Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
GARBOLINO TOMASZ
Liczba odnalezionych rekordów:
71
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/71
Nr opisu:
0000124788
A method to support diagnostics of dynamic faults in networks of interconnections.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
.
-
Int. J. Electron. Telecommun.
2018 vol. 64 nr 3
, s. 407-420, bibliogr. 20 poz..
Punktacja MNiSW
15.000
sieć połączeń
;
system-on-chip
;
diagnostyka
;
MISR
;
kompakcja
;
sygnatura
;
chińskie twierdzenie o resztach
network of interconnections
;
system-on-chip
;
diagnostics
;
MISR
;
compaction
;
signature
;
Chinese Remainder Theorem
2/71
Nr opisu:
0000117924
Testowanie i diagnostyka połączeń między modułami cyfrowymi w systemach scalonych. Wybrane zagadnienia.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2017, 262 s., bibliogr. 242 poz.
(
Monografia
;
[Politechnika Śląska]
nr 659).
Punktacja MNiSW
80.000
System on Chip
;
uszkodzenia połączeń
;
testowanie połączeń
;
diagnostyka uszkodzeń
;
liniowy rejestr pierścieniowy
system-on-chip
;
faults of interconnections
;
interconnection testing
;
fault diagnosis
;
ring LFSR
3/71
Nr opisu:
0000113630
Wybrane metody testowania i diagnostyki połączeń między modułami systemów cyfrowych.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
.
W:
Prace Komisji Naukowych
. z. 39-40. Katowice : Polska Akademia Nauk. Oddział w Katowicach, 2016
, s. 327-331
system cyfrowy
;
testowanie
;
diagnostyka
digital system
;
testing
;
diagnosis
4/71
Nr opisu:
0000099068
New structure of test pattern generator stimulating crosstalks in bus-type connections.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
.
-
Int. J. Electron. Telecommun.
2015 vol. 61 no. 1
, s. 67-75, bibliogr. 38 poz..
Punktacja MNiSW
15.000
zintegrowane połączenia obwodu
;
przesłuch
;
generator obrazu kontrolnego
;
wbudowane samotestowanie
;
System on Chip
integrated circuit interconnections
;
crosstalk
;
test pattern generator
;
built-in self test
;
system-on-chip
5/71
Nr opisu:
0000091808
Designing of test pattern generators for stimulation of crosstalk faults in bus-type connections.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
.
W:
Proceedings of the 2014 IEEE 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
. DDECS, Warsaw, Poland, April 23-25, 2014. Eds.: Witold Pleskacz, Michel Renovell, Dominik Kasprowicz, Lukas Sekanina, Serge Bernard. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014
, s. 270-273, bibliogr. 22 poz.
układ scalony
;
przesłuch
;
generator obrazu kontrolnego
;
system jednoukładowy
;
wbudowane samotestowanie
integrated circuit
;
crosstalk
;
test pattern generator
;
System on Chip
;
built-in self test
6/71
Nr opisu:
0000076481
Podstawy techniki cyfrowej. Przykłady zadań egzaminacyjnych.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Andrzej**
Hławiczka
, Józef
Kulisz
, Tomasz
Rudnicki
, Dariusz*
Stachańczyk
.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2012, 334 s.
Skrypt nr 2505
układ cyfrowy
;
układ kombinacyjny
;
układ sekwencyjny
;
układ asynchroniczny
;
układ synchroniczny
;
zadania
digital circuit
;
combinational circuit
;
sequential circuit
;
asynchronous circuit
;
synchronous circuit
;
exercises
7/71
Nr opisu:
0000069622
Analysis of operation of ring LFSR used for testing of unidirectional interleaved interconnections.
[Aut.]: Krzysztof*
Gucwa
, Tomasz
Garbolino
, Andrzej**
Hławiczka
.
-
Elektronika
2011 R. 52 nr 12
, s. 50-53, bibliogr. 12 poz..
Punktacja MNiSW
6.000
testowanie połączeń
;
rejestr pierścieniowy LFSR
;
BIST
;
rejestr XR-LFSR
interconnection testing
;
ring LFSR
;
BIST
;
XR-LFSR register
8/71
Nr opisu:
0000081582
Analysis of operation of ring LFSR used for testing of unidirectional interleaved interconnections.
[Aut.]: Krzysztof*
Gucwa
, Tomasz
Garbolino
, Andrzej**
Hławiczka
.
W:
Mixed design of integrated circuits and systems
. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2011
, dysk optyczny (CD-ROM) s. 479-484, bibliogr. 17 poz.
BIST
;
IBIST
;
XR-LFSR
;
połączenie BIST
;
test połączeń
BIST
;
IBIST
;
XR-LFSR
;
interconnect BIST
;
interconnect test
;
R-LFSR
9/71
Nr opisu:
0000081926
Optimal on-line built-in self-test structure for system-reliability improvement.
[Aut.]: G.
Papa
, Tomasz
Garbolino
.
W:
IEEE Congress on Evolutionary Computation, New Orleans, June 5-8, 2011
. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011
, s. 222-229, bibliogr. 29 poz.
generator obrazu kontrolnego
;
algorytm genetyczny
;
obwód
;
sprzęt komputerowy
test pattern generator
;
genetic algorithm
;
circuit
;
hardware
10/71
Nr opisu:
0000083214
Stochastic approach to test pattern generator design.
[Aut.]: G.
Papa
, Tomasz
Garbolino
.
W:
Stochastic optimization - seeing the optimal for the uncertain
. Ed. by Ioannis Dritsas. Rijeka : InTech, 2011
, s. 75-94, bibliogr. 37 poz.
11/71
Nr opisu:
0000063710
Sygnaturowy słownik diagnostyczny o niewielkich rozmiarach wykorzystywany w testowaniu połączeń.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Krzysztof*
Gucwa
, Andrzej**
Hławiczka
.
-
Pomiary Autom. Kontr.
2011 vol. 57 nr 1
, s. 52-54, bibliogr. 10 poz..
Punktacja MNiSW
7.000
słownik diagnostyczny
;
testowanie połączeń
;
liniowy rejestr pierścieniowy
;
R-LFSR
;
diagnostyka uszkodzeń
diagnostic dictionary
;
interconnection testing
;
Ring Linear Feedback Shift Register
;
R-LFSR
;
fault diagnosis
12/71
Nr opisu:
0000063532
Genetic algorithm for test pattern generator design. Automatic evolution of circuits.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, G.
Papa
.
-
Appl. Intell.
2010 vol. 32 nr 2
, s. 193-204, bibliogr. 42 poz..
Impact Factor
0.893
optymalizacja
;
algorytm genetyczny
;
projekt
;
generator obrazu kontrolnego
optimization
;
genetic algorithm
;
design
;
test pattern generator
13/71
Nr opisu:
0000063344
How to reduce size of a signature-based diagnostic dictionary used for testing of connections.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Krzysztof*
Gucwa
, Andrzej**
Hławiczka
.
W:
Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
. [DDECS 2010], Vienna, Austria, April 14-16, 2010. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010
, s. 201-204, bibliogr. 13 poz.
BIST
;
IBIST
;
słownik diagnostyczny
;
testowanie połączeń
;
rejestr pierścieniowy LFSR
;
podpis
BIST
;
IBIST
;
diagnostic dictionary
;
interconnection testing
;
ring LFSR
;
signature
14/71
Nr opisu:
0000058757
Laboratorium podstaw techniki cyfrowej. Praca zbiorowa. Pod red. Andrzeja Hławiczki.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Krzysztof*
Gucwa
, Andrzej**
Hławiczka
, Dariusz
Kania
, J.
Kardaszewicz
, Józef
Kulisz
, Adam**
Morawiec
. Wyd. 3 popr..
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2010, 268 s., bibliogr.
Skrypt nr 2458
układ cyfrowy
;
układ sekwencyjny
;
układ kombinacyjny
;
synteza układów cyfrowych
;
przerzutnik
digital circuit
;
sequential circuit
;
combinational circuit
;
synthesis of digital circuits
;
flip-flop
15/71
Nr opisu:
0000068979
Reduced-size signature-based diagnostic dictionary for interconnection testing, programmable devices and embedded systems.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Krzysztof*
Gucwa
, Andrzej**
Hławiczka
.
W:
Proceedings of IFAC Workshop on Programmable Devices and Embedded Systems
. PDeS 2010, Pszczyna, Poland, 6-8 October 2010. Gliwice : Institute of Electronics, 2010
, s. 103-108
16/71
Nr opisu:
0000061262
Testing of crosstalk-type dynamic faults in interconnection networks with use of ring LFSRs.
[Aut.]: Andrzej**
Hławiczka
, Krzysztof*
Gucwa
, Tomasz
Garbolino
, M.
Kopeć
.
-
Prz. Elektrot.
2010 R. 86 nr 11a
, s. 133-137, bibliogr. 22 poz..
Impact Factor
0.242
liniowy rejestr pierścieniowy
;
generator obrazu kontrolnego
;
system jednoukładowy
;
przesłuchy
;
sieć połączeń
linear ring register
;
test pattern generator
;
System on Chip
;
crosstalks
;
interconnection network
17/71
Nr opisu:
0000063175
Testing of interconnections with use of reduced-size signature-based diagnostic dictionary.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Krzysztof*
Gucwa
, Andrzej**
Hławiczka
.
W:
Mixed design of integrated circuits and systems
. MIXDES 2010. Proceedings of the 17th international conference, Wrocław, Poland, 24-26 June 2010. Ed. by A. Napieralski. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2010
, s. 486-491, bibliogr. 13 poz.
testowanie połączeń
;
BIST
;
rejestr pierścieniowy LFSR
;
sygnatura
;
słownik diagnostyczny
interconnection testing
;
BIST
;
ring LFSR
;
signature
;
diagnostic dictionary
18/71
Nr opisu:
0000062418
Testing of interconnections with use of reduced-size signature-based diagnostic dictionary.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Krzysztof*
Gucwa
, Andrzej**
Hławiczka
.
-
Elektronika
2010 R. 51 nr 11
, s. 15-18, bibliogr. 8 poz.
słownik diagnostyczny
;
testowanie połączeń
;
liniowy rejestr pierścieniowy
;
diagnostyka uszkodzeń
;
R-LFSR
diagnostic dictionary
;
interconnection testing
;
Ring Linear Feedback Shift Register
;
fault diagnosis
;
R-LFSR
19/71
Nr opisu:
0000059176
An Interconnect BIST for crosstalk faults based on a Ring LFSR.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Krzysztof*
Gucwa
, Andrzej**
Hławiczka
, M.
Kopeć
.
W:
Proceedings of IEEE East-West Design and Test Symposium
. EWDTS'09, Moscow, Russia, September 18-21, 2009. Moscow : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009
, s. 381-384
20/71
Nr opisu:
0000056440
Effective BIST for crosstalk faults in interconnects.
[Aut.]: Tomasz
Rudnicki
, Tomasz
Garbolino
, Krzysztof*
Gucwa
, Andrzej**
Hławiczka
.
W:
Proceedings of the 2009 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
. DDECS'2009, Liberec, Czech Republic, April 15-17, 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009
, s. 164-169, bibliogr. 29 poz.
interkonekt
;
przesłuch
;
błąd dynamiczny
;
tester wbudowany
;
IBIST
;
LFSR
interconnect
;
crosstalk
;
dynamic fault
;
Interconnect Built-In Self-Test
;
IBIST
;
LFSR
21/71
Nr opisu:
0000055003
Evolutionary-based artificial intelligence approach to the test pattern generator design.
[Aut.]: G.
Papa
, Tomasz
Garbolino
.
W:
Recent developments in artificial intelligence methods
. AI-METH 2009. Eds: T. Burczyński, W. Cholewa, W. Moczulski. Silesian University of Technology. Faculty of Mechanical Engineering. Department of Fundamentals of Machinery Design. Department of Strength of Materials and Computational Mechanics. Gliwice : Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, 2009
, s. 235-246, bibliogr. 22 poz.
optymalizacja
;
sztuczna inteligencja
;
algorytm genetyczny
;
projekt
;
BIST
optimization
;
artificial intelligence
;
genetic algorithm
;
design
;
BIST
22/71
Nr opisu:
0000051797
On the use of Ring LFSR based BIST for detection, identification and localization of static and dynamic faults in interconnects.
[Aut.]: Andrzej**
Hławiczka
, Krzysztof*
Gucwa
, Tomasz
Garbolino
.
-
Theor. Appl. Informat.
2009 vol. 21 no. 1
, s. 23-36, bibliogr. 17 poz.
testowanie połączeń
;
BIST
;
analiza sygnaturowa
;
LFSR
;
liniowy rejestr pierścieniowy
;
diagnostyka uszkodzeń
interconnection testing
;
BIST
;
signature analysis
;
LFSR
;
Ring Linear Feedback Shift Register
;
fault diagnosis
23/71
Nr opisu:
0000059076
Skuteczny generator testów dla przesłuchów w połączeniach.
[Aut.]: Tomasz
Rudnicki
, Tomasz
Garbolino
, Krzysztof*
Gucwa
, Andrzej**
Hławiczka
.
W:
Informatyka - sztuka czy rzemiosło
. KNWS'09, Rydzyna, 3-5 czerwca 2009. Materiały 6. konferencji naukowej. Preprint. Zielona Góra : Instytut Informatyki i Elektroniki. Wydział Elektrotechniki, Informatyki i Telekomunikacji. Uniwersytet Zielonogórski, 2009
, s. 60-62, bibliogr. 14 poz.
rejestr liniowy
;
przesłuchy
;
BIST
;
rejestr LFSR
;
system jednoukładowy
;
SoC
;
sieć połączeń
linear register
;
crosstalks
;
BIST
;
LFSR register
;
System on Chip
;
SoC
;
interconnection network
24/71
Nr opisu:
0000049583
Skuteczny generator testów dla przesłuchów w połączeniach.
[Aut.]: Tomasz
Rudnicki
, Tomasz
Garbolino
, Krzysztof*
Gucwa
, Andrzej**
Hławiczka
.
-
Pomiary Autom. Kontr.
2009 vol. 55 nr 7
, s. 432-434, bibliogr. 14 poz.
LFSR
;
sieć połączeń
;
system jednoukładowy
;
przesłuchy
;
metoda test-per-clock
;
BIST
LFSR
;
interconnection network
;
System on Chip
;
crosstalks
;
test-per-clock method
;
BIST
25/71
Nr opisu:
0000056505
Testing of crosstalk-type dynamic faults in interconnection networks with use of ring LFSRs.
[Aut.]: Andrzej**
Hławiczka
, Krzysztof*
Gucwa
, Tomasz
Garbolino
, M.
Kopeć
.
W:
Mixed design of integrated circuits and systems
. MIXDES 2009. Proceedings of the 16th international conference, Łódź, Poland, 25-27 June, 2009. [Ed. by A. Napieralski]. Łódź : Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych, 2009
, s. 530-535
26/71
Nr opisu:
0000050838
Testowanie dynamicznych uszkodzeń typu przesłuchy w sieciach połączeń przy użyciu rejestrów pierścieniowych R-LFSR.
[Aut.]: Andrzej**
Hławiczka
, Krzysztof*
Gucwa
, Tomasz
Garbolino
.
-
Pomiary Autom. Kontr.
2009 vol. 55 nr 8
, s. 572-574, bibliogr. 8 poz.
generator obrazu kontrolnego
;
liniowy rejestr pierścieniowy
;
przesłuchy
;
sieć połączeń
;
BIST
;
LFSR
;
R-LFSR
test pattern generator
;
linear ring register
;
crosstalks
;
interconnection network
;
BIST
;
LFSR
;
R-LFSR
27/71
Nr opisu:
0000047669
A new approach to optimization of test pattern generator structure.
[Aut.]: G.
Papa
, Tomasz
Garbolino
.
-
Inf. MIDEM
2008 vol. 38 nr 1
, s. 26-30, bibliogr. 30 poz..
Impact Factor
0.154
28/71
Nr opisu:
0000051249
Application of modified ring LFSRs for interconnect faults detection.
[Aut.]: Andrzej**
Hławiczka
, Krzysztof*
Gucwa
, Tomasz
Garbolino
, M.
Kopeć
.
W:
Mixed design of integrated circuits and systems
. MIXDES 2008. Proceedings of the 15th international conference, Poznań, Poland, 19-21 June, 2008. [Ed. by A. Napieralski]. Łódź : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2008
, s. 487-492, bibliogr. 16 poz.
test połączeń
;
wbudowane samotestowanie
;
BIST
;
połączenie BIST
;
IBIST
interconnect test
;
built-in self test
;
BIST
;
interconnect BIST
;
IBIST
29/71
Nr opisu:
0000047708
Deterministic test pattern generator design.
[Aut.]: G.
Papa
, Tomasz
Garbolino
, F.
Novak
.
W:
Applications of evolutionary computing
. EvoWorkshops 2008, Naples, Italy, March 26-28, 2008. Proceedings. Eds: M. Giacobini [et al.]. Berlin : Springer, 2008
, s. 204-213 (
Lecture Notes in Computer Science
; vol. 4974 0302-9743)
30/71
Nr opisu:
0000083217
Evolutionary-based design of deterministic test pattern.
[Aut.]: G.
Papa
, Tomasz
Garbolino
.
W:
Artificial intellgence
. New research. Eds. Randal B. Bernstein, Wesley N. Curtis. New York : Nova Science Publishers, 2008
, s. 415-428, bibliogr. 34 poz.
31/71
Nr opisu:
0000048018
Interconnect faults identification and localization using modified ring LFSRs.
[Aut.]: Andrzej**
Hławiczka
, Krzysztof*
Gucwa
, Tomasz
Garbolino
, M.
Kopeć
.
W:
2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008
. Proceedings. Eds: B. Straube [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008
, s. 247-250, bibliogr. 12 poz.
LFSR
;
diagnostyka błędów
;
przesłuch
;
wykrywanie błędów
LFSR
;
fault diagnosis
;
crosstalk
;
fault detection
32/71
Nr opisu:
0000039319
On application of polynomial algebra for identification of dynamic faults in interconnects.
[Aut.]: M.
Kopeć
, Tomasz
Garbolino
, Krzysztof*
Gucwa
, Andrzej**
Hławiczka
.
-
Kwart. Elektron. Telekom.
2008 t. 54 z. 1
, s. 29-41, bibliogr. 13 poz.
tester wbudowany
;
IBIST
;
uszkodzenie
;
chińskie twierdzenie o resztach
;
częstotliwość operacyjna
Interconnect Built-In Self-Test
;
IBIST
;
fault
;
Chinese Remainder Theorem
;
operating frequency
33/71
Nr opisu:
0000039320
On design of high speed test pattern generators based on ring LFSRs.
[Aut.]: Andrzej**
Hławiczka
, Tomasz
Garbolino
.
-
Kwart. Elektron. Telekom.
2008 t. 54 z. 1
, s. 43-51, bibliogr. 8 poz.
liniowy rejestr pierścieniowy
;
LFSR
linear ring register
;
LFSR
34/71
Nr opisu:
0000047703
Test pattern generator design optimization based on genetic algorithm.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, G.
Papa
.
W:
New frontiers in applied artificial intelligence
. 21th International Conference on Industrial, Engineering and Other Applications of Applied Intelligent Systems. IEA/AIE 2008, Wroclaw, Poland, June 18-20, 2008. Proceedings. Eds: Ngoc Thanh Nguyen [et al.]. Berlin : Springer, 2008
, s. 580-589 (
Lecture Notes in Computer Science
; vol. 5027 0302-9743)
35/71
Nr opisu:
0000039950
Zastosowanie liniowych rejestrów pierścieniowych do testowania połączeń w układach FPGA.
[Aut.]: Andrzej**
Hławiczka
, Krzysztof*
Gucwa
, Tomasz
Garbolino
.
-
Pomiary Autom. Kontr.
2008 vol. 54 nr 8
, s. 594-597, bibliogr. 11 poz.
liniowy rejestr pierścieniowy
;
testowanie połączeń
;
lokalizacja uszkodzeń
;
identyfikacja uszkodzeń
;
sygnatura
;
słownik diagnostyczny
;
układ FPGA
Ring Linear Feedback Shift Register
;
interconnection testing
;
fault location
;
damage identification
;
signature
;
diagnostic dictionary
;
Field Programmable Gate Array
36/71
Nr opisu:
0000031627
Avoiding crosstalk influence on interconnect delay fault testing.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Krzysztof*
Gucwa
, M.
Kopeć
, Andrzej**
Hławiczka
.
W:
Proceedings of the 2007 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Kraków, Poland, April 11-13, 2007
. Eds: P. Girard [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007
, s. 149-152, bibliogr. 10 poz.
37/71
Nr opisu:
0000031907
Crosstalk-insensitive method for testing of delay faults in interconnects between cores in SoCs.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Krzysztof*
Gucwa
, M.
Kopeć
, Andrzej**
Hławiczka
.
W:
Mixed design of integrated circuits and systems
. MIXDES 2007. Proceedings of the 14th international conference, Ciechocinek, Poland, 21-23 June 2007. Ed. by A. Napieralski. [Łódź] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2007
, s. 496-500, bibliogr. 10 poz.
test połączeń
;
uszkodzenie opóźnieniowe
;
przesłuch
;
lokalizacja uszkodzeń
;
identyfikacja uszkodzeń
;
metoda test-per-clock
interconnect test
;
delay fault
;
crosstalk
;
fault location
;
fault identification
;
test-per-clock method
38/71
Nr opisu:
0000039291
Deterministic test pattern generator design with genetic algorithm approach.
[Aut.]: G.
Papa
, Tomasz
Garbolino
, F.
Novak
, Andrzej**
Hławiczka
.
-
J. Electr. Eng.
2007 vol. 58 no. 3
, s. 121-127, bibliogr. 15 poz.
39/71
Nr opisu:
0000039875
On design of ring LFSRs and MISRs.
[Aut.]: Andrzej**
Hławiczka
, Tomasz
Garbolino
.
W:
Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium
. EWDTS'07, Yerevan, Armenia, September 7-10, 2007. Kharkov National University of Radioelectronics. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007
, s. 27-34, bibliogr. 5 poz.
40/71
Nr opisu:
0000040675
Proceedings of the 2007 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Kraków, Poland, April 11-13, 2007. Eds: Patrick Girard, Andrzej Kraśniewki, Elena Gramatova, Adam Pawlak, Tomasz Garbolino.
Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007
41/71
Nr opisu:
0000040204
Reliable measurement of interconnect delays in presence of crosstalk-induced noise.
[Aut.]: M.
Kopeć
, Tomasz
Garbolino
, Krzysztof*
Gucwa
, Andrzej**
Hławiczka
.
W:
12th IEEE European Test Symposium
. ETS '07, Freiburg, Germany, May 20-24, 2007. Informal digest of papers. [B.m.] : [b.w.], 2007
, s. 167-172
42/71
Nr opisu:
0000025294
Detection, localisation and identification of interconnection faults using MISR compactor.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, M.
Kopec
, Krzysztof*
Gucwa
, Andrzej**
Hławiczka
.
W:
IEEE design and diagnostics of electronic circuits and systems, April 18-21, 2006
. [B.m.] : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006
, s. 228-229, bibliogr. 9 poz.
43/71
Nr opisu:
0000029027
Multi-signature analysis for interconnect test.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, M.
Kopeć
, Krzysztof*
Gucwa
, Andrzej**
Hławiczka
.
W:
Mixed design of integrated circuits and systems
. MIXDES 2006. Proceedings of the international conference, Gdynia, Poland, 22-24 June 2006. Ed. by A. Napieralski. [Łódź] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2006
, s. 577-582, bibliogr. 15 poz.
44/71
Nr opisu:
0000021755
On the use of multi-signature analysis for interconnect test.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, M.
Kopeć
, Krzysztof*
Gucwa
, Andrzej**
Hławiczka
.
-
Elektronika
2006 R. 47 nr 10
, s. 16-18
45/71
Nr opisu:
0000025287
Test-per-clock detection, localization and identification of interconnect faults.
[Aut.]: M.
Kopec
, Tomasz
Garbolino
, Krzysztof*
Gucwa
, Andrzej**
Hławiczka
.
W:
Eleventh IEEE European Test Symposium
. ETS 2006, Southampton, United Kingdom, 21-24 May 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006
, s. 233-238, bibliogr. 18 poz.
46/71
Nr opisu:
0000021969
Bist built-in self test.
[Aut.]: O.
Novak
, V.
Drabek
, Andrzej**
Hławiczka
, Krzysztof*
Gucwa
, Tomasz
Garbolino
.
W:
Handbook of testing electronic systems
. Eds: O. Novak [et al.]. [Praha] : Czech Technical University Publishing House, 2005
, s. 227-299
47/71
Nr opisu:
0000020264
Can a D flip-flop based MISR compactor reliability detect interconnect faults?.
[Aut.]: Andrzej**
Hławiczka
, Krzysztof*
Gucwa
, Tomasz
Garbolino
, M.
Kopeć
.
W:
Proceedings of 8th IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
. DDECS 2005, Sopron, Hungary, April 13-16, 2005. Eds: G. Takach [et al.]. Sopron : University of West Hungary, 2005
, s. 2-10
48/71
Nr opisu:
0000020262
On design of a low-area deterministic test pattern generator by the use of genetic algorithm.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Andrzej**
Hławiczka
, G.
Papa
, F.
Novak
.
W:
The experience of designing and application of CAD
. Proceedings of the VIIIth International Conference CADSM 2005, Lviv - Polyana, Ukraine, 23-26 February 2005. Lviv : Publishing House of Lviv Polytechnic National University, 2005
, s. 392-393
49/71
Nr opisu:
0000014398
On detection of interconnect faults by a MISR compactor - unknown problems and new solutions.
[Aut.]: Andrzej**
Hławiczka
, Krzysztof*
Gucwa
, Tomasz
Garbolino
, M.
Kopeć
.
-
Arch. Informat. Teor. Stosow.
2005 t. 17 z. 2
, s. 109-126, bibliogr. 19 poz.
BIST
;
generator obrazu kontrolnego
;
MISR
BIST
;
test pattern generator
;
MISR
50/71
Nr opisu:
0000086183
A new idea of test-per-clock interconnect BIST structure.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Andrzej**
Hławiczka
, Adam*
Kristof
.
W:
Proceedings of East-West Design & Test Workshop
. EWDTW'04, Yalta, Ukraine, September 23-26, 2004. Kharkov : Kharkov National University of Radioelectronics, 2004
, s. 23-29, bibliogr. 16 poz.
51/71
Nr opisu:
0000010639
A novel method of designing linear ring generators and compactors.
[Aut.]: Andrzej**
Hławiczka
, Tomasz
Garbolino
.
W:
Proceedings of IFAC Workshop on Programmable Devices and Systems
. PDS 2004, Cracow, November 18th -19th, 2004. [Gliwice] : [Instytut Elektroniki. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki Politechniki Śląskiej], [2004]
, s. 208-215, bibliogr. 5 poz.
liniowy rejestr pierścieniowy
;
rejestr pierścieniowy
;
wewnętrzne sprzężenie zwrotne
;
zewnętrzne sprzężenie zwrotne
;
przerzutnik
;
LUB wykluczające
;
wielomian
linear feedback shift register
;
ring register
;
internal feedback
;
external feedback
;
flip-flop
;
exclusive OR
;
polynomial
52/71
Nr opisu:
0000013844
Test pattern generator structure design by genetic algorithm.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, G.
Papa
, Andrzej**
Hławiczka
.
W:
Bioinspired optimization methods and their applications
. BIOMA 2004. Proceedings of the international conference, Ljubljana, Slovenia,11-12 October 2004. Eds: Bogdan Filipic, Jurij Silc. Ljubljana : Jozef Stefan Institute, 2004
, s. 115-126
53/71
Nr opisu:
0000012262
Test-per-clock logic BIST with semi-deterministic test patterns and zero-aliasing compactor.
[Aut.]: O.
Novak
, Z.
Pliva
, J.
Nosek
, Andrzej**
Hławiczka
, Tomasz
Garbolino
, Krzysztof*
Gucwa
.
-
J. Electron. Test.
2004 vol. 20 no. 1
, s. 109-122, bibliogr. 24 poz..
Impact Factor
0.480
wbudowane samotestowanie
;
metoda test-per-clock
;
kompresja obrazu testowego
built-in self test
;
test-per-clock method
;
test pattern compression
54/71
Nr opisu:
0000098366
Integration of a long pattern generator composed of T-type flip-flops into a scan path.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Andrzej**
Hławiczka
.
W:
IFAC Workshop on Programmable Devices and Systems
. PDS 2003, Ostrava, Czech Republik, February 11th-13th, 2003. Preprints. Ostrava : VSB - Technicka univerzita Ostrava, 2003
, s. 441-446, bibliogr. 7 poz.
generator obrazu kontrolnego
;
wbudowane samotestowanie
;
ścieżka skanowania
;
skanowanie w trybie quasi
;
przerzutnik
test pattern generator
;
built-in self test
;
scan path
;
quasi-scan mode
;
flip-flop
55/71
Nr opisu:
0000006309
Integration of a long test pattern generator composed of T-type flip-flops into a scan path.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Andrzej**
Hławiczka
.
W:
Programmable devices and systems 2003
. (PDS 2003). A proceedings volume from the 6th IFAC Workshop, Ostrava, Czech Republik, 11-13 February 2003. Ed. by: V. Srovnal, K. Vlcek. Oxford : Pergamon Press, 2003
, s. 281-286, bibliogr. 7 poz.
generator obrazu kontrolnego
;
wbudowane samotestowanie
;
ścieżka skanowania
;
skanowanie w trybie quasi
;
przerzutnik bistabilny typu T
test pattern generator
;
built-in self test
;
scan path
;
quasi-scan mode
;
T-type flip-flop
56/71
Nr opisu:
0000007306
Efficient test pattern generators based on specific cellular automata structures.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Andrzej**
Hławiczka
.
-
Microelectron. Reliab.
2002 vol. 42 iss. 6
, s. 975-983, bibliogr. 15 poz..
Impact Factor
0.593
57/71
Nr opisu:
0000000038
Laboratorium podstaw techniki cyfrowej. Praca zbiorowa. Pod red. A. Hławiczki.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Krzysztof*
Gucwa
, Andrzej**
Hławiczka
, Dariusz
Kania
, Jerzy*
Kardaszewicz
, Józef
Kulisz
, Adam**
Morawiec
.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2002, 274 s., bibliogr.
Skrypt nr 2297
58/71
Nr opisu:
0000012916
Liniowe generatory testów wykrywających uszkodzenia w samotestowalnych układach cyfrowych. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
.
Gliwice, 2002, 144 s., bibliogr. 144 poz.
Politechnika Śląska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Promotor: dr hab. inż. Andrzej** Hławiczka
59/71
Nr opisu:
0000004859
Laboratorium podstaw techniki cyfrowej. Praca zbiorowa. Pod red. A. Hławiczki.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Krzysztof*
Gucwa
, Andrzej**
Hławiczka
, Dariusz
Kania
, Jerzy*
Kardaszewicz
, Józef
Kulisz
, Adam**
Morawiec
.
Gliwice : Wydaw. Politechniki Śląskiej, 2001, 274 s., bibliogr.
Skrypt nr 2261
60/71
Nr opisu:
0000091812
Low hardware overhead deterministic logic BIST with zero-aliasing compactor.
[Aut.]: O.
Novak
, Andrzej**
Hławiczka
, Tomasz
Garbolino
, Krzysztof*
Gucwa
, J.
Nosek
, Z.
Pliva
.
W:
IEEE design and diagnostics of electronic circuits and systems - IEEE DDECS 2001
. Fourth International Workshop on IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Gyor, Hungary, April 18-20, 2001. Eds: J. Hlavicka [et al.]. Gyor : [b.w.], 2001
, s. 29-35, bibliogr. 21 poz.
61/71
Nr opisu:
0000000848
Using genetic algorithms to desing efficient built-in test pattern generators.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Norbert*
Henzel
, Andrzej**
Hławiczka
.
W:
IFAC Workshop on Programmable Devices and Systems
. PDS 2001, Gliwice, November 22nd - 23rd, 2001. Preprints. [B.m.] : [b.w.], [2001]
, s. 263-268, bibliogr. 19 poz.
62/71
Nr opisu:
0000003105
Deterministic TPG based on modified feedback shift register composed of D and T flip-flops.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Andrzej**
Hławiczka
.
W:
Proceedings of the International Conference on Signals and Electronic Systems
. ICSES '2000, Ustroń, Poland, 17-20 October 2000. [Gliwice] : [Institute of Electronics Silesian University of Technology], [2000]
, s. 195-200, bibliogr. 8 poz.
63/71
Nr opisu:
0000086181
Fast and low-area TPGs based on T-type flip-flops can be easily integrated to the scan path.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Andrzej**
Hławiczka
, Adam*
Kristof
.
W:
IEEE European Test Workshop
. ETW 2000, Cascais, Portugal, 23-26 May 2000. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2000
, s. 161-166, bibliogr. 8 poz.
64/71
Nr opisu:
0000117529
Initialisation of BIST circuits based on rule 60 Cellular Automata.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Andrzej**
Hławiczka
.
W:
IFAC Workshop on Programmable Devices and Systems (PDS 2000), Ostrava, Czech Republic, 8-9 February 2000
. Oxford : Elsevier, 2000
, s. 123-128, bibliogr. 9 poz. (
IFAC Proceedings Volumes
; vol. 33, iss. 1 1474-6670)
rejestr
;
stan początkowy
;
test
;
generowanie testów
;
testowalność
;
projektowanie VLSI
register
;
initial state
;
test
;
test generation
;
testability
;
design VLSI
65/71
Nr opisu:
0000002388
Ustawianie stanu początkowego liniowych generatorów testów zbudowanych w oparciu o przerzutniki T.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Andrzej**
Hławiczka
.
W:
Krajowe Sympozjum Telekomunikacji'2000, Akademia Techniczno-Rolnicza, Bydgoszcz, 6-8 września 2000
. [T.] A. Polska Akademia Nauk. Komitet Elektroniki i Telekomunikacji [i in.]. Warszawa : Instytut Telekomunikacji Politechniki Warszawskiej, 2000
, s. 271-279, bibliogr. 10 poz.
66/71
Nr opisu:
0000008460
A new LFSR with D and T flip-flops as an effective test pattern generator for VLSI circuits.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Andrzej**
Hławiczka
.
W:
Dependable computing
. Third European Dependable Computing Conference, Prague, Czech Republic, September 15-17, 1999. Proceedings. Eds: J. Hlavicka, E. Maehle, A. Pataricza. Berlin : Springer, 1999
, s. 321-338, bibliogr. 12 poz. (
Lecture Notes in Computer Science
; vol. 1667 0302-9743).
Impact Factor
0.872
67/71
Nr opisu:
0000129401
Synthesis and analysis of new LFSRs with D and T flip-flops, XOR and IOR gates.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Andrzej**
Hławiczka
.
W:
1. Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, Potsdam-Hermannswerder, vom 28. Februar bis 2. März
. Red.: H. T. Vierhaus, M. Gossel. Brandenburgische TU Cottbus. Technische Informatik, Universitat Potsdam. Institut fur Informatik. Cottbus : Universitatsbibliothek. Publikationsstelle, 1999
, s. 34-37, bibliogr. 9 poz.
68/71
Nr opisu:
0000091919
Test pattern generator for delay faults based on LFSR with D,T flip-flops and internal inverters.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Andrzej**
Hławiczka
.
W:
Design and diagnostics of electronic circuits and systems
. DDECS'98. Second International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Szczyrk, Poland, September 2-4, 1998. Proceedings. Eds: Andrzej Hławiczka, Andrzej Kraśniewski, Dariusz Badura. Gliwice : Silesian Technical University Press, 1998
, s. 153-160, bibliogr. 15 poz.
69/71
Nr opisu:
0000041886
ICs' output modification for interconnections testing purpose.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
, Adam*
Kristof
.
W:
International Conference on Programmable Devices and Systems
. PDS'96, Ostrava, Czech Republic, November 26-28, 1996. VSB Technical University Ostrava. Department of Electronics and Telecommunication. [B.m.] : [b.w.], 1996
, s. 101-107, bibliogr. 14 poz.
70/71
Nr opisu:
0000034915
Wbudowane generatory testów deterministycznych dla samotestowalnych układów ASIC.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
.
-
Elektronika
1996 R. 37 nr 6
, s. 21-26, bibliogr. 11 poz.
71/71
Nr opisu:
0000037044
Optimised synthesis of self-testable finite state machine using BIST-PAT structures in PLDs.
[Aut.]: Tomasz
Garbolino
.
W:
Programmable devices and systems
. PDS'95. International conference, Gliwice, Poland, 9-10.11.95. Conference proceedings. [B.m.] : [b.w.], 1995
, s. 51-58, bibliogr. 9 poz.
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie