Wyniki wyszukiwania

Wynik wyszukiwania

1/32
Nr opisu: 0000139111
All-optical transistor using deep-level defects in nitride semiconductors for room temperature optical computing.
[Aut.]: M. Matys, Alina Domanowska, Anna Michalewicz, Bogusława Adamowicz, T. Kachi.
-AIP Adv. 2020 vol. 10 iss. 10, s. 1-25, bibliogr. 25 poz.. Impact Factor 1.337. Punktacja MNiSW 70.000

2/32
Nr opisu: 0000131351
Homogeneity of sol-gel derived silica-titania waveguide films - spectroscopic and AFM studies.
[Aut.]: Paweł Karasiński, Alina Domanowska, E. Gondek, A. Sikora, Cuma Tyszkiewicz, M. Skolik.
-Opt. Laser Technol. 2020 vol. 121, art. no.105840 s. 1-8, bibliogr. 42 poz.. Impact Factor 3.233. Punktacja MNiSW 100.000

zol-żel ; powłoka krzemionkowo-tytanowa ; światłowód planarny ; jednorodność optyczna ; widmo odbiciowe ; metoda macierzy przejścia

sol-gel ; silica-titania film ; planar waveguide ; optical homogeneity ; reflectance spectra ; transfer matrix method

3/32
Nr opisu: 0000137502
Impact of surface treatment on the functional properties stainless steel for biomedical applications.
[Aut.]: Marcin Basiaga, Witold Walke, Magdalena Antonowicz, Wojciech Kajzer, Janusz Szewczenko, Alina Domanowska, Anna Michalewicz, Marek Szindler, Marcin Staszuk, M. Czajkowski.
-Materials 2020 vol. 13 iss. 21, s. 1-17, bibliogr. 24 poz.. Impact Factor 3.057. Punktacja MNiSW 140.000

powłoka cynkowa ; metoda ALD ; stal 316LVM ; piaskowanie

ZnO layers ; ALD method ; 316LVM steel ; sandblasting

4/32
Nr opisu: 0000136724
Implementation of the inductively coupled plasma etching processes for forming gallium nitride nanorods used in ultraviolet light-emitting diode technology.
[Aut.]: M. Ekielski, M. Wzorek, K. Gołaszewska, Alina Domanowska, A. Taube, M. Sochacki.
-J. Vac. Sci. Technol., B. 2020 vol. 38 iss. 4, s. 1-6, bibliogr. 25 poz.. Impact Factor 1.511. Punktacja MNiSW 70.000

5/32
Nr opisu: 0000128802
Chemical characterization of SiO₂:TiO₂ waveguide films using Auger electron spectroscopy.
[Aut.]: Alina Domanowska.
W: 18th Conference on Optical Fibers and Their Application, 20-23 November 2018, Naleczow, Poland. Eds.: Ryszard S. Romaniuk, Waldemar Wójcik, Andrzej Smolarz. Bellingham : SPIE, 2019, s. 1104507-1 - 1104507-5, bibliogr. 25 poz. (Proceedings of SPIE ; vol. 11045 0277-786X). Punktacja MNiSW 20.000

zol-żel ; cienka powłoka ; falowód krzemionkowo-tytanowy ; czujnik fali zanikającej ; straty optyczne ; spektroskopia elektronów Augera

sol-gel ; thin film ; silica-titania waveguide ; evanescent wave sensor ; optical losses ; Auger electron spectroscopy

6/32
Nr opisu: 0000129894
Double layer sol-gel derived antireflective coatings on silicon - design, optical and Auger Electron Spectroscopy characterization.
[Aut.]: M. Skolik, Alina Domanowska, Paweł Karasiński, E. Gondek, Anna Michalewicz.
-Mater. Lett. 2019 vol. 251, s. 210-213, bibliogr. 9 poz.. Impact Factor 3.204. Punktacja MNiSW 70.000

struktura antyrefleksyjna ; zol-żel ; spektroskopia elektronów Augera ; metoda macierzy przejścia ; krzemionka ; ditlenek tytanu

antireflective structure ; sol-gel ; Auger electron spectroscopy ; transfer matrix method ; silica ; titania

7/32
Nr opisu: 0000129357
Morphology and element composition profiles of alumina films obtained by mixed thermal oxidation of AlN epitaxial layers.
[Aut.]: Alina Domanowska, R, Korbutowicz, H. Teterycz.
-Appl. Surf. Sci. 2019 vol. 484, s. 1234-1243, bibliogr. 35 poz.. Impact Factor 6.182. Punktacja MNiSW 140.000

spektroskopia elektronów Augera ; azotek glinu ; tlenek glinu ; utlenianie

Auger electron spectroscopy ; aluminium nitride ; aluminium oxide ; oxidation

8/32
Nr opisu: 0000122968
Analysis of the corrosion protective ability of atomic layer deposition silica-based coatings deposited on 316LVM steel.
[Aut.]: Marcin Basiaga, Witold Walke, Wojciech Kajzer, Agnieszka* Hyla, Alina Domanowska, Anna Michalewicz, C. Krawczyk.
-Materialwissensch. Werkstofftech. 2018 vol. 49 iss. 5, s. 551-561, bibliogr. 53 poz.. Impact Factor 0.556. Punktacja MNiSW 15.000

316 LVM ; SiO2 ; osadzanie warstw atomowych ; spektroskopia elektronów Augera ; skaningowy mikroskop elektronowy ; test potencjodynamiczny ; wykres impedancji elektrochemicznej

316 LVM ; SiO2 ; atomic layer deposition ; Auger electron spectroscopy ; scanning electron microscopy ; potentiodynamic test ; electrochemical impedance plot

9/32
Nr opisu: 0000125092
Tap water as a source of indoor radon in houses.
[Aut.]: I. Kłosok-Bazan, J. Boguniewicz-Zablocka, Naddeo V., Alina Domanowska.
W: 3rd Scientific Conference Environmental Challenges in Civil Engineering, ECCE 2018, Opole, Poland, 23-25 April 2018. Ed. Z. Perkowski, A. Rak, D. Beben. Les Ulis : EDP Sciences, 2018, art. no. 01034 s. 1-7, bibliogr. 21 poz. (MATEC Web of Conferences ; vol. 174 2261-236X)
Dostępny w Internecie: https://doi.org/10.1051/matecconf/201817401034. Punktacja MNiSW 15.000

10/32
Nr opisu: 0000117543
Analysis of the corrosion protective ability of ALD silica-based coatings deposited on 316LVM steel.
[Aut.]: Marcin Basiaga, Witold Walke, Alina Domanowska, Anna Michalewicz, Bogusław Ziębowicz, Agnieszka* Hyla.
W: International Conference on Advanced Computational Engineering and Experimenting. ACE-X 2017, Vienna, Austria. Abstract book. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2017, pamięć USB (PenDrive) s. 119

11/32
Nr opisu: 0000119424
Auger electron spectroscopy to examine passivation nanolayers on the steel intravascular implants.
[Aut.]: Alina Domanowska, Anna Michalewicz, Marcin Basiaga.
W: 2nd International Conference InterNanoPoland 2017. International Conference Center, Katowice, 22-23 June, 2017. Abstracts book. Ed. by Marta Zaborowska, Agnieszka Piekara. Katowice : The Foundation of Nanoscience and Nanotechnology Support Nanonet, 2017, s. 75, bibliogr. 3 poz.

12/32
Nr opisu: 0000112646
On the origin of interface states at oxide/III-nitride heterojunction interfaces.
[Aut.]: M. Matys, B. Adamowicz, Alina Domanowska, Anna Michalewicz, R. Stoklas, M. Akazawa, Z. Yatabe, T. Hashizume.
-J. Appl. Phys. 2016 vol. 120 iss. 22, art. no. 225305 s. 1-12, bibliogr. 42 poz.. Impact Factor 2.068. Punktacja MNiSW 35.000

13/32
Nr opisu: 0000095578
Low loss, long time stable sol-gel derived silica-titania waveguide films.
[Aut.]: Paweł Karasiński, Cuma Tyszkiewicz, Alina Domanowska, Anna Michalewicz, J. Mazur.
-Mater. Lett. 2015 vol. 143, s. 5-7, bibliogr. 15 poz.. Impact Factor 2.437. Punktacja MNiSW 35.000

materiał optoelektroniczny ; preparat sol-gel ; powłoka cienka ; falowód krzemionkowo-tytanowy ; straty optyczne

optoelectronic material ; sol-gel preparation ; thin film ; silica-titania waveguide ; optical losses ; time stable

14/32
Nr opisu: 0000093840
Analiza chemiczna AES pasywacyjnych warstw na powierzchni GaN, AlGaN i SiC.
[Aut.]: Alina Domanowska, Rafał* Ucka, Maciej* Matys, Bogusława Adamowicz, M. Sochacki, Z. Żytkiewicz, M. Sobańska, K. Kłosek, A. Taube, R. Kruszka, J. Żywicki.
W: Dwunasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 10-13.06.2013]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2013, s. 193 + tekst na CD-ROM
Pełny tekst na CD-ROM

Al2O3 ; SixNy ; SiO2 ; pasywacja ; analiza chemiczna ; spektroskopia elektronów Augera ; struktura metal-izolator-półprzewodnik

Al2O3 ; SixNy ; SiO2 ; passivation ; chemical analysis ; Auger electron spectroscopy ; metal-insulator-semiconductor structure

15/32
Nr opisu: 0000093838
Fotodetektor ultrafioletu na bazie struktur metal/izolator/GaN i AlGaN/GaN.
[Aut.]: Bogusława Adamowicz, Rafał* Ucka, Maciej* Matys, Alina Domanowska, Z. Żytkiewicz, M. Sobańska, A. Taube, R. Kruszka.
W: Dwunasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 10-13.06.2013]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2013, s. 184 + tekst na CD-ROM
Pełny tekst na CD-ROM

fotodetektor ultrafioletu ; GaN ; AlGaN/GaN ; stan powierzchniowy ; fotonapięcie powierzchniowe ; fotopojemność ; pasywacja ; struktura metal-izolator-półprzewodnik

UV photodetector ; GaN ; AlGaN/GaN ; surface condition ; surface photovoltage ; photocapacitance ; passivation ; metal-insulator-semiconductor structure

16/32
Nr opisu: 0000082736
Charakteryzacja właściwości chemicznych, optycznych i elektronowych pasywowanych in-situ powierzchni n-GaN.
[Aut.]: Bogusława Adamowicz, Alina Domanowska, Piotr* Kościelniak, Rafał* Ucka, Maciej* Matys, Marcin** Miczek, Michał* Sitarz, Jacek** Szuber, Z. Żytkiewicz, M. Sobańska, K. Kłosek, A. Taube.
W: Jedenasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-14.06.2012]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2012, s. 152
Pełny tekst na CD-ROM

azotek galu ; pasywacja ; stan powierzchniowy ; skład chemiczny

gallium nitride ; passivation ; surface condition ; chemical composition

17/32
Nr opisu: 0000080343
Surface photovoltage and Auger electron spectromicroscopy studies of HfO₂/SiO₂/4H-SiC and HfO₂/Al₂O₃/4H-SiC structures.
[Aut.]: Alina Domanowska, Marcin** Miczek, Rafał* Ucka, Maciej* Matys, Bogusława Adamowicz, J. Żywicki, A. Taube, K. Korwin-Mikke, S. Gierałtowska, M. Sochacki.
-Appl. Surf. Sci. 2012 vol. 258 iss. 21, s. 8354-8359, bibliogr. 43 poz.. Impact Factor 2.112. Punktacja MNiSW 30.000

węglik krzemu ; pasywacja powierzchni ; fotonapięcie powierzchniowe ; spektroskopia elektronów Augera

silicon carbide ; surface passivation ; surface photovoltage ; Auger electron spectroscopy ; chemical in-depth profiling ; interface charge

18/32
Nr opisu: 0000071973
Analysis of chemical shifts in Auger electron spectra versus sputtering time from passivated surfaces.
[Aut.]: Alina Domanowska, Bogusława Adamowicz, Piotr* Bidziński, Andrzej** Klimasek, Janusz Szewczenko, T. Gutt, H. Przewłocki.
-Opt. Appl. 2011 vol. 41 no. 2, s. 441-447, bibliogr. 8 poz.. Impact Factor 0.398. Punktacja MNiSW 15.000

spektroskopia elektronów Augera ; interfejs ; pasywacja ; algorytm ewolucyjny

Auger electron spectroscopy ; interface ; passivation ; evolutionary algorithm

19/32
Nr opisu: 0000068353
Profilowanie składu chemicznego tlenkowych warstw pasywacyjnych metodą spektromikroskopii elektronów Augera.
[Aut.]: Alina Domanowska, Andrzej** Klimasek, E. Lisiecka, Piotr* Bidziński, Bogusława Adamowicz, Janusz Szewczenko, A. Taube, K. Korwin-Mikke, S. Gierałtowska, J. Żywicki.
-Elektronika 2011 R. 52 nr 9, s. 63-66, bibliogr. 6 poz.. Punktacja MNiSW 6.000

spektromikroskopia ; elektron Augera ; widmo AES

spectromicroscopy ; Auger electron ; AES spectrum

20/32
Nr opisu: 0000082584
Profilowanie składu chemicznego tlenkowych warstw pasywacyjnych metodą spektromikroskopii elektronów Augera.
[Aut.]: Alina Domanowska, Andrzej** Klimasek, E. Lisiecka, Piotr* Bidziński, Bogusława Adamowicz, J. Żywicki, Janusz Szewczenko.
W: Dziesiąta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 145
Pełny tekst na CD-ROM

spektromikroskopia ; elektron Augera ; skład chemiczny ; pasywacja

spectromicroscopy ; Auger electron ; chemical composition ; passivation

21/32
Nr opisu: 0000063316
Analysis of chemical shifts in Auger electron spectra versus sputtering time from passivated surfaces.
[Aut.]: Bogusława Adamowicz, Alina Domanowska, Piotr* Bidziński, Andrzej** Klimasek, Janusz Szewczenko, T. Gutt, H. Przewłocki.
W: 10th Electron Technology Conference ELTE 2010 and 34th International Microelectronics and Packaging IMAPS-CPMT Poland Conference, Wrocław, 22-25 September 2010. Book of abstracts. Eds: A. Dziedzic, K. Malecha, J. Radojewski. [Kraków] : [International Microelectronics and Packaging Society IMAPS. Poland Chapter], 2010, s. 131-132, bibliogr. 4 poz.

22/32
Nr opisu: 0000081095
Profile składu chemicznego nanowarstw pasywacyjnych na podstawie analizy numerycznej widm elektronów Augera.
[Aut.]: Alina Domanowska, Piotr* Bidziński, Andrzej** Klimasek, J. Żywicki, Bogusława Adamowicz.
W: IV Krajowa Konferencja Nanotechnologii. NANO 2010, Poznań, 28.06-02.07 2010. Program i streszczenia. Wydział Fizyki Technicznej Politechniki Poznańskiej [et al.].. Poznań : [b.w.], 2010, s. 145, bibliogr. 2 poz.

spektroskopia elektronów Augera ; analiza numeryczna

Auger electron spectroscopy ; numerical analysis

23/32
Nr opisu: 0000063355
Surface passivation of III-V semiconductors for future CMOS devices - past research, present status and key issues for future.
[Aut.]: H. Hasegawa, M. Akazawa, Alina Domanowska, Bogusława Adamowicz.
-Appl. Surf. Sci. 2010 vol. 256 iss. 19, s. 5698-5707, bibliogr. 65 poz.. Impact Factor 1.795

półprzewodnik grupy III-V ; pasywacja powierzchni ; MISFET ; dielektryk o wysokiej przenikalności elektrycznej ; arsenek galu ; GaAs ; fotoluminescencja

III-V semiconductor ; surface passivation ; MISFET ; high-k dielectric ; gallium arsenide ; GaAs ; photoluminescence

24/32
Nr opisu: 0000056638
Capacitance-voltage and photoluminescence study of high-k/GaAs interfaces controlled by Si interface control layer.
[Aut.]: M. Akazawa, Alina Domanowska, Bogusława Adamowicz, H. Hasegawa.
-J. Vac. Sci. Technol., B. 2009 vol. 27 iss. 4, s. 2028-2035. Impact Factor 1.460

25/32
Nr opisu: 0000056660
Theoretical analysis of pulsed photoacoustic effect in solids.
[Aut.]: Alina Domanowska, Roman Bukowski.
-Int. J. Thermophys. 2009 vol. 30 nr 5, s. 1536-1556, bibliogr. 8 poz.. Impact Factor 0.702

impulsowe zjawisko fotoakustyczne ; zjawisko piezooptyczne ; zjawisko elastooptyczne ; zjawisko akustooptyczne ; zjawisko termooptyczne ; ciało stałe

pulsed photoacoustic effect ; piezooptical effect ; elastooptical effect ; acoustooptical effect ; thermooptical effect ; solid

26/32
Nr opisu: 0000014105
Teoretyczna i eksperymentalna analiza impulsowego zjawiska fotoakustycznego w ciałach stałych. Rozprawa doktorska.
[Aut.]: Alina Domanowska.
Gliwice, 2004, 126 s., bibliogr. 41 poz.
Politechnika Śląska. Wydział Matematyczno-Fizyczny. Promotor: dr hab. inż. Jerzy Bodzenta

27/32
Nr opisu: 0000009150
Theoretical analysis of pulse excited photoacoustic cell response.
[Aut.]: Alina Domanowska, Roman Bukowski, Jerzy Bodzenta.
W: 33rd Winter School on Molecular and Quantum Acoustics and 9th Workshop on Photoacoustics and Photothermics, Szczyrk, Poland, 9.02.2004-13.02.2004. Abstracts. Ed. Tomasz Błachowicz. Gliwice : Upper Silesian Division of the Polish Acoustical Society, 2004, s. 47

28/32
Nr opisu: 0000008272
Theoretical analysis of pulse photoacoustic effect in gas filled cell.
[Aut.]: Roman Bukowski, Alina Domanowska.
W: 8th Workshop on Photoacoustics and Photothermics, Szczyrk, Poland, February 27-28, 2003. Ed. by: J. Bodzenta. Les Ulis Cedex A : Edition Diffusion Presse Sciences, 2003, s. 9-17, bibliogr. 10 poz. (Journal de Physique IV. Proceedings ; vol. 109 1155-4339)

29/32
Nr opisu: 0000007048
Photoacoustic signal dependence on sample-backing thermal resistance.
[Aut.]: Roman Bukowski, Alina Domanowska.
-Heat Mass Transf. 2001 vol. 37 iss. 1, s. 77-80. Impact Factor 0.613

30/32
Nr opisu: 0000057326
Solid state photoacoustics with laser pulse - mathematical model and experimental data filtering.
[Aut.]: Roman Bukowski, Alina Domanowska, Zygmunt** Kleszczewski, Jacek* Mazur, Barbara** Pustelny.
W: Acousto-optics and applications IV. [Conference], Gdańsk-Jurata, Poland, 22-26 May 2001. Eds: B.B.J. Linde, A. Sikorska. Bellingham : SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2001, s. 172-178, bibliogr. 6 poz. (Proceedings of SPIE ; vol. 4514 0277-786X)

31/32
Nr opisu: 0000000099
Theoretical analysis of photoacoustic signal generated by laser pulse absorbed in a solid medium.
[Aut.]: Roman Bukowski, Alina Domanowska, Zygmunt** Kleszczewski.
-Mol. Quantum Acoust. 2000 vol. 21, s. 41-47, bibliogr. 5 poz.

32/32
Nr opisu: 0000035037
Oddziaływania akustooptyczne typu Bragga w ośrodkach z wymuszoną anizotropią optyczną.
[Aut.]: Roman Bukowski, Alina Domanowska, Zygmunt** Kleszczewski.
-Zesz. Nauk. PŚl., Mat. 1996 z. 73, s. 73-90, bibliogr. 10 poz.

stosując format: