Wynik wyszukiwania
Zapytanie: AUGELLI V
Liczba odnalezionych rekordów: 4



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/4
Nr opisu: 0000005184   
Distribution of radiation intensity in a thin semiconductor film on a thick substrate.
[Aut.]: V. Augelli, Marian Nowak.
-Thin Solid Films 1999 vol. 338, s. 188-196, bibliogr. 19 poz.. Impact Factor 1.101

2/4
Nr opisu: 0000061947
Some comments on semiempirical coherence factor used for description of optical transmittance, photoconductivity and photoelectromagnetic efect in a - Si.
[Aut.]: V. Augelli, R. Murri, Marian Nowak.
W: 4th Conference on Surface Physics, Łódź, November 14th-16th, 1989. Proceedings. Vol. 7. Institute of Physics. Technical University of Warsaw. Łódź : Wydaw. Uniwersytetu Łódzkiego, 1990, s. 19-22, bibliogr. 2 poz.

3/4
Nr opisu: 0000060920   
Interference photoconduvtivity and photoelectromagnetic effect in amorphous silicon.
[Aut.]: V. Augelli, R. Murri, Marian Nowak.
-Phys. Rev. B 1989 vol.39 nr 12, s. 8336-8346, bibliogr. 13 poz.

4/4
Nr opisu: 0000062333
Quantum efficiency coefficients for photoconductivity and photoelectromagnetic effect in amorphous silicon.
[Aut.]: V. Augelli, R. Murri, Marian Nowak.
W: 3rd Conference on Surface Physics, Zakopane, 7th - 11th November 1988. Proceedings. Vol. 5. Institute of Technical Physics. Military Technical Academy. Warsaw. Łódź : Wydaw. Uniwersytetu Łódzkiego, 1989, s. 15-18, bibliogr. 5 poz.

stosując format:
Nowe wyszukiwanie