu: 0000031632
Evolutionary system for analog test frequencies selection with fuzzy initialization.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Proceedings of the 2007 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Kraków, Poland, April 11-13, 2007. Eds: P. Girard [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, s. 353-356, bibliogr. 10 poz.

testowanie analogowe ; niejednoznaczność zbioru ; obliczenia ewolucyjne ; zbiór rozmyty ; system wbudowany

analog testing ; ambiguity set ; evolutionary computations ; fuzzy set ; embedded system

52/76
Nr opisu: 0000032119
Ewolucyjny dobór częstotliwości sygnałów testujących z rozmytą inicjalizacją systemu.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Książek Technicznych SIGMA-NOT, 2007, s. 72-75, bibliogr. 12 poz. (Elektronika ; R. 48, nr 11 0033-2089)

analogowy układ elektroniczny ; optymalna częstotliwość

analog electronic circuit ; optimal frequency

53/76
Nr opisu: 0000031051
Ewolucyjny dobór częstotliwości sygnałów testujących z rozmytą inicjalizacją systemu.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 101-106, bibliogr. 12 poz.

diagnostyka układów analogowych ; obliczenia ewolucyjne ; zbiór rozmyty ; testowanie układu analogowego ; optymalizacja ewolucyjna

analog circuit diagnosis ; evolutionary computation ; fuzzy set ; analogue circuit testing ; evolutionary optimization ; evolutionary computations

54/76
Nr opisu: 0000032118
Ewolucyjny projektant filtrów.
[Aut.]: Tomasz Golonek, S. Fedrizzi, Damian Grzechca.
W: VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Książek Technicznych SIGMA-NOT, 2007, s. 58-61, bibliogr. 10 poz. (Elektronika ; R. 48, nr 11 0033-2089)

analogowy układ elektroniczny ; ewolucyjny system optymalizacji

analog electronic circuit ; evolutionary optimization system

55/76
Nr opisu: 0000031058
Ewolucyjny projektant filtrów.
[Aut.]: Tomasz Golonek, S. Fedrizzi, Damian Grzechca.
W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 213-218, bibliogr. 10 poz.

transmitancja ; filtr analogowy ; genotyp ; fenotyp ; funkcja celu

transmittance ; analog filter ; genotype ; phenotype ; objective function

56/76
Nr opisu: 0000031891
Gene expression programming-based method of optimal frequency set determination for purpose of analogue circuits' diagnosis.
[Aut.]: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Computer recognition systems 2. Eds: M. Kurzynski [et al.]. Berlin : Springer-Verlag, 2007, s. 794-801, bibliogr. 5 poz. (Advances in Soft Computing ; vol. 45 1615-3871)

57/76
Nr opisu: 0000039010
Genetic-algorithm-based method for optimal analog test points selection.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
-IEEE Trans. Circuits Syst., II 2007 vol. 54 iss. 2, s. 117-121, bibliogr. 21 poz.. Impact Factor 1.104

układ antenowy ; analogowy system testowania ; testowalność ; algorytm genetyczny

analog circuit ; analog system testing ; design for testability ; genetic algorithm

58/76
Nr opisu: 0000032122
Moduł czytnika kart zbliżeniowych pracujący z częstotliwością 13,56 MHz.
[Aut.]: Damian Grzechca, P. Tatar, Tomasz Golonek.
W: VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Książek Technicznych SIGMA-NOT, 2007, s. 96-99, bibliogr. 4 poz. (Elektronika ; R. 48, nr 11 0033-2089)

RFID ; czytnik kart zbliżeniowych

RFID ; proximity card reader

59/76
Nr opisu: 0000031028
Moduł czytnika kart zbliżeniowych pracujący z częstotliwością 13.56 MHz.
[Aut.]: Damian Grzechca, P. Tatar, Tomasz Golonek.
W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 2. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 481-486, bibliogr. 4 poz.

RFID ; karta zbliżeniowa ; czytnik kart ; czytnik

RFID ; smart card ; card reader ; contactless smart card ; reader device

60/76
Nr opisu: 0000039873
Simulated annealing with fuzzy fitness function for test frequencies selection.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: 2007 IEEE International Fuzzy Systems Conference. FUZZ-IEEE 2007, London, UK, July 23-26, 2007. [Dokument elektroniczny]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-6, bibliogr. 8 poz.

testowanie układu ; diagnostyka uszkodzeń ; teoria zbiorów rozmytych ; symulowane wyżarzanie

circuit testing ; fault diagnosis ; fuzzy set theory ; simulated annealing

61/76
Nr opisu: 0000039872
The use of simulated annealing with fuzzy objective function to optimal frequency selection for analog circuit diagnosis.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems. ICECS 2007, Marrakech, Morocco, December 11-14, 2007. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, s. 899-902, bibliogr. 9 poz.

układ analogowy ; niezawodność obwodu ; diagnostyka uszkodzeń ; teoria zbiorów rozmytych

analogue circuit ; circuit reliability ; fault diagnosis ; fuzzy set theory

62/76
Nr opisu: 0000032124
Wykorzystanie metody symulowanego wyżarzania do doboru optymalnego pobudzenia testującego analogowe układy elektroniczne.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Książek Technicznych SIGMA-NOT, 2007, s. 121-124, bibliogr. 5 poz. (Elektronika ; R. 48, nr 11 0033-2089)

wyżarzanie symulowane ; analogowy układ elektroniczny

simulated annealing ; analog electronic circuit

63/76
Nr opisu: 0000031049
Wykorzystanie metody symulowanego wyżarzania do doboru optymalnego pobudzenia testującego analogowe układy elektroniczne.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek.
W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 83-88, bibliogr. 5 poz.

symulowane wyżarzanie ; optymalizacja pobudzenia ; testowanie układu analogowego ; diagnostyka układów analogowych ; algorytm symulowanego wyżarzania

simulated annealing ; optimization of excitation ; analogue circuit testing ; simulated annealing algorithm ; analog circuit diagnosis

64/76
Nr opisu: 0000031165
Analog fault AC dictionary creation - the fuzzy set approach.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: 2006 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS 2006, Island of Kos, May 21-24, 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, s. 5744-5747, bibliogr. 4 poz.

testowanie układu ; słownik ; sprzęt elektroniczny ; częstotliwość ; teoria zbiorów rozmytych ; wytwarzanie ; macierz rzadka

circuit testing ; dictionary ; electronic equipment ; frequency ; fuzzy set theory ; manufacturing

65/76
Nr opisu: 0000031164
Application of genetic programming to edge detector design.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: 2006 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS 2006, Island of Kos, May 21-24, 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, s. 4683-4686, bibliogr. 7 poz.

pomiar prądu ; detektor ; programowanie genetyczne ; przetwarzanie obrazu ; piksel ; układ logiki programowalnej ; proces stochastyczny ; transmitancja operatorowa

current measurement ; detector ; genetic programming ; image processing ; pixel ; programmable logic device ; stochastic process ; transfer function

66/76
Nr opisu: 0000031163
Evolutionary method for test frequencies selection based on entropy index an ambiguity sets.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'06, Łódź, Poland, September 17-20, 2006. Conference proceedings. Institute of Circuit Theory, Metrology and Materials Science of the Technical Unifersity of Łódź, Poland [et al.]. [Łódź] : [Instytut Elektrotechniki Teoretycznej, Metrologii i Materiałoznawstwa Politechniki Łódzkiej], [2006], s. 511-514

67/76
Nr opisu: 0000031753
Ewolucyjny detektor krawędzi.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
W: Piąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 12-14 czerwca 2006]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2006, s. 105-110, bibliogr. 5 poz.

68/76
Nr opisu: 0000031746
Konstrukcja rozmytego słownika uszkodzeń z wykorzystaniem rzadkości macierzy wrażliwości do testowania w dziedzinie częstotliwości.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Piąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 12-14 czerwca 2006]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2006, s. 87-92, bibliogr. 4 poz.

69/76
Nr opisu: 0000017970
Use of the Multi Layer Perceptron to analog fault functional test creation.
[Aut.]: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski, Tomasz Golonek.
W: Proceedings of IFAC Workshop on Programmable Devices and Embedded Systems. PDeS 2006, Brno, February 14th - 16th, 2006. [Brno] : [Brno University of Technology], [2006], s. 352-355, bibliogr. 6 poz.

70/76
Nr opisu: 0000016941
Creation of functional test - the neural network utilization.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Methods of artificial intelligence. AI-METH 2005. [Proceedings of the Symposium on Methods of Artificial Intelligence AI-METH 2005 and the Workshop on Knowledge Acquisition in Mechanical Engineering, Gliwice, Poland, 16-18 November 2005]. Eds: T. Burczyński, W. Cholewa, W. Moczulski. Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, Polish Association for Computational Mechanics. [Gliwice] : Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, 2005, s. 57-58, bibliogr. 5 poz.

sieć neuronowa ; perceptron wielowarstwowy ; analogowe wykrywanie usterek ; diagnostyka układów analogowych ; wykrywanie błędów

neural network ; multilayer perceptron ; analog faults detection ; analog fault diagnosis ; fault detection

71/76
Nr opisu: 0000017094
Creation of functional test - the neural network utilization.
[Aut.]: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Recent developments in artificial intelligence methods. AI-METH 2005. Eds: T. Burczyński, W. Cholewa, W. Moczulski. Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, Polish Association for Computational Mechanics. Gliwice : Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, 2005, s. 95-98, bibliogr. 8 poz.
pełny tekst na CD-ROM

sieć neuronowa ; perceptron wielowarstwowy ; analogowe wykrywanie usterek ; diagnostyka układów analogowych

neural network ; multilayer perceptron ; analog faults detection ; analog fault diagnosis

72/76
Nr opisu: 0000013970
Zastosowanie ewolucji różnicowej do projektowania odcinkowo-liniowego pobudzenia testującego analogowe układy elektroniczne.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 151-156, bibliogr. 7 poz.

diagnostyka układów analogowych ; pobudzenie testujące ; ewolucja różnicowa ; populacja ; genotyp

analog circuit diagnosis ; testing stimuli ; differential evolution ; population ; genotype

73/76
Nr opisu: 0000013973
Zastosowanie teorii zbiorów rozmytych oraz rzadkości macierzy wrażliwości do detekcji i lokalizacji uszkodzeń w układach analogowych.
[Aut.]: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski, Tomasz Golonek.
W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 169-174, bibliogr. 5 poz.

teoria zbiorów rozmytych ; detekcja uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; układ analogowy ; wrażliwość

fuzzy set theory ; fault detection ; fault localization ; analogue circuit ; sensitivity

74/76
Nr opisu: 0000009232
Application of genetic programming to analog fault decoder design.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: Proceedings of the 16th European Conference on Circuits Theory and Design. ECCTD'03, Cracow, Poland, September 1st-4th, 2003. Vol. 2. Eds: Z. Galias [i in.]. Kraków : Wydaw. Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica, s. II-113-116, bibliogr. 6 poz.

75/76
Nr opisu: 0000009178
Strategia ewolucyjna doboru optymalnego skokowego pobudzenia testującego.
[Aut.]: Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
W: II Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2003, Kołobrzeg, 9-12 czerwca 2003. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2003, s. 235-240, bibliogr. 5 poz.

76/76
Nr opisu: 0000013074
Wykorzystanie ewolucyjnych technik obliczeniowych do projektowania i diagnozowania analogowych układów elektronicznych. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Tomasz Golonek.
Gliwice, 2003, 98 s., bibliogr. 53 poz.
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Promotor: dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski

elektronika analogowa ; układ elektroniczny ; diagnostyka układów analogowych ; ewolucyjne techniki obliczeniowe ; programowanie genetyczne

analogue electronics ; electronic system ; analog circuit diagnosis ; evolutionary computational techniques ; genetic programming

stosując format: