Wynik wyszukiwania
Zapytanie: NEURAL COMPUT APPL
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000135881
Tytuł oryginału: Neural image reconstruction using a heuristic validation mechanism
Autorzy: Dawid Połap, G. Srivastava.
Źródło: -Neural Comput. Appl. 2020, s. 1-11, bibliogr. 36 poz.
Uwagi: Special issue: Hybridization of neural computing with nature inspired algorithms
Impact Factor: 4.774
Punktacja MNiSW: 100.000
p-ISSN: 0941-0643
e-ISSN: 1433-3058
DOI:
Słowa kluczowe polskie: rekonstrukcja obrazów ; algorytm heurystyczny ; konwolucyjna sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie: image reconstruction ; heuristic algorithm ; convolutional neural network
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Informacje o dostępie open-access: open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: CC-BY open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OPEN_JOURNAL
Dostęp on-line:


2/2
Nr opisu: 0000093213
Tytuł oryginału: Ranking of characteristic features in combined wrapper approaches to selection
Tytuł w wersji polskiej: Ranking cech charakterystycznych w złożonym opakowanym podejściu do selekcji
Autorzy: Urszula Stańczyk.
Źródło: -Neural Comput. Appl. 2015 vol. 26 iss. 2, s. 329-344, bibliogr. 70 poz.
Uwagi: Special Issue on Advances in Intelligent Data Processing and Analysis - Part 1
Impact Factor: 1.492
Punktacja MNiSW: 25.000
p-ISSN: 0941-0643
e-ISSN: 1433-3058
DOI:
Słowa kluczowe polskie: ranking cech ; selekcja cech ; redukcja cech ; filtr ; sekwencyjne przeszukiwanie wstecz ; stylometria ; opakowanie
Słowa kluczowe angielskie: feature ranking ; feature selection ; feature reduction ; filter ; sequential backward search ; stylometry ; wrapper
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: CC-BY
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie