Wynik wyszukiwania
Zapytanie: ZINTEGROWANE POŁĄCZENIA OBWODU
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000099068
Tytuł oryginału: New structure of test pattern generator stimulating crosstalks in bus-type connections
Autorzy: Tomasz Garbolino.
Źródło: -Int. J. Electron. Telecommun. 2015 vol. 61 no. 1, s. 67-75, bibliogr. 38 poz.
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 0867-6747
DOI:
Słowa kluczowe polskie: zintegrowane połączenia obwodu ; przesłuch ; generator obrazu kontrolnego ; wbudowane samotestowanie ; System on Chip
Słowa kluczowe angielskie: integrated circuit interconnections ; crosstalk ; test pattern generator ; built-in self test ; system-on-chip
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie