Wynik wyszukiwania
Zapytanie: BRUMA M
Liczba odnalezionych rekordów: 9



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/9
Nr opisu: 0000078076   
CLSM and UV-VIS researches on polyoxadiazoles thin films.
[Aut.]: Jan** Weszka, Magdalena Szindler, M. Chwastek-Ogierman, M. Bruma, Paweł Jarka.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2012 vol. 55 nr 2, s. 53-61, bibliogr. 20 poz.. Punktacja MNiSW 9.000

polimer przewodzący ; spektroskopia UV-Vis ; metoda spin-coating ; mikroskopia CLSM

conducting polymer ; UV-Vis spectroscopy ; spin-coating method ; CLSM microscopy

2/9
Nr opisu: 0000079412   
CLSM and UV-VIS researches on polyoxadiazoles thin films.
[Aut.]: Jan** Weszka, Magdalena Szindler, M. Chwastek-Ogierman, M. Bruma, Paweł Jarka.
W: Achievements in mechanical and materials engineering. AMME'2012. Programme and proceedings of the twientieth international scientific conference, Gliwice - Kołobrzeg, [9th-12th September 2012]. Ed. L. A. Dobrzański. Gliwice : International OCSCO World Press, 2012, s. 129
Toż na CD-ROM

3/9
Nr opisu: 0000072518
Surface morphology and optical properties of polymer thin films.
[Aut.]: Jan** Weszka, Magdalena Szindler, M. Bruma.
-Elektronika 2012 R. 53 nr 6, s. 120-122, bibliogr. 6 poz.
Referat wygłoszony na European Summer School of Photovoltaics, Karaków, Poland, 4-7 July 2012. Punktacja MNiSW 6.000

morfologia powierzchni ; polimer ; warstwa cienka

surface morphology ; polymer ; thin film

4/9
Nr opisu: 0000070571   
Surface morphology of thin films polyoxadiazoles.
[Aut.]: Jan** Weszka, Magdalena Szindler, M. Chwastek-Ogierman, M. Bruma, Paweł Jarka, Błażej Tomiczek.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2011 vol. 49 iss. 2, s. 224-232, bibliogr. 16 poz.. Punktacja MNiSW 8.000

polimer organiczny ; AFM ; metoda spin-coating

organic polymer ; AFM microscopy ; spin-coating method

5/9
Nr opisu: 0000057804   
Comparing of optical properties and morphology of polyoxadiazoles with CF3 groups.
[Aut.]: Barbara* Hajduk, Paweł Jarka, Jan** Weszka, M. Bruma, J. Jurusik, Małgorzata* Chwastek, D. Mańkowski.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2010 vol. 40 iss. 1, s. 7-14, bibliogr. 19 poz.

spektroskopia UV-Vis ; mikroskopia AFM ; spektroskopia IR ; metoda spin-coating ; polimer organiczny

UV-Vis spectroscopy ; AFM microscopy ; IR spectroscopy ; spin-coating method ; organic polymer

6/9
Nr opisu: 0000063431
Comparing of optical properties and morphology of polyoxadiazoles with CF3groups.
[Aut.]: Barbara* Hajduk, Paweł Jarka, Jan** Weszka, M. Bruma, J. Jurusik, Małgorzata* Chwastek, D. Mańkowski.
W: Achievements in mechanical and materials engineering. AMME'2010. Proceedings of the eighteenth international scientific conference, Gliwice - Wieliczka - Zakopane, Poland, 13th-16th June 2010. [Dokument elektroniczny]. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwce : [Komitet Organizacyjny Międzynarodowych Konferencji Naukowych Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej], 2010, dysk optyczny (CD-ROM) s. 67-68

7/9
Nr opisu: 0000063430
Studying of polyoxadiazole with Si atom in the backbone.
[Aut.]: Barbara* Hajduk, Paweł Jarka, Jan** Weszka, M. Bruma, J. Jarusik, Małgorzata* Chwastek, D. Mańkowski.
W: Achievements in mechanical and materials engineering. AMME'2010. Proceedings of the eighteenth international scientific conference, Gliwice - Wieliczka - Zakopane, Poland, 13th-16th June 2010. [Dokument elektroniczny]. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwce : [Komitet Organizacyjny Międzynarodowych Konferencji Naukowych Instytutu Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki Śląskiej], 2010, dysk optyczny (CD-ROM) s. 67

8/9
Nr opisu: 0000057727   
Studying of polyoxadiazole with Si atom in the backbone.
[Aut.]: Barbara* Hajduk, Paweł Jarka, Jan** Weszka, M. Bruma, J. Jurusik, Małgorzata* Chwastek, D. Mańkowski.
-Arch. Mater. Sci. Eng. 2010 vol. 42 nr 2, s. 77-84, bibliogr. 15 poz.

spektroskopia UV-Vis ; mikroskopia sił atomowych ; spektroskopia w podczerwieni ; metoda spin-coating

UV-Vis spectroscopy ; AFM microscopy ; IR spectroscopy ; spin-coating method

9/9
Nr opisu: 0000056361   
Studying of spin-coated oxad-Si properties.
[Aut.]: Jan** Weszka, Leszek** Dobrzański, Paweł Jarka, J. Jurusik, Barbara* Hajduk, M. Bruma, Jarosław Konieczny, D. Mańkowski.
-J. Achiev. Mater. Manuf. Eng. 2009 vol. 37 iss. 2, s. 505-511, bibliogr. 13 poz.

warstwa cienka ; morfologia ; mikroskopia AFM ; metoda spin-coating ; absorbancja ; oxad-Si

thin film ; morphology ; AFM microscopy ; spin-coating method ; absorbance ; oxad-Si

stosując format:
Nowe wyszukiwanie