Wynik wyszukiwania
Zapytanie: CALLEGARO L
Liczba odnalezionych rekordów: 7



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/7
Nr opisu: 0000138707   
A comprehensive analysis of error sources in electronic fully digital impedance bridges.
[Aut.]: M. Ortolano, M. Marzano, V. D'Elia, N.T. Mai Tran, R. Rybski, J. Kaczmarek, M. Kozioł, Krzysztof Musioł, A. Christensen, L. Callegaro, J. Kucera, O. Power.
-IEEE Trans. Instrum. Meas. 2021 vol. 70, s. 1-14, bibliogr. 42 poz.. Impact Factor 3.658. Punktacja MNiSW 100.000

układ mostkowy ; kalibracja ; pomiar impedancji ; błąd pomiaru ; niepewność pomiaru

bridge circuit ; calibration ; impedance measurement ; measurement error ; measurement uncertainty

2/7
Nr opisu: 0000136890   
Error sources in electronic fully-digital impedance bridges.
[Aut.]: M. Ortolano, M. Marzano, V. D'Elia, N. T. M. Tran, R. Rybski, J. Kaczmarek, M. Kozioł, Krzysztof Musioł, A. Christensen, A. Pokatilov, L. Callegaro, J. Kucera, O. Power.
W: 2020 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM). Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2020, s. 1-2, bibliogr. 2 poz.

pomiar impedancji ; układ mostkowy ; błąd pomiaru ; niepewność pomiaru ; kalibracja

impedance measurement ; bridge circuit ; measurement uncertainty ; calibration

3/7
Nr opisu: 0000100126
Experiences with a two-terminal-pair digital impedance bridge.
[Aut.]: L. Callegaro, V. D'Elia, Marian Kampik, D. B. Kim, M. Ortolano, F. Pourdanesh.
-IEEE Trans. Instrum. Meas. 2015 vol. 64 no. 6, s. 1460-1465, bibliogr. 16 poz.. Impact Factor 1.808. Punktacja MNiSW 30.000

admitancja ; układ mostkowy ; impedancja ; wzorzec miary ; metrologia ; pomiar precyzyjny

admittance ; bridge circuit ; impedance ; measurement standard ; metrology ; precision measurement

4/7
Nr opisu: 0000097836   
A precise two-channel digitally synthesized AC voltage source for impedance metrology.
[Aut.]: J. Nissila, K. Ojasalo, Marian Kampik, J. Kaasalainen, V. Maisi, M. Casserly, F. Overney, A. Christensen, L. Callegaro, V. D'Elia, N. T. M. Tran, F. Pourdanesh, M. Ortolano, D. B. Kim, J. Penttila, L. Roschier.
W: 2014 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2014), Rio de Janeiro, Brazil, 24-29 August 2014. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, s. 768-769, bibliogr. 2 poz.

mostek impedancyjny ; przetwornik cyfrowo-analogowy ; źródło sygnału cyfrowego

impedance bridge ; digital-to-analog converter ; digital signal source

5/7
Nr opisu: 0000097820   
Experiences with a two terminal-pair digital impedance bridge.
[Aut.]: L. Callegaro, V. D'Elia, Marian Kampik, D. B. Kim, M. Ortolano, F. Pourdanesh, N. T. M. Tran.
W: 2014 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2014), Rio de Janeiro, Brazil, 24-29 August 2014. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, s. 222-223, bibliogr. 5 poz.

metrologia ; impedancja ; admitancja ; pomiar precyzyjny ; układ mostkowy ; wzorzec miary

metrology ; impedance ; admittance ; precision measurement ; bridge circuit ; measurement standard

6/7
Nr opisu: 0000097826   
Ponti digitali automatici per la metrologia di impedenza.
[Aut.]: L. Callegaro, V. D'Elia, F. Pourdanesh, M. Ortolano, D. B. Kim, Marian Kampik.
W: Atti del XXXI Congresso Nazionale dell'Associazione Gruppo Misure Elettriche ed Elettroniche, Ancona, 11-13 settembre 2014. A cura di Janet L. Dubbini, David Macii. [B.m.] : [b.w.], 2014, s. 285-291, bibliogr. 7 poz.

7/7
Nr opisu: 0000097851   
AIM QuTE: automated impedance metrology extending the quantum toolbox for electricity.
[Aut.]: L. Palafox, F. Raso, J. Kucera, F. Overney, L. Callegaro, P. Gournay, A. Ziołek, J. Nissila, G. Eklund, T. Lippert, Y. Gulmez, P. Fleischmann, Marian Kampik, R. Rybski.
W: 16th International Congress of Metrology, Paris, France, October 7-10, 2013 [online]. Eds. J.-R. Filtz, B. Larquier, P. Claudel et J.-O. Favreau. Paris : EDP Sciences - Web of Conferences, 2013, (plik pdf) art. 11001 s. 1-3
Dostępny w Internecie: http://dx.doi.org/10.1051/metrology/201311001 [dostęp 1 kwietnia 2015]

stosując format:
Nowe wyszukiwanie